本公開(kāi)涉及用于對(duì)機(jī)器人進(jìn)行示教的技術(shù)，更特定地說(shuō)，涉及機(jī)器人的示教數(shù)據(jù)的校正。

背景技術(shù)：

1、在工廠中的產(chǎn)品的制造線、檢查線等(以下，稱為“生產(chǎn)線”)中，有時(shí)使用各種機(jī)器人。在生產(chǎn)線中使用機(jī)器人的情況下，用戶需要使用仿真器等預(yù)先對(duì)機(jī)器人進(jìn)行示教。然而，3d空間內(nèi)(仿真內(nèi))的各物體(機(jī)器人、工件、底座等)的位置和姿勢(shì)是理想的，3d空間內(nèi)的各物體的位置與實(shí)際空間中的各物體的位置產(chǎn)生偏移。因此，用戶在生產(chǎn)線的構(gòu)建后，需要在現(xiàn)場(chǎng)對(duì)機(jī)器人進(jìn)行再示教，對(duì)機(jī)器人的動(dòng)作進(jìn)行微調(diào)，該現(xiàn)場(chǎng)的調(diào)整作業(yè)成為用戶的負(fù)擔(dān)。因此，尋求一種用于基于3d空間內(nèi)的各物體的位置與實(shí)際空間中的各物體的位置的偏移，來(lái)容易地校正機(jī)器人的示教數(shù)據(jù)(機(jī)器人的動(dòng)作)的技術(shù)。

2、關(guān)于檢測(cè)實(shí)際空間中的工件位置的技術(shù)，例如，日本特開(kāi)2017-083234號(hào)公報(bào)(專利文獻(xiàn)1)公開(kāi)了“具備使用搜索用標(biāo)記來(lái)算出在測(cè)量對(duì)象的表面形成有利用線激光器形成的光切斷線的部分的坐標(biāo)的標(biāo)記搜索部”的三維形狀測(cè)量裝置(參照[摘要])。

3、現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

4、專利文獻(xiàn)

5、專利文獻(xiàn)1：日本特開(kāi)2017-083234號(hào)公報(bào)

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、發(fā)明所要解決的課題

2、根據(jù)專利文獻(xiàn)1所公開(kāi)的技術(shù)，能夠檢測(cè)實(shí)際空間中的工件的位置等，但無(wú)法基于3d空間內(nèi)的各物體的位置與實(shí)際空間中的各物體的位置的偏移來(lái)校正機(jī)器人的示教數(shù)據(jù)。因此，需要用于基于3d空間內(nèi)的各物體的位置與實(shí)際空間中的各物體的位置的偏移來(lái)校正機(jī)器人的示教數(shù)據(jù)的技術(shù)。

3、本公開(kāi)是鑒于上述那樣的背景而完成的，某個(gè)方式的目的在于，提供一種用于基于3d空間內(nèi)的各物體的位置與實(shí)際空間中的各物體的位置的偏移來(lái)校正機(jī)器人的示教數(shù)據(jù)的技術(shù)。

4、用于解決課題的手段

5、根據(jù)某個(gè)實(shí)施例，提供一種用于對(duì)機(jī)器人進(jìn)行示教的裝置。裝置具備：示教點(diǎn)創(chuàng)建部，其用于在3d空間中創(chuàng)建機(jī)器人的示教點(diǎn)；地標(biāo)識(shí)別部，其用于識(shí)別設(shè)置于3d空間和實(shí)際空間的地標(biāo)；差分提取部，其基于設(shè)置于3d空間的地標(biāo)的位置和姿勢(shì)以及設(shè)置于實(shí)際空間的地標(biāo)的位置和姿勢(shì)，提取3d空間中的工件的位置和姿勢(shì)與實(shí)際空間中的工件的位置和姿勢(shì)的差分；以及校正部，其基于差分來(lái)校正示教點(diǎn)。

6、根據(jù)本公開(kāi)，裝置能夠基于3d空間與實(shí)際空間之間的工件的位置和姿勢(shì)的差分(偏移)來(lái)校正示教點(diǎn)。由此，用戶無(wú)需在現(xiàn)場(chǎng)手動(dòng)進(jìn)行機(jī)器人的示教點(diǎn)的微調(diào)。

7、在上述公開(kāi)中，地標(biāo)包含多個(gè)地標(biāo)。提取3d空間中的工件的位置和姿勢(shì)與實(shí)際空間中的工件的位置和姿勢(shì)的差分包含：從多個(gè)地標(biāo)中選擇離工件最近的地標(biāo)；以及基于3d空間中的最近的地標(biāo)的位置和姿勢(shì)以及實(shí)際空間中的最近的地標(biāo)的位置和姿勢(shì)，提取3d空間中的工件的位置和姿勢(shì)與實(shí)際空間中的工件的位置和姿勢(shì)的差分。

8、根據(jù)本公開(kāi)，裝置可以基于離工件最近的地標(biāo)來(lái)提取工件的位置和姿勢(shì)的差分(可以算出工件的位置和姿勢(shì)的偏移量)。

9、在上述公開(kāi)中，裝置還具備用于顯示3d空間的用戶界面。用戶界面在3d空間中顯示設(shè)置于3d空間的地標(biāo)、工件以及校正前的示教點(diǎn)，并顯示在實(shí)際空間中檢測(cè)出的地標(biāo)、工件以及校正后的示教點(diǎn)。

10、根據(jù)本公開(kāi)，裝置可以將3d空間與實(shí)際空間之間的地標(biāo)以及工件的位置和姿勢(shì)的差分(偏移)在視覺(jué)上提示給用戶。

11、在上述公開(kāi)中，地標(biāo)包含多個(gè)地標(biāo)。用戶界面在3d空間中顯示多個(gè)地標(biāo)，構(gòu)成為能夠從多個(gè)地標(biāo)中選擇用于工件的位置和姿勢(shì)的差分提取的地標(biāo)。提取3d空間中的工件的位置和姿勢(shì)與實(shí)際空間中的工件的位置和姿勢(shì)的差分包含：基于3d空間中的所選擇的地標(biāo)的位置和姿勢(shì)以及實(shí)際空間中的所選擇的地標(biāo)的位置和姿勢(shì)，提取3d空間中的工件的位置和姿勢(shì)與實(shí)際空間中的工件的位置和姿勢(shì)的差分。

12、根據(jù)本公開(kāi)，用戶可以選擇成為用于提取工件的位置和姿勢(shì)的差分的基準(zhǔn)的地標(biāo)。

13、在上述公開(kāi)中，機(jī)器人通過(guò)包含變量的程序進(jìn)行動(dòng)作，該變量用于保存示教點(diǎn)。校正部改寫保存于變量的示教點(diǎn)的值。

14、根據(jù)本公開(kāi)，裝置能夠直接校正保存于程序的變量的示教點(diǎn)。

15、在上述公開(kāi)中，機(jī)器人通過(guò)包含變量的程序進(jìn)行動(dòng)作，該變量用于保存示教點(diǎn)。校正部生成用于保存示教點(diǎn)的校正值的另一變量，并生成對(duì)保存于變量的示教點(diǎn)的值加上或減去保存于另一變量的校正值的值的代碼。

16、根據(jù)本公開(kāi)，裝置可以在程序中追加用于對(duì)保存于程序的變量的示教點(diǎn)進(jìn)行校正的代碼。

17、根據(jù)某個(gè)實(shí)施例，提供一種計(jì)算機(jī)用于對(duì)機(jī)器人進(jìn)行示教的方法。方法包含以下步驟：在3d空間中創(chuàng)建機(jī)器人的示教點(diǎn)；識(shí)別設(shè)置于3d空間和實(shí)際空間的地標(biāo)；基于設(shè)置于3d空間的地標(biāo)的位置和姿勢(shì)以及設(shè)置于實(shí)際空間的地標(biāo)的位置和姿勢(shì)，提取3d空間中的工件的位置和姿勢(shì)與實(shí)際空間中的工件的位置和姿勢(shì)的差分；以及基于差分來(lái)校正示教點(diǎn)。

18、根據(jù)本公開(kāi)，方法能夠基于3d空間與實(shí)際空間之間的工件的位置和姿勢(shì)的差分(偏移)來(lái)校正示教點(diǎn)。由此，用戶無(wú)需在現(xiàn)場(chǎng)手動(dòng)進(jìn)行機(jī)器人的示教點(diǎn)的微調(diào)。

19、根據(jù)某個(gè)實(shí)施例，提供一種計(jì)算機(jī)用于對(duì)機(jī)器人進(jìn)行示教的方法。程序使計(jì)算機(jī)執(zhí)行以下步驟：在3d空間中創(chuàng)建機(jī)器人的示教點(diǎn)；識(shí)別設(shè)置于3d空間和實(shí)際空間的地標(biāo)；基于設(shè)置于3d空間的地標(biāo)的位置和姿勢(shì)以及設(shè)置于實(shí)際空間的地標(biāo)的位置和姿勢(shì)，提取3d空間中的工件的位置和姿勢(shì)與實(shí)際空間中的工件的位置和姿勢(shì)的差分；以及基于差分來(lái)校正示教點(diǎn)。

20、根據(jù)本公開(kāi)，程序能夠基于3d空間與實(shí)際空間之間的工件的位置和姿勢(shì)的差分(偏移)來(lái)校正示教點(diǎn)。由此，用戶無(wú)需在現(xiàn)場(chǎng)手動(dòng)進(jìn)行機(jī)器人的示教點(diǎn)的微調(diào)。

21、發(fā)明效果

22、根據(jù)某個(gè)實(shí)施方式，能夠基于3d空間內(nèi)的各物體的位置與實(shí)際空間中的各物體的位置的偏移，來(lái)校正機(jī)器人的示教數(shù)據(jù)。

23、本公開(kāi)內(nèi)容的上述以及其他目的、特征、方式以及優(yōu)點(diǎn)根據(jù)與附圖相關(guān)聯(lián)地理解的、與本公開(kāi)相關(guān)的接下來(lái)的詳細(xì)說(shuō)明而變得明確。

技術(shù)特征：

1.一種用于對(duì)機(jī)器人進(jìn)行示教的裝置，其中，

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中，

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置，其中，

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其中，

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置，其中，

6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置，其中，

7.一種計(jì)算機(jī)用于對(duì)機(jī)器人進(jìn)行示教的方法，其中，

8.一種用于使計(jì)算機(jī)進(jìn)行機(jī)器人的示教的程序，其中，

技術(shù)總結(jié)
基于3D空間內(nèi)的各物體的位置與實(shí)際空間中的各物體的位置的偏移來(lái)校正機(jī)器人的示教數(shù)據(jù)。用于對(duì)機(jī)器人(130)進(jìn)行示教的裝置(100)具備：示教點(diǎn)創(chuàng)建部，其用于在3D空間中創(chuàng)建機(jī)器人(130)的示教點(diǎn)；地標(biāo)識(shí)別部，其用于識(shí)別設(shè)置于3D空間和實(shí)際空間的地標(biāo)(120)；差分提取部，其基于設(shè)置于3D空間的地標(biāo)(120)的位置和姿勢(shì)以及設(shè)置于實(shí)際空間的地標(biāo)(120)的位置和姿勢(shì)，提取3D空間中的工件(150)的位置和姿勢(shì)與實(shí)際空間中的工件(150)的位置和姿勢(shì)的差分；以及校正部，其基于差分來(lái)校正示教點(diǎn)。

技術(shù)研發(fā)人員：巖村慎太郎,長(zhǎng)谷川直人
受保護(hù)的技術(shù)使用者：歐姆龍株式會(huì)社
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/10/21