專利名稱：鎂犧牲陽極電化學性能測試儀的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種鎂犧牲陽極電化學性能測試儀，屬于腐蝕陰極保護一犧牲陽極試驗的技術領域。
背景技術：
犧牲陽極法腐蝕技術因其經濟、無需管理、無干擾等優(yōu)點而被廣泛應用。犧牲陽極的性能是腐蝕控制的關鍵，也是影響被保護設備壽命性能的重要因素。但是目前各廠家對犧牲陽極的性能尤其是電化學性能的測試和控制還不夠完善，主要表現(xiàn)在以下幾個方面各犧牲陽極生產廠家還沒有建立一套完整的測試體系，尤其是犧牲陽極電化學性能方面，僅是采用簡單的實驗設備進行不規(guī)范的測試。使用廠家由于沒有檢測手段，無法確認犧牲陽極的合格率，無法對犧牲陽極生產廠家進行監(jiān)督。
國家監(jiān)督部門尚無可實時監(jiān)測的正規(guī)、簡單方便、可行有效的測試儀器和檢測設備。
發(fā)明目的本實用新型的目的是要提供一種鎂犧牲陽極電化學性能測試儀，它可以對犧牲陽極的電化學性能進行檢驗測試，沿用美國標正ASTMG97-97的測試方法和相關規(guī)定，將測試儀器集成一體，結合使用數(shù)顯儀表進行控制。
鎂犧牲陽極電化學性能測試儀的結構是殼體1內裝有輔助陰極5和庫侖計4，殼體1表面是數(shù)顯表面3和電源開關6以及電位器7和電源指示燈8，殼體1的后部有電源線9，可接220V的電源。殼體1底部襯一層絕緣板10以防止漏電，中間部位又設置一塊絕緣板11，而使庫侖計4定位。
電源板J1的1端接地，3端L線接熔斷器F1，再接變壓器T1的初級繞組，2端的N線也接T1的初級繞組，變壓器T1的次級繞組分別接二極管D11和D12的正極和二極管D9和D10的負極，二極管D11和D12的負極和電容C7的正極共同接于芯片N3的4端(型號為7812)，同時又接于VDD，二極管D9和D10的正極又與電容C7的負極相接且接地，同時又接于芯片N3的6端，電容C8和C9的正極共同接于芯片N3的5端，，同時又接于電阻R1和可調電阻RP1后，再接于A1(既鎂棒陽極)，而電容C8和C9的負極互相連接于芯片N3的6端，同時又接于電流表A后再接鎂棒陽極A1和輔助陰極B1及電壓表V，再接參比電極P1。
變壓器T1的次級繞組又接二極管D3和D4的正極以及二極管D1和D2的負極，D3和D4的負極與電容C1的正極共同接于芯片N1的7端，二極管D1和D2的正極與電容C1的負極連接后又接到芯片N1的9端，同時又連接電容C3和C2的負極后再接地，再接到電流表A，電容C3和C2的正極共同接于芯片N1的8端，同時又接于電流表A。變壓器T1的初級繞組與變壓器T2的初級繞組連接T2的次級繞組，并且連接二極管D8和D9的正極，同時又接于二極管D5和D6的負極，D7和D8的負極連同電容C4的正極接于VDD以及芯片N2的10端，D5和D6的正極共同接于電容C4的負極，同時又接于芯片N2的12端，并且連接電容C6和C5的負極，接地后又接于電壓表V，電容C6和C5的正極共同接于芯片N2的11端后又接±5V并接電壓表V。上述+5V分別作為電壓表V和電流表A的電源。
鎂犧牲陽極電化學性能測試儀的優(yōu)點是可測試犧牲陽極的電化學性能，其體積小且安裝極為方便，操作簡便而測試精度高，適用于各種犧牲陽極的試樣。


圖1.鎂犧牲陽極電化學性能測試儀示意圖圖2.工作原理圖圖3.電氣原理圖由圖1，殼體1內裝有輔助陰極5和庫侖計4，殼體1表面是數(shù)顯表面3和電源開關6以及電位器7和電源指示燈8，殼體1底部襯一層絕緣板10以防止漏電，中間部位又設置一塊絕緣板11，而使庫侖計4定位，殼體1的后部有電源線9，可接220V的電源。
由圖2，輔助陰極5內裝有鎂電極12和甘汞電極13，輔助陰極5接庫侖計C，鎂電極12也接另一庫侖計C，兩個庫侖計與電源P連接。甘汞電極13可連接電位計而用于測試電位。
由圖3，電源板J1的1端接地，3端L線接熔斷器F1，再接變壓器T1的初級繞組，2端N線也接F1的初級繞組，變壓器T1的次級繞組分別接二極管D11和D12的正極和二極管D9和D10的負極，二極管D11和D12的負極和電容C7的正極共同接于芯片N3的4端(型號為7812)，同時又接于VDD，二極管D9和D10的正極又與電容C7的負極相接且接地，同時又接于芯片N3的6端，電容C8和C9的正極共同接于芯片N3的5端，，同時又接于電阻R1和可調電阻RP1后，再接于A1(既鎂棒陽極)，而電容C8和C9的負極互相連接于芯片N3的6端，同時又接于電流表A后再接鎂棒陽極A1和輔助陰極B1及電壓表V，再接參比電極P1。
變壓器T1的次級繞組又接二極管D3和D4的正極以及二極管D1和D2的負極，D3和D4的負極與電容C1的正極共同接于芯片N1的7端，同時連接VDD，二極管D1和D2的正極與電容C1的負極連接后又接到芯片N1的9端，同時又連接電容C3和C2的負極后再接地，再接到電流表A，電容C3和C2的正極共同接于芯片N1的8端，司時又接于電流表A。
變壓器T1的初級繞組與變壓器T2的初級繞組連接T2的次級繞組，并且連接二極管D8和D9的正極，同時又接于二極管D5和D6的負極，D7和D8的負極連同電容C4的正極接于VDD以及芯片N2的10端，D5和D6的正極共同接于電容C4的負極，同時又接于芯片N2的12端，并且連接電容C6和C5的負極，接地后又接于電壓表V，電容C6和C5的正極共同接于芯片N2的11端后又接±5V并接電壓表V。上述+5V分別作為電壓表V和電流表A的電源。
具體實施方式
該實驗裝置主要部件包括外殼1部分，變壓整流裝置(內置)和測試輔助部件，其測試輔助部件主要由輔助陰極5、庫侖計4和連接導線(內置)和數(shù)顯儀表2、3共同組成。
將用戶需要的電解液介質填充在輔助陰極5內，液面達到所要求的高度，將要測試的鎂犧牲陽極試樣通過鎂犧牲陽極5的固定裝置在輔助陰極5內，將變壓整流裝置內置引出的一組內置導線中的正極接庫侖計4的銅板，負極接在另一庫侖計的銅絲上，將電源線9接入220V交流電源，打開電源開關6電源指示燈8點亮，通過電位器7調整電流即可進行測試。
權利要求1.一種鎂犧牲陽極電化學性能測試儀，其特征是殼體(1)內裝有輔助陰極(5)和庫侖計(4)，殼體(1)表面是數(shù)顯表面(3)和電源開關(6)以及電位器(7)和電源指示燈(8)，殼體(1)的后部有電源線(9)，可接220V的電源。
2.根據(jù)權利要求1所述的鎂犧牲陽極電化學性能測試儀，其特征是殼體(1)底部襯一層絕緣板(10)以防止漏電，中間部位又設置一塊絕緣板(11)，而使庫侖計(4)得以定位。
3.根據(jù)權利要求1所述的鎂犧牲陽極電化學性能測試儀，其特征是電源板J1的1端接地，3端L線接熔斷器F1，再接變壓器T1的初級繞組，2端的N線也接T1的初級繞組，T1的次級繞組分別接二極管D11和D12的正極和二極管D9和D10的負極，二極管D11和D12的負極和電容C7的正極共同接于芯片N3的4端(型號為7812)，同時又接于VDD，二極管D9和D10的正極又與電容C7的負極相接且接地，同時又接于芯片N3的6端，電容C8和C9的正極共同接于芯片N3的5端，，同時又接于電阻R1和可調電阻RP1后，再接于A1(既鎂棒陽極)，而電容C8和C9的負極互相連接于芯片N3的6端，同時又接于電流表A后再接鎂棒陽極A1和輔助陰極B1及電壓表V，再接參比電極P1。變壓器T1的次級繞組又接二極管D3和D4的正極以及二極管D1和D2的負極，D3和D4的負極與電容C1的正極共同接于芯片N1的7端，二極管D1和D2的正極與電容C1的負極連接后又接到芯片N1的9端，同時又連接電容C3和C2的負極后再接地，再接到電流表A，電容C3和C2的正極共同接于芯片N1的8端，同時又接于電流表A，變壓器T1的初級繞組與變壓器T2的初級繞組連接T2的次級繞組，并且連接二極管D8和D9的正極，同時又接于二極管D5和D6的負極，D7和D8的負極連同電容C4的正極接于VDD以及芯片N2的10端，D5和D6的正極共同接于電容C4的負極，同時又接于芯片N2的12端，并且連接電容C6和C5的負極，接地后又接于電壓表V，電容C6和C5的正極共同接于芯片N2的11端后又接±5V并接電壓表V。上述+5V分別作為電壓表V和電流表A的電源。
專利摘要一種鎂犧牲陽極電化學性能測試儀，它由外殼部分和測量部件組成，其測量部件主要由輔助陰極和庫侖計，連接導線與數(shù)顯儀表組成，殼體1內裝有輔助陰極5和庫侖計4，殼體1表面是數(shù)顯表面3和電源開關6以及電位器7和電源指示燈8，殼體1的后部有電源線9，可接220V的電源。
文檔編號G01N27/26GK2681133SQ200420004240
公開日2005年2月23日 申請日期2004年2月24日 優(yōu)先權日2004年2月24日
發(fā)明者黃鳴, 徐志斌, 陳玉銘, 張保國, 渠榮華 申請人:黃鳴