專利名稱：測試設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)于一種測試裝置，且特別是有關(guān)于一種輸出重置訊號(hào)的測試裝置。
背景技術(shù)：
隨著集成電路制成的進(jìn)步，各種電子裝置的發(fā)展也越來越快，而整體市場 規(guī)模也越來越大。整個(gè)生產(chǎn)過程從晶片制作、封裝、焊接到測試，都有著各自 的程序及過程。在測試過程中，常常會(huì)對電子裝置輸入一個(gè)重置訊號(hào)進(jìn)行測試，隨著重置 訊號(hào)高低電位間的變化，來測試電子裝置是否可以正常運(yùn)作。傳統(tǒng)的測試設(shè)備100的系統(tǒng)請參照圖1。傳統(tǒng)測試設(shè)備100具有控制端102、檢測訊號(hào)端104、 開關(guān)電路106與待測電子裝置連接端108?？刂贫?02用來控制開關(guān)電路106的開啟與否，藉以決定檢測訊號(hào)端104 的檢測訊號(hào)是否流入待測電子裝置連接端108。然而，當(dāng)開關(guān)電路106損壞時(shí)， 待測電子裝置連接端108將一直存在一個(gè)高電壓。此時(shí)，可能會(huì)破壞待測的電 子裝置。但傳統(tǒng)測試設(shè)備100并無法主動(dòng)回饋出開關(guān)電路106已經(jīng)損壞的情形，只 有在測試時(shí)，當(dāng)電子裝置出現(xiàn)大量異常的損毀情形，才能推知開關(guān)電路106可 能出現(xiàn)問題，如此造成測試過程中時(shí)間上的浪費(fèi)，更增加了電子裝置的整體成本。因此如何改良測試設(shè)備，主動(dòng)回饋出開關(guān)電路已經(jīng)損壞的情形，藉以加快 電子裝置的測試過程，并節(jié)省電子裝置的整體成本，為現(xiàn)今廠商所想達(dá)到的目 的。發(fā)明內(nèi)容因此本發(fā)明的目的就是在提供一種測試設(shè)備，其特征在于可主動(dòng)回饋出開 關(guān)電路已經(jīng)損壞的情形。本發(fā)明的另 一 目的是在提供一種測試設(shè)備，藉以避免大量電子裝置于測試 中損壞，達(dá)成加快電子裝置的測試過程，并節(jié)省電子裝置整體成本。根據(jù)本發(fā)明的上述目的，提出一種測試設(shè)備，至少包含開關(guān)電路與警示裝 置。開關(guān)電路用以控制檢測訊號(hào)是否傳送至待測電子裝置。警示設(shè)備則連接于 開關(guān)電路與電子裝置間，當(dāng)開關(guān)電路損毀，警示裝置將持續(xù)發(fā)出一個(gè)警示訊息。而根據(jù)本發(fā)明的目的，提出一個(gè)測試設(shè)備的實(shí)施例，此測試裝置至少包含 開關(guān)電路與發(fā)光設(shè)備。開關(guān)電路用以控制檢測訊號(hào)是否傳送至待測電子裝置。 發(fā)光設(shè)備連接于該開關(guān)電路與該電子裝置之間，當(dāng)開關(guān)電路損毀，發(fā)光設(shè)備將 持續(xù)發(fā)光狀態(tài)。于測試裝置上加裝一個(gè)警示設(shè)備，當(dāng)測試裝置損毀時(shí)，警示裝置會(huì)持續(xù)發(fā) 出警示訊息。透過警示裝置，可以告知測試裝置內(nèi)的開關(guān)電路損毀，必須修理。 如此，測試設(shè)備主動(dòng)回饋出開關(guān)電路已經(jīng)損壞的情形，可避免大量電子裝置于 測試中損壞，并藉以加快電子裝置的測試過程，并節(jié)省電子裝置的整體成本。


為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征、優(yōu)點(diǎn)與實(shí)施例能更明顯易懂，結(jié)合附圖詳細(xì)說明如下圖1為傳統(tǒng)測試設(shè)備系統(tǒng)方塊圖。圖2繪示了本發(fā)明測試設(shè)備系統(tǒng)方塊圖。圖3繪示了本發(fā)明第一實(shí)施例的測試設(shè)備電路圖。圖4繪示了本發(fā)明第二實(shí)施例的測試設(shè)備電路圖。
具體實(shí)施方式
本發(fā)明實(shí)施例是將傳統(tǒng)測試裝置加裝一個(gè)警示設(shè)備，當(dāng)測試裝置的開關(guān)電 路損毀時(shí)，將使警示設(shè)備持續(xù)發(fā)出警示訊息，回饋出開關(guān)電路已經(jīng)損壞的情形。 熟悉本技術(shù)領(lǐng)域者可在成本與實(shí)際操作的考量下，更改警示裝置的種類及內(nèi)部 元件參數(shù)，應(yīng)亦符合本發(fā)明的精神并包含于本發(fā)明的范圍中。請參照圖2，此為本發(fā)明各實(shí)施例中測試設(shè)備200系統(tǒng)方塊圖。測試設(shè)備 200具有控制端202、檢測訊號(hào)端204、開關(guān)電路220、待測電子裝置連接端206 與警示設(shè)備210?？刂贫?02用來控制開關(guān)電路220的開啟與否，藉以決定檢 測訊號(hào)端204的檢測訊號(hào)是否流入待測電子裝置連接端206。為了回饋出開關(guān)電路220已經(jīng)損壞的情形，警示設(shè)備210連接于開關(guān)電路 220與待測電子裝置連接端206之間。更進(jìn)一步說明，警示設(shè)備210的一端連 接于開關(guān)電路220與待測電子裝置連接端206之間，另一端則接地。由于當(dāng)開 關(guān)電路220損毀時(shí)，待測電子裝置連接端206會(huì)一直存在一個(gè)高電壓。因此透 過適當(dāng)?shù)脑O(shè)計(jì)，可使警示設(shè)備210于開關(guān)電路220損毀時(shí)，透過此高電壓來作 為動(dòng)力源，讓警示裝置210持續(xù)發(fā)出一警示訊息。以下將列舉數(shù)個(gè)實(shí)施例來說明本發(fā)明所實(shí)際帶來的功效，其中相同的元件將以同樣的標(biāo)號(hào)標(biāo)明。 第一實(shí)施例請參照圖3，此為第一實(shí)施例的測試設(shè)備電路圖。開關(guān)電路220包含一個(gè)N 型金屬氧化半導(dǎo)體322以及一個(gè)P型金屬氧化半導(dǎo)體324,兩個(gè)金屬氧化半導(dǎo) 體322及324并互相連結(jié)，藉以構(gòu)成開關(guān)電路220，來控制檢測訊號(hào)端204的 檢測訊號(hào)是否流入待測電子裝置連接端206。在本實(shí)施例中，警示設(shè)備220為一個(gè)發(fā)光設(shè)備。發(fā)光設(shè)備包含一個(gè)發(fā)光元 件312與電阻314。電阻314 —端連接于開關(guān)電路220與待測電子裝置連接端 206之間，另一端與發(fā)光元件312相連。發(fā)光元件312相對于與電阻314相連 的另一端則接地。當(dāng)開關(guān)電路220損毀時(shí)，待測電子裝置連接端206會(huì)一直存 在一個(gè)高電壓。因此電阻314的設(shè)置，可以使高電壓先行降低至發(fā)光元件312 所需的電壓，使得發(fā)光元件312可以正常工作。而由于此高電壓會(huì)持續(xù)存在， 因此發(fā)光元件312將會(huì)持續(xù)發(fā)光狀態(tài)，藉以回饋出開關(guān)電路220已經(jīng)損毀的情 況。在本實(shí)施例中，發(fā)光元件312為一發(fā)光二極管。由于發(fā)光二極管的價(jià)格低 廉，因此可以在最低的成本下，改良整個(gè)測試裝置。 第二實(shí)施例除了上述實(shí)施例中所提及的發(fā)光元件，警示設(shè)備亦可有其他的選擇，來提 供多元化的警示訊息。請參照圖4，此為第二實(shí)施例的測試設(shè)備電路圖。在本實(shí)施例中，測試裝 置210為一聲頻產(chǎn)生器412。聲頻產(chǎn)生器412的一端連接于開關(guān)電路220與待 測電子裝置連接端206之間，另一端則接地。將原本的警示訊息由持續(xù)發(fā)光轉(zhuǎn) 換為持續(xù)發(fā)出聲響。而聲頻產(chǎn)生器412可以是喇叭或者是蜂鳴器。由上述本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例可知，于測試裝置上加裝一個(gè)警示設(shè)備，當(dāng)測試裝置損毀時(shí)，警示裝置會(huì)持續(xù)發(fā)出警示訊息。透過警示裝置，可以告知測試裝 置內(nèi)的開關(guān)電路損毀，必須修理。如此，測試設(shè)備可主動(dòng)回饋出開關(guān)電路已經(jīng) 損壞的情形，避免大量電子裝置于測試中損壞，并藉以加快電子裝置的測試過 程，并節(jié)省電子裝置整體成本。雖然本發(fā)明已以多個(gè)實(shí)施例揭示如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟 悉本技術(shù)領(lǐng)域者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種的更動(dòng)與潤飾， 因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視后附的申請專利范圍所界定為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1. 一種測試裝置，該測試裝置包含一開關(guān)電路，用以控制一檢測訊號(hào)是否傳送至一待測電子裝置連接端；其特征在于包含一警示設(shè)備，連接于該開關(guān)電路與該待測電子裝置連接端之間，當(dāng)該開關(guān)電路損毀，該警示裝置將持續(xù)發(fā)出一警示訊息。
2. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，該警示設(shè)備的一端連接于 該開關(guān)電路與該待測電子裝置連接端之間，另一端接地。
3. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，該開關(guān)電路至少包含一 N 型金屬氧化半導(dǎo)體與一 P型金屬氧化半導(dǎo)體并相互連接。
4. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，該警示設(shè)備至少包含一發(fā) 光元件及 一 電阻，其中該電阻 一 端連接于該該開關(guān)電路與該待測電子裝置連接 端之間，另一端與該發(fā)光元件相連，該發(fā)光元件相對于與電阻相連的另一端接 地。
5. 如權(quán)利要求4所述的測試裝置，其特征在于，該發(fā)光元件為一發(fā)光二極管。
6. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，該警示設(shè)備至少包含一聲 頻產(chǎn)生器，該聲頻產(chǎn)生器的一端連接于該開關(guān)電路與該待測電子裝置連接端之 間，另一端4妄地。
7. 如權(quán)利要求6所述的測試裝置，其特征在于，該聲頻產(chǎn)生器為一喇叭。
8. —種測試裝置，該測試裝置包含一開關(guān)電路，用以控制一檢測訊號(hào)是否 傳送至一待測電子裝置連接端；其特征在于包含一發(fā)光設(shè)備，連接于該開關(guān)電路與該待測電子裝置連接端之間，當(dāng)該開關(guān) 電路損毀，該發(fā)光設(shè)備將持續(xù)發(fā)光狀態(tài)。
9. 如權(quán)利要求8所述的測試裝置，其特征在于，該開關(guān)電路至少包含一 N 型金屬氧化半導(dǎo)體與一 P型金屬氧化半導(dǎo)體并相互連接。
10. 如權(quán)利要求8所述的測試裝置，其特征在于，該發(fā)光設(shè)備包含一發(fā)光二 極管與一電阻，該電阻一端連接于該開關(guān)電路與該待測電子裝置連接端之間， 該電阻另一端與該發(fā)光二極管相連，該發(fā)光元件相對于與電阻相連的另一端接 地。
全文摘要
本發(fā)明提供一種測試裝置，包含開關(guān)電路及警示設(shè)備。開關(guān)電路用來控制檢測訊號(hào)是否傳送至待測電子裝置連接端。警示裝置連接于開關(guān)電路與待測電子裝置連接端之間，當(dāng)開關(guān)電路損毀，警示裝置將持續(xù)發(fā)出警示訊息，以防止進(jìn)一步損壞待測電子裝置。
文檔編號(hào)G01R31/327GK101261309SQ20071003792
公開日2008年9月10日 申請日期2007年3月8日 優(yōu)先權(quán)日2007年3月8日
發(fā)明者劉獻(xiàn)忠 申請人:英華達(dá)(上海)科技有限公司