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一種測試夾具的制作方法

文檔序號(hào):6037446閱讀:217來源:國知局
專利名稱:一種測試夾具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及測試領(lǐng)域,特別是涉及一種測試夾具。
背景技術(shù)
目前,通過測試夾具對印刷電路板(Printed Circuit Board,以下簡稱PCB ) 進(jìn)行測試的方式在電子產(chǎn)品的生產(chǎn)中占據(jù)非常重要的位置,測試夾具已經(jīng)成 為部分電子產(chǎn)品生產(chǎn)過程中必備的生產(chǎn)設(shè)備。測試夾具使用測試針與PCB上 的測試點(diǎn)相接觸,將PCB上的測試點(diǎn)的電氣信息,通過測試針傳遞到外部測 試設(shè)備上,對測試單板進(jìn)行測試。
在測試過程中,會(huì)出現(xiàn)測試夾具的測試針與測試點(diǎn)不能良好接觸的情況, 導(dǎo)致測試夾具不能繼續(xù)測試。這時(shí)需要判斷是否是由于測試夾板之外的其他 測試設(shè)備,如測試儀器、測試電源、測試數(shù)據(jù)線、^皮測單板等方面的因素導(dǎo) 致的,在對以上測試環(huán)境進(jìn)行檢查后,方可推斷是否是由于測試夾具的原因 導(dǎo)致。如果是由于測試夾具和測試單板的接觸原因?qū)е碌臏y試失敗,往往要 花費(fèi)比較長的時(shí)間,才能定位出是測試夾具的問題,影響了工作效率。
當(dāng)判斷出測試夾具中的測試針與被測單板的測試點(diǎn)接觸斷開或接觸不良 好時(shí),需要將測試夾具從固定設(shè)備上拆卸下來,通過儀器對測試夾具各個(gè)測 試點(diǎn)與測試針之間的連接進(jìn)行測量、判斷,定位時(shí)間長,同樣影響了工作效 率。

實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型實(shí)施例提供一種測試夾具,解決了測試夾具不能自檢的問題, 提高了測試夾具的工作效率。
為達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型實(shí)施例提出一種測試夾具,包括 固定板、測試針、測試電路和自檢電路,所述自檢電路與所述測試針相連接,以檢測所述測試針與測試點(diǎn)的接觸情況。
所述測試夾具,還包括
切換開關(guān),所述切換開關(guān)與所述自檢電路和所述測試電路相連接,使所 述測試夾具的工作模式在測試模式和自檢模式之間切換。
所述自檢電路中設(shè)有發(fā)光模塊或語音模塊,以提示用戶所述測試針與所 述測試點(diǎn)的接觸情況。
本實(shí)用新型實(shí)施例的技術(shù)方案具有以下優(yōu)點(diǎn),因?yàn)樵跍y試夾具中添加了 自檢電路,實(shí)現(xiàn)對測試單板測試點(diǎn)電氣信息的獨(dú)立反饋,并且不影響單板性 能,達(dá)到夾具自檢的功能,提高了工作效率。


圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例中的測試夾具的裝置結(jié)構(gòu)圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例中的測試夾具的電^各原理示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例,對本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
作進(jìn)一步詳細(xì) 描述
如圖l所示,為本實(shí)用新型實(shí)施例中的測試夾具的裝置結(jié)構(gòu)圖,包括 固定板101和測試針102。固定板101將測試針102固定在凈皮測單板104上。 該測試針102內(nèi)置于針套103中, 一端與被測單板104中的測試點(diǎn)105接觸, 以獲取測試點(diǎn)105的電氣信息和測試針102與測試點(diǎn)105的接觸情況。該測 試針102的另一端可以連接測試電路,以4企測該測試點(diǎn)105的電氣信息;也 可以連接自檢電路,以檢測該測試針102與測試點(diǎn)105的接觸情況。本實(shí)用 新型實(shí)施例中被測單板上的測試針,可以是放置在同一個(gè)測試點(diǎn)的兩根測 試針,該兩根測試針可以內(nèi)置于同一個(gè)針套中,也可以分別內(nèi)置于兩個(gè)不 同的針套中。本實(shí)用新型實(shí)施例中被測單板上的測試針還可以是一根測試 針,該測試針針對特殊的被測單板,與被測單板電路協(xié)同完成測試夾具的 自檢任務(wù)。如圖2所示,為本實(shí)用新型實(shí)施例中的測試夾具的電路原理示意圖,測 試針Al和測試針A2放置在被測單板的測試點(diǎn)Pl上,測試針Bl和測試針 B2放置在被測單板的測試點(diǎn)P2上,測試針Cl和測試針C2放置在被測單板 的測試點(diǎn)P3上,測試針Dl和測試針D2放置在被測單板的測試點(diǎn)PN上,分 別用于獲取被測單板的各個(gè)測試點(diǎn)的電氣信息以及測試針與各個(gè)測試點(diǎn)的接 觸情況。該測試夾具中添加了自檢模式,由自檢電路實(shí)現(xiàn)。自檢電路由直流 電源VCC,經(jīng)過電阻(Rl、 R2、 R3或RN)和發(fā)光二極管(LED1、 LED2、 LED3或LEDN ),到接地點(diǎn)GND構(gòu)成,測試針與自檢電路和測試電路(測試 電路l、測試電路2、測試電路3或測試電路N)相連接。測試針A1和測試 針A2與被測點(diǎn)接觸正常時(shí),自檢電路由直流電源VCC、電阻R1、發(fā)光二極 管LEDl,到接地點(diǎn)GND構(gòu)成回路,發(fā)光二極管LED1發(fā)光顯示;兩測試針 與被測點(diǎn)接觸不正常時(shí),該自檢電路斷開,或者時(shí)通時(shí)斷,發(fā)光二極管LED1 不發(fā)光顯示,或者時(shí)明時(shí)滅。
切換開關(guān)與測試電路和自檢電路相連接,使測試夾具的工作模式在測試 模式和自檢模式之間切換。切換開關(guān)包括雙刀雙擲開關(guān)K1、 K2、 K3和K4。 當(dāng)Kl連接到Kl-2和Kl-4時(shí),測試夾具工作在測試才莫式下,測試點(diǎn)的電氣信 息經(jīng)過測試針Al和A2連接到測試電路1中。當(dāng)Kl連接到Kl-l和Kl-3時(shí), 測試夾具工作在自檢模式下,測試針與測試點(diǎn)的接觸情況,通過由直流電源 VCC到接地點(diǎn)GND的自檢電路的通斷情況來判斷。
本實(shí)用新型實(shí)施例中的自檢電路,可以通過設(shè)有發(fā)光模塊,如發(fā)光二極 管等元器件,以提示用戶測試針與測試點(diǎn)的接觸情況;也可以通過設(shè)有語音 模塊,以提示用戶測試針與測試點(diǎn)的接觸情況。
本實(shí)用新型實(shí)施例的技術(shù)方案具有以下優(yōu)點(diǎn),因?yàn)樵跍y試夾具中添加了 自檢電路,實(shí)現(xiàn)對測試單板測試點(diǎn)電氣信息的獨(dú)立反饋,并且不影響單板性 能,達(dá)到夾具自檢的功能,提高了工作效率。
通過以上的實(shí)施方式的描述,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到本 實(shí)用新型可借助軟件加必需的通用硬件平臺(tái)的方式來實(shí)現(xiàn),當(dāng)然也可以通 過硬件,但很多情況下前者是更佳的實(shí)施方式?;谶@樣的理解,本實(shí)用新型的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分可以以軟件產(chǎn)品 的形式體現(xiàn)出來,該計(jì)算機(jī)軟件產(chǎn)品存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)介質(zhì)中,包括若干指 令用以使得一臺(tái)終端設(shè)備(可以是手機(jī),個(gè)人計(jì)算機(jī),服務(wù)器,或者網(wǎng)絡(luò) 設(shè)備等)執(zhí)行本實(shí)用新型各個(gè)實(shí)施例所述的方法。
以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對于本技術(shù)領(lǐng) 域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下,還可以做出 若千改進(jìn)和潤飾,這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1、一種測試夾具,包括固定板、測試針和測試電路,其特征在于,還包括自檢電路,所述自檢電路與所述測試針相連接,以檢測所述測試針與測試點(diǎn)的接觸情況;切換開關(guān),所述切換開關(guān)與所述自檢電路和所述測試電路相連接,使所述測試夾具的工作模式在測試模式和自檢模式之間切換。
2、 如權(quán)利要求1所述測試夾具,其特征在于,所迷自檢電路中設(shè)有發(fā)光 模塊或語音模塊,以提示用戶所述測試針與所述測試點(diǎn)的接觸情況。
專利摘要本實(shí)用新型實(shí)施例公開了一種測試夾具,包括固定板、測試針、測試電路和自檢電路,所述自檢電路與所述測試針相連接,以檢測所述測試針與測試點(diǎn)的接觸情況。所述測試夾具,還包括切換開關(guān),所述切換開關(guān)與所述自檢電路和所述測試電路相連接,使所述測試夾具的工作模式在測試模式和自檢模式之間切換。所述自檢電路中設(shè)有發(fā)光模塊或語音模塊,以提示用戶所述測試針與所述測試點(diǎn)的接觸情況。本實(shí)用新型實(shí)施例在測試夾具中添加了自檢模式,實(shí)現(xiàn)對測試單板測試點(diǎn)電氣信息的獨(dú)立反饋,達(dá)到夾具自檢的功能,提高了工作效率。
文檔編號(hào)G01R1/04GK201247262SQ20082012791
公開日2009年5月27日 申請日期2008年7月14日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月14日
發(fā)明者勇 楊 申請人:深圳華為通信技術(shù)有限公司
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