專利名稱：輝光放電光譜儀專用分析夾具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種輝光放電光譜儀專用分析夾具。
背景技術(shù)：
輝光放電光譜儀是一種用于分析金屬材料化學(xué)成分、金屬表面鍍層厚度和鍍層化 學(xué)成分的先進(jìn)儀器，該儀器的特點(diǎn)是對(duì)固體塊狀樣品直接進(jìn)行分析，無需化學(xué)溶樣處理，但 它對(duì)樣品的尺寸和形狀有一定的要求，即樣品必須有一個(gè)直徑或邊長大于14mm的平面區(qū) 域，使樣品能完全覆蓋住輝光放電燈的密封圈。但在實(shí)際使用中，許多樣品都不能滿足條 件，因而也就限制了輝光放電光譜儀的適用范圍。 中國實(shí)用新型說明書ZL 200420109246. 4公開了一種輝光放電光譜儀專用分析 夾具，包括基座、頂塊、彈簧和密封圈，基座中設(shè)置盲孔，彈簧及與彈簧相連的頂塊裝設(shè)在基 座的盲孔中，盲孔開口端的基座端面上設(shè)置密封圈。這種分析夾具可將輝光放電光譜儀可 分析的樣品尺寸規(guī)格減小到7mm左右，具有結(jié)構(gòu)簡單、使用方便的優(yōu)點(diǎn)。但是這種分析夾具 不能準(zhǔn)確將小樣品放在頂塊頂面的中心處，這樣就容易造成因小樣品偏離頂塊頂面的中心 而使小樣品不能被正常激發(fā)，使測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種結(jié)構(gòu)簡單、使用方便可靠并 能使小樣品正常激發(fā)的輝光放電光譜儀專用分析夾具。 為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型輝光放電光譜儀專用分析夾具由基座、頂塊、彈
簧和密封圈構(gòu)成，基座中設(shè)置盲孔，彈簧的一端與頂塊相連，另一端與盲孔底部連接，彈簧
和頂塊裝設(shè)在基座的盲孔中，盲孔開口端的基座端面上設(shè)置密封圈，所述頂塊的頂面上設(shè)
置有定中心結(jié)構(gòu)，所述定中心結(jié)構(gòu)為至少兩條通過頂塊的頂面中心帶刻度的直線。 所述的定中心結(jié)構(gòu)可以為通過頂塊的頂面中心帶刻度的十字線；所述的定中心結(jié)
構(gòu)也可以為四條通過頂面中心帶刻度的直線，直線之間的夾角為45° ;進(jìn)一步的所述帶刻
度的直線的刻度間距為0. 5mm。 通過對(duì)分析夾具增加一個(gè)定中心結(jié)構(gòu)，使小樣品能準(zhǔn)確位于頂塊頂面中心，從而 使小樣品能被正常激發(fā)，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠，特別是對(duì)直徑或邊長在7mm左右的小樣品使 用效果尤為明顯。
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
說明本實(shí)用新型的詳細(xì)內(nèi)容；

圖1是本實(shí)用新型的輝光放電光譜儀專用分析夾具結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2是本實(shí)用新型的圖1所示的A-A向剖視結(jié)構(gòu)示意圖； 在圖1、圖2中1、基座；2、頂塊；3、彈簧；4、密封圈；5、盲孔。
具體實(shí)施方式
如圖1和圖2，本實(shí)用新型輝光放電光譜儀專用分析夾具包括基座1、頂塊2、彈簧 3和密封圈4，基座1中設(shè)置盲孔5，彈簧3的一端與頂塊2相連，另一端與盲孔5底部連接， 彈簧3和頂塊2裝設(shè)在基座1的盲孔5中，盲孔5開口端的基座1端面上設(shè)置密封圈4，頂 塊2的頂面上設(shè)置有定中心結(jié)構(gòu)，所述定中心結(jié)構(gòu)為通過頂塊2的頂面中心帶刻度的十字 線，十字線的刻度間距為O. 5mm。本實(shí)用新型的定中心結(jié)構(gòu)還可以為四條通過頂塊2的頂面 中心的帶刻度的直線，直線之間的夾角為45° ，直線的刻度間距為0. 5mm。 在使用狀態(tài)下，只需將直徑或邊長小于14mm的小樣品通過定中心結(jié)構(gòu)例如帶刻 度的十字線準(zhǔn)確放在頂塊2的頂面中心處，然后由頂塊2頂壓在輝光放電燈的陽極端口 ，基 座1端面上的密封圈4與工作端面保持密封，即可進(jìn)行分析測(cè)試操作。
權(quán)利要求一種輝光放電光譜儀專用分析夾具，包括基座(1)、頂塊(2)、彈簧(3)和密封圈(4)，基座(1)中設(shè)置盲孔(5)，彈簧(3)的一端與頂塊(2)相連，另一端與盲孔(5)底部連接，彈簧(3)和頂塊(2)裝設(shè)在基座(1)的盲孔(5)中，盲孔(5)開口端的基座(1)端面上設(shè)置密封圈(4)，其特征在于所述頂塊(2)的頂面上設(shè)置有定中心結(jié)構(gòu)，所述定中心結(jié)構(gòu)為至少兩條通過頂塊(2)的頂面中心帶刻度的直線。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析夾具，其特征在于所述的定中心結(jié)構(gòu)為通過頂塊(2) 的頂面中心帶刻度的十字線。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析夾具，其特征在于所述的定中心結(jié)構(gòu)為四條通過頂塊 (2)的頂面中心帶刻度的直線，直線之間的夾角為45。。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的分析夾具，其特征在于所述帶刻度的直線的刻度 間距為0. 5mm。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種輝光放電光譜儀專用分析夾具，包括基座(1)、頂塊(2)、彈簧(3)和密封圈(4)，基座(1)中設(shè)置盲孔(5)，彈簧(3)的一端與頂塊(2)相連，另一端與盲孔(5)底部連接，彈簧(3)及與彈簧(3)相連的頂塊(2)裝設(shè)在基座(1)的盲孔(5)中，盲孔(5)開口端的基座(1)端面上設(shè)置密封圈(4)，頂塊(2)的頂面上設(shè)置有定中心結(jié)構(gòu)，所述定中心結(jié)構(gòu)為通過頂面中心帶刻度的十字線，十字線的刻度間距為0.5mm。采用這種結(jié)構(gòu)的分析夾具結(jié)構(gòu)簡單、使用方便可靠并能使小樣品正常激發(fā)。
文檔編號(hào)G01N21/67GK201548487SQ20092018021
公開日2010年8月11日 申請(qǐng)日期2009年10月29日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月29日
發(fā)明者吳貴根, 唐菊芬, 梁李兵, 黎林 申請(qǐng)人:奇瑞汽車股份有限公司