專利名稱：一種衛(wèi)星電性能測試序列的優(yōu)化方法
技術領域：
本發(fā)明涉及確定和優(yōu)化衛(wèi)星電性能測試序列的技術領域，特別是涉及一種衛(wèi)星電性能測試序列的優(yōu)化方法。
背景技術：
對衛(wèi)星進行的電性能測試是指在衛(wèi)星發(fā)射前對其各研制階段的電氣功能和性能指標等所進行的測試，包括單元測試、分系統(tǒng)測試、系統(tǒng)測試以及環(huán)境試驗過程中的電測試等，這是研制衛(wèi)星的重要工作內(nèi)容。在傳統(tǒng)衛(wèi)星研制過程中，電性能測試受到的約束較少，比如測試時間一般為幾個月，工作量一般也不受限制。但隨著空間技術的發(fā)展，尤其是快速空間響應技術的發(fā)展，衛(wèi)星從需求提出到發(fā)射入軌要在一個月甚至更短的時間內(nèi)完成。例如，美國和歐洲的快速響應衛(wèi)星要求一周內(nèi)完成衛(wèi)星集成、測試與發(fā)射。這樣，快速響應衛(wèi)星對衛(wèi)星電性能測試的時間要限制在幾天，工作量也相應受到一定限制。為了滿足上述需求，衛(wèi)星電性能測試的各測試序列均要進行詳細規(guī)劃，每個測試序列要受到嚴格的時間約束(限制到小時甚至分鐘) 和工作量約束，現(xiàn)有的衛(wèi)星電性能測試序列顯然不能滿足要求。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術問題是提供一種衛(wèi)星電性能測試序列的優(yōu)化方法，能在測試時間和工作量均受約束的情況下確定和優(yōu)化衛(wèi)星電性能的測試序列。本發(fā)明解決上述技術問題的技術方案如下一種衛(wèi)星電性能測試序列的優(yōu)化方法，該方法用于在測試時間和工作量均受約束的情況下確定和優(yōu)化衛(wèi)星電性能的測試序列；其特征在于，該方法包括步驟1 將測試任務劃分為m個測試模塊；確定每個所述測試模塊Ai所對應的Si 個測試序列％，~，+ + + 唭中，m為大于1的正整數(shù)，i為不小于1且不大于m的整數(shù)，Si為不小于1的整數(shù)；步驟2 確定每個所述測試序列％所對應的測試時間tu、工作量 以及該測試序列的優(yōu)化目標列向量Cij = [ciJi; ciJ2, Cijp]-1 ；其中，j為不小于1且不大于Si的整數(shù)， P為所述測試任務的優(yōu)化目標的數(shù)量；步驟3 確定各測試序列的狀態(tài)量xu，使受約束的優(yōu)化方程符合所述測試任務的Ρ個優(yōu)化目標的要求；所述優(yōu)化方程為使cx取得最大值；

所述優(yōu)化方程的約束條件為
權利要求
1.一種衛(wèi)星電性能測試序列的優(yōu)化方法，該方法用于在測試時間和工作量均受約束的情況下確定和優(yōu)化衛(wèi)星電性能的測試序列；其特征在于，該方法包括步驟1 將測試任務劃分為m個測試模塊；確定每個所述測試模塊Ai所對應的Si個測試序列％，~，+ + +\ ；其中，m為大于1的正整數(shù)，i為不小于1且不大于m的整數(shù)，Si為不小于1的整數(shù)；步驟2 確定每個所述測試序列所對應的測試時間tu、工作量 以及該測試序列的優(yōu)化目標列向量Cij = [ciJi; ciJ2, Cijp]-1 ；其中，j為不小于1且不大于Si的整數(shù)，ρ 為所述測試任務的優(yōu)化目標的數(shù)量；步驟3 確定各測試序列的狀態(tài)量xu，使受約束的優(yōu)化方程符合所述測試任務的ρ 個優(yōu)化目標的要求；所述優(yōu)化方程為使CX取得最大值； 所述優(yōu)化方程的約束條件為
2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟3中的所述優(yōu)化目標為測試序列的重要性權值之和最大；則P = 1，且Cu為測試序列的重要性權值。
3.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟3中的所述優(yōu)化目標為測試序列的重要性權值之和最大，且測試序列的穩(wěn)定性最好；則P = 2。
4.根據(jù)權利要求3所述的方法，其特征在于，在每個中第一個參數(shù)c⑶為測試序列的重要性權值，第二個參數(shù)cU2為測試序列的穩(wěn)定參數(shù)；或，第一個參數(shù)c⑶為測試序列的穩(wěn)定參數(shù)，第二個參數(shù)cU2為測試序列％的重要性權值。
5.根據(jù)權利要求1-4中任一項所述的方法，其特征在于，所述步驟4中求解所述優(yōu)化方程的方法為利用線性規(guī)劃方法來求解所述優(yōu)化方程。
6.根據(jù)權利要求5所述的方法，其特征在于，所述線性規(guī)劃方法包括單純形法、修正單純形法。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種衛(wèi)星電性能測試序列的優(yōu)化方法。該方法包括步驟1將測試任務劃分為m個測試模塊；確定每個所述測試模塊Ai所對應的si個測試序列步驟2確定每個所述測試序列aij所對應的測試時間tij、工作量wij以及該測試序列的優(yōu)化目標列向量cij＝[cij1，cij2，...，cijp]-1；步驟3確定各測試序列aij的狀態(tài)量xij，使受約束的優(yōu)化方程符合所述測試任務的p個優(yōu)化目標的要求；所述優(yōu)化方程為使CX取得最大值，所述優(yōu)化方程的約束條件為且步驟4求解所述優(yōu)化方程，得到需要執(zhí)行的測試序列。本發(fā)明能在測試時間和工作量均受約束的情況下確定和優(yōu)化衛(wèi)星電性能的測試序列。
文檔編號G01R31/00GK102542357SQ201110442320
公開日2012年7月4日 申請日期2011年12月26日 優(yōu)先權日2011年12月26日
發(fā)明者劉源, 張迎春, 李冬柏, 李化義, 李暉, 李璟璟, 耿云海, 董立珉 申請人:哈爾濱工業(yè)大學