專利名稱：冷鏡式低露點(diǎn)測量儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測定低露點(diǎn)的冷鏡式露點(diǎn)測量儀，可以在高溫環(huán)境下準(zhǔn)確快速測定低濕度氣體露點(diǎn)。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有典型的冷鏡式露點(diǎn)儀，其測定原理和過程為半導(dǎo) 體制冷器對密閉露點(diǎn)室內(nèi)的反射鏡面制冷，當(dāng)溫度達(dá)到流經(jīng)露點(diǎn)室的氣體的露點(diǎn)時，氣體中的水分在鏡面結(jié)露，光電檢測系統(tǒng)檢測到結(jié)露的同時，鉬電阻測定鏡面的溫度即為測定氣體的露點(diǎn)。然而在高溫的夏季進(jìn)行小于60度的低露點(diǎn)測定時，由于外界溫度高，半導(dǎo)體制冷器所產(chǎn)生的熱量傳導(dǎo)到露點(diǎn)室外殼后不能及時散失，導(dǎo)致半導(dǎo)體制冷效率低，長時間都不能達(dá)到露點(diǎn)溫度，從而不能完成測量。因此，如何進(jìn)一步降低半導(dǎo)體制冷片在高溫環(huán)境下的制冷溫度，是低露點(diǎn)氣體含水量測量需要解決的問題。

實(shí)用新型內(nèi)容為解決上述問題，本實(shí)用新型提供了一種冷鏡式低露點(diǎn)測量儀。對現(xiàn)有冷鏡式露點(diǎn)儀的制冷系統(tǒng)做了很大的改進(jìn)。本實(shí)用新型提供的冷鏡式低露點(diǎn)測量儀由露點(diǎn)室、制冷系統(tǒng)和控制系統(tǒng)組成。所述的露點(diǎn)室由旋蓋和基座組成，旋蓋內(nèi)裝有光電檢測器，基座內(nèi)裝有反射鏡面。所述的制冷系統(tǒng)為雙制冷系統(tǒng)，包括鏡面制冷系統(tǒng)和基座制冷系統(tǒng)，其中鏡面制冷系統(tǒng)用于對露點(diǎn)室內(nèi)的鏡面制冷，基座制冷系統(tǒng)用于對冷鏡室基座制冷。所述的鏡面制冷系統(tǒng)包括半導(dǎo)體制冷片和散熱片，半導(dǎo)體制冷片的制冷端與露點(diǎn)室的鏡面連接，熱端與散熱片連接，散熱片與露點(diǎn)室基座內(nèi)壁緊密連接。所述的基座制冷系統(tǒng)包括半導(dǎo)體制冷片、散熱片和風(fēng)扇，半導(dǎo)體制冷片的制冷端與露點(diǎn)室基座的外壁連接，熱端與散熱片連接，散熱片與風(fēng)扇連接。與現(xiàn)有的冷鏡式露點(diǎn)儀相比，本實(shí)用新型提供的冷鏡式低露點(diǎn)測量儀由于增加了基座制冷系統(tǒng)，可以在高溫環(huán)境中將冷鏡室外殼的溫度控制在-io°c到o°c之間，從而有利于鏡面制冷系統(tǒng)熱端熱量的快速交換，使得鏡面制冷溫度在環(huán)境溫度在超過40°c時人能達(dá)到-70 0C ο

圖I為本實(shí)用新型冷鏡式低露點(diǎn)測量儀的露點(diǎn)室及制冷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖與具體實(shí)例進(jìn)一步說明本實(shí)用新型的實(shí)施方式。本領(lǐng)域的技術(shù)人員可由本說明所揭示的內(nèi)容了解本實(shí)用新型的功能和優(yōu)點(diǎn)。本實(shí)用新型也可以通過其它不同的具體事例加以實(shí)施或應(yīng)用。[0009]本實(shí)用新型所述的冷鏡式低露點(diǎn)測量儀可以用于電力系統(tǒng)高壓開關(guān)絕緣氣體SF6的水分含量測定。圖I是本實(shí)用新型的露點(diǎn)室及制冷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，露點(diǎn)儀的露點(diǎn)室包括旋蓋(I)和基座(2)，旋蓋(I)內(nèi)有光電檢測器(9)，用于檢測鏡面(3)的結(jié)露情況。鏡面制冷系統(tǒng)包括半導(dǎo)體制冷片(4)和散熱片(5)，半導(dǎo)體制冷片(4)的冷端與鏡面(3)連接，熱端與散熱片(5)連接，散熱片(5)與基座(2)底部的內(nèi)壁緊密接觸，以通過基座散發(fā)制冷所產(chǎn)生的熱量。基座制冷系統(tǒng)包括半導(dǎo)體制冷片￠)、散熱片(7)和風(fēng)扇(8)，半導(dǎo)體制冷片出)的制冷端與露點(diǎn)室基座(2)底部的外壁連接，熱端與散熱片(7)連接，散熱片(7)與風(fēng)扇(8)連接，以散失制冷所產(chǎn)生的熱量。在測量過程中，鏡面制冷系統(tǒng)對反射鏡面制冷，制冷所產(chǎn)生的熱量與基座制冷系統(tǒng)的制冷端迅速發(fā)生熱量交換，從而可以使鏡面溫度迅速下降?；评湎到y(tǒng)產(chǎn)生的熱量可以通過大功率的風(fēng)扇與外界發(fā)生交換。由于通過兩級制冷，保證了在外界高溫環(huán)境下，露點(diǎn)室基體的溫度能維持在-10到0°C之間，鏡面制冷系統(tǒng)的制冷能力能穩(wěn)定達(dá)到-70°c，因而在夏季戶外測定高壓開關(guān)絕緣氣體SF6氣體的極微量水分含量時，也能快速的測得準(zhǔn)確的露點(diǎn)。
權(quán)利要求1.一種冷鏡式低露點(diǎn)測量儀，包括露點(diǎn)室、制冷系統(tǒng)和控制系統(tǒng)，其特征在于所述的露點(diǎn)室由旋蓋和基座組成，旋蓋內(nèi)裝有光電檢測器，基座內(nèi)裝有反射鏡面。
2.如權(quán)利要求I所述的冷鏡式低露點(diǎn)測量儀，其特征在于所述的制冷系統(tǒng)為雙制冷系統(tǒng)，包括鏡面制冷系統(tǒng)和基座制冷系統(tǒng)，其中鏡面制冷系統(tǒng)用于對露點(diǎn)室內(nèi)的鏡面制冷，基座制冷系統(tǒng)用于對冷鏡室基座制冷。
3.如權(quán)利要求2所述的冷鏡式低露點(diǎn)測量儀，其特征在于所述的鏡面制冷系統(tǒng)包括半導(dǎo)體制冷片和散熱片，半導(dǎo)體制冷片的制冷端與露點(diǎn)室的鏡面連接，熱端與散熱片連接，散熱片與露點(diǎn)室基座內(nèi)壁緊密連接。
4.如權(quán)利要求2所述的冷鏡式低露點(diǎn)測量儀，其特征在于所述的基座制冷系統(tǒng)包括半導(dǎo)體制冷片、散熱片和風(fēng)扇，半導(dǎo)體制冷片的制冷端與露點(diǎn)室基座的外壁連接，熱端與散熱片連接，散熱片與風(fēng)扇連接。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種冷鏡式低露點(diǎn)測量儀，包括露點(diǎn)室、制冷系統(tǒng)和控制系統(tǒng)。所述的露點(diǎn)室由旋蓋和基座組成，旋蓋內(nèi)裝有光電檢測器，基座內(nèi)裝有反射鏡面。所述的制冷系統(tǒng)包括鏡面制冷系統(tǒng)和基座制冷系統(tǒng)，鏡面制冷系統(tǒng)的冷端與鏡面連接、熱端與基座內(nèi)壁連接，基座制冷系統(tǒng)的冷端與基座外壁連接，熱端通過風(fēng)扇散熱。本實(shí)用新型通過增加基座制冷系統(tǒng)降低基座溫度，促進(jìn)鏡面制冷系統(tǒng)熱端的熱量散失，提從而高鏡面的制冷效率，降低鏡面制冷的溫度，保證即使在高溫環(huán)境中也可以測定低濕度氣體的露點(diǎn)。
文檔編號G01N21/17GK202693461SQ20122015036
公開日2013年1月23日 申請日期2012年4月11日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月11日
發(fā)明者章嘯 申請人:章嘯