專利名稱：校表檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種檢測裝置，尤其涉及一種對電表脈沖數(shù)進行檢測、校準的校表檢測裝置。
背景技術(shù)：
智能電表在出廠時，需要對精準度進行檢測以確認是否符合標準精準度的要求。通常精準度的校準是通過對電表脈沖數(shù)的校準來使電表運行滿足規(guī)定的誤差要求。而在校表時，首先需要檢測電表的脈沖數(shù)，然后計算該脈沖數(shù)與標準源的脈沖數(shù)之間的誤差，接著按照設(shè)定好的算式將該差值轉(zhuǎn)換成修正值并寫入計量芯片，最后計量芯片再根據(jù)修正值計量電能并輸出。但現(xiàn)有的校準裝置不僅結(jié)構(gòu)復雜、不易操作，同時還不能對多路電表進行校準檢測，用途比較單一。有鑒于此，有必要對現(xiàn)有的校準裝置予以改進，以解決上述問題。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種新型的校表檢測裝置，該校表檢測裝置不僅結(jié)構(gòu)簡單、易操作，同時還能對多路電表進行校準檢測。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供了一種校表檢測裝置，用以對單路電表的脈沖數(shù)進行校準，所述校表檢測裝置包括電源、標準源脈沖測試口以及設(shè)置在所述電源和所述標準源脈沖測試口之間的光耦合器，所述光耦合器上設(shè)置有兩個輸入口和兩個輸出口，所述兩個輸入口分別與電表和所述電源相連，所述兩個輸出口分別與所述標準源脈沖測試口的兩個輸入端相連。作為本實用新型的進一步改進，所述電源與所述光耦合器之間還連接有用以限制所連支路中電流大小的電阻。作為本實用新型的進一步改進，所述光耦合器的一個輸入口與所述電阻相連，另一個輸入口與所述電表的有功脈沖相連。作為本實用新型的進一步改進，所述電表的有功脈沖處于高電平時，所述光耦合器斷開，無輸出；所述電表的有功脈沖處于低電平時，所述光I禹合器閉合，有輸出。作為本實用新型的進一步改進，所述電源為5V。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型還提供了一種校表檢測裝置，用以對多路電表的脈沖數(shù)進行校準，所述校表檢測裝置包括共用電源、標準源脈沖測試口以及設(shè)置在所述共用電源和所述標準源脈沖測試口之間的若干并聯(lián)設(shè)置的光耦合器，每個所述光耦合器均包括兩個輸入口和兩個輸出口，其中一個所述輸入口與所述共用電源相連、另一個所述輸入口與對應(yīng)的電表相連，所述兩個輸出口用以在對相應(yīng)的所述電表進行脈沖數(shù)校準時連接到所述標準源脈沖測試口的兩個輸入端上。作為本實用新型的進一步改進，所述共用電源為5V。作為本實用新型的進一步改進，所述共用電源與每個所述光耦合器之間都連接有用以限制所連支路中電流大小的電阻。作為本實用新型的進一步改進，每個所述光耦合器的一個輸入口與所述電阻相連，另一個輸入口與相應(yīng)每個電表的有功脈沖相連。作為本實用新型的進一步改進，所述電表的有功脈沖處于高電平時，所述光耦合器斷開，無輸出；所述電表的有功脈沖處于低電平時，所述光I禹合器閉合，有輸出。本實用新型的有益效果是:本實用新型的校表檢測裝置設(shè)置有電源、標準源脈沖測試口以及設(shè)置在所述電源和所述標準源脈沖測試口之間的光耦合器，所述光耦合器上設(shè)置有兩個輸入口和兩個輸出口，所述兩個輸入口分別與電表和所述電源相連，所述兩個輸出口分別與所述標準源脈沖測試口的兩個輸入端相連，從而所述校表檢測裝置可對單路電表的脈沖數(shù)進行校準；若在所述電源和所述標準源脈沖測試口之間并聯(lián)有若干個所述光耦合器，且每個所述光耦合器的其中一個輸入口與電源相連、另一個輸入口與對應(yīng)的電表相連，兩個輸出口在對相應(yīng)的電表進行脈沖數(shù)校準時連接到所述標準源脈沖測試口的兩個輸入端上，從而可實現(xiàn)對多路電表脈沖數(shù)的檢測、校準。

圖1是本實用新型的校表檢測裝置對單路電表進行校準的電路原理圖。圖2是本實用新型的校表檢測裝置對多路電表進行校準的電路原理圖。
具體實施方式
為了使本實用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，
以下結(jié)合附圖和具體實施例對本實用新型進行詳細描述。如圖1所示，本實用新型的校表檢測裝置用以對單路電表(未圖示)的脈沖數(shù)進行校準。所述校表檢測裝置包括電源(VCC)IO、標準源脈沖測試口 30以及設(shè)置在所述電源10和所述標準源脈沖測試口 30之間的光耦合器20。本實施方式中，所述電源10為電表的5V電源，所述光耦合器20的型號為NEC2501。所述光耦合器20上設(shè)置有兩個輸入口和兩個輸出口。所述兩個輸入口包括與所述電源10相連的第一輸入口 21和與電表相連的第二輸入口 22。所述兩個輸出口包括輸出正測試信號(Pl+)的第一輸出口 23和輸出負測試信號(P1-)的第二輸出口 24,且所述第一輸出口 23和所述第二輸出口 24分別與所述標準源脈沖測試口 30的兩個輸入端相連，從而可通過所述正測試信號(Pl+)和所述負測試信號(P1-)來計算所述電表的脈沖數(shù)。所述電源10與所述光耦合器20之間還連接有用以限制所連支路中電流大小的電阻40，所述電阻40設(shè)置于所述電表內(nèi)。從而，進一步地，所述第一輸入口 21與所述電阻40相連，所述第二輸入口 22與所述電表的有功脈沖(CFl)相連以通過所述光耦合器20對所述電表的脈沖數(shù)進行光電轉(zhuǎn)換。本實施方式中，所述電表的有功脈沖的實際輸入是高低電平，且在所述電表的有功脈沖處于高電平時，所述光耦合器20斷開，從而無輸出；所述電表的有功脈沖處于低電平時，所述光稱合器20閉合，從而有輸出。電表脈沖數(shù)的校準原理為:首先檢測電表的脈沖數(shù)，然后計算該脈沖數(shù)與標準源的脈沖數(shù)之間的誤差，接著按照設(shè)定好的算式將該差值轉(zhuǎn)換成修正值并寫入計量芯片，最后計量芯片再根據(jù)修正值計量電能并輸出。[0023]在對電表的脈沖數(shù)進行測試時，從所述第一輸入口 21和所述第二輸入口 22引出兩根線(可以以Pin針的方式體現(xiàn))并分別連接到所述電源10和所述電表的有功脈沖，從所述第一輸出口 23和所述第二輸出口 24引出兩根線(也可以以pin針的方式體現(xiàn))并分別連接到所述標準源脈沖測試口 30的兩個輸入端，從而所述電表的脈沖數(shù)即可通過所述光耦合器20轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的正負測試信號(P1+、P1_)并傳送至所述標準源脈沖測試口 30，以在所述標準源脈沖測試口 30內(nèi)進一步完成檢測和校準。如圖2并結(jié)合圖1所示，本實用新型的校表檢測裝置還可用于對多路電表的脈沖數(shù)進行校準。圖2所示的多路電表校準原理圖與圖1所示的單路電表校準原理圖基本相同，兩者之間的區(qū)別僅在于:圖2所示的多路電表校準原理圖在所述電源10和所述標準源脈沖測試口 30之間設(shè)置有若干個并聯(lián)設(shè)置的所述光耦合器20。本說明書以三路電表(未圖示)為例，來舉例說明本實用新型的校表檢測裝置對多路電表脈沖數(shù)進行校準的方式。所述電源10共用電表5V電源，所述標準源脈沖測試口 30也共用一個，三個所述光耦合器分別對應(yīng)三路電表設(shè)置，且所述電源10與每個所述光耦合器之間都連接有用以限制所連支路中電流大小的電阻40。三個所述光耦合器分別包括與第一電表相連的第一光率禹合器20、與第二電表相連的第二光稱合器20'及與第三電表相連的第三光稱合器20"。所述第一光稱合器20的第一輸入口 21與所述電阻40相連、第二輸入口 22與所述第一電表的有功脈沖(CFl)相連,從所述第一光I禹合器20的第一輸出口 23和第二輸出口 24向外引出兩根線(可以以pin針的方式體現(xiàn))，以在對所述第一電表進行脈沖數(shù)校準時連接到所述標準源脈沖測試口 30的兩個輸入端上，從而對經(jīng)所述第一光耦合器20轉(zhuǎn)換變成的正負測試信號(PI+、Pl-)進行校準。所述第二光耦合器20'的第一輸入口 21'與所述電阻40相連、第二輸入口 22'與所述第二電表的有功脈沖(CF2)相連,從所述第二光稱合器20'的第一輸出口 23'和第二輸出口 24'向外引出兩根線(可以以pin針的方式體現(xiàn))，以在對所述第二電表進行脈沖數(shù)校準時連接到所述標準源脈沖測試口 30的兩個輸入端上，從而對經(jīng)所述第二光耦合器20'轉(zhuǎn)換變成的正負測試信 號(P2+、P2-)進行校準。所述第三光耦合器20"的第一輸入口 21"與所述電阻40相連、第二輸入口 22"與所述第三電表的有功脈沖(CF3)相連,從所述第三光稱合器20"的第一輸出口 23"和第二輸出口 24"向外引出兩根線(可以以pin針的方式體現(xiàn))，以在對所述第三電表進行脈沖數(shù)校準時連接到所述標準源脈沖測試口 30的兩個輸入端上，從而對經(jīng)所述第三光耦合器20"轉(zhuǎn)換變成的正負測試信號(P3+、P3-)進行校準。在對多路電表進行校準時，先將三個光耦合器20、2(V、20"的第一輸入口 21、2Γ、21"與所述電阻40相連、第二輸入口 22、22^、22"分別與三路電表的有功脈沖CF1、CF2、CF3相連、從第一輸出口 23、23'、23"和第二輸出口 24、24'、24"分別向外引出兩根線，從而在對第一電表進行校準時，只需將所述第一光稱合器20的第一輸出口 23和第二輸出口 24的兩根線連接到所述標準源脈沖測試口 30的兩個輸入端即可，而在對第二電表進行校準時，只需斷開所述第一光耦合器20與所述標準源脈沖測試口 30的連接，改將所述第二光耦合器20'的第一輸出口 23'和第二輸出口 24'的兩根線連接到所述標準源脈沖測試口 30的兩個輸入端即可，依次類推。綜上所述，本實用新型的校表檢測裝置通過設(shè)置有電源10、標準源脈沖測試口 30以及設(shè)置在所述電源10和所述標準源脈沖測試口 30之間的光耦合器20，從而所述電表的脈沖數(shù)可經(jīng)過所述光耦合器20的光電轉(zhuǎn)換變成正負測試信號并傳送至所述標準源脈沖測試口 30以進行檢測、校準；若在所述電源10和所述標準源脈沖測試口 30之間設(shè)置有若干個并聯(lián)設(shè)置的所述光耦合器20，則本實用新型的校表檢測裝置不僅可對單路電表的脈沖數(shù)進行校準，還可對多路電表的脈沖數(shù)進行檢測、校準，結(jié)構(gòu)簡單、方便校表。以上實施例僅用以說明本實用新型的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較佳實施例對本實用新型進行了詳細說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當理解，可以對本實用新型的技術(shù)方案進行修改或者等同替換，而不脫離本實用新型技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求1.一種校表檢測裝置，用以對單路電表的脈沖數(shù)進行校準，其特征在于:所述校表檢測裝置包括電源、標準源脈沖測試口以及設(shè)置在所述電源和所述標準源脈沖測試口之間的光率禹合器，所述光稱合器上設(shè)置有兩個輸入口和兩個輸出口，所述兩個輸入口分別與電表和所述電源相連，所述兩個輸出口分別與所述標準源脈沖測試口的兩個輸入端相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校表檢測裝置，其特征在于:所述電源與所述光耦合器之間還連接有用以限制所連支路中電流大小的電阻。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的校表檢測裝置，其特征在于:所述光耦合器的一個輸入口與所述電阻相連，另一個輸入口與所述電表的有功脈沖相連。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的校表檢測裝置，其特征在于:所述電表的有功脈沖處于高電平時，所述光耦合器斷開，無輸出；所述電表的有功脈沖處于低電平時，所述光耦合器閉合，有輸出。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校表檢測裝置，其特征在于:所述電源為5V。
6.一種校表檢測裝置，用以對多路電表的脈沖數(shù)進行校準，其特征在于:所述校表檢測裝置包括共用電源、標準源脈沖測試口以及設(shè)置在所述共用電源和所述標準源脈沖測試口之間的若干并聯(lián)設(shè)置的光稱合器，每個所述光稱合器均包括兩個輸入口和兩個輸出口，其中一個所述輸入口與所述共用電源相連、另一個所述輸入口與對應(yīng)的電表相連，所述兩個輸出口用以在對相應(yīng)的所述電表進行脈沖數(shù)校準時連接到所述標準源脈沖測試口的兩個輸入端上。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的校表檢測裝置，其特征在于:所述共用電源為5V。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的校表檢測裝置，其特征在于:所述共用電源與每個所述光耦合器之間都連接有用以限制所連支路中電流大小的電阻。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的校表檢測裝置，其特征在于:每個所述光耦合器的一個輸入口與所述電阻相連，另一個輸入口與相應(yīng)每個電表的有功脈沖相連。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的校表檢測裝置，其特征在于:所述電表的有功脈沖處于高電平時，所述光耦合器斷開，無輸出；所述電表的有功脈沖處于低電平時，所述光耦合器閉合，有輸出。
專利摘要本實用新型提供了一種校表檢測裝置，其包括電源、標準源脈沖測試口以及設(shè)置在所述電源和所述標準源脈沖測試口之間的光耦合器，所述光耦合器上設(shè)置有兩個輸入口和兩個輸出口，所述兩個輸入口分別與電表和所述電源相連，所述兩個輸出口分別與所述標準源脈沖測試口的兩個輸入端相連，從而所述校表檢測裝置可對單路電表的脈沖數(shù)進行校準；而若在所述電源和所述標準源脈沖測試口之間設(shè)置有對應(yīng)多個電表的若干個并聯(lián)設(shè)置的所述光耦合器，則所述校表檢測裝置還可對多路電表的脈沖數(shù)進行檢測、校準。
文檔編號G01R35/04GK202956485SQ20122070184
公開日2013年5月29日 申請日期2012年12月18日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月18日
發(fā)明者朱玲莉 申請人:蘇州工業(yè)園區(qū)新宏博通訊科技有限公司