專利名稱：電子元件測試裝置的偏心彈簧的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種彈簧，特別是關于一種應用于電子元件測試裝置內(nèi)的偏心彈簧。
背景技術：
一般半導體晶片(電子元件)的內(nèi)部具有一集成電路，且該集成電路向外延伸設有復數(shù)個引腳或電極，通常會針對該復數(shù)個引腳或該復數(shù)個電極進行各項的電氣特性測試。通常，廠商會依據(jù)最接近實際操作使用時的狀態(tài)，制作出相對應的一電子元件測試裝置，以便完整模擬真實操作使用時的環(huán)境而進行測試。請參閱圖1、圖2，是一般電子元件測試裝置的結構示意圖及其操作時的狀態(tài)示意圖。如圖中所示，用來檢測四方扁平封裝半導體(Quad Flat Package, QFP)的電子元件測試裝置1，其中該QFP由一基材的四個側面分別延伸設有復數(shù)個引腳而呈現(xiàn)海鷗翼(L)型。該種電子元件測試裝置I包括一座體11、一蓋體12、一承載臺13、復數(shù)個彈性元件14及復數(shù)個探針單元15，其中該該座體11及該蓋體12對合設置，且于中央部位對應形成一容置空間111，以供容置該承載臺13及該復數(shù)個彈性元件14，該承載臺13平均靠抵于該復數(shù)個彈性元件14上而活動設于該容置空間111內(nèi)，該每一探針單元15分別活動設置于該座體11及該蓋體12之間，而每一探針單元15又包含一外管151、一彈簧152及一探針頭153，該探針頭153連同該彈簧152而活動套設于該外管151內(nèi)，使該探針頭153的一接觸端1531穿出該外管151。檢測時，將該QFP2平均置于該承載臺13上，通過適當壓力下壓該QFP2連同該承載臺13，進而檢測該復數(shù)個引腳21是否能夠與該每一探針頭153的該接觸端1531相抵靠接觸，進一步達到檢測其電氣導通狀態(tài)的目的。然而，該電子元件測試裝置I進行檢測時的準確性，由于該探針頭153通過該彈簧152與該外管151作電性導·通，故該探針頭153及該彈簧152的設計方式，例如:該探針頭153導電性不佳，或是該彈簧152無法提供有效的支撐效果及更高頻寬的測試，均有可能影響其準確性。一般而言，該彈簧152多選用呈單一圓徑的直線彈簧，或選用呈多段不同圓徑的同心直線彈簧，當該探針頭153受壓，并壓縮該彈簧152而造成彎曲形變，使該彈簧152無法與該外管151的內(nèi)壁面保持有效的抵靠接觸，也即抵靠接觸面積及抵靠接觸位置無法固定而導致阻抗的改變；但是，其阻抗越低則越不容易影響檢測效果，但無法保持有效的抵靠接觸，是傳統(tǒng)的該彈簧152最大的缺點，故有必要加以改良。
發(fā)明內(nèi)容有鑒于此，本實用新型的一目的，旨在提供一種電子元件測試裝置的偏心彈簧，俾于該偏心彈簧設有一第一繞線部，以及延伸自該第一繞線部外周緣的一第二繞線部，該第二繞線部偏心設置于該第一繞線部的一端，該偏心彈簧受壓后，該第二繞線部變形量會大于該第一繞線部，使該第一繞線部及該第二繞線部朝同一側彎曲變形，其表面能夠加大與一外管的內(nèi)壁面的抵靠接觸面積，以降低阻抗而避免檢測時的誤差。[0006]為達上述目的，本實用新型的電子元件測試裝置的偏心彈簧，其中該電子元件測試裝置由一座體、一蓋體、一承載平臺、復數(shù)個彈性元件及復數(shù)個探針單元所組成，該每一探針單元至少包括一外管、該偏心彈簧及一探針頭，利用該復數(shù)個探針單元接觸該電子元件的各針腳時，以檢測該每一針腳的電氣導通狀態(tài)，其特征在于:該偏心彈簧對應該外管設有一第一繞線部，該第一繞線部具有一第一中心軸，且于該偏心彈簧的其中一端設有一第二繞線部，該第二繞線部對應該第一中心軸而具有一第二中心軸，且該第一中心軸與該第二中心軸之間具有一第一設定間隔，使該第一繞線部及該第二繞線部的一側邊與該外管的內(nèi)管壁相抵靠接觸。其中，該第一繞線部具有一第一圓徑01,且該第二繞線部具有一第二圓徑02且該第一圓徑01與該第二圓徑02的比值介于1.5 3。再者，該第一繞線部及該第二繞線部的表面設有一導電金屬層，故能有效提升其導電性。于一實施例中，本實用新型的該電子元件測試裝置的偏心彈簧，除原有的該第一繞線部及該第二繞線部外，還具有一第三繞線部，而設于該第一繞線部的另一端，且該第三繞線部具有一第三中心軸，該第一中心軸與該第三中心軸之間具有一第二設定間隔。再者，該第一繞線部具有一第一圓徑01,且該第三繞線部具有一第三圓徑03.且該第一圓徑01與該第三圓徑03的比值介于1.5 3。并且，在該第一繞線部及該第三繞線部的表面設有一導電金屬層，也能有效提升其導電性。與現(xiàn)有技術相比較，本發(fā)明具有的有益效果是:使用時，該探針頭受到該引腳的壓迫而壓縮該偏心彈簧，進一步造成該偏心彈簧的彎曲形變，由于該偏心彈簧的該第二繞線部及該第三繞線部的圓徑小于該第一繞線部，受壓時會比較容易產(chǎn)生彎曲形變，且其彎曲形變時的方向也能被控制，故能與該外管的內(nèi)壁面保持有效的抵靠接觸，避免阻抗升高。

圖1是一般電子元件測試裝置的結構示意圖2是一般電子元件測試裝操作時的狀態(tài)示意圖；圖3是本實用新型較佳實施例的安裝示意圖；圖4是本實用新型較佳實施例的結構示意圖；圖5是本實用新型較佳實施例使用時的狀態(tài)示意圖。附圖標記說明:1-電子元件測試裝置；11-座體；111-容置空間；12-蓋體；13-承載臺；14-彈性元件；15-探針單元；151-外管；152-彈簧；153-探針頭；1531-接觸端；2_四方扁平封裝半導體；21_引腳；3_電子元件測試裝置；31_座體；311_容置空間；312-第一穿孔；32_蓋體；321_第二穿孔；33_承載臺；34_彈性兀件；35_探針單兀；351_外管；352_偏心彈簧；3521_第一繞線部；35211_第一中心軸；0l_第一圓徑；3522_第二繞線部；35221_第二中心軸02 -第二圓徑；3523_第三繞線部；35231_第三中心軸；03 _第三圓徑；3524_導電金屬層；353_探針頭；T1_第一設定間隔；Τ2_第二設定間隔；4_四方扁平封裝半導體；41-引腳。
具體實施方式
為使貴審查委員能清楚了解本實用新型的內(nèi)容，僅以下列說明搭配圖式，敬請參閱。請參閱圖3、圖4、圖5，是本實用新型較佳實施例的安裝示意圖、結構示意圖及其使用時的狀態(tài)示意圖。如圖中所示，本實用新型的具體實施例同樣通過安裝于一電子元件測試裝置3中，該電子元件測試裝置3的結構與現(xiàn)有的電子元件測試裝置I相同，其同樣包括一座體31、一蓋體32、一承載平臺33、復數(shù)個彈性元件34及復數(shù)個探針單元35所組成，且該每一探針單元35至少包括一外管351、該偏心彈簧352及一探針頭353，并可利用該復數(shù)個探針單元35接觸一四方扁平封裝半導體(Quad Flat Package, QFP)4的各引腳41時，利用該每一探針頭353抵靠接觸于該每一引腳41上，以檢測該每一引腳41的電氣導通狀態(tài)。本實用新型的該偏心彈簧352對應該外管351而分成三段，分別為一第一繞線部3521、一第二繞線部3522及一第三繞線部3523，該第二繞線部3522及該第三繞線部3523分別設于該第一繞線部3521的二端，該第一繞線部3521、該第二繞線部3522及該第三繞線部3523由同一金屬線材繞制而成，且該第二繞線部3522及該第三繞線部3523的外部沿著該第一繞線部3521的外圍進行繞制，因此，該第一繞線部3521、該第二繞線部3522及該第三繞線部3523的一側邊呈現(xiàn)一直線，而可與該外管351的內(nèi)管壁相抵靠接觸。并且，該第一繞線部3521具有一第一中心軸35211，該第二繞線部3522對應該第一中心軸35211而具有一第二中心軸35221，且該第一中心軸35211與該第二中心軸35221之間具有一第一設定間隔Tl ;同樣地，該第三繞線部3523對應該第一中心軸35211而具有一第三中心軸35231，且該第一中心軸35211與該第三中心軸35231之間具有一第二設定間隔T2。應注意的是，該第一設定間隔Tl與該第二設定間隔T2的尺寸可為相同或不相同，可依據(jù)客戶需求而制訂，故不以此為限，此實施例中，該第一設定間隔Tl等于該第二設定間隔T2。再者，該第一繞線部3521具有一第一圓徑01，該第二繞線部3522具有一第二圓徑02，以及該第三 繞線部3523具有一第三圓徑03，且該第一圓徑01與該第二圓徑02的比值介于1.5 3,該第一圓徑01與該第三圓徑03的比值介于1.5 3。應注意的是,該第二圓徑02及該第三圓徑03也可為相同的圓徑或為不相同的圓徑，而能夠用來調(diào)整該第一繞線部3521、該第二繞線部3522及該第三繞線部3523受壓時的偏移效果，例如:該第一繞線部3521與該第二繞線部3522及該第三繞線部3523的比值越大時，表示其圓徑差異越大，故受壓時該第二繞線部3522及該第三繞線部3523越容易產(chǎn)生彎曲形變，反之，當比值越小時，該第二繞線部3522及該第三繞線部3523越不容易因為受壓而彎曲形變。另外，在該第一繞線部3521、該第二繞線部3522及該第三繞線部3523的表面設有一導電金屬層3524，用以增加其導電性。使用時，該探針頭353受到該引腳41的壓迫而壓縮該偏心彈簧352，進一步造成該偏心彈簧352的彎曲形變，由于該偏心彈簧352的該第二繞線部3522及該第三繞線部3523的圓徑小于該第一繞線部3521，受壓時會比較容易產(chǎn)生彎曲形變，且其彎曲形變時的方向也能被控制，故能與該外管351的內(nèi)壁面保持有效的抵靠接觸，避免阻抗升高。以上說明對本發(fā)明而言只是說明性的，而非限制性的，本領域普通技術人員理解，在不脫離權利要求所限定的精神和范圍的情況下，可作出許多修改、變化或等效，但都將落入本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權利要求1.一種電子元件測試裝置的偏心彈簧，該電子元件測試裝置由一座體、一蓋體、一承載平臺、復數(shù)個彈性元件及復數(shù)個探針單元所組成，該每一探針單元至少包括一外管、該偏心彈簧及一探針頭，利用該復數(shù)個探針單元接觸該電子元件的各針腳時，以檢測該每一針腳的電氣導通狀態(tài)，其特征在于: 該偏心彈簧對應該外管設有一第一繞線部，該第一繞線部具有一第一中心軸，且在該偏心彈簧的其中一端設有一第二繞線部,該第二繞線部對應該第一中心軸而具有一第二中心軸，且該第一中心軸與該第二中心軸之間具有一第一設定間隔，使該第一繞線部及該第二繞線部的一側邊與該外管的內(nèi)管壁相抵靠接觸。
2.根據(jù)權利要求1所述的電子元件測試裝置的偏心彈簧，其特征在于:該第一繞線部具有一第一圓徑01,且該第二繞線部具有一第二圓徑02，且該第一圓徑01與該第二圓I 02的比值介于1.5 3。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的電子元件測試裝置的偏心彈簧，其特征在于:該第一繞線部及該第二繞線部的表面設有一導電金屬層。
4.根據(jù)權利要求1或2所述的電子元件測試裝置的偏心彈簧，其特征在于:還具有一第三繞線部，設于該第一繞線部的另一端，且該第三繞線部具有一第三中心軸，該第一中心軸與該第三中心軸之間具有一第二設定間隔。
5.根據(jù)權利要求4所述的電子元件測試裝置的偏心彈簧，其特征在于:該第一繞線部具有一第一圓徑01,且該第三繞線部具有一第三圓徑03,且該第一圓徑01與該第三圓徑03的比值介于1.5 3。
6.根據(jù)權利要求5所述的電子元件測試裝置的偏心彈簧，其特征在于:該第一繞線部及該第三繞線部的表面·設有一導電金屬層。
專利摘要本實用新型是一種電子元件測試裝置的偏心彈簧，其中該電子元件測試裝置由一座體、一蓋體、一承載平臺、復數(shù)個彈性元件及復數(shù)個探針單元所組成，且該每一探針單元包括一外管、一偏心彈簧及一探針頭，本實用新型的特色該偏心彈簧對應該外管設有一第一繞線部，該第一繞線部具有一第一中心軸，且于該偏心彈簧的其中一端設有一第二繞線部，該第二繞線部對應該第一中心軸而具有一第二中心軸，且該第一中心軸與該第二中心軸之間具有一第一設定間隔，使該第一繞線部及該第二繞線部的一側邊與該外管的內(nèi)管壁常態(tài)保持抵靠接觸，以降低檢測時的阻抗，而減少檢測時的誤差。
文檔編號G01R1/067GK203148988SQ20132005106
公開日2013年8月21日 申請日期2013年1月29日 優(yōu)先權日2013年1月29日
發(fā)明者林信忠, 陳威助, 游輝哲 申請人:中國探針股份有限公司