譜光子計數(shù)探測器的制造方法
【專利摘要】一種裝置包括脈沖整形器(120)和峰值探測器(150)，其中，所述脈沖整形器(120)用于接收指示探測到的光子的信號并根據(jù)所述信號來生成多個脈沖以形成脈沖序列(200)，所述峰值探測器(150)用于在所述脈沖整形器(120)的輸出端處對所述脈沖序列(200)進行采樣。所述峰值探測器(150)包括用于對所述脈沖序列(200)的極大(202a、b、c)值和極小(204a、b)值進行選擇性地檢測和采樣的電路(300)。之后經(jīng)由模擬到數(shù)字轉換器(160)將采樣的所述極大(202a、b、c)和所述極小(204a、b)值從模擬格式轉換成數(shù)字格式。
【專利說明】譜光子計數(shù)探測器

【技術領域】
[0001]本申請總體上涉及譜光子計數(shù)探測器。盡管本申請結合對計算機斷層攝影(CT)的具體應用加以描述，但是本申請還涉及期望對探測到的具有不同能量的光子進行能量分辨的其他應用。

【背景技術】
[0002]計算機斷層攝影(CT)系統(tǒng)包括輻射源，輻射源發(fā)射貫穿檢查區(qū)域的多能電離光子。這樣的系統(tǒng)還包括輻射敏感探測器，輻射敏感探測器相對于檢查區(qū)域位于輻射源的對面，輻射敏感探測器探測貫穿檢查區(qū)域的光子。探測器針對每個探測到的光子產(chǎn)生電信號，例如電流或電壓。探測器還包括用于基于電信號對所探測到的光子進行能量分辨的電子器件。
[0003]通過范例的方式，輻射敏感探測器包括脈沖整形器，脈沖整形器用于處理由傳感器產(chǎn)生的電流以生成具有指示所探測到的光子的能量峰值幅度的電壓脈沖。探測器還包括鑒別器，鑒別器將電壓脈沖的幅度與根據(jù)不同能量水平設置的兩個或更多個閾值進行比較。鑒別器針對第一閾值的輸出當脈沖幅度增大并越過第一閾值時升高，而鑒別器針對第二閾值的輸出當脈沖幅度減小并越過第二閾值時降低。針對第一閾值和第二閾值中的每個，計數(shù)器對上升沿進行計數(shù)。當兩個或更多個閾值以及對應的計數(shù)器并入探測器時，能量分組器能夠對能量范圍或組中的計數(shù)進行能量分組。因此，基于經(jīng)分組的數(shù)據(jù)，對所探測到的光子進行能量分辨。
[0004]遺憾的是，連續(xù)的光子探測之間的時間可以導致傳感器內(nèi)的脈沖堆積或脈沖整形器生成重疊脈沖。當脈沖重疊時，其幅度可以相組合使得不易于從該組合中辨別出單個脈沖。因此，鑒別器可能看不出脈沖的幅度越過給定閾值。另外，脈沖的峰值能量可能被重疊脈沖的幅度貢獻所移位。因此，所探測到的光子的能量分布可能錯誤地被移位。
[0005]此外，在光子計數(shù)能量分辨探測器中，因為整形器脈沖持續(xù)時間太長以至于不能分開來自直接轉換傳感器的相鄰可區(qū)分脈沖，更高的X射線通量導致脈沖在整形器的輸出端處堆積。由于堆積，從將整形器輸出與許多不同鑒別器閾值進行比較推出的能量估計變得錯誤。已經(jīng)提出了隨機模型以將堆積并入極大似然評估方案中，然而，由于可能的解決方案的空間如此大使得最有可能的解決方案的概率沒有明顯不同于最不可能的解決方案的概率，所以該方法沒有得到大大改善的能量估計。
[0006]常規(guī)光子計數(shù)讀出電路使用少量鑒別器來粗略地估計由前述整形器生成的脈沖的高度。堆積一開始起作用，就不再正確地確定脈沖高度。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本申請的方面解決了以上提到的問題和其他問題。
[0008]根據(jù)一個方面，一種裝置包括脈沖整形器和峰值探測器，其中，所述脈沖整形器用于接收指示探測到的光子的信號并根據(jù)所述信號來生成多個脈沖以形成脈沖序列，所述峰值探測器用于在所述脈沖整形器的輸出端處對所述脈沖序列進行采樣。所述峰值探測器包括用于對所述脈沖序列的局部極大值和局部極小值進行選擇性地檢測和采樣的電路。之后經(jīng)由模擬到數(shù)字轉換器將采樣的所述極大值和所述極小值從模擬格式轉換成數(shù)字格式。
[0009]在另一方面中，一種方法包括:經(jīng)由脈沖整形器來接收指示探測到的光子的信號；根據(jù)所述信號來生成多個脈沖以形成脈沖序列；經(jīng)由峰值探測器在所述脈沖整形器的輸出端處對所述脈沖序列進行采樣；并且經(jīng)由所述峰值探測器中的電路對所述脈沖序列的極大值和極小值進行選擇性地檢測和采樣。
[0010]本領域技術人員在閱讀并理解下文詳細描述后將認識到本發(fā)明的更進一步的方面。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]本發(fā)明可以采取各種部件和部件的布置，以及各種步驟和步驟的安排的形式。附圖僅出于說明優(yōu)選實施例的目的，并且不得被解釋為對本發(fā)明的限制。
[0012]圖1圖示成像系統(tǒng)的范例。
[0013]圖2圖示谷和峰(極小值和極大值)脈沖序列的范例。
[0014]圖3圖示用于探測局部極大值和局部極小值的電路的范例。
[0015]圖4圖示VSH、V(C1)和V (C2)的時間行為的范例。
[0016]圖5圖示源自于具有2ns距離的整形器波形的脈沖序列的范例。
[0017]圖6圖示用于通過重建脈沖序列的峰和谷來進行光子計數(shù)的方法的流程圖的范例。

【具體實施方式】
[0018]參考圖1，計算機斷層攝影(CT)系統(tǒng)100包括旋轉機架部分104，旋轉機架部分104圍繞縱軸或z軸繞檢查區(qū)域108旋轉。諸如X射線管的X射線源112由旋轉機架部分104支撐并且發(fā)射貫穿檢查區(qū)域108的多能輻射束。
[0019]輻射敏感探測器116包括多個像素118，多個像素118在至少一百八十度加上扇角的范圍內(nèi)探測由源112發(fā)射的光子。多個像素118中的每個針對每個探測到的光子生成對應的電信號，例如電流或電壓。適當?shù)膫鞲衅鞯姆独ㄖ苯愚D換探測器(例如，基于碲鎘鋅(CZT)的探測器)和基于閃爍體的傳感器，基于閃爍體的傳感器包括與光電傳感器進行光學通信的閃爍體。
[0020]脈沖整形器120處理所述電信號并生成指示所探測到的光子的一個或多個脈沖，例如電壓或其他脈沖。脈沖整形器120可以包括用于在第一時間間隔期間對電荷進行積分以產(chǎn)生具有指示所探測到的光子的能量的峰值幅度的脈沖的電子器件，以及用于在相對較短的第二時間間隔期間對電荷進行積分以產(chǎn)生具有指示所探測到的光子的能量是否超出最小期望能量的峰值幅度的脈沖的電子器件。
[0021]能量鑒別器124對所述脈沖進行能量鑒別。這包括將所生成的脈沖的幅度與各自對應于特定能量水平的一個或多個閾值進行比較。能量鑒別器124針對每個閾值產(chǎn)生指示幅度是否增大并越過對應閾值以及是否減小并越過所述閾值的輸出信號。例如，當幅度增大并越過對應閾值時，所述輸出信號可以包括上升(或下降)沿，而當幅度減小并越過對應閾值時，所述輸出信號可以包括下降(或上升)沿。
[0022]計數(shù)器128針對每個閾值對信號中的上升(或下降)沿進行計數(shù)。脈沖濾除器132濾除脈沖，或門控計數(shù)器128使得計數(shù)器128丟棄諸如堆積脈沖的非期望脈沖的上升(或下降)沿或者不對其進行計數(shù)?；谀芰胯b別器124的輸出，脈沖否決器132產(chǎn)生門信號。
[0023]計數(shù)定標器136針對閾值對計數(shù)進行定標或者調(diào)整以說明未被計數(shù)的被丟棄的脈沖。
[0024]重建器140基于信號的譜特性選擇性地對由探測器116生成的信號進行重建。
[0025]諸如臥榻的對象支撐物148將患者或其他對象支撐在檢查區(qū)域108中。對象支撐物148是可移動的從而在執(zhí)行掃描過程時相對于檢查區(qū)域108引導對象。
[0026]通用計算機用作操作員控制臺144。控制臺144包括諸如監(jiān)視器或顯示器的人類可讀輸出設備，以及諸如鍵盤和鼠標的輸入設備。駐留在控制臺144的軟件允許操作員例如通過圖形用戶接口(⑶I)來控制掃描器100并且與掃描器100交互。這樣的交互可以包括用于基于譜特征對所述信號進行重建的指令。
[0027]為了進一步地改善測量結果，能夠在每個像素中運行時間計數(shù)器170，計數(shù)器170例如以比特串(即，每個時鐘周期一比特)的形式來記錄，“I”指標表示探測到的極大值或極小值，在所述時間點處探測到極小值或極大值。時間計數(shù)器170可以被連接到峰值探測器150以對脈沖序列200的極大202a、b、c值與極小204a、b值(見下面描述的圖2)之間的時間進行計數(shù)，以便得到改善的極大值與極小值之間的計時(原始脈沖序列的特征在于極小值和極大值的集合以及極大值與相鄰極小值之間的時間距離)。峰值探測器150還可以與模擬到數(shù)字轉換器160進行通信，下面將進一步地描述。
[0028]此外，時間計數(shù)器170指的是預定義測量周期(例如，100 μ s)內(nèi)的(例如，1MHz時鐘的)時鐘標記(clock ticks)的數(shù)量，得到例如每測量周期1000次時鐘標記。每當探測到極大值或極小值，時間計數(shù)器170對于此時的時鐘標記生成“ I ”，在此時的時鐘標記期間探測到極大值或極小值，而任何其他時鐘標記被賦予值“O”。在隨后的測量周期期間讀出得到的“Os”和“Is”的比特串(這還需要至少1MHz的讀出時鐘速度)，并且之后與極大值和極小值的集合一起被使用以使用經(jīng)改善的極大值與極小值之間的計時來重建原始脈沖序列。備選地，時間計數(shù)器170還可以被實施為讀數(shù)計數(shù)器，讀數(shù)計數(shù)器在探測到極大值(或極小值)時以O開始并且被增大直到探測到隨后的極小值(或極大值)，在這種情況下鎖定計數(shù)器值，并且能夠重新開始計數(shù)。于是，然而，需要與在測量周期內(nèi)可能存在的極大值和極小值對一樣多的鎖。
[0029]如以上所討論的，以非常高的頻率對脈沖整形器120的輸出進行采樣以便重建脈沖序列200的正確脈沖高度，脈沖序列200的正確脈沖高度示出脈沖的堆積。
[0030]參考圖2，為了減少脈沖堆積，提出了以下方法，所述方法提供在沒有以非常高的采樣頻率對整形器輸出進行采樣的情況下來重建完全脈沖序列200的單元。由于如在譜計算機斷層攝影的任何光子計數(shù)ASIC中實施的整形器輸出產(chǎn)生“谷和峰”波形，在所述“谷和峰”波形中峰識別脈沖極大值，并且谷表示(可能不完整的)到基線的返回，具有模擬極大值探測器和模擬極小值探測器的電路300 (見下面描述的圖3)被用來在脈沖整形器120的輸出端處僅在極大值和極小值(見圖2)處對脈沖序列200進行采樣，模擬極大值探測器和模擬極小值探測器兩者都衍生自峰值探測器150 (見圖1)。之后經(jīng)由ADC 160 (見圖1)將采樣值進行模擬到數(shù)字轉換。
[0031]給定局部極大值和局部極小值的序列，之后能夠使用整形器輸出的模型來重建實際脈沖序列200，整形器輸出的模型可以從測試像素測量或從CMOS電路仿真中獲得。因此，獲得對完整脈沖序列200的相對準確的估計，在所述估計中堆積效應是可視的并且因此能夠完全地被修正，只要兩個脈沖沒有恰好在彼此的頂部，使得根本不能夠探測到兩個脈沖的疊加。
[0032]此外，預見時間計數(shù)器170 (見圖1)可以被配置成為與存儲單元(未示出)進行通信以本地或遠程地傳遞并存儲脈沖序列200的極大202a、b、c值和極小204a、b值。例如，可以將“存儲信號”傳輸?shù)饺魏晤愋偷拇鎯﹄娐贰r間計數(shù)與數(shù)據(jù)計數(shù)的組合提供基于時間的數(shù)字信息，所述基于時間的數(shù)字信息表示從脈沖整形器120接收的(一個或多個)脈沖序列。利用該信息，能夠準確地重建“谷和峰”型脈沖序列200。
[0033]圖2示出了谷和峰波形200的范例，谷和峰波形200通常由不同高度的脈沖相對于彼此在時間上移位的疊加來生成。脈沖形狀由脈沖整形電路300 (見圖3)來確定，脈沖整形電路300被用于處理電流脈沖，所述電流脈沖由直接轉換晶體來生成。
[0034]因此，通過對局部極大值202a、b、c和局部極小值204a、b進行采樣，并且將其進行模擬到數(shù)字轉換(見圖1和3)，在可獲得對由整形放大器(未示出)所生成的脈沖形狀的估計的情況下，能夠重建包括其正確能量的單個脈沖的原始集合。
[0035]圖3示出了電路實施方式300，其中，下面描述的元件直接地或間接地被電連接到彼此以探測如圖2中所示出的局部極大值和局部極小值。在操作中，首先，關閉第一開關330 (S1)和第二開關332 (S2)使得第一電容器312和第二電容器314 (CjPC2)存儲脈沖整形器120的輸出端處的基線。為了啟動操作，打開第一開關330和第二開關332。
[0036]如圖3中所示出的，當整形器輸出增加時，第二二極管318(?)阻滯使得第二電容器314 (C2)保持基線電勢，而第一二極管316 (D1)導通，并且第一電容器312 (C1)追隨脈沖整形器120的輸出端處的電壓。這在到達并通過整形器輸出波形(Vsh)的第一局部極大值的情況下變化。從那時起，整形器輸出電壓小于跨第一電容器312?)的電壓V(C1)，使得第一二極管316 (D1)停止導通，并且凍結跨第一電容器312 (C1)的電壓。只有在Vsh變得比V(C1)小4 (即，Vsi^Ih1I =V(C1))的情況下，第一比較器320(Compl)跳脫(負正轉變)，并且使:
[0037](I)V(C1)被采樣并且被模擬到數(shù)字轉換，并且
[0038](ii)短時間關閉第二開關332 (S2)，使得在該時間點處能夠將第二電容器314 (C2)充電至VSH。
[0039]匕是滯后值，所述滯后值被用來避免由于在脈沖整形器120的輸出端處的電壓波形Vsh頂部上的噪聲而引起的對真實極大值(極小值)進行錯誤地采樣。
[0040]額外地，由第一采樣和保持(S&H)框350來接收第一比較器320的輸出，而由第二采樣和保持(S&H)框352來接收第二比較器322的輸出。
[0041]從那時起，由于第二二極管318 (D2)導通，所以凍結V(C1),并且V(C2)追隨Vsh，直到Vsh到達局部極小值，從所述時間點起，第二二極管318 (D 2)開始阻滯，使得V (C2)被保持凍結ο Vsh—變得比V (C 2)大h2 (即，Vsh-1 h21 = V (C2))，第二比較器322 (Comp2)就跳脫(負正轉變)，并且現(xiàn)在使:
[0042](i) V (C2)被采樣并且被模擬到數(shù)字轉換，并且
[0043](ii)短時間關閉第一開關330 (S1)，使得在該時間點處能夠將第一電容器312 (C1)充電至VSH，使得該分支之后準備好處理下一極大值。
[0044]匕是滯后值，所述滯后值被用來避免由于在脈沖整形器120的輸出端處的電壓波形Vsh頂部上的噪聲而引起的對真實極大值(極小值)進行錯誤地采樣。
[0045]在圖4中圖示該流程，圖4描繪VSH、V(a)和V (C2)的時間行為400。
[0046]以上方法比僅以IGHz (Ins的采樣周期)對模擬脈沖進行采樣和將每個采樣進行模擬到數(shù)字轉換的功率消耗少得多。仍然必須優(yōu)化實施方式以滿足低功率要求，例如，每像素 3mW。
[0047]此外，鑒于泊松到達示出到達間隔時間(interarrival time)的事實，所述到達間隔時間能夠短于或長于平均到達率，對經(jīng)采樣的局部極大值或局部極小值的特定緩沖有助于處理到達間隔時間的階段，所述到達間隔時間短于平均到達率。這樣的緩沖單元310(見圖3)指示每像素使用許多額外的N電容器，在許多額外的N電容器中存儲采樣值直到能夠將其進行模擬到數(shù)字轉換。因此，可以使用高速模擬到數(shù)字(ADC) 160 (見圖1)，高速模擬到數(shù)字(ADC) 160服務大量像素。
[0048]因此，能夠設計具有僅200mW功率消耗的IGHz 8比特的ADC。假設每像素5Mcps的平均光子到達率，這意味著ADC能夠服務:1GHz/(2 X 5MHz) = 100個像素，使得對于模擬到數(shù)字轉換每像素的功耗是2mW。在一個示范性實施例中，在Μ/D/l排隊系統(tǒng)可以應用的情況下，以5MHz來服務具有5Mcps的泊松輸入的100個像素對應于預約流量值P = 1，在不限制緩沖位置的數(shù)量的情況下，這導致隊列建立至無窮。
[0049]然而，對于P = 0.8的預約流量值，其中，隊列長度等于14的概率為1.le_3(:=1.1χ10_3)，并且在該隊列中具有超過14個事件(使得在僅存在N= 14個緩沖位置的情況下將丟失事件)的概率約為2.1e-3,即，丟失事件的概率小于或等于該數(shù)。
[0050]這要求6.25MHz 的 ADC 采樣率(P = 0.8 = 5Mcps/6.25MHz)，該 ADC 采樣率之后給予 ADC 每像素 200mW/ (IGHz/ (2x6.25MHz)) = 2.5mff 的功率消耗。
[0051]由于單個ADC服務80個像素(1GHz/(2X6.25MHz))，所以丟失概率可以甚至更低，因為通常存在具有更低到達率(眾所周知的“捆綁增益”)的像素使得ADC 160能夠服務具有更高到達率的其他像素。
[0052]因此，利用以上方法，在沒有由于堆積的任何誤差的情況下能夠支持5Mcps/像素的入射計數(shù)率，因為能夠根據(jù)“峰和谷”脈沖序列200來完全地重建堆積。在已知每個極大值之前的極小值的情況下，并且通過使用從脈沖整形器120得知的脈沖形狀波形，能夠獲得正確的能量信息。這被圖示在圖5中，在圖5中描繪源自于具有2n距離的整形器波形的脈沖序列500。X軸510圖示時間，而y軸520圖示電壓。在圖5中，其中假設為負脈沖，SP局部極小值和局部極大值必須彼此被交換。在已知局部極大值的情況下，能夠根據(jù)對應局部極小值來正確地量化真實脈沖高度。
[0053]此外，如果極小值等于基線，則能夠直接根據(jù)該極小值下面的下一極大值來獲得正確脈沖高度?；€能夠在操作的開始處被采樣并被存儲在第三電容器(C3)(在圖3中未示出)中。
[0054]在8比特的ADC的情況下，量化誤差(均勻分布的隨機變量的公式)是例如:步長/sqrt(12) = 140keV/(256Xsqrt (12)) = 0.1578keV。
[0055]噪聲表征能夠被執(zhí)行如下:
[0056]生成例如限定的能量的1000個測試脈沖并根據(jù)模擬到數(shù)字轉換幅度來確定rms值。
[0057]圖6圖示用于通過重建脈沖序列的峰和谷來進行光子計數(shù)的流程圖600。在步驟610中，經(jīng)由脈沖整形器來接收指示探測到的光子的信號。在步驟620中，根據(jù)所述信號來生成多個脈沖以形成脈沖序列。在步驟630中，經(jīng)由峰值探測器在脈沖整形器的輸出端處對脈沖序列進行采樣。在步驟640中，經(jīng)由峰值探測器中的電路對極大值和極小值進行選擇性地檢測和采樣。在步驟650中，經(jīng)由模擬到數(shù)字轉換器將極大值和極小值樣本從模擬格式轉換成數(shù)字格式。所述處理之后結束第一迭代。
[0058]因此，總而言之，提供單元以在沒有以非常高的采樣頻率對模擬整形器輸出進行采樣的情況下來重建正確的脈沖高度或者甚至完全脈沖序列。由于整形器輸出產(chǎn)生“谷和峰”波形，在所述“谷和峰”波形中峰識別脈沖極大值，并且谷表示(可能不完整的)到基線的返回，具有模擬極大值探測器和模擬極小值探測器的電路被用來在整形器的輸出端處僅在極大值和極小值處對脈沖序列進行采樣，模擬極大值探測器和模擬極小值探測器兩者都衍生自峰值探測器。之后經(jīng)由ADC將采樣值進行模擬到數(shù)字轉換。給定(可能具有來自時間計數(shù)器的特定計時信息的)局部極大值和局部極小值的序列，之后能夠使用整形器輸出的模型來重建正確的脈沖高度或者甚至實際脈沖序列，整形器輸出的模型能夠從測試像素測量或從CMOS電路仿真中獲得。因此獲得對完整脈沖序列的相對準確的估計，在所述估計中堆積效應是可視的并且因此能夠被修正。
[0059]應認識到，可以單獨地或組合地使用以上描述的實施例。
[0060]應用還包括行李檢查、非破壞性測試、醫(yī)學數(shù)字熒光透視、乳腺攝影、X射線以及其他工業(yè)和醫(yī)學應用。
[0061]本文描述的方法可以經(jīng)由一個或多個處理器來實施，所述一個或多個處理器運行編碼或實現(xiàn)在諸如物理存儲器的計算機可讀存儲介質上的一個或多個計算機可讀指令，所述計算機可讀指令使所述一個或多個處理器執(zhí)行各種動作和/或其他功能。所述一個或多個處理器還能夠運行由諸如信號或載波的暫態(tài)介質承載的指令。
[0062]已經(jīng)參考優(yōu)選實施例描述了本發(fā)明。他人在閱讀并理解前述詳細說明后可以進行修改和變化。本發(fā)明旨在被解釋為包括所有這樣的修改和變化，只要它們落在權利要求書或其等價要件的范圍內(nèi)。
【權利要求】
1.一種裝置(100)，包括: 脈沖整形器(120)，其用于接收指示探測到的光子的信號并根據(jù)所述信號來生成多個脈沖以形成脈沖序列(200);以及 峰值探測器(150)，其用于在所述脈沖整形器(120)的輸出端處對所述脈沖序列(200)進行采樣，所述峰值探測器(150)包括用于對所述脈沖序列(200)的極大(202a、b、c)和極小(204a、b)值進行選擇性地檢測和采樣的電路(300)。
2.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其中，經(jīng)由模擬到數(shù)字轉換器(160)將采樣的所述極大值和所述極小值從模擬格式轉換成數(shù)字格式。
3.根據(jù)權利要求1-2所述的裝置，其中，經(jīng)由測試像素測量或CMOS電路仿真來重建所述多個脈沖中的個體脈沖的至少一個脈沖高度。
4.根據(jù)權利要求2-3所述的裝置，其中，時間計數(shù)器(170)探測所述極大值和所述極小值的時間點。
5.根據(jù)權利要求4所述的裝置，其中，以比特串格式來記錄所述時間點。
6.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其中，經(jīng)由測試像素測量或CMOS電路仿真來完整地重建所述脈沖序列。
7.根據(jù)權利要求6所述的裝置，其中，時間計數(shù)器探測所述極大值和所述極小值的時間點。
8.根據(jù)權利要求6-7所述的裝置，其中，以比特串格式來記錄所述時間點。
9.根據(jù)權利要求1-2所述的裝置，其中，所述極大值和所述極小值中的至少一些經(jīng)受緩沖以適應到達間隔時間的階段。
10.根據(jù)權利要求1-2所述的裝置，其中，所述極大值和所述極小值提供對所述脈沖序列的脈沖高度的準確估計，在所述估計中堆積效應是能確定的。
11.一種方法，包括: 經(jīng)由脈沖整形器(120)來接收指示探測到的光子的信號； 根據(jù)所述信號來生成多個脈沖以形成脈沖序列(200); 經(jīng)由峰值探測器(150)在所述脈沖整形器(120)的輸出端處對所述脈沖序列(200)進行采樣；并且 經(jīng)由所述峰值探測器(150)中的電路(300)對所述脈沖序列(200)的極大(202a、b、c)和極小(204a、b)值進行選擇性地檢測和采樣。
12.根據(jù)權利要求11所述的方法，還包括經(jīng)由模擬到數(shù)字轉換器(160)將采樣的所述極大值和所述極小值從模擬格式轉換成數(shù)字格式。
13.根據(jù)權利要求11-12所述的方法，還包括經(jīng)由測試像素測量或CMOS電路仿真來重建所述多個脈沖中的個體脈沖的至少一個脈沖高度。
14.根據(jù)權利要求12-13所述的方法，還包括經(jīng)由時間計數(shù)器(170)來探測所述極大值和所述極小值的時間點。
15.根據(jù)權利要求14所述的方法，還包括以比特串格式來記錄所述時間點。
16.根據(jù)權利要求11所述的方法，還包括經(jīng)由測試像素測量或CMOS電路仿真來完整地重建所述脈沖序列。
17.根據(jù)權利要求16所述的方法，還包括經(jīng)由時間計數(shù)器來探測所述極大值和所述極小值的時間點。
18.根據(jù)權利要求16-17所述的方法，還包括以比特串格式來記錄所述時間點。
19.根據(jù)權利要求11-12所述的方法，還包括使所述極大值和所述極小值中的至少一些經(jīng)受緩沖以適應到達間隔時間的階段。
20.根據(jù)權利要求11-12所述的方法，還包括經(jīng)由所述極大值和所述極小值來準確地估計所述脈沖序列的脈沖高度，在所述估計中堆積效應是能確定的。
【文檔編號】G01T1/17GK104471441SQ201380034404
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2013年6月26日 優(yōu)先權日:2012年6月27日
【發(fā)明者】C·赫爾曼 申請人:皇家飛利浦有限公司