一種高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路及測(cè)試方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及高壓開(kāi)關(guān)電源紋波測(cè)試電路【技術(shù)領(lǐng)域】，公開(kāi)一種高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路及測(cè)試方法。所述方法采用的測(cè)試電路，包括有高壓開(kāi)關(guān)電源的輸出電壓Vo+、輸出電壓Vo-、電容1、電阻2，所述高壓開(kāi)關(guān)電源輸出電壓Vo+接到電容1的一端，電容1的另一端接到電阻2的一端，電阻2的另一端接到輸出電壓Vo-；所述高壓開(kāi)關(guān)電源的輸出電壓Vo+、輸出電壓Vo-與電源輸出負(fù)載RL相連。本發(fā)明通過(guò)較少的元器件完成了高壓開(kāi)電源輸出紋波測(cè)試電路，使用簡(jiǎn)單，測(cè)試方便，在高壓電源測(cè)試技術(shù)方面有著廣泛的應(yīng)用前景。
【專利說(shuō)明】一種高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路及測(cè)試方法
[0001]

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0002]本發(fā)明涉及高壓開(kāi)關(guān)電源紋波測(cè)試電路【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是涉及一種高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路及測(cè)試方法。

【背景技術(shù)】
[0003]高壓開(kāi)關(guān)電源是開(kāi)關(guān)電源中常用電路。一般的高壓開(kāi)關(guān)電源都是高電壓，小電流，功率不大。即使這樣，在測(cè)試高壓電源的時(shí)候，還是要注意安全。而且對(duì)于高壓電源的測(cè)試也需要特殊的設(shè)備。這樣高壓電源的測(cè)試時(shí)相對(duì)于低壓電源而言是繁瑣的，復(fù)雜的。
[0004]其中高壓電源紋波測(cè)試，一般也是需要特殊儀器的。比如高壓差分探頭。但是高壓差分探頭價(jià)格偏高，且有的高壓探頭有輔助源，使用不大方便。這樣也會(huì)給測(cè)試帶來(lái)一定復(fù)雜性，影響測(cè)試效率。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]針對(duì)上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明的目的是提供一種高壓紋波測(cè)試電路及測(cè)試方法。其僅用少量元器件就可以組成簡(jiǎn)單的高壓開(kāi)關(guān)電源紋波測(cè)試電路，其測(cè)試簡(jiǎn)單方便。
[0006]為實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明采用的方案如下:
一種高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路，包括有高壓開(kāi)關(guān)電源輸出電壓Vo+、輸出電壓Vo-、電容1、電阻2，所述高壓開(kāi)關(guān)電源輸出電壓Vo+接到電容I的一端，電容I的另一端接到電阻2的一端，電阻2的另一端接到輸出電壓Vo-。
[0007]—種高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路的測(cè)試方法，采用高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路進(jìn)行測(cè)試，其步驟如下:
1)組裝高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路，當(dāng)高壓開(kāi)關(guān)電源的輸出與測(cè)試電路、負(fù)載RL電連接好后，所述測(cè)試電路中采用的電阻2阻抗大于電源輸出負(fù)載RL阻抗；并忽略其對(duì)負(fù)載RL的影響；
2)所述測(cè)試電路中采用的電容I為高頻陶瓷電容，根據(jù)電容的特性，通交流阻直流，使高壓開(kāi)關(guān)電源的輸出紋波，從電容1、電阻2上通過(guò)，形成電阻2兩端的紋波就是輸出紋波；
3)對(duì)電阻2的兩端取為紋波測(cè)試點(diǎn)，然后按常規(guī)的低壓電源測(cè)試方法一樣測(cè)試。
[0008]通過(guò)采用上述技術(shù)方案，本發(fā)明具有以下的有益效果:
一種高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路，解決了高壓開(kāi)關(guān)電源紋波測(cè)試需要高壓差分探頭的問(wèn)題，電路器件少，測(cè)試方便。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0009]圖1是本發(fā)明的一種高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路圖。

【具體實(shí)施方式】
[0010]下面通過(guò)結(jié)合附圖對(duì)本專利進(jìn)一步說(shuō)明。
[0011]如圖1所示，一種高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路，包括有高壓開(kāi)關(guān)電源輸出電壓Vo+、輸出電壓Vo-、電容1、電阻2，所述高壓開(kāi)關(guān)電源輸出電壓Vo+接到電容I的一端，電容I的另一端接到電阻2的一端，電阻2的另一端接到輸出電壓Vo-。
[0012]當(dāng)高壓開(kāi)關(guān)電源的輸出按照?qǐng)D1接好后，因?yàn)殡娮?遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于電源輸出負(fù)載RL，所以理論上可以忽略其對(duì)負(fù)載影響。又因?yàn)殡娙?為高頻陶瓷電容，根據(jù)電容的特性，通交流阻直流，這樣高壓開(kāi)關(guān)電源的輸出紋波就幾乎從電容1、電阻2上通過(guò)，這樣電阻2兩端的紋波就是輸出紋波，且該紋波可以按常規(guī)的低壓電源測(cè)試方法一樣測(cè)試。
[0013]此電路通過(guò)較少的元器件完成了高壓開(kāi)電源輸出紋波測(cè)試電路，使用簡(jiǎn)單，測(cè)試方便，在高壓電源測(cè)試技術(shù)方面有著廣泛的應(yīng)用前景。
【權(quán)利要求】
1.一種高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路，其特征是:包括有高壓開(kāi)關(guān)電源的輸出電壓Vo+、輸出電壓Vo-、電容1、電阻2，所述高壓開(kāi)關(guān)電源輸出電壓Vo+接到電容I的一端，電容I的另一端接到電阻2的一端，電阻2的另一端接到輸出電壓Vo-;所述高壓開(kāi)關(guān)電源的輸出電壓Vo+、輸出電壓Vo-與電源輸出負(fù)載RL相連。
2.一種高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路，其特征是:所述電阻2阻抗大于電源輸出負(fù)載RL阻抗。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路，其特征是:所述電容I為高頻陶瓷電容。
4.一種如權(quán)利要求1所述高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路的測(cè)試方法，其特征是:采用高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路進(jìn)行測(cè)試，其步驟如下: 1)組裝高壓開(kāi)關(guān)電源輸出紋波測(cè)試電路，當(dāng)高壓開(kāi)關(guān)電源的輸出與測(cè)試電路、負(fù)載RL電連接好后，所述測(cè)試電路中采用的電阻2阻抗大于電源輸出負(fù)載RL阻抗；并忽略其對(duì)負(fù)載RL的影響； 2)所述測(cè)試電路中采用的電容I為高頻陶瓷電容，根據(jù)電容的特性，通交流阻直流，使高壓開(kāi)關(guān)電源的輸出紋波，從電容1、電阻2上通過(guò)，形成電阻2兩端的紋波就是輸出紋波； 3)對(duì)電阻2的兩端取為紋波測(cè)試點(diǎn)，然后按常規(guī)的低壓電源測(cè)試方法一樣測(cè)試。
【文檔編號(hào)】G01R31/42GK104330748SQ201410521855
【公開(kāi)日】2015年2月4日 申請(qǐng)日期:2014年9月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月30日
【發(fā)明者】馬鴻林, 蔡芃芃, 顧斌, 王福春, 李愛(ài)華 申請(qǐng)人:洛陽(yáng)隆盛科技有限責(zé)任公司