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一種受光校準(zhǔn)檢測裝置的制作方法

文檔序號:39721922發(fā)布日期:2024-10-22 13:14閱讀:2來源:國知局
一種受光校準(zhǔn)檢測裝置的制作方法

本發(fā)明涉及位移檢測,尤其涉及一種受光校準(zhǔn)檢測裝置。


背景技術(shù):

1、現(xiàn)有技術(shù)的位移檢測裝置,包括激光發(fā)射器和受光電路板,受光電路板上設(shè)置有多個呈陣列排布的光敏元件,兩者分別固定在不同的物體上,激光發(fā)射器發(fā)射的光束垂直的照射在受光電路板上形成光點(diǎn),受光電路板上的光敏元件能夠感檢測到光點(diǎn)在受光電路板上的位置,當(dāng)兩個物體發(fā)生相對偏移時,光點(diǎn)在受光電路板上的位置將發(fā)生變化,與受光電路板電性連接的掃描電路板能夠計算出偏移的數(shù)值。但是,激光發(fā)射器發(fā)出的激光束會逐漸發(fā)散,激光發(fā)射器距離手受光電路板越遠(yuǎn),光點(diǎn)的直徑越大,導(dǎo)致測量出的偏移數(shù)值較實(shí)際值偏大。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題,是針對上述存在的技術(shù)不足,提供了一種受光校準(zhǔn)檢測裝置,測量出的偏移數(shù)值與實(shí)際值之間的偏差較小。

2、為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:一種受光校準(zhǔn)檢測裝置,包括第一底座和第二底座,所述第一底座上設(shè)置有光源,所述第二底座上設(shè)置有受光電路板,所述受光電路板上設(shè)置有多個呈陣列分布的光敏元件,所述受光電路板電性連接有掃描電路板,所述第一底座上還設(shè)置有遮光板,所述遮光板位于光源和受光電路板之間,所述遮光板上設(shè)置有通孔,所述通孔的延伸方向垂直于受光電路板,所述通孔的直徑不大于1毫米。

3、進(jìn)一步優(yōu)化本技術(shù)方案,所述通孔的數(shù)量不少于兩個,通過所有通孔的光束中的至少一個能夠照射在光敏元件上。

4、進(jìn)一步優(yōu)化本技術(shù)方案,所述光源為激光發(fā)射器或者燈具。

5、進(jìn)一步優(yōu)化本技術(shù)方案,所述光源為激光發(fā)射器,所述激光發(fā)射器的數(shù)量等于通孔的數(shù)量,一個激光發(fā)射器與且只與一個通孔同軸。

6、進(jìn)一步優(yōu)化本技術(shù)方案,所述掃描電路板還電性連接有信號傳輸控制板。

7、進(jìn)一步優(yōu)化本技術(shù)方案,所述受光電路板在光敏元件的底面和一側(cè)都設(shè)置有焊盤,所述光敏元件焊接在位于其底面的焊盤上,所述光敏元件通過銀線與位于其一側(cè)的焊盤綁定。

8、進(jìn)一步優(yōu)化本技術(shù)方案,所述第一底座上還設(shè)置有第一外殼,所述光源和遮光板位于第一外殼內(nèi),所述第二底座上還設(shè)置有第二外殼,所述受光電路板和掃描電路板位于第二外殼內(nèi),所述第一外殼和第二外殼兩者相對的一側(cè)都為開口,所述第一外殼和第二外殼設(shè)置有開口的一側(cè)通過軟管連接起來。

9、與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn):1、在光源與受光電路板之間設(shè)置遮光板,遮光板上設(shè)置有通孔,激光發(fā)射器發(fā)出的激光通過通孔后直徑變小,從而使得光點(diǎn)變小,剛好滿足一顆感光二極管導(dǎo)通的大小,因此測量出的偏移數(shù)值與實(shí)際值之間的偏差較小;2、通孔的數(shù)量不少于兩個,并且通過所有通孔的光束中的至少一個能夠照射在感光二極管上,避免了光點(diǎn)始終處在間隙中無法檢測出偏移量的情況出現(xiàn)。



技術(shù)特征:

1.一種受光校準(zhǔn)檢測裝置,包括第一底座(1)和第二底座(2),所述第一底座(1)上設(shè)置有光源(3),所述第二底座(2)上設(shè)置有受光電路板(5),所述受光電路板(5)上設(shè)置有多個呈陣列分布的光敏元件,所述受光電路板(5)電性連接有掃描電路板(6),其特征在于:所述第一底座(1)上還設(shè)置有遮光板(4),所述遮光板(4)位于光源(3)和受光電路板(5)之間,所述遮光板(4)上設(shè)置有通孔(41),所述通孔(41)的延伸方向垂直于受光電路板(5),所述通孔(41)的直徑不大于1毫米。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種受光校準(zhǔn)檢測裝置,其特征在于:所述通孔(41)的數(shù)量不少于兩個,通過所有通孔(41)的光束中的至少一個能夠照射在光敏元件上。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種受光校準(zhǔn)檢測裝置,其特征在于:所述光源(3)為激光發(fā)射器或者燈具。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種受光校準(zhǔn)檢測裝置,其特征在于:所述光源(3)為激光發(fā)射器,所述激光發(fā)射器的數(shù)量等于通孔(41)的數(shù)量,一個激光發(fā)射器與且只與一個通孔(41)同軸。

5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任意一項所述的一種受光校準(zhǔn)檢測裝置,其特征在于:所述掃描電路板(6)還電性連接有信號傳輸控制板,信號傳輸電路板控制光源(3)打開或者關(guān)閉,當(dāng)完成一次信號采集時將數(shù)據(jù)通過4gnblora5g等通訊方式傳至云平臺或者計算機(jī)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1-4任意一項所述的一種受光校準(zhǔn)檢測裝置,其特征在于:所述受光電路板(5)在光敏元件的底面和一側(cè)都設(shè)置有焊盤,所述光敏元件焊接在位于其底面的焊盤上,所述光敏元件通過銀線與位于其一側(cè)的焊盤綁定。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種受光校準(zhǔn)檢測裝置,其特征在于:所述受光電路板(5)在光敏元件的底面和一側(cè)都設(shè)置有焊盤,所述光敏元件焊接在位于其底面的焊盤上,所述光敏元件通過銀線與位于其一側(cè)的焊盤綁定。

8.根據(jù)權(quán)利要求1-4任意一項所述的一種受光校準(zhǔn)檢測裝置,其特征在于:所述第一底座(1)上還設(shè)置有第一外殼,所述光源(3)和遮光板(4)位于第一外殼內(nèi),所述第二底座(2)上還設(shè)置有第二外殼,所述受光電路板(5)和掃描電路板(6)位于第二外殼內(nèi),所述第一外殼和第二外殼兩者相對的一側(cè)都為開口,所述第一外殼和第二外殼設(shè)置有開口的一側(cè)通過軟管連接起來。

9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種受光校準(zhǔn)檢測裝置,其特征在于:所述第一底座(1)上還設(shè)置有第一外殼,所述光源(3)和遮光板(4)位于第一外殼內(nèi),所述第二底座(2)上還設(shè)置有第二外殼,所述受光電路板(5)、信號傳輸控制板和掃描電路板(6)位于第二外殼內(nèi),所述第一外殼和第二外殼兩者相對的一側(cè)都為開口,所述第一外殼和第二外殼設(shè)置有開口的一側(cè)通過軟管連接起來。

10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種受光校準(zhǔn)檢測裝置,其特征在于:所述第一底座(1)上還設(shè)置有第一外殼,所述光源(3)和遮光板(4)位于第一外殼內(nèi),所述第二底座(2)上還設(shè)置有第二外殼,所述受光電路板(5)和掃描電路板(6)位于第二外殼內(nèi),所述第一外殼和第二外殼兩者相對的一側(cè)都為開口,所述第一外殼和第二外殼設(shè)置有開口的一側(cè)通過軟管連接起來。


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及位移檢測技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種受光校準(zhǔn)檢測裝置。包括第一底座和第二底座,所述第一底座上設(shè)置有光源,所述第二底座上設(shè)置有受光電路板,所述受光電路板上設(shè)置有多個呈陣列分布的光敏元件,所述受光電路板電性連接有掃描電路板,所述第一底座上還設(shè)置有遮光板,所述遮光板位于光源和受光電路板之間,所述遮光板上設(shè)置有通孔,所述通孔的延伸方向垂直于受光電路板,所述通孔的直徑不大于1毫米。本發(fā)明測量出的偏移數(shù)值與實(shí)際值之間的偏差較小。

技術(shù)研發(fā)人員:王鋒
受保護(hù)的技術(shù)使用者:烯馳科技河北有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2024/10/21
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