本發(fā)明涉及電數(shù)據(jù)處理，尤其涉及電量測量方法、裝置、設(shè)備、介質(zhì)及程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、機(jī)房(例如模塊化數(shù)據(jù)中心的機(jī)房)的供配電系統(tǒng)通過引入交流或直流，并配合ups等設(shè)施將電能分類至各機(jī)柜，供各類功率負(fù)載使用，在各機(jī)柜中均需配置交流開關(guān)和電量測量裝置。其中開關(guān)內(nèi)部集成配電保護(hù)裝置，可為用電側(cè)提供多種保護(hù)，防止出現(xiàn)短路過載等故障后引發(fā)嚴(yán)重事故；電量測量裝置實(shí)時測量交流進(jìn)線/出線的電流、電壓、頻率、有功功率等電量值，為用電量統(tǒng)計(jì)分析提供數(shù)據(jù)依據(jù)，也可以實(shí)時檢測電壓波動、負(fù)荷變化等關(guān)鍵電量，確保各個支路的用電支路能夠得到有效保障。

2、由于各機(jī)柜均需配置和集成上述配電保護(hù)設(shè)備和電量測量裝置，數(shù)量較多且兩類設(shè)備都要完成電流電壓等電量的采集和計(jì)算，在功能上存在重疊，不但增加了配電系統(tǒng)的成本，還會占用額外的機(jī)房空間，設(shè)備運(yùn)行時的功耗也會造成配電系統(tǒng)的整體用電量增加。

3、獨(dú)立的ad轉(zhuǎn)換器可以實(shí)現(xiàn)保護(hù)測量功能，實(shí)現(xiàn)將配電保護(hù)裝置和電量測量裝置進(jìn)行集約化，但是用于采樣的ad轉(zhuǎn)換器的采樣率、內(nèi)部ad數(shù)量、位數(shù)精度和性能對電量測量的同步性、準(zhǔn)確性和實(shí)時性會產(chǎn)生較大影響，采樣率高、精度高的ad轉(zhuǎn)換器產(chǎn)品售價(jià)高，導(dǎo)致現(xiàn)有技術(shù)中配電系統(tǒng)的成本高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明提供電量測量方法、裝置、設(shè)備、介質(zhì)及程序產(chǎn)品，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中配電系統(tǒng)成本高的缺陷，實(shí)現(xiàn)降低配電系統(tǒng)成本。

2、本發(fā)明提供一種電量測量方法，包括：

3、獲取待測供電系統(tǒng)的實(shí)際頻率，基于所述實(shí)際頻率確定采樣時間間隔，所述采樣時間間隔為在一個周波內(nèi)n次對所述待測供電系統(tǒng)的m個通道進(jìn)行依次采樣的時間間隔，n為正整數(shù)；

4、獲取對所述待測供電系統(tǒng)的m個通道的目標(biāo)采樣結(jié)果，所述目標(biāo)采樣結(jié)果為目標(biāo)轉(zhuǎn)換器基于所述采樣時間間隔對所述待測供電系統(tǒng)的m個通道的電量數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣得到的，m個通道包括基準(zhǔn)通道和校準(zhǔn)通道；

5、基于所述目標(biāo)轉(zhuǎn)換器的通道校正系數(shù)對所述目標(biāo)采樣結(jié)果進(jìn)行校正，得到所述待測供電系統(tǒng)的電量測量結(jié)果，其中，所述通道校正系數(shù)反映采用所述目標(biāo)轉(zhuǎn)換器對所述校準(zhǔn)通道和所述基準(zhǔn)通道進(jìn)行采樣的結(jié)果之間的相位差，所述通道校正系數(shù)是基于參考采樣結(jié)果得到的，所述參考采樣結(jié)果為所述目標(biāo)轉(zhuǎn)換器基于參考時間間隔對m個通道進(jìn)行依次采樣得到的數(shù)據(jù)，所述參考時間間隔為在一個周波內(nèi)n次對m個通道進(jìn)行依次采樣的時間間隔。

6、根據(jù)本發(fā)明提供的一種電量測量方法，所述基于所述實(shí)際頻率確定采樣時間間隔，包括：

7、通過第一公式確定所述采樣時間間隔，所述第一公式為：

8、

9、其中，tc′為所述采樣時間間隔，f′為所述實(shí)際頻率，m為所述待測供電系統(tǒng)中通道的總個數(shù)。

10、根據(jù)本發(fā)明提供的一種電量測量方法，所述基于所述目標(biāo)轉(zhuǎn)換器的通道校正系數(shù)對所述目標(biāo)采樣結(jié)果進(jìn)行校正，得到所述待測供電系統(tǒng)的電量測量結(jié)果，包括：

11、對所述目標(biāo)采樣結(jié)果進(jìn)行轉(zhuǎn)換，得到所述待測供電系統(tǒng)的m個通道分別對應(yīng)的目標(biāo)工頻向量；

12、基于所述校準(zhǔn)通道對應(yīng)的所述通道校正系數(shù)對所述校準(zhǔn)通道對應(yīng)的所述目標(biāo)工頻向量進(jìn)行校正，得到所述校準(zhǔn)通道的電量測量結(jié)果。

13、根據(jù)本發(fā)明提供的一種電量測量方法，所述基于所述校準(zhǔn)通道對應(yīng)的通道校正系數(shù)對所述校準(zhǔn)通道對應(yīng)的所述目標(biāo)工頻向量進(jìn)行校正，包括：

14、基于第二公式對所述校準(zhǔn)通道對應(yīng)的所述目標(biāo)工頻向量進(jìn)行校正；

15、所述第二公式為：

16、vh′＝[rcosθ-s(-sinθ)]+j[r(-sinθ)-scosθ]；

17、其中，vh′為校正后的所述校準(zhǔn)通道的電量測量結(jié)果，cosθ與-sinθ為所述通道校正系數(shù)，vh＝r+js，vh為所述校準(zhǔn)通道對應(yīng)的所述目標(biāo)工頻向量，r、s分別為所述校準(zhǔn)通道對應(yīng)的所述目標(biāo)工頻向量的實(shí)部與虛部，j為虛數(shù)單位。

18、根據(jù)本發(fā)明提供的一種電量測量方法，所述校準(zhǔn)通道對應(yīng)的所述通道校正系數(shù)通過如下過程得到：

19、對所述參考采樣結(jié)果進(jìn)行轉(zhuǎn)換，得到m個通道分別對應(yīng)的參考工頻向量；

20、基于所述基準(zhǔn)通道和所述校準(zhǔn)通道對應(yīng)的所述參考工頻向量確定所述校準(zhǔn)通道對應(yīng)的所述通道校正系數(shù)。

21、根據(jù)本發(fā)明提供的一種電量測量方法，所述對所述參考采樣結(jié)果進(jìn)行轉(zhuǎn)換之前，包括：

22、確定參考頻率，基于所述參考頻率確定所述參考時間間隔；

23、對m個通道施加頻率為所述參考頻率的同相位的額定激勵量后，獲取所述目標(biāo)轉(zhuǎn)換器基于所述參考時間間隔對m個通道進(jìn)行采樣得到的所述參考采樣結(jié)果。

24、本發(fā)明還提供一種電量測量裝置，包括：

25、采樣間隔調(diào)整模塊，用于獲取待測供電系統(tǒng)的實(shí)際頻率，基于所述實(shí)際頻率確定采樣時間間隔，所述采樣時間間隔為在一個周波內(nèi)n次對所述待測供電系統(tǒng)的m個通道進(jìn)行依次采樣的時間間隔，n為正整數(shù)；

26、采樣結(jié)果獲取模塊，用于獲取對所述待測供電系統(tǒng)的m個通道的目標(biāo)采樣結(jié)果，所述目標(biāo)采樣結(jié)果為目標(biāo)轉(zhuǎn)換器基于所述采樣時間間隔對所述待測供電系統(tǒng)的m個通道的電量數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣得到的，m個通道包括基準(zhǔn)通道和校準(zhǔn)通道；

27、采樣結(jié)果校正模塊，用于基于所述目標(biāo)轉(zhuǎn)換器的通道校正系數(shù)對所述目標(biāo)采樣結(jié)果進(jìn)行校正，得到所述待測供電系統(tǒng)的電量測量結(jié)果，其中，所述通道校正系數(shù)反映采用所述目標(biāo)轉(zhuǎn)換器對所述校準(zhǔn)通道和所述基準(zhǔn)通道進(jìn)行采樣的結(jié)果之間的相位差，所述通道校正系數(shù)是基于參考采樣結(jié)果得到的，所述參考采樣結(jié)果為所述目標(biāo)轉(zhuǎn)換器基于參考時間間隔對m個通道進(jìn)行依次采樣得到的數(shù)據(jù)，所述參考時間間隔為在一個周波內(nèi)n次對m個通道進(jìn)行依次采樣的時間間隔。

28、本發(fā)明還提供一種電子設(shè)備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述程序時實(shí)現(xiàn)如上述任一種所述電量測量方法。

29、本發(fā)明還提供一種非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計(jì)算機(jī)程序，該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)如上述任一種所述電力測量方法。

30、本發(fā)明還提供一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)如上述任一種所述電量測量方法。

31、本發(fā)明提供的電量測量方法、裝置、設(shè)備、介質(zhì)及程序產(chǎn)品，通過基于通道校正系數(shù)對目標(biāo)轉(zhuǎn)換器基于采樣時間間隔對待測供電系統(tǒng)的各個通道的目標(biāo)采樣結(jié)果進(jìn)行校正，得到待測供電系統(tǒng)的電量測量結(jié)果，并且，通道校正系數(shù)是基于目標(biāo)轉(zhuǎn)換器采用參考時間間隔對待測供電系統(tǒng)進(jìn)行采樣得到的結(jié)果確定的，參考時間間隔和采樣時間間隔均可以實(shí)現(xiàn)目標(biāo)轉(zhuǎn)換器在一個周波內(nèi)n次對待測供電系統(tǒng)的各個通道進(jìn)行依次采樣，可以實(shí)現(xiàn)對目標(biāo)轉(zhuǎn)換器的采樣結(jié)果進(jìn)行準(zhǔn)確校正，從而實(shí)現(xiàn)采用采樣率低、位數(shù)精度適中的單ad轉(zhuǎn)換器就可以實(shí)現(xiàn)對電量的準(zhǔn)確測量，達(dá)到降低配電系統(tǒng)的成本的效果。

技術(shù)特征：

1.一種電量測量方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電量測量方法，其特征在于，所述基于所述實(shí)際頻率確定采樣時間間隔，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電量測量方法，其特征在于，所述基于所述目標(biāo)轉(zhuǎn)換器的通道校正系數(shù)對所述目標(biāo)采樣結(jié)果進(jìn)行校正，得到所述待測供電系統(tǒng)的電量測量結(jié)果，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電量測量方法，其特征在于，所述基于所述校準(zhǔn)通道對應(yīng)的通道校正系數(shù)對所述校準(zhǔn)通道對應(yīng)的所述目標(biāo)工頻向量進(jìn)行校正，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電量測量方法，其特征在于，所述校準(zhǔn)通道對應(yīng)的所述通道校正系數(shù)通過如下過程得到：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電量測量方法，其特征在于，所述對所述參考采樣結(jié)果進(jìn)行轉(zhuǎn)換之前，包括：

7.一種電量測量裝置，其特征在于，包括：

8.一種電子設(shè)備，包括存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述程序時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述電量測量方法。

9.一種非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述電量測量方法。

10.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述電量測量方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種電量測量方法、裝置、設(shè)備、介質(zhì)及程序產(chǎn)品，方法包括：獲取待測供電系統(tǒng)的實(shí)際頻率，基于實(shí)際頻率確定采樣時間間隔，采樣時間間隔為在一個周波內(nèi)N次對待測供電系統(tǒng)的M個通道進(jìn)行依次采樣的時間間隔；獲取對待測供電系統(tǒng)的M個通道的目標(biāo)采樣結(jié)果；基于通道校正系數(shù)對目標(biāo)采樣結(jié)果進(jìn)行校正，得到待測供電系統(tǒng)的電量測量結(jié)果，通道校正系數(shù)反映采用目標(biāo)轉(zhuǎn)換器對校準(zhǔn)通道和基準(zhǔn)通道進(jìn)行采樣的結(jié)果之間的相位差，通道校正系數(shù)基于參考采樣結(jié)果得到，參考采樣結(jié)果為目標(biāo)轉(zhuǎn)換器基于參考時間間隔對M個通道進(jìn)行依次采樣得到的，參考時間間隔為在一個周波內(nèi)N次對M個通道進(jìn)行依次采樣的時間間隔。本發(fā)明可以降低配電系統(tǒng)成本。

技術(shù)研發(fā)人員：袁靜,高鵬,趙旭凇,孟德香,劉洪,蔡旭輝,董曉荔,周興圍,陳曦,董威,齊景立,許婷婷,吳偉嘉,張家貝,李震,顧明,陳濤,楊海,王沁,侯金鳳,李慧,馮圓媛
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國移動通信集團(tuán)設(shè)計(jì)院有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/10/21