本發(fā)明涉及配電，尤其涉及一種測(cè)試案例生成方法、裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、隨著科技進(jìn)步，配電自動(dòng)化系統(tǒng)快速發(fā)展。大量的配電終端部署、上線(xiàn)運(yùn)行。為了保障配電自動(dòng)化系統(tǒng)的可靠性，需要定期對(duì)配電終端進(jìn)行維護(hù)。

2、目前，采用定期檢修和出現(xiàn)故障后更換的傳統(tǒng)運(yùn)維方式對(duì)配電終端進(jìn)行維護(hù)，存在針對(duì)性不強(qiáng)、時(shí)效性差、效率低的問(wèn)題，給運(yùn)維部門(mén)帶來(lái)巨大的壓力。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明提供了一種測(cè)試案例生成方法、裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及程序產(chǎn)品，以解決相關(guān)技術(shù)中維護(hù)配電終端時(shí)針對(duì)性不強(qiáng)、時(shí)效性差以及效率低的技術(shù)問(wèn)題。

2、根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種測(cè)試案例生成方法，包括：

3、獲取配電終端的劣化指標(biāo)；

4、根據(jù)所述劣化指標(biāo)，以及指標(biāo)與原子測(cè)試模板的映射關(guān)系，確定與所述劣化指標(biāo)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)原子測(cè)試模板；

5、根據(jù)所述目標(biāo)原子測(cè)試模板，確定對(duì)所述配電終端進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試案例。

6、根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種測(cè)試案例生成裝置，包括：

7、獲取模塊，用于獲取配電終端的劣化指標(biāo)；

8、第一確定模塊，用于根據(jù)所述劣化指標(biāo)，以及指標(biāo)與原子測(cè)試模板的映射關(guān)系，確定與所述劣化指標(biāo)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)原子測(cè)試模板；

9、第二確定模塊，用于根據(jù)所述目標(biāo)原子測(cè)試模板，確定對(duì)所述配電終端進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試案例。

10、根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括：

11、至少一個(gè)處理器；以及

12、與所述至少一個(gè)處理器通信連接的存儲(chǔ)器；其中，

13、所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有可被所述至少一個(gè)處理器執(zhí)行的計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被所述至少一個(gè)處理器執(zhí)行，以使所述至少一個(gè)處理器能夠執(zhí)行本發(fā)明任一實(shí)施例所述的測(cè)試案例生成方法。

14、根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序用于使處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)本發(fā)明任一實(shí)施例所述的測(cè)試案例生成方法。

15、根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序在被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)本發(fā)明任一實(shí)施例所述的測(cè)試案例生成方法。

16、本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案，包括：獲取配電終端的劣化指標(biāo)，根據(jù)劣化指標(biāo)，以及指標(biāo)與原子測(cè)試模板的映射關(guān)系，確定與劣化指標(biāo)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)原子測(cè)試模板，根據(jù)目標(biāo)原子測(cè)試模板，確定對(duì)配電終端進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試案例。該測(cè)試案例生成方法，一方面，可以根據(jù)劣化指標(biāo)生成對(duì)應(yīng)的測(cè)試案例，生成的測(cè)試案例正好覆蓋劣化指標(biāo)，不過(guò)檢，也不欠檢，針對(duì)性較強(qiáng)；另一方面，可以根據(jù)劣化指標(biāo)，實(shí)時(shí)生成對(duì)應(yīng)的測(cè)試案例，時(shí)效性強(qiáng)；再一方面，在生成測(cè)試案例的過(guò)程中，是根據(jù)劣化指標(biāo)，以及指標(biāo)與原子測(cè)試模板的映射關(guān)系，確定目標(biāo)原子測(cè)試模板，進(jìn)而生成測(cè)試案例，生成測(cè)試案例的效率較高，整個(gè)過(guò)程無(wú)需人工參與，從而提高了配電終端測(cè)試效率。因此，基于本實(shí)施例提供的測(cè)試案例生成方法，可以實(shí)現(xiàn)針對(duì)性地對(duì)配電終端進(jìn)行測(cè)試，時(shí)效性高且效率較高。

17、應(yīng)當(dāng)理解，本部分所描述的內(nèi)容并非旨在標(biāo)識(shí)本發(fā)明的實(shí)施例的關(guān)鍵或重要特征，也不用于限制本發(fā)明的范圍。本發(fā)明的其它特征將通過(guò)以下的說(shuō)明書(shū)而變得容易理解。

技術(shù)特征：

1.一種測(cè)試案例生成方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試案例包括目標(biāo)狀態(tài)序列；

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述目標(biāo)原子測(cè)試模板的數(shù)量為多個(gè)；

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取配電終端的劣化指標(biāo)，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述原子測(cè)試模板包括以下至少兩項(xiàng)：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述指標(biāo)與原子測(cè)試模板的映射關(guān)系用于指示以下至少兩種對(duì)應(yīng)關(guān)系：

7.一種測(cè)試案例生成裝置，其特征在于，包括：

8.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括：

9.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序用于使處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的測(cè)試案例生成方法。

10.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，其特征在于，包括計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序在被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的測(cè)試案例生成方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種測(cè)試案例生成方法、裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及程序產(chǎn)品，包括：獲取配電終端的劣化指標(biāo)，根據(jù)劣化指標(biāo)，以及指標(biāo)與原子測(cè)試模板的映射關(guān)系，確定與劣化指標(biāo)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)原子測(cè)試模板，根據(jù)目標(biāo)原子測(cè)試模板，確定對(duì)配電終端進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試案例。該測(cè)試案例生成方法，一方面，生成的測(cè)試案例正好覆蓋劣化指標(biāo)，不過(guò)檢，也不欠檢，針對(duì)性較強(qiáng)；另一方面，可以根據(jù)劣化指標(biāo)，實(shí)時(shí)生成對(duì)應(yīng)的測(cè)試案例，時(shí)效性強(qiáng)；再一方面，在生成測(cè)試案例的過(guò)程中，是根據(jù)劣化指標(biāo)，以及指標(biāo)與原子測(cè)試模板的映射關(guān)系，確定目標(biāo)原子測(cè)試模板，進(jìn)而生成測(cè)試案例，生成測(cè)試案例的效率較高，整個(gè)過(guò)程無(wú)需人工參與，從而提高了配電終端測(cè)試效率。

技術(shù)研發(fā)人員：張煥強(qiáng),劉胤良,喻磊,詹并,林岫菁,陳惠敏,舒堅(jiān)
受保護(hù)的技術(shù)使用者：廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/10/21