基表測試裝置及其測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及基表測試技術(shù)領(lǐng)域，特別是指一種基表測試裝置及其測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著超聲波技術(shù)的成熟，目前熱量表和水表都在采用超聲波技術(shù)測量流量，而測量基表目前普遍采用的是立柱反射式測量方式，這種基表具有測量精度高等優(yōu)點(diǎn)。但隨之對基表生產(chǎn)裝配工藝提出更高要求，否則測量將會產(chǎn)生很大偏差。目前常規(guī)檢驗(yàn)方法只能通過游標(biāo)卡尺等測量工具進(jìn)行測量。由于基表的特殊性，有些關(guān)鍵參數(shù)根本無法測量，如兩個反射鏡面與水平面的反射角是否為45度，兩個反射鏡面的曲面平整度以及與基表管道的同軸度無法準(zhǔn)確測量。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明提出一種基表測試裝置及其測試方法，解決了現(xiàn)有技術(shù)中無法測量基表同軸度的問題。
[0004]本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:
[0005]一種基表測試裝置，包括激光發(fā)生器、透明板以及被測基表，其中
[0006]所述被測基表倒置于所述透明板上；
[0007]所述被測基表具有兩個通孔，在所述通孔內(nèi)分別設(shè)置有固定塊，且在所述固定塊上設(shè)有反射鏡面；
[0008]在其中一個所述通孔的入口端設(shè)有激光發(fā)生器，另一個所述通孔的入口端設(shè)有可接收激光的圖像傳感器。
[0009]作為優(yōu)選的技術(shù)方案，兩個所述通孔內(nèi)的反射鏡面均為45°反射鏡面，且對立設(shè)置。
[0010]作為優(yōu)選的技術(shù)方案，所述激光發(fā)生器的工作面為圓形，且與所述通孔的入口端同心設(shè)置。
[0011 ] 作為優(yōu)選的技術(shù)方案，所述透明板為透明玻璃板。
[0012]作為優(yōu)選的技術(shù)方案，所述圖像傳感器為感光親合元件(charge-coupleddevice, CO))或互補(bǔ)式金屬氧化物半導(dǎo)體有源像素傳感器(CMOS Active pixel sensor)。
[0013]作為優(yōu)選的技術(shù)方案，所述圖像傳感器還連接有顯示器。
[0014]—種基表測試方法，包括:
[0015]倒置被測基表至透明板上；
[0016]用固定塊將激光發(fā)生器與所述被測基表的一側(cè)反射鏡面的入口端定位好，保證激光發(fā)生器的工作面與反射鏡面入口端同心；
[0017]預(yù)先設(shè)定好測量上限和測量下限；
[0018]接通電源，使激光束經(jīng)過兩個45°反射鏡面反射垂直照射到圖像傳感器上，通過圖像傳感器轉(zhuǎn)換為電信號成像在顯示器上。
[0019]本發(fā)明的基表測量裝置能夠測量基表同軸度的問題，彌補(bǔ)了現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，而且操作方便，準(zhǔn)確，直觀；設(shè)備投入成本低，利于市場化推廣應(yīng)用。
【附圖說明】
[0020]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施方案或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施方案或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施方案，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0021]圖1為本發(fā)明一種基表測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖2為本發(fā)明一種基表測試裝置的合格基表的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023]圖3為本發(fā)明一種基表測試裝置的不合格基表的測量圖；
[0024]圖4為本發(fā)明一種基表測試裝置的合格基表測量成像圖；
[0025]圖5為本發(fā)明一種基表測試裝置的不合格基表測量成像圖。
[0026]其中:
[0027]1-被測基表、2-反射鏡面、3-激光束、4-激光發(fā)生器、5-透明板、6_圖像傳感器、7-測量上限、8-激光光柱投影(實(shí)際測量值)、9_測量下限。
【具體實(shí)施方式】
[0028]下面將對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0029]參見圖1所示，基表測量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。具體包括激光發(fā)生器4、透明板5以及被測基表I。圖2為合格基表的結(jié)構(gòu)示意圖，其中反射鏡面2與水平軸線成45度夾角，且對立設(shè)置。被測基表I倒置于透明板5上，被測基表I具有兩個通孔(圖中未標(biāo)出)，在通孔內(nèi)分別設(shè)置有固定塊(圖中未標(biāo)出)，反射鏡面2固定在固定塊上。在其中一個通孔的入口端設(shè)有激光發(fā)生器4，另一個通孔的入口端設(shè)有可接收激光的圖像傳感器6。本實(shí)施例中選取激光發(fā)生器的工作面為圓形，且與通孔的入口端同心設(shè)置。其中的透明板5的材質(zhì)可以根據(jù)實(shí)際要求選擇，為了降低成本，本實(shí)施例中選擇的材質(zhì)為玻璃。圖像傳感器6也可以根據(jù)價格以及圖像清晰度進(jìn)行選擇，一般圖像傳感器6為感光親合元件(charge-coupleddevice, CO))或互補(bǔ)式金屬氧化物半導(dǎo)體有源像素傳感器(CMOS Active pixel sensor),本實(shí)施例中選用的圖像傳感器6為CCD。本實(shí)施例的圖像傳感器6還連接有顯示器，以展示圖像。
[0030]下面運(yùn)用上述基表測量裝置進(jìn)行測試，具體步驟為:
[0031]第一步:將被測基表I倒置在透明的玻璃板5上；
[0032]第二步:用固定塊將激光發(fā)生器4與被測基表I的一側(cè)反射鏡面2的入口端定位好，保證激光發(fā)生器4的工作面與反射鏡面2入口端同心；
[0033]第三部:在顯示器上預(yù)先設(shè)定好測量上限7和測量下限9 ;
[0034]接通電源，使激光束3經(jīng)過兩個45°反射鏡面2反射垂直照射到CXD圖像傳感器6上，通過CXD圖像傳感器轉(zhuǎn)換為電信號成像在顯示器上。平行激光束3在經(jīng)過被測基表I管道內(nèi)兩次反射鏡面2反射后將投影在顯示器上一個清晰的光柱8，通過該光柱的橢圓度與設(shè)定好測量上限7和測量下限9比較，很直觀地檢測出被測基表I同軸度的好壞。如果被測基表I符合要求，那么測試原理圖如圖1所示，激光束3經(jīng)過兩次反射后成像在允許范圍內(nèi)，見圖4所示。如果被測基表I不符合要求，那么測試原理圖如圖3所示，激光束經(jīng)過兩次反射后將產(chǎn)生偏差，成像將向某一方向偏移超出允許范圍內(nèi)，見圖5所示。
[0035]本發(fā)明的基表測量裝置能夠測量基表同軸度的問題，彌補(bǔ)了現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，而且操作方便，準(zhǔn)確，直觀；設(shè)備投入成本低，利于市場化推廣應(yīng)用。
[0036]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種基表測試裝置，其特征在于，包括激光發(fā)生器、透明板以及被測基表，其中 所述被測基表倒置于所述透明板上； 所述被測基表具有兩個通孔，在所述通孔內(nèi)分別設(shè)置有固定塊，且在所述固定塊上設(shè)有反射鏡面； 在其中一個所述通孔的入口端設(shè)有激光發(fā)生器，另一個所述通孔的入口端設(shè)有可接收激光的圖像傳感器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基表測試裝置，其特征在于，兩個所述通孔內(nèi)的反射鏡面均為45°反射鏡面，且對立設(shè)置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基表測試裝置，其特征在于，所述激光發(fā)生器的工作面為圓形，且與所述通孔的入口端同心設(shè)置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基表測試裝置，其特征在于，所述透明板為透明玻璃板。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基表測試裝置，其特征在于，所述圖像傳感器為感光耦合元件或互補(bǔ)式金屬氧化物半導(dǎo)體有源像素傳感器。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基表測試裝置，其特征在于，所述圖像傳感器還連接有顯示器。
7.一種基表測試方法，包括: 倒置被測基表至透明板上； 用固定塊將激光發(fā)生器與所述被測基表的一側(cè)反射鏡面的入口端定位好，保證所述激光發(fā)生器的工作面與反射鏡面入口端同心； 預(yù)先設(shè)定好測量上限和測量下限； 接通電源，使激光束經(jīng)過兩個45°反射鏡面反射垂直照射到圖像傳感器上，通過圖像傳感器轉(zhuǎn)換為電信號成像在顯示器上。
【專利摘要】本發(fā)明提出了一種基表測試裝置及其測試方法，其中裝置包括激光發(fā)生器、透明板以及被測基表，所述被測基表倒置于所述透明板上；所述被測基表具有兩個通孔，在所述通孔內(nèi)分別設(shè)置有固定塊，且在所述固定塊上設(shè)有反射鏡面；在其中一個所述通孔的入口端設(shè)有激光發(fā)生器，另一個所述通孔的入口端設(shè)有可接收激光的圖像傳感器。本發(fā)明的基表測量裝置能夠測量基表同軸度的問題，彌補(bǔ)了現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，而且操作方便，準(zhǔn)確，直觀；設(shè)備投入成本低，利于市場化推廣應(yīng)用。
【IPC分類】G01B11-27
【公開號】CN104677312
【申請?zhí)枴緾N201510063522
【發(fā)明人】馬占林
【申請人】浙江華立能源技術(shù)有限公司
【公開日】2015年6月3日
【申請日】2015年2月6日