測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電容的耐久性測試，特別是涉及一種提高電解電容耐久性測試結(jié)果正確性與有效性的測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前進(jìn)行電容普通耐久性測試時(shí)，通常將額定電壓相同的電容按照不同的生產(chǎn)廠家并聯(lián)后接入直流電源進(jìn)行試驗(yàn)，因此，存在同一電源連接多個(gè)廠家、多個(gè)規(guī)格的電容進(jìn)行測試。圖1為傳統(tǒng)測試裝置的電路圖，A廠家、B廠家和C廠家生產(chǎn)的電容并聯(lián)后接入VCC電源。測試過程中，當(dāng)異常情況發(fā)生時(shí)，假定A廠家的電容發(fā)生短路被擊穿失效時(shí)，未失效的B廠家和C廠家的電容均可通過短路的A廠家的電容放電，短路放電時(shí)會(huì)產(chǎn)生較大的電流，該電流會(huì)反作用在B廠家和C廠家的電容上，此時(shí)極易導(dǎo)致B廠家和C廠家的電容發(fā)生連環(huán)擊穿而導(dǎo)致失效。在上述情況下，很難定位故障的電容，容易造成錯(cuò)誤判斷，降低了試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和有效性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]基于上述問題，本發(fā)明提供一種防止被測電容間相互干涉，避免誤判，提高試驗(yàn)準(zhǔn)確性與有效性的電容耐久性測試裝置。
[0004]為達(dá)到技術(shù)目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
[0005]一種測試裝置，用于電容耐久性的測試，包括第一支路，所述第一支路包括控制開關(guān)和二極管，所述控制開關(guān)、二極管和被測電容依次串聯(lián)在電路中，所述控制開關(guān)的第一端連接電源的正極或負(fù)極，所述控制開關(guān)的第二端依次串聯(lián)所述二極管和被測電容后連接至電源的負(fù)極或正極，所述二極管和被測電容的相應(yīng)公共端連接至所述控制開關(guān)的第三端；
[0006]所述控制開關(guān)的第一端與第二端導(dǎo)通時(shí)，所述被測電容充電；所述控制開關(guān)的第一端與第三端導(dǎo)通時(shí)，所述被測電容放電。
[0007]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述控制開關(guān)為單刀雙擲開關(guān)。
[0008]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述二極管的數(shù)量為兩個(gè)以上，兩個(gè)以上所述二極管并聯(lián)設(shè)置。
[0009]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述二極管和被測電容的相應(yīng)公共端串聯(lián)電阻連接至所述控制開關(guān)的第二端。
[0010]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述第一支路的數(shù)量為多個(gè)，多個(gè)第一支路并聯(lián)設(shè)置在電路中，每個(gè)所述第一支路對應(yīng)一個(gè)被測電容。
[0011]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述電源還連接有阻抗電路。
[0012]本發(fā)明的測試裝置，將二極管與被測電容串聯(lián)，由于二極管的單向?qū)щ娦?，在正向偏置時(shí)電阻很小，反向偏置時(shí)則具有很大電阻，測試過程中即使某一電容出現(xiàn)故障造成短路，也不會(huì)影響到其它電容，該測試裝置防止了被測電容間的相互干涉，避免了對故障電容的錯(cuò)誤判斷，確保了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性與有效性。
【附圖說明】
[0013]圖1為傳統(tǒng)測試裝置的電路圖；
[0014]圖2為本發(fā)明測試裝置一實(shí)施例的電路圖。
【具體實(shí)施方式】
[0015]下面將結(jié)合實(shí)施例來詳細(xì)說明本發(fā)明。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。
[0016]本發(fā)明提供一種測試裝置，用于電容耐久性的測試，尤其適用于額定電壓相同的電解電容耐久性的測試，該裝置有效避免了被測電容間的相互干涉，保證了測試結(jié)果的準(zhǔn)確有效。
[0017]參見圖2，對A、B、C三個(gè)廠家生產(chǎn)的電容進(jìn)行測試。本發(fā)明的測試裝置包括第一支路100,優(yōu)選地,作為一種可實(shí)施方式,第一支路100的數(shù)量為多個(gè),多個(gè)第一支路100并聯(lián)設(shè)置在電路中，每個(gè)第一支路100均對應(yīng)一個(gè)被測電容。其中，第一支路100包括控制開關(guān)和二極管?？刂崎_關(guān)、二極管和被測電容依次串聯(lián)在電路中，控制開關(guān)的第一端Ki連接電源的正極或負(fù)極，控制開關(guān)的第二端K2依次串聯(lián)二極管和被測電容后連接至電源的負(fù)極或正極；二極管和被測電容的相應(yīng)公共端連接至控制開關(guān)的第三端K3。
[0018]需要說明的是，本發(fā)明中，二極管相對于電源為正向偏置，即二極管的正極連接電源的正極，二極管的負(fù)極連接電源的負(fù)極，在被測電容充電的過程中，二極管電阻很小，幾乎為O。由于電容的外殼一般為金屬材料，容易積聚感應(yīng)電荷，因此，在測試過程中，將電容的一端接地，以增加測試過程的安全性。
[0019]當(dāng)控制開關(guān)的第一端Kl與第二端K2導(dǎo)通時(shí)，電路中有電流流通，被測電容兩端分別獲得數(shù)量相等的相反電荷，此時(shí)電容充電，其兩端的電位差逐漸增大，一旦電容兩端電壓增大至與電源電壓相等時(shí)，電容充電完畢，電路中沒有電流流動(dòng)；當(dāng)控制開關(guān)的第一端Kl與第三端K3導(dǎo)通時(shí)，被測電容進(jìn)行放電，其兩端的電壓會(huì)逐漸下降為O。
[0020]在耐久性的測試過程中，由于二極管的單向?qū)щ娦?，?dāng)異常情況發(fā)生時(shí)，如A廠家的被測電容發(fā)生短路擊穿失效時(shí)，由于二極管的單向?qū)щ娦?，其在反向偏置時(shí)電阻很大，一般情況下看作斷路，因而，B廠家和C廠家的被測電容不能通過A廠家的故障電容進(jìn)行放電，各個(gè)廠家生產(chǎn)的電容間相互獨(dú)立，避免了連環(huán)擊穿現(xiàn)象的發(fā)生，確保了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性及有效性。
[0021]作為一種可實(shí)施方式，二極管和被測電容的相應(yīng)公共端串聯(lián)電阻(圖未示)連接至控制開關(guān)的第二端K2。當(dāng)被測電容充電完畢后，其兩端的電壓較大，若電路中電阻過小，放電過程中會(huì)產(chǎn)生較大電流，從而對電路造成損傷，通過串聯(lián)電阻，能有效減小放電時(shí)電路中的電流，從而保護(hù)了電路。較優(yōu)地，電源還連接有阻抗電路(圖未示)，阻抗電路減小了被測電容的放電速度，進(jìn)一步減小了放電電流，增加了測試的安全可靠性。
[0022]較優(yōu)地，作為一種可實(shí)施方式，控制開關(guān)為單刀雙擲開關(guān)。在被測電容的充電過程中，控制開關(guān)的第一端Kl為電流輸入端，將單刀擲向控制開關(guān)的第二端K2，電路導(dǎo)通，電流經(jīng)二極管流向被測電容，電流由電源的正極經(jīng)二極管流向被測電容，電荷在被測電容上積聚，被測電容進(jìn)行充電；測試完畢后，將單刀擲向單刀雙擲開關(guān)的第三端K3，此時(shí)被測電容與電源斷開，在電路中放電。此外，控制開關(guān)也可選擇雙刀雙擲開關(guān)，還可選擇兩個(gè)普通開關(guān)進(jìn)行控制，與之相比，單刀雙擲開關(guān)節(jié)約了成本，簡化了連接電路，同時(shí)控制更加方便。
[0023]較優(yōu)地，作為一種可實(shí)施方式，二極管的數(shù)量為兩個(gè)以上(包括兩個(gè))，兩個(gè)以上的二極管并聯(lián)設(shè)置。如圖2所示，為兩個(gè)二極管的并聯(lián)，當(dāng)其中一個(gè)二極管失效時(shí)，電流仍能從另一個(gè)二極管處傳輸?shù)奖粶y電容，保證了電路的有效連接。
[0024]上述的測試裝置中，二極管優(yōu)選為硅二極管，其具有較低的價(jià)格與優(yōu)異的單向?qū)щ娦裕桓鼉?yōu)地，硅二極管的擊穿電壓大于被測電容的額定電壓。其避免了被測電容放電時(shí)由于操作錯(cuò)誤而擊穿二極管，進(jìn)而導(dǎo)致電路失效的問題。
[0025]需要說明的是，圖2中同一廠家的被測電容可為一個(gè)，也可為多個(gè)，多個(gè)被測電容并聯(lián)，且每個(gè)被測電容均對應(yīng)一個(gè)第一支路100 ;且生產(chǎn)廠家不局限于A、B、C三廠，可并聯(lián)更多廠家生產(chǎn)的電容。
[0026]以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對本發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此，本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種測試裝置，用于電容耐久性的測試，其特征在于: 包括第一支路，所述第一支路包括控制開關(guān)和二極管，所述控制開關(guān)、二極管和被測電容依次串聯(lián)在電路中，所述控制開關(guān)的第一端連接電源的正極或負(fù)極，所述控制開關(guān)的第二端依次串聯(lián)所述二極管和被測電容后連接至電源的負(fù)極或正極，所述二極管和被測電容的相應(yīng)公共端連接至所述控制開關(guān)的第三端； 所述控制開關(guān)的第一端與第二端導(dǎo)通時(shí)，所述被測電容充電；所述控制開關(guān)的第一端與第三端導(dǎo)通時(shí)，所述被測電容放電。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于: 所述控制開關(guān)為單刀雙擲開關(guān)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于: 所述二極管的數(shù)量為兩個(gè)以上，兩個(gè)以上所述二極管并聯(lián)設(shè)置。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試裝置，其特征在于: 所述二極管和被測電容的相應(yīng)公共端串聯(lián)電阻連接至所述控制開關(guān)的第二端。5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的測試裝置，其特征在于: 所述第一支路的數(shù)量為多個(gè)，多個(gè)第一支路并聯(lián)設(shè)置在電路中，每個(gè)所述第一支路對應(yīng)一個(gè)被測電容。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試裝置，其特征在于: 所述電源還連接有阻抗電路。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種測試裝置，用于電容耐久性的測試，包括第一支路，所述第一支路包括控制開關(guān)和二極管，所述控制開關(guān)、二極管和被測電容依次串聯(lián)在電路中，所述控制開關(guān)的第一端連接電源的正極或負(fù)極，所述控制開關(guān)的第二端依次串聯(lián)所述二極管和被測電容后連接至電源的負(fù)極或正極，所述二極管和被測電容的相應(yīng)公共端連接至所述控制開關(guān)的第三端；所述控制開關(guān)的第一端與第二端導(dǎo)通時(shí)，所述被測電容充電；所述控制開關(guān)的第一端與第三端導(dǎo)通時(shí)，所述被測電容放電。其防止了被測電容間的相互干涉，避免了對故障電容的錯(cuò)誤判斷，確保了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性與有效性。
【IPC分類】G01R31/00, G01R31/14
【公開號】CN104931805
【申請?zhí)枴緾N201410109703
【發(fā)明人】錢正君, 高偉
【申請人】珠海格力電器股份有限公司
【公開日】2015年9月23日
【申請日】2014年3月21日