非色散原子熒光激發(fā)光源雜質(zhì)檢測(cè)裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本專利是一種非色散原子熒光激發(fā)光源雜質(zhì)檢測(cè)裝置。是一種結(jié)構(gòu)合理、方便快捷的判斷激發(fā)光源是否含有雜質(zhì)并確認(rèn)雜質(zhì)元素的裝置。
[0002]原子熒光法是一種元素檢測(cè)分析方法，由于其快速、靈敏、簡(jiǎn)便，被廣泛地應(yīng)用于環(huán)境、生物、冶金、地礦、石油、食品、醫(yī)療衛(wèi)生等很多領(lǐng)域中的多種元素的分析。其工作原理是用一定強(qiáng)度的激發(fā)光源照射含有一定濃度的待測(cè)元素的原子蒸汽時(shí)，將產(chǎn)生一定強(qiáng)度的熒光，測(cè)定原子熒光的強(qiáng)度即可求得待測(cè)樣品中該元素的含量。目前我國(guó)在用的原子熒光光度計(jì)大多都是非色散原子熒光光度計(jì)，非色散原子熒光光度計(jì)本身無(wú)任何色散元件，如果激發(fā)光源不純，含有兩種或兩種以上元素光波，而樣品中也含有此種元素，則產(chǎn)生熒光強(qiáng)度為多種熒光強(qiáng)度之和，從而導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果過(guò)高的錯(cuò)誤結(jié)論。只有當(dāng)激發(fā)光源足夠純，可以做到對(duì)目標(biāo)元素的選擇性激發(fā)時(shí)，測(cè)量結(jié)果才準(zhǔn)確可靠。因此光源的純度(是否含雜質(zhì))是影響非色散原子熒光技術(shù)建立及達(dá)到準(zhǔn)確測(cè)定的先決條件。
【背景技術(shù)】
[0003]目前國(guó)內(nèi)外掌握的49個(gè)相關(guān)數(shù)據(jù)庫(kù)中未發(fā)現(xiàn)對(duì)非色散原子熒光激發(fā)光源純度的研究，也沒有針對(duì)光源檢測(cè)方法、雜質(zhì)分析的研究報(bào)導(dǎo)。我國(guó)頒發(fā)了適用于非色散原理的原子熒光光度計(jì)國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程(JJG939-2009)和產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)(GB/T21191-2007)，其中均未涉及到對(duì)激發(fā)光源純度的檢測(cè)指標(biāo)，如果激發(fā)光源不純，含有兩種或兩種以上雜質(zhì)元素，而樣品中也含有此種元素，則產(chǎn)生熒光強(qiáng)度為多種熒光強(qiáng)度之和，從而導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果過(guò)高的錯(cuò)誤結(jié)論。致使非色散原子熒光技術(shù)幾乎喪失了其賴以存在的技術(shù)前提條件，存在由于激發(fā)光源含雜導(dǎo)致分析結(jié)果錯(cuò)誤的危險(xiǎn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]
【發(fā)明內(nèi)容】
是通過(guò)研制出的原子熒光光源雜質(zhì)檢測(cè)裝置，來(lái)實(shí)現(xiàn)原子熒光激發(fā)光源純度的檢測(cè)，即激發(fā)光源是否含有雜質(zhì)，如果含有，給出雜質(zhì)元素名稱。
[0005]本發(fā)明的有益效果是:該項(xiàng)目研究成果為非色散原子熒光光度計(jì)的生產(chǎn)廠家及使用者提供激發(fā)光源篩選依據(jù)，可為非色散原子熒光光度計(jì)激發(fā)光源生產(chǎn)企業(yè)提供改進(jìn)方向，對(duì)非色散原子熒光法測(cè)量結(jié)果的分析具有重要意義。
【附圖說(shuō)明】
[0006]圖1為非色散原子熒光激發(fā)光源雜質(zhì)檢測(cè)裝置圖。(1.機(jī)殼2.電源開關(guān)3.支架安裝結(jié)構(gòu)4.光源插座5.透鏡測(cè)試結(jié)構(gòu)6.衰減窗7.光譜探測(cè)器8.電源插座9.USB接P )
[0007]圖2為非色散原子熒光激發(fā)光源燈架圖。(1.陰極燈2下燈架3.調(diào)節(jié)螺釘4.鎖蓋5.上燈架6.拉簧)
【具體實(shí)施方式】
[0008]儀器操作步驟:
[0009]儀器開機(jī)后，將被測(cè)光源固定在光源支架3上，并用3上面的壓片和螺絲固定，把光源的電接口與4電源插座接通，關(guān)閉機(jī)殼I暗箱上蓋，由7光譜探測(cè)器采集光源光譜，如果需要可適當(dāng)調(diào)節(jié)6衰減窗，以獲得最佳信噪比光譜圖。電腦自動(dòng)判斷分別標(biāo)出光源光譜和雜質(zhì)光譜，指出雜質(zhì)元素。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.本專利中公開了非色散原子熒光激發(fā)光源雜質(zhì)檢測(cè)裝置，包括:暗箱機(jī)殼、光源固定支架、光源電控裝置、透鏡、衰減窗、紫外光譜探測(cè)部件和電腦處理器。暗箱機(jī)殼關(guān)閉后無(wú)雜散光進(jìn)入，安裝結(jié)構(gòu)固定被測(cè)光源，有螺絲和壓片可根據(jù)被測(cè)燈作適當(dāng)調(diào)節(jié)，根據(jù)光源的不同強(qiáng)度配合使用透鏡和衰減窗，已達(dá)到光譜探測(cè)系統(tǒng)獲得信噪比合適的光譜圖，有電腦處理器處理檢測(cè)數(shù)據(jù)，輸出光源是否含雜和雜質(zhì)元素的確認(rèn)等測(cè)試結(jié)果。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的暗箱機(jī)殼，其特征在于具有全黑涂層，邊緣處有凹槽設(shè)計(jì)，關(guān)閉后無(wú)雜散光進(jìn)入。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光源固定支架，其特征在于有光源固定支架，有夾槽固定出光平面，有螺絲和壓片可根據(jù)被測(cè)燈粗細(xì)作適當(dāng)調(diào)節(jié)，測(cè)試過(guò)程中保持牢固固定。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光源電控裝置，其特征在于電路封裝在裝置的內(nèi)部，只在暗箱下面板上留有被測(cè)光源電源接口，供電調(diào)節(jié)由主機(jī)處理器控制。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的透鏡和衰減窗，其特征在于位置固定不可調(diào)，根據(jù)光源的不同強(qiáng)度可配合調(diào)節(jié)衰減窗，已達(dá)到光譜探測(cè)系統(tǒng)獲得信噪比合適的光譜圖。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紫外光譜探測(cè)部件，其特征在于光路部分全封閉并固定，無(wú)專用工具不可調(diào)，探測(cè)器輸出信號(hào)進(jìn)入數(shù)據(jù)采集卡，并封裝在暗箱下面板下，在機(jī)殼上通過(guò)USB 口電纜與主機(jī)處理器進(jìn)行通訊。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的主機(jī)處理器，其特征在于將被測(cè)光源光譜和雜質(zhì)光譜區(qū)分標(biāo)出，保存譜圖并輸出，方便快速地實(shí)現(xiàn)非色散原子熒光激發(fā)光源雜質(zhì)元素的確認(rèn)和純度檢定。
【專利摘要】本發(fā)明公開了非色散原子熒光激發(fā)光源雜質(zhì)檢測(cè)裝置。所述裝置包括：暗箱機(jī)殼、光源固定支架、光源電控裝置、透鏡、衰減窗、紫外光譜探測(cè)部件和主機(jī)處理器。暗箱機(jī)殼關(guān)閉后無(wú)雜散光進(jìn)入，安裝結(jié)構(gòu)固定被測(cè)光源，有螺絲和壓片可根據(jù)被測(cè)燈作適當(dāng)調(diào)節(jié)，根據(jù)光源的不同強(qiáng)度配合使用透鏡和衰減窗，有電腦處理器處理檢測(cè)數(shù)據(jù)，能夠直接給出光源是否含雜和雜質(zhì)元素的確認(rèn)等測(cè)試結(jié)果。本發(fā)明的有益效果是：該項(xiàng)目研究成果為非色散原子熒光光度計(jì)的生產(chǎn)廠家及使用者提供激發(fā)光源篩選依據(jù)，可為非色散原子熒光激發(fā)光源生產(chǎn)企業(yè)提供改進(jìn)方向，對(duì)非色散原子熒光法測(cè)量結(jié)果的分析有重要意義。
【IPC分類】G01M11/02
【公開號(hào)】CN105092215
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510483974
【發(fā)明人】賈亞青, 吳紅, 沈正生, 趙海波
【申請(qǐng)人】北京市計(jì)量檢測(cè)科學(xué)研究院
【公開日】2015年11月25日
【申請(qǐng)日】2015年8月10日