暗室校準方法及裝置、電子設備的制造方法
【專利摘要】本公開是關于一種暗室校準方法及裝置、電子設備，該方法可以包括：獲取待校準暗室對應于標準測試設備的測試數(shù)據(jù)集合；根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)集合與標準暗室對應于所述標準測試設備的標準測試數(shù)據(jù)集合之間的比較結(jié)果，對所述待校準暗室進行校準，直至所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合之間的差異不大于預設差異。通過本公開的技術(shù)方案，可以實現(xiàn)對暗室的自動化校準，簡化校準流程、提升校準效率。
【專利說明】
暗室校準方法及裝置、電子設備
技術(shù)領域
[0001]本公開涉及通訊技術(shù)領域，尤其涉及一種暗室校準方法及裝置、電子設備。
【背景技術(shù)】
[0002]暗室(或稱，微波暗室、電波暗室或吸波室)可以通過吸收絕大部分電磁波，從而為電子設備提供相對“純凈”的測試環(huán)境，避免受到外界雜波的干擾和影響。暗室的搭建不僅存在硬件需求，還需要對暗室的電磁波吸收性能等進行調(diào)試，以使其滿足對電子設備的測試要求。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本公開提供一種暗室校準方法及裝置、電子設備，以解決相關技術(shù)中的不足。
[0004]根據(jù)本公開實施例的第一方面，提供一種暗室校準方法，包括:
[0005]獲取待校準暗室對應于標準測試設備的測試數(shù)據(jù)集合；
[0006]根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)集合與標準暗室對應于所述標準測試設備的標準測試數(shù)據(jù)集合之間的比較結(jié)果，對所述待校準暗室進行校準，直至所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合之間的差異不大于預設差異。
[0007]可選的，所述獲取待校準暗室對應于標準測試設備的測試數(shù)據(jù)集合，包括:
[0008]在多次重復測試操作中，分別獲取所述待校準暗室對應于所述標準測試設備的多個單次測試數(shù)據(jù)集合；
[0009]當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的差值不大于第一預設差值時，將多個單次測試數(shù)據(jù)的平均值作為所述同一測試項目在所述測試數(shù)據(jù)集合中對應的測試數(shù)據(jù)；
[0010]當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的差值大于第一預設差值且不大于第二預設差值時，計算所述同一測試項目對應的所有差值的概率分布統(tǒng)計，并根據(jù)統(tǒng)計結(jié)果計算多個單次測試數(shù)據(jù)的加權(quán)平均值，以作為所述同一測試項目在所述測試數(shù)據(jù)集合中對應的測試數(shù)據(jù)。
[0011]可選的，還包括:
[0012]當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的最大差值大于所述第二預設差值時，將所述同一測試項目標記為待檢修項目。
[0013]可選的，所述獲取待校準暗室對應于標準測試設備的測試數(shù)據(jù)集合，包括:
[0014]分別獲取所述待校準暗室對應于所述標準測試設備在各個信道的測試數(shù)據(jù)；其中，所述測試數(shù)據(jù)集合包括所述待校準暗室對應于所述標準測試設備在各個信道的測試數(shù)據(jù)；
[0015]其中，所述比較結(jié)果為每個信道的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值的集合。
[0016]可選的，所述根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)集合與標準暗室對應于所述標準測試設備的標準測試數(shù)據(jù)集合之間的比較結(jié)果，對所述待校準暗室進行校準，包括:
[0017]分別根據(jù)每個信道的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值，調(diào)整所述待校準暗室的路徑損耗值，以減小或消除所述差值。
[0018]可選的，還包括:
[0019]通過與所述標準測試設備之間建立的通訊連接，讀取所述標準測試設備中預存儲的所述標準測試數(shù)據(jù)集合；
[0020]將所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合進行比較，以得到所述比較結(jié)果。
[0021]根據(jù)本公開實施例的第二方面，提供一種暗室校準裝置，包括:
[0022]獲取單元，獲取待校準暗室對應于標準測試設備的測試數(shù)據(jù)集合；
[0023]校準單元，根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)集合與標準暗室對應于所述標準測試設備的標準測試數(shù)據(jù)集合之間的比較結(jié)果，對所述待校準暗室進行校準，直至所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合之間的差異不大于預設差異。
[0024]可選的，所述獲取單元包括:
[0025]數(shù)據(jù)集合獲取子單元，在多次重復測試操作中，分別獲取所述待校準暗室對應于所述標準測試設備的多個單次測試數(shù)據(jù)集合；
[0026]第一數(shù)據(jù)處理子單元，當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的差值不大于第一預設差值時，將多個單次測試數(shù)據(jù)的平均值作為所述同一測試項目在所述測試數(shù)據(jù)集合中對應的測試數(shù)據(jù)；
[0027]第二數(shù)據(jù)處理子單元，當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的差值大于第一預設差值且不大于第二預設差值時，計算所述同一測試項目對應的所有差值的概率分布統(tǒng)計，并根據(jù)統(tǒng)計結(jié)果計算多個單次測試數(shù)據(jù)的加權(quán)平均值，以作為所述同一測試項目在所述測試數(shù)據(jù)集合中對應的測試數(shù)據(jù)。
[0028]可選的，還包括:
[0029]標記單元，當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的最大差值大于所述第二預設差值時，將所述同一測試項目標記為待檢修項目。
[0030]可選的，所述獲取單元包括:
[0031]數(shù)據(jù)獲取子單元，分別獲取所述待校準暗室對應于所述標準測試設備在各個信道的測試數(shù)據(jù);其中，所述測試數(shù)據(jù)集合包括所述待校準暗室對應于所述標準測試設備在各個信道的測試數(shù)據(jù)；
[0032]其中，所述比較結(jié)果為每個信道的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值的集合。
[0033]可選的，所述校準單元包括:
[0034]調(diào)整子單元，分別根據(jù)每個信道的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值，調(diào)整所述待校準暗室的路徑損耗值，以減小或消除所述差值。
[0035]可選的，還包括:
[0036]讀取單元，通過與所述標準測試設備之間建立的通訊連接，讀取所述標準測試設備中預存儲的所述標準測試數(shù)據(jù)集合；
[0037]比較單元，將所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合進行比較，以得到所述比較結(jié)果。
[0038]根據(jù)本公開實施例的第三方面，提供一種電子設備，包括:
[0039]處理器；
[0040]用于存儲處理器可執(zhí)行指令的存儲器；
[0041 ]其中，所述處理器被配置為:
[0042]獲取待校準暗室對應于標準測試設備的測試數(shù)據(jù)集合；
[0043]根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)集合與標準暗室對應于所述標準測試設備的標準測試數(shù)據(jù)集合之間的比較結(jié)果，對所述待校準暗室進行校準，直至所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合之間的差異不大于預設差異。
[0044]本公開的實施例提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果:
[0045]由上述實施例可知，本公開通過將標準測試設備分別置于標準暗室和待校準暗室進行測試，可由待校準暗室的控制中心對相應的測試數(shù)據(jù)集合與標準測試數(shù)據(jù)集合進行比較，以及使得控制中心能夠?qū)Υ拾凳疫M行自動化校準，不僅能夠簡化暗室校準流程，而且能夠提升校準效率。
[0046]應當理解的是，以上的一般描述和后文的細節(jié)描述僅是示例性和解釋性的，并不能限制本公開。
【附圖說明】
[0047]此處的附圖被并入說明書中并構(gòu)成本說明書的一部分，示出了符合本公開的實施例，并與說明書一起用于解釋本公開的原理。
[0048]圖1是根據(jù)一示例性實施例示出的一種暗室校準方法的流程圖。
[0049]圖2是根據(jù)一示例性實施例示出的一種暗室校準的場景示意圖。
[0050]圖3是根據(jù)一示例性實施例示出的另一種暗室校準方法的流程圖。
[0051 ]圖4是根據(jù)一示例性實施例示出的一種生成測試數(shù)據(jù)集合的流程圖。
[0052]圖5-10是根據(jù)一示例性實施例示出的一種暗室校準裝置的框圖。
[0053]圖11是根據(jù)一示例性實施例示出的一種用于暗室校準的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0054]這里將詳細地對示例性實施例進行說明，其示例表示在附圖中。下面的描述涉及附圖時，除非另有表示，不同附圖中的相同數(shù)字表示相同或相似的要素。以下示例性實施例中所描述的實施方式并不代表與本公開相一致的所有實施方式。相反，它們僅是與如所附權(quán)利要求書中所詳述的、本公開的一些方面相一致的裝置和方法的例子。
[0055]在諸如手機等電子設備的設計制造過程中，需要在天線實驗室進行天線性能等方面的測試;通過在暗室內(nèi)執(zhí)行該測試過程，可以避免外界雜波造成的電磁干擾，確保測試結(jié)果的準確性和可靠性。
[0056]但是，暗室的搭建并非單純的硬件組裝，需要按照一定標準進行校準，否則無法達到所需的測試性能。在相關技術(shù)中，暗室校準的操作流程包括:
[0057]I)工作人員將金機(golden sample，即標準測試設備)置于第三方的標準暗室(該標準暗室符合所有預定義的測試性能，可以以此為標準來校準其他暗室)進行測試，得到標準測試數(shù)據(jù)集合；
[0058]2)工作人員將該金機置于待校準暗室進行測試，得到測試數(shù)據(jù)集合；
[0059]3)工作人員將測試數(shù)據(jù)集合與標準測試數(shù)據(jù)集合進行人工比較后，根據(jù)比較結(jié)果手動執(zhí)行對待校準暗室的調(diào)整和校準。
[0060]在完成一次校準后，工作人員需要重復上述的步驟2)-步驟3)，直至測試數(shù)據(jù)集合與標準測試數(shù)據(jù)集合一致。
[0061]可見，由于工作人員需要對標準測試數(shù)據(jù)集合與測試數(shù)據(jù)集合進行反復的人工比對，導致暗室校準工作十分繁瑣、冗長。
[0062]因此，本公開通過改進暗室校準方案，可以解決相關技術(shù)中的上述問題。下面結(jié)合附圖對本公開的技術(shù)方案進行描述:
[0063]圖1是根據(jù)一示例性實施例示出的一種暗室校準方法的流程圖，如圖1所示，該方法可以用于待校準暗室的控制中心中，比如該控制中心可以承載于為待校準暗室配置的服務器設備;該方法可以包括以下步驟:
[0064]在步驟102中，獲取待校準暗室對應于標準測試設備的測試數(shù)據(jù)集合。
[0065]在本實施例中，可以在多次重復測試操作中，分別獲取所述待校準暗室對應于所述標準測試設備的多個單次測試數(shù)據(jù)集合;其中，當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的差值不大于第一預設差值時，將多個單次測試數(shù)據(jù)的平均值作為所述同一測試項目在所述測試數(shù)據(jù)集合中對應的測試數(shù)據(jù)；以及，當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的差值大于第一預設差值且不大于第二預設差值時，計算所述同一測試項目對應的所有差值的概率分布統(tǒng)計，并根據(jù)統(tǒng)計結(jié)果計算多個單次測試數(shù)據(jù)的加權(quán)平均值，以作為所述同一測試項目在所述測試數(shù)據(jù)集合中對應的測試數(shù)據(jù)。在該實施例中，通過對多個單次測試數(shù)據(jù)進行均值計算，可以有效消除測試過程中產(chǎn)生的誤差，確保最終結(jié)果的準確性。
[0066]在本實施例中，可以分別獲取所述待校準暗室對應于所述標準測試設備在各個信道的測試數(shù)據(jù);其中，所述標準測試數(shù)據(jù)集合包括所述待校準暗室對應于所述標準測試設備在各個信道的標準測試數(shù)據(jù);其中，所述比較結(jié)果為每個信道的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值的集合。
[0067]在步驟104中，根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)集合與標準暗室對應于所述標準測試設備的標準測試數(shù)據(jù)集合之間的比較結(jié)果，對所述待校準暗室進行校準。
[0068]在本實施例中，當比較結(jié)果為每個信道的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值的集合時，可以分別根據(jù)每個信道的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值，調(diào)整所述待校準暗室的路徑損耗值，以減小或消除所述差值。
[0069]在步驟106中，當所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合之間的差異大于預設差異時，返回步驟102并重復上述步驟;直至所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合之間的差異不大于預設差異時，完成對待校準暗室的校準操作。
[0070]由上述實施例可知，本公開通過將標準測試設備分別置于標準暗室和待校準暗室進行測試，可由待校準暗室的控制中心對相應的測試數(shù)據(jù)集合與標準測試數(shù)據(jù)集合進行比較，而無需工作人員對測試數(shù)據(jù)進行人工比對;同時，基于對測試數(shù)據(jù)集合與標準測試數(shù)據(jù)集合的比較結(jié)果，控制中心能夠?qū)Υ拾凳疫M行自動化校準，比如對待校準暗室的路徑損耗值進行調(diào)節(jié)等，從而不僅能夠簡化暗室校準流程，而且能夠提升校準效率。
[0071]圖2是根據(jù)一示例性實施例示出的一種暗室校準的場景示意圖，如圖2所示，本公開的暗室校準涉及到:綜測儀A、控制中心A、金機、綜測儀B和控制中心B。綜測儀A為標準暗室使用的綜合測試儀，該綜測儀A用于對置于標準暗室的金機進行測試，而控制中心A為標準暗室的控制中心，用于根據(jù)測試信息生成相應的標準測試數(shù)據(jù)集合。金機可以由待校準暗室的工作人員準備好，并通過諸如物流形式將金機交由標準暗室的工作人員來執(zhí)行測試，然后由標準暗室的工作人員完成測試后，通過物流形式交還給待校準暗室的工作人員，使得綜測儀A與綜測儀B通過對同一臺金機進行測試，從而基于標準暗室實現(xiàn)對待校準暗室的校準操作。綜測儀B為待校準暗室使用的綜合測試儀，該綜測儀B用于對置于待校準暗室的金機進行測試，而控制中心B為待校準暗室的控制中心，用于根據(jù)測試信息生成相應的測試數(shù)據(jù)集合，比如該控制中心B可以為承載于待校準暗室處的服務器設備中，當然本公開并不限制該控制中心的具體形式。
[0072]相應地，圖3是根據(jù)一示例性實施例示出的另一種暗室校準方法的流程圖，如圖3所示，該方法可以包括以下步驟:
[0073]在步驟302中，綜測儀A執(zhí)行測試操作。
[0074]在本實施例中，當金機置于標準暗室的靜區(qū)中心位置后，綜測儀A可以執(zhí)行測試操作，比如針對金機所處的各個工作信道，分別執(zhí)行相應的測試操作。
[0075]在步驟304中，控制中心A采集綜測儀A在測試操作中得到的測試信息，并生成標準測試數(shù)據(jù)集合。
[0076]在本實施例中，控制中心A生成金機在標準暗室內(nèi)的標準測試數(shù)據(jù)集合，該標準測試數(shù)據(jù)集合可以用于判斷諸如待校準暗室等其他暗室是否符合測試性能:由于金機本身的性能穩(wěn)定，因而當其他暗室的測試性能與該標準暗室一致時，得到的測試數(shù)據(jù)應當與該標準測試數(shù)據(jù)集合一致，否則表明該其他暗室尚未符合標準的測試性能。
[0077]在步驟306中，控制中心A可以對標準測試數(shù)據(jù)集合進行打包后，利用綜測儀A與金機之間建立的通信連接，將標準測試數(shù)據(jù)集合傳輸至金機，并由金機對該標準測試數(shù)據(jù)集合進行存儲。
[0078]上述的步驟302-306均發(fā)生于標準暗室處，由標準暗室的工作人員利用綜測儀A和控制中心A等，對置于標準暗室的金機進行測試操作并獲得相應的標準測試數(shù)據(jù)集合。由于標準暗室與待校準暗室往往并不處于同一地區(qū)，因而可以將標準測試數(shù)據(jù)集合存儲于金機后，通過諸如物流等方式發(fā)送至待校準暗室的工作人員，并在待校準暗室處執(zhí)行下述步驟:
[0079]在步驟308中，綜測儀B執(zhí)行測試操作。
[0080]在本實施例中，當金機置于待校準暗室的靜區(qū)中心位置后，綜測儀B可以執(zhí)行測試操作，且測試操作的執(zhí)行方式與綜測儀A在步驟302中采用的執(zhí)行方式相同。
[0081 ]在步驟310中，控制中心B采集綜測儀B采集在測試操作中得到的測試信息，并生成測試數(shù)據(jù)集合。
[0082]在本實施例中，當金機存在多個用于通信的信道時，綜測儀B可以分別針對每個信道進行測試操作，并得到相應信道對應的測試數(shù)據(jù)，然后由控制中心B在所有測試數(shù)據(jù)的基礎上生成測試數(shù)據(jù)集合;換言之，控制中心B分別獲取待校準暗室對應于標準測試設備(SP金機)在各個信道的測試數(shù)據(jù);其中，測試數(shù)據(jù)集合包括待校準暗室對應于該標準測試設備在各個信道的測試數(shù)據(jù)。通過對各個信道分別進行測試，可以確保最終校準后的暗室能夠滿足在各個信道上的測試性能的需求。
[0083]實際上，綜測儀A同樣分別針對每個信道進行測試操作，并得到相應信道對應的標準測試數(shù)據(jù)，然后由控制中心A在所有標準測試數(shù)據(jù)的基礎上生成標準測試數(shù)據(jù)集合。
[0084]在本實施例中，圖4示出了控制中心B在生成測試數(shù)據(jù)集合的過程中，針對任一信道X對應的測試數(shù)據(jù)的處理流程，該流程可以包括以下步驟:
[0085]在步驟402中，控制中心B得到信道X的η次測試數(shù)據(jù)。
[0086]在本實施例中，當η>1時，表明綜測儀B對信道X下的金機執(zhí)行了多次重復測試操作，從而通過對相應得到的多個測試數(shù)據(jù)進行處理，可以有效消除測試過程中的誤差問題，從而有助于提升測試的準確性。而當n=l時，表明綜測儀B僅對信道X下的金機執(zhí)行了一次測試操作，雖然可能存在誤差，但通過將標準測試數(shù)據(jù)集合與測試數(shù)據(jù)集合進行比較，并基于比較結(jié)果對待校準暗室進行反饋式的校對調(diào)整，仍然能夠減小并消除誤差。當然，通過在此處的多次重復測試操作，及時消除或減小測試誤差，有助于后續(xù)操作中減少對待校對暗室的反饋式的校對調(diào)整次數(shù)，從而提升對待校準暗室的校準效率。
[0087]在步驟404中，比較相鄰數(shù)據(jù)的差值δ。
[0088]在本實施例中，當針對信道X存在多次重復測試操作時，可以將相鄰測試操作得到的測試數(shù)據(jù)進行差值計算，得到差值δ ;當然，差值δ并不限制于“相鄰”測試操作得到的測試數(shù)據(jù)，比如還可以分別計算多次測試操作得到的任意兩個測試數(shù)據(jù)的差值并作為此處的差值δ。
[0089]在步驟406Α中，當差值δ多0.5dB時，將相應的測試項目(即信道X)標記為待檢修項目。
[0090]在本實施例中，當差值δ^0.5dB時，表明待校準暗室可能存在硬件問題，可以將相應的測試項目(即信道X)標記為待檢修項目，比如對相應的測試數(shù)據(jù)進行高亮顯示等，以便于工作人員事后針對該待校準暗室進行檢修。
[0091 ] 在步驟406B中，當差值δ<0.3dB時，計算相應測試項目的平均值si。
[0092]在本實施例中，當差值δ<0.3(1Β時，表明相應的測試數(shù)據(jù)可以直接接受，而通過計算相應測試項目的平均值Si，即信道X下的所有多次測試數(shù)據(jù)的平均值，可以通過多次測試操作而消除測試誤差。
[0093]在步驟406C中，當0.3dB彡δ<0.5dB時，計算差值δ的概率分布統(tǒng)計。
[0094]在步驟408中，根據(jù)概率分布統(tǒng)計，計算相應測試項目的加權(quán)平均值s2。
[0095]在本實施例中，當0.3dB彡δ<0.5dB時，表明相應的測試數(shù)據(jù)存在一定問題，但暗室的硬件不存在問題，仍然處于可以接受的范圍，因而通過計算差值δ的概率分布統(tǒng)計，可以消除測試誤差，并通過后續(xù)的基于比較結(jié)果對待校準暗室進行反饋式的校對調(diào)整，不斷優(yōu)化該測試數(shù)據(jù)，以實現(xiàn)對待校準暗室的校準。
[0096]在步驟410中，生成測試數(shù)據(jù)集合。
[0097]在本實施例中，雖然針對信道X執(zhí)行了η次測試操作，但最終測試數(shù)據(jù)集合中僅包含對應于該信道X的一個測試數(shù)據(jù)，比如步驟406Β得到的平均值Si或者步驟406C得到的平均值s2等。那么，針對每個信道對應的測試數(shù)據(jù)，共同組成了此處的測試數(shù)據(jù)集合。
[0098]在步驟312中，控制中心B從綜測儀B處獲得金機中存儲的標準測試數(shù)據(jù)集合。
[0099]在本實施例中，控制中心B通過與標準測試設備之間建立的通訊連接，比如該通訊連接是基于綜測儀B而建立得到，可以讀取該標準測試設備中預存儲的標準測試數(shù)據(jù)集合。那么，通過將標準測試數(shù)據(jù)集合預存儲在標準測試設備中，并通過綜測儀B與控制中心B之間的數(shù)據(jù)交互，可以獲得綜測儀B測試的測試數(shù)據(jù)集合，以及通過標準測試設備與綜測儀B、綜測儀B與控制中心B之間的數(shù)據(jù)交互，可使控制中心B獲得標準測試數(shù)據(jù)集合，然后通過將兩者進行比較，從而實現(xiàn)對待校準暗室的自動化校準操作。
[0100]在步驟314中，控制中心B將標準測試數(shù)據(jù)集合與測試數(shù)據(jù)集合進行數(shù)據(jù)比較。
[0101]在步驟316中，控制中心B根據(jù)得到的比較結(jié)果，對待校準暗室進行校準操作。
[0102]在本實施例中，當測試數(shù)據(jù)、標準測試數(shù)據(jù)均為分別針對每個信道進行測試得到的數(shù)據(jù)時，比較結(jié)果可以為每個信道的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值的集合，則控制中心B可以根據(jù)該集合中的每個差值及其對應的信道，對待校準暗室進行相應的校準操作。舉例而言，控制中心B可以分別根據(jù)每個信道的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值，調(diào)整待校準暗室的路徑損耗(path loss)值。
[0103]那么，當控制中心B完成對待校準暗室的每次校準操作后，可以由綜測儀B重新執(zhí)行對該待校準暗室的測試操作(即返回步驟308)，并由控制中心B針對生成的測試數(shù)據(jù)集合與標準測試數(shù)據(jù)集合之間的一致性，即每個信道對應的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的一致性，確定是否再次執(zhí)行校準操作;比如，當任一信道對應的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值不大于預設數(shù)值時，可以判定為兩者一致;而當差值大于該預設數(shù)值時，可以判定為兩者不一致，需要重新返回步驟308并通過諸如步驟308-316而再次執(zhí)行校準操作，直至測試數(shù)據(jù)集合與標準測試數(shù)據(jù)集合一致，即每個信道對應的測試數(shù)據(jù)均與相應的標準測試數(shù)據(jù)一致。
[0104]與前述的暗室校準方法的實施例相對應，本公開還提供了暗室校準裝置的實施例。
[0105]圖5是根據(jù)一示例性實施例示出的一種暗室校準裝置框圖。參照圖5，該裝置包括獲取單元51和校準單元52。
[0106]獲取單元51，被配置為獲取待校準暗室對應于標準測試設備的測試數(shù)據(jù)集合；
[0107]校準單元52，被配置為根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)集合與標準暗室對應于所述標準測試設備的標準測試數(shù)據(jù)集合之間的比較結(jié)果，對所述待校準暗室進行校準，直至所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合之間的差異不大于預設差異。
[0108]如圖6所示，圖6是根據(jù)一示例性實施例示出的另一種暗室校準裝置的框圖，該實施例在前述圖5所示實施例的基礎上，獲取單元51可以包括:數(shù)據(jù)集合獲取子單元511、第一數(shù)據(jù)處理子單元512和第二數(shù)據(jù)處理子單元513。
[0109]數(shù)據(jù)集合獲取子單元511，被配置為在多次重復測試操作中，分別獲取所述待校準暗室對應于所述標準測試設備的多個單次測試數(shù)據(jù)集合；
[0110]第一數(shù)據(jù)處理子單元512，被配置為當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的差值不大于第一預設差值時，將多個單次測試數(shù)據(jù)的平均值作為所述同一測試項目在所述測試數(shù)據(jù)集合中對應的測試數(shù)據(jù)；
[0111]第二數(shù)據(jù)處理子單元513，被配置為當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的差值大于第一預設差值且不大于第二預設差值時，計算所述同一測試項目對應的所有差值的概率分布統(tǒng)計，并根據(jù)統(tǒng)計結(jié)果計算多個單次測試數(shù)據(jù)的加權(quán)平均值，以作為所述同一測試項目在所述測試數(shù)據(jù)集合中對應的測試數(shù)據(jù)。
[0112]如圖7所示，圖7是根據(jù)一示例性實施例示出的另一種暗室校準裝置的框圖，該實施例在前述圖5所示實施例的基礎上，該裝置還可以包括:標記單元53。
[0113]標記單元53，被配置為當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的最大差值大于所述第二預設差值時，將所述同一測試項目標記為待檢修項目。
[0114]如圖8所示，圖8是根據(jù)一示例性實施例示出的另一種暗室校準裝置的框圖，該實施例在前述圖5所示實施例的基礎上，獲取單元51包括:數(shù)據(jù)獲取子單元514。
[0115]數(shù)據(jù)獲取子單元514，被配置為分別獲取所述待校準暗室對應于所述標準測試設備在各個信道的測試數(shù)據(jù);其中，所述測試數(shù)據(jù)集合包括所述待校準暗室對應于所述標準測試設備在各個信道的測試數(shù)據(jù)；
[0116]其中，所述比較結(jié)果為每個信道的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值的集合。
[0117]需要說明的是，上述圖8所示的裝置實施例中的數(shù)據(jù)獲取子單元514的結(jié)構(gòu)也可以包含在前述圖6-7的裝置實施例中，對此本公開不進行限制。
[0118]如圖9所示，圖9是根據(jù)一示例性實施例示出的另一種暗室校準裝置的框圖，該實施例在前述圖8所示實施例的基礎上，校準單元52包括:調(diào)整子單元521。
[0119]調(diào)整子單元521，被配置為分別根據(jù)每個信道的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值，調(diào)整所述待校準暗室的路徑損耗值，以減小或消除所述差值。
[0120]如圖10所示，圖10是根據(jù)一示例性實施例示出的另一種暗室校準裝置的框圖，該實施例在前述圖5所示實施例的基礎上，該裝置還可以包括:讀取單元54和比較單元55。
[0121 ]讀取單元54，被配置為通過與所述標準測試設備之間建立的通訊連接，讀取所述標準測試設備中預存儲的所述標準測試數(shù)據(jù)集合；
[0122]比較單元55，被配置為將所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合進行比較，以得到所述比較結(jié)果。
[0123]需要說明的是，上述圖10所示的裝置實施例中的讀取單元54和比較單元55的結(jié)構(gòu)也可以包含在前述圖6-9的裝置實施例中，對此本公開不進行限制。
[0124]關于上述實施例中的裝置，其中各個模塊執(zhí)行操作的具體方式已經(jīng)在有關該方法的實施例中進行了詳細描述，此處將不做詳細闡述說明。
[0125]對于裝置實施例而言，由于其基本對應于方法實施例，所以相關之處參見方法實施例的部分說明即可。以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的，其中所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個網(wǎng)絡單元上?？梢愿鶕?jù)實際的需要選擇其中的部分或者全部模塊來實現(xiàn)本公開方案的目的。本領域普通技術(shù)人員在不付出創(chuàng)造性勞動的情況下，即可以理解并實施。
[0126]相應的，本公開還提供一種暗室校準裝置，包括:處理器；用于存儲處理器可執(zhí)行指令的存儲器;其中，所述處理器被配置為:獲取待校準暗室對應于標準測試設備的測試數(shù)據(jù)集合;根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)集合與標準暗室對應于所述標準測試設備的標準測試數(shù)據(jù)集合之間的比較結(jié)果，對所述待校準暗室進行校準，直至所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合之間的差異不大于預設差異。
[0127]相應的，本公開還提供一種終端，所述終端包括有存儲器，以及一個或者一個以上的程序，其中一個或者一個以上程序存儲于存儲器中，且經(jīng)配置以由一個或者一個以上處理器執(zhí)行所述一個或者一個以上程序包含用于進行以下操作的指令:獲取待校準暗室對應于標準測試設備的測試數(shù)據(jù)集合;根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)集合與標準暗室對應于所述標準測試設備的標準測試數(shù)據(jù)集合之間的比較結(jié)果，對所述待校準暗室進行校準，直至所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合之間的差異不大于預設差異。
[0128]圖11是根據(jù)一示例性實施例示出的一種用于暗室校準的裝置1100的框圖。例如，裝置1100可以被提供為一服務器。參照圖11，裝置1100包括處理組件1122，其進一步包括一個或多個處理器，以及由存儲器1132所代表的存儲器資源，用于存儲可由處理部件1122的執(zhí)行的指令，例如應用程序。存儲器1132中存儲的應用程序可以包括一個或一個以上的每一個對應于一組指令的模塊。
[0129]裝置1100還可以包括一個電源組件1126被配置為執(zhí)行裝置1100的電源管理，一個有線或無線網(wǎng)絡接口 1150被配置為將裝置1100連接到網(wǎng)絡，和一個輸入輸出(I/O)接口1158。裝置1100可以操作基于存儲在存儲器1132的操作系統(tǒng)，例如Windows ServerTM,MacOS XTM，UnixTM，LinuxTM，F(xiàn)reeBSDTM或類似。
[0130]本領域技術(shù)人員在考慮說明書及實踐這里公開的公開后，將容易想到本公開的其它實施方案。本申請旨在涵蓋本公開的任何變型、用途或者適應性變化，這些變型、用途或者適應性變化遵循本公開的一般性原理并包括本公開未公開的本技術(shù)領域中的公知常識或慣用技術(shù)手段。說明書和實施例僅被視為示例性的，本公開的真正范圍和精神由下面的權(quán)利要求指出。
[0131]應當理解的是，本公開并不局限于上面已經(jīng)描述并在附圖中示出的精確結(jié)構(gòu)，并且可以在不脫離其范圍進行各種修改和改變。本公開的范圍僅由所附的權(quán)利要求來限制。
【主權(quán)項】
1.一種暗室校準方法，其特征在于，包括: 獲取待校準暗室對應于標準測試設備的測試數(shù)據(jù)集合； 根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)集合與標準暗室對應于所述標準測試設備的標準測試數(shù)據(jù)集合之間的比較結(jié)果，對所述待校準暗室進行校準，直至所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合之間的差異不大于預設差異。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取待校準暗室對應于標準測試設備的測試數(shù)據(jù)集合，包括: 在多次重復測試操作中，分別獲取所述待校準暗室對應于所述標準測試設備的多個單次測試數(shù)據(jù)集合； 當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的差值不大于第一預設差值時，將多個單次測試數(shù)據(jù)的平均值作為所述同一測試項目在所述測試數(shù)據(jù)集合中對應的測試數(shù)據(jù)； 當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的差值大于第一預設差值且不大于第二預設差值時，計算所述同一測試項目對應的所有差值的概率分布統(tǒng)計，并根據(jù)統(tǒng)計結(jié)果計算多個單次測試數(shù)據(jù)的加權(quán)平均值，以作為所述同一測試項目在所述測試數(shù)據(jù)集合中對應的測試數(shù)據(jù)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，還包括: 當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的最大差值大于所述第二預設差值時，將所述同一測試項目標記為待檢修項目。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取待校準暗室對應于標準測試設備的測試數(shù)據(jù)集合，包括: 分別獲取所述待校準暗室對應于所述標準測試設備在各個信道的測試數(shù)據(jù)；其中，所述測試數(shù)據(jù)集合包括所述待校準暗室對應于所述標準測試設備在各個信道的測試數(shù)據(jù)； 其中，所述比較結(jié)果為每個信道的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值的集合。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)集合與標準暗室對應于所述標準測試設備的標準測試數(shù)據(jù)集合之間的比較結(jié)果，對所述待校準暗室進行校準，包括: 分別根據(jù)每個信道的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值，調(diào)整所述待校準暗室的路徑損耗值，以減小或消除所述差值。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括: 通過與所述標準測試設備之間建立的通訊連接，讀取所述標準測試設備中預存儲的所述標準測試數(shù)據(jù)集合； 將所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合進行比較，以得到所述比較結(jié)果。7.一種暗室校準裝置，其特征在于，包括: 獲取單元，獲取待校準暗室對應于標準測試設備的測試數(shù)據(jù)集合； 校準單元，根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)集合與標準暗室對應于所述標準測試設備的標準測試數(shù)據(jù)集合之間的比較結(jié)果，對所述待校準暗室進行校準，直至所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合之間的差異不大于預設差異。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述獲取單元包括: 數(shù)據(jù)集合獲取子單元，在多次重復測試操作中，分別獲取所述待校準暗室對應于所述標準測試設備的多個單次測試數(shù)據(jù)集合； 第一數(shù)據(jù)處理子單元，當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的差值不大于第一預設差值時，將多個單次測試數(shù)據(jù)的平均值作為所述同一測試項目在所述測試數(shù)據(jù)集合中對應的測試數(shù)據(jù)； 第二數(shù)據(jù)處理子單元，當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的差值大于第一預設差值且不大于第二預設差值時，計算所述同一測試項目對應的所有差值的概率分布統(tǒng)計，并根據(jù)統(tǒng)計結(jié)果計算多個單次測試數(shù)據(jù)的加權(quán)平均值，以作為所述同一測試項目在所述測試數(shù)據(jù)集合中對應的測試數(shù)據(jù)。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，還包括: 標記單元，當同一測試項目在多個單次測試數(shù)據(jù)集合中分別對應的多個單次測試數(shù)據(jù)之間的最大差值大于所述第二預設差值時，將所述同一測試項目標記為待檢修項目。10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述獲取單元包括: 數(shù)據(jù)獲取子單元，分別獲取所述待校準暗室對應于所述標準測試設備在各個信道的測試數(shù)據(jù);其中，所述測試數(shù)據(jù)集合包括所述待校準暗室對應于所述標準測試設備在各個信道的測試數(shù)據(jù)； 其中，所述比較結(jié)果為每個信道的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值的集合。11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其特征在于，所述校準單元包括: 調(diào)整子單元，分別根據(jù)每個信道的測試數(shù)據(jù)與標準測試數(shù)據(jù)之間的差值，調(diào)整所述待校準暗室的路徑損耗值，以減小或消除所述差值。12.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，還包括: 讀取單元，通過與所述標準測試設備之間建立的通訊連接，讀取所述標準測試設備中預存儲的所述標準測試數(shù)據(jù)集合； 比較單元，將所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合進行比較，以得到所述比較結(jié)果。13.—種電子設備，其特征在于，包括: 處理器； 用于存儲處理器可執(zhí)行指令的存儲器； 其中，所述處理器被配置為: 獲取待校準暗室對應于標準測試設備的測試數(shù)據(jù)集合； 根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)集合與標準暗室對應于所述標準測試設備的標準測試數(shù)據(jù)集合之間的比較結(jié)果，對所述待校準暗室進行校準，直至所述測試數(shù)據(jù)集合與所述標準測試數(shù)據(jù)集合之間的差異不大于預設差異。
【文檔編號】G01R35/02GK106054099SQ201610340129
【公開日】2016年10月26日
【申請日】2016年5月19日
【發(fā)明人】聶凡, 潘明爭, 李英俊
【申請人】北京小米移動軟件有限公司