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電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制方法

文檔序號:10722871閱讀:682來源:國知局
電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制方法,涉及電表技術(shù)領(lǐng)域,該方法的電表工作在電池模式時,能讓電表按照設(shè)定電流檢測頻率進(jìn)行低功耗的全失壓記錄電流檢測。包括計量芯片和與計量芯片連接的主芯片,當(dāng)電表工作在電池模式下時,主芯片根據(jù)預(yù)先設(shè)置的對負(fù)荷電流檢測的時間間隔來控制計量芯片的電流檢測頻率;通過電流閾值比較器檢測負(fù)荷電流是否達(dá)到電流門限的閾值來判定電表是否發(fā)生全失壓;如果發(fā)生了全失壓,則由電流閾值比較器觸發(fā)一個中斷信號給主芯片,主芯片收到中斷信號后,主芯片給計量芯片信號,隨即開啟計量芯片從休眠模式切換到電流檢測模式進(jìn)行全失壓記錄,否則不開啟計量芯片的電流檢測模式。
【專利說明】
電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明涉及電表技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制 方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 電表的全失壓記錄功能,是電表最常用的一種實用化事件記錄功能,是通過全失 壓事件的記錄為要追補(bǔ)的電量提供準(zhǔn)確的電量追補(bǔ)依據(jù),避免因電量追補(bǔ)依據(jù)缺乏二引起 供電與用電雙方的糾紛。電表的全失壓檢測分為正常工作狀態(tài)檢測和掉電狀態(tài)檢測。其中, 電表的掉電狀態(tài)檢測需要電池提供電源,掉電狀態(tài)檢測的持續(xù)檢測會消耗大量的電池電 量,從而可能會影響到電表掉電狀態(tài)檢測的檢測時間的長度和電池的使用壽命。
[0003] 現(xiàn)有電表在掉電狀態(tài)的電池模式下工作時仍然用正常工作狀態(tài)方法持續(xù)開啟計 量芯片對負(fù)荷電流進(jìn)行采樣檢測,這樣會消耗電池的大量電量,能耗消耗快,會使電池的電 量在較短時間內(nèi)被用完,從而影響電表檢測的其他功能,同時還會影響電池的使用壽命。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 本發(fā)明是為了解決現(xiàn)有現(xiàn)有電表存在上述不足,提供一種電表工作在電池模式 時,能讓電表按照設(shè)定的電流檢測頻率進(jìn)行低功耗的全失壓記錄電流檢測,電能消耗低,電 池使用壽命長,可靠性高的電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制方法。
[0005] 以上技術(shù)問題是通過下列技術(shù)方案解決的:
[0006] 電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制方法,包括計量芯片和與計量芯片連 接的主芯片,所述計量芯片包括正常模式、部分檢測模式、電流檢測模式和休眠模式,控制 方法包括如下步驟:
[0007] 當(dāng)電表工作在電池模式下時,主芯片根據(jù)預(yù)先設(shè)置的對負(fù)荷電流檢測的時間間隔 來控制計量芯片的電流檢測頻率;在電池模式下全失壓低功耗檢測包括全失壓檢測和計量 檢測;并且只有在全失壓檢測后根據(jù)全失壓檢測結(jié)果來判定是否要進(jìn)行計量檢測,如果有 全失壓發(fā)生才進(jìn)行計量檢測,如果沒有全失壓發(fā)生就不進(jìn)行計量檢測;通過電流閾值比較 器檢測負(fù)荷電流是否達(dá)到電流門限的閾值來判定電表是否發(fā)生全失壓;如果發(fā)生了全失 壓,則由電流閾值比較器觸發(fā)一個中斷信號給主芯片,主芯片收到中斷信號后,主芯片給計 量芯片信號,隨即開啟計量芯片從休眠模式切換到電流檢測模式進(jìn)行全失壓記錄,否則不 開啟計量芯片的電流檢測模式。
[0008] 本方案電表工作在電池模式時,能讓電表按照設(shè)定的電流檢測頻率進(jìn)行低功耗的 全失壓記錄電流檢測,電能消耗低,電池使用壽命長,可靠性高,實現(xiàn)了電表在電池模式全 失壓異常時的低功耗檢測,為電表在電池模式下實現(xiàn)全失壓連續(xù)長時間檢測提供了可能。 電池功耗的降低意味著電池使用時間的延長,也節(jié)省了因更換電池造成的成本,具有較高 的技術(shù)和經(jīng)濟(jì)價值。
[0009] 作為優(yōu)選,在計量芯片不檢測時,通過主芯片控制,使計量芯片工作在功耗最低的 休眠模式下,然后按照設(shè)定的時間間隔喚醒計量芯片從休眠模式下切換到電流檢測模式 下;在電流檢測模式下計量芯片將三相負(fù)荷電流與預(yù)先校好的電流閾值比較,若有在閾值 以上的分相負(fù)荷電流,則會觸發(fā)計量芯片的中斷輸出端而輸出低電平,從而決定是否開啟 計量芯片的電流檢測模式進(jìn)行全失壓記錄。
[0010] 作為優(yōu)選,計量芯片從休眠模式切換到電流檢測模式進(jìn)行全失壓記錄的過程如 下:開始,每隔設(shè)定時間喚醒計量芯片到電流檢測模式,然后判斷負(fù)荷電流是否超過閾值;
[0011] 如果負(fù)荷電流沒有超過閾值,則說明當(dāng)前沒有發(fā)生全失壓,同時讀取上一次發(fā)生 的全失壓;然后判斷當(dāng)前沒有發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)是否相 同?
[0012] 如果當(dāng)前沒有發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)相同,則直接將 計量芯片切換到休眠模式;
[0013] 如果當(dāng)前沒有發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)不相同,則將計 量芯片切換到正常模式,對當(dāng)前沒有發(fā)生的全失壓的狀態(tài)進(jìn)行記錄,并結(jié)束上一次發(fā)生的 全失壓的狀態(tài)記錄,同時將全失壓狀態(tài)標(biāo)志更新為未發(fā)生全失壓狀態(tài)標(biāo)志,并同時將閾值 下限寫入閾值寄存器,然后再將計量芯片切換到休眠模式;
[0014] 如果負(fù)荷電流已經(jīng)超過閾值,則說明當(dāng)前正在發(fā)生全失壓,同時讀取上一次發(fā)生 的全失壓;然后判斷當(dāng)前正在發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)是否相 同?
[0015] 如果當(dāng)前正在發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)相同,則直接將 計量芯片切換到休眠模式;
[0016] 如果當(dāng)前正在發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)不相同,則將計 量芯片切換到正常模式,對當(dāng)前正在發(fā)生的全失壓的狀態(tài)進(jìn)行記錄,并結(jié)束上一次發(fā)生的 全失壓的狀態(tài)記錄,同時將全失壓狀態(tài)標(biāo)志更新為已發(fā)生全失壓狀態(tài)標(biāo)志,并同時將閾值 上限寫入閾值寄存器,然后再將計量芯片切換到休眠模式;
[0017] 當(dāng)計量芯片切換到休眠模式狀態(tài)后,再根據(jù)設(shè)定的時間間隔返回到開始狀態(tài),如 此往復(fù)重新開始進(jìn)行下一次是否開啟計量芯片的電流檢測模式進(jìn)行下一次的全失壓記錄。
[0018] 作為優(yōu)選,為了全失壓不被漏檢,則需要預(yù)先設(shè)定電流門限的兩個閾值,即閾值上 限和閾值下限;判斷全失壓開始時則采用閾值下限,判斷全失壓結(jié)束時則采用閾值上限。
[0019] 作為優(yōu)選,所述計量芯片包括模式管腳PM1和模式管腳ΡΜ0,并由主芯片控制正常 模式、部分檢測模式、電流檢測模式和休眠模式之間的切換。
[0020] 作為優(yōu)選,還包括低功耗的比較電路,并通過比較電路對電流檢測模式下的閾值 進(jìn)行校驗,電流檢測由比較電路實現(xiàn),當(dāng)外部電流小于設(shè)定的閾值時,比較電路輸出低電 平;當(dāng)外部電流大于設(shè)定閾值時,則輸出高電平。
[0021 ]作為優(yōu)選,電流閾值比較器共有六個,這六個電流閾值比較器分別用于三相電的 正向電流和負(fù)向電流的檢測,并這六個電流閾值比較器分別用各自對應(yīng)的電流檢測控制位 來控制各自電流閾值比較器的開啟和關(guān)閉;每個電流閾值比較器的電流檢測閾值由各自的 閾值寄存器來設(shè)置。
[0022]作為優(yōu)選,電流閾值比較器的電流檢測閾值由該電流閾值比較器的閾值寄存器來 設(shè)置,設(shè)電流閾值比較器的電流檢測閾值范圍為H1-H2,設(shè)電流閾值比較器的電流檢測閾值 范圍的閾值下限為HI,設(shè)電流閾值比較器的電流檢測閾值范圍的閾值上限為H2,設(shè)落在閾 值下限H1和閾值上限H2之間的一個值為變量H;并將閾值下限H1、閾值上限H2和變量Η-并 存儲到閾值寄存器中;
[0023] 當(dāng)比較電路輸出高電平時,判斷(Η2-Η) + (Η-Η1)是否大于1,如果(Η2-Η) + (Η-Η1) 大于1,則檢測電流閾值就等于Η,然后結(jié)束校準(zhǔn)檢測;如果(Η2-Η) + (Η-Η1)不大于1,則讓Η1 =Η,并算出新的Η= (Η2+Η1) + 2,然后將這個新的變量Η值賦給閾值寄存器;
[0024] 當(dāng)比較電路輸出低電平時,判斷(Η-Η1) + (Η2-Η)是否大于1,如果(H-Hl) + (Η2-Η) 大于1,則檢測電流閾值就等于Η1,然后結(jié)束校準(zhǔn)檢測;如果(H-Hl) + (Η2-Η)不大于1,則讓 Η2 = Η,并算出新的Η= (Η2+Η1) + 2,然后將這個新的變量Η值賦給閾值寄存器;
[0025] 然后由閾值寄存器中新的變量Η值來控制比較電路輸出的高低電平信號。
[0026]本發(fā)明能夠達(dá)到如下效果:
[0027]本發(fā)明電表工作在電池模式時,能讓電表按照設(shè)定的電流檢測頻率進(jìn)行低功耗的 全失壓記錄電流檢測,電能消耗低,電池使用壽命長,可靠性高,實現(xiàn)了電表在電池模式全 失壓異常時的低功耗檢測,為電表在電池模式下實現(xiàn)全失壓連續(xù)長時間檢測提供了可能。 電池功耗的降低意味著電池使用時間的延長,也節(jié)省了因更換電池造成的成本,具有較高 的技術(shù)和經(jīng)濟(jì)價值。
【附圖說明】
[0028]圖1為本發(fā)明的一種是否開啟計量芯片的正常工作模式進(jìn)行全失壓記錄流程示意 圖。
[0029] 圖2為本發(fā)明的一種電流檢測閾值的校準(zhǔn)流程示意圖。
【具體實施方式】
[0030] 下面結(jié)合附圖與實施例對本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。
[0031] 實施例,電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制方法,包括計量芯片和與計 量芯片連接的主芯片,所述計量芯片包括正常模式、部分檢測模式、電流檢測模式和休眠模 式。控制方法包括如下步驟:
[0032] 當(dāng)電表工作在電池模式下時,主芯片根據(jù)預(yù)先設(shè)置的對負(fù)荷電流檢測的時間間隔 來控制計量芯片的電流檢測頻率。
[0033] 在電池模式下全失壓低功耗檢測包括全失壓檢測和計量檢測。并且只有在全失壓 檢測后根據(jù)全失壓檢測結(jié)果來判定是否要進(jìn)行計量檢測,如果有全失壓發(fā)生才進(jìn)行計量檢 測,如果沒有全失壓發(fā)生就不進(jìn)行計量檢測。
[0034] 通過電流閾值比較器檢測負(fù)荷電流是否達(dá)到電流門限的閾值來判定電表是否發(fā) 生全失壓。
[0035] 如果發(fā)生了全失壓,則由電流閾值比較器觸發(fā)一個中斷信號給主芯片,主芯片收 到中斷信號后,主芯片給計量芯片信號,隨即開啟計量芯片從休眠模式切換到電流檢測模 式進(jìn)行全失壓記錄,否則不開啟計量芯片的電流檢測模式。
[0036] 在計量芯片不檢測時,通過主芯片控制,使計量芯片工作在功耗最低的休眠模式 下,然后按照設(shè)定的時間間隔喚醒計量芯片從休眠模式下切換到電流檢測模式下。在電流 檢測模式下計量芯片將三相負(fù)荷電流與預(yù)先校好的電流閾值比較,若有在閾值以上的分相 負(fù)荷電流,則會觸發(fā)計量芯片的中斷輸出端而輸出低電平,從而決定是否開啟計量芯片的 電流檢測模式進(jìn)行全失壓記錄。
[0037] 參見圖1所示,計量芯片從休眠模式切換到電流檢測模式進(jìn)行全失壓記錄的過程 如下:開始,每隔設(shè)定時間喚醒計量芯片到電流檢測模式,然后判斷負(fù)荷電流是否超過閾 值。
[0038] 如果負(fù)荷電流沒有超過閾值,則說明當(dāng)前沒有發(fā)生全失壓,同時讀取上一次發(fā)生 的全失壓。然后判斷當(dāng)前沒有發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)是否相 同?
[0039] 如果當(dāng)前沒有發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)相同,則直接將 計量芯片切換到休眠模式。
[0040] 如果當(dāng)前沒有發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)不相同,則將計 量芯片切換到正常模式,對當(dāng)前沒有發(fā)生的全失壓的狀態(tài)進(jìn)行記錄,并結(jié)束上一次發(fā)生的 全失壓的狀態(tài)記錄,同時將全失壓狀態(tài)標(biāo)志更新為未發(fā)生全失壓狀態(tài)標(biāo)志,并同時將閾值 下限寫入閾值寄存器,然后再將計量芯片切換到休眠模式。
[0041] 如果負(fù)荷電流已經(jīng)超過閾值,則說明當(dāng)前正在發(fā)生全失壓,同時讀取上一次發(fā)生 的全失壓。然后判斷當(dāng)前正在發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)是否相 同?
[0042] 如果當(dāng)前正在發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)相同,則直接將 計量芯片切換到休眠模式。
[0043]如果當(dāng)前正在發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)不相同,則將計 量芯片切換到正常模式,對當(dāng)前正在發(fā)生的全失壓的狀態(tài)進(jìn)行記錄,并結(jié)束上一次發(fā)生的 全失壓的狀態(tài)記錄,同時將全失壓狀態(tài)標(biāo)志更新為已發(fā)生全失壓狀態(tài)標(biāo)志,并同時將閾值 上限寫入閾值寄存器,然后再將計量芯片切換到休眠模式。
[0044]當(dāng)計量芯片切換到休眠模式狀態(tài)后,再根據(jù)設(shè)定的時間間隔返回到開始狀態(tài),如 此往復(fù)重新開始進(jìn)行下一次是否開啟計量芯片的電流檢測模式進(jìn)行下一次的全失壓記錄。 [0045]為了全失壓不被漏檢,則需要預(yù)先設(shè)定電流門限的兩個閾值,即閾值上限和閾值 下限。判斷全失壓開始時則采用閾值下限,判斷全失壓結(jié)束時則采用閾值上限。
[0046]所述計量芯片包括模式管腳PM1和模式管腳ΡΜ0,并由主芯片控制正常模式、部分 檢測模式、電流檢測模式和休眠模式之間的切換。正常模式時計量芯片工作需要的電流為 13mA。部分檢測模式時計量芯片工作需要的電流為7mA。電流檢測模式時計量芯片工作需要 的電流單向為200uA、雙向為100uA。休眠模式時計量芯片工作需要的電流為luA。
[0047]還包括低功耗的比較電路,并通過比較電路對電流檢測模式下的閾值進(jìn)行校驗, 電流檢測由比較電路實現(xiàn),當(dāng)外部電流小于設(shè)定的閾值時,比較電路輸出低電平。當(dāng)外部電 流大于設(shè)定閾值時,則輸出高電平。
[0048]電流閾值比較器共有六個,這六個電流閾值比較器分別用于三相電的正向電流和 負(fù)向電流的檢測,并這六個電流閾值比較器分別用各自對應(yīng)的電流檢測控制位來控制各自 電流閾值比較器的開啟和關(guān)閉。每個電流閾值比較器的電流檢測閾值由各自的閾值寄存器 來設(shè)置。
[0049] 參見圖2所示,電流閾值比較器的電流檢測閾值由該電流閾值比較器的閾值寄存 器來設(shè)置,設(shè)電流閾值比較器的電流檢測閾值范圍為H1-H2,設(shè)電流閾值比較器的電流檢測 閾值范圍的閾值下限為H1,設(shè)電流閾值比較器的電流檢測閾值范圍的閾值上限為H2,設(shè)落 在閾值下限H1和閾值上限H2之間的一個值為變量H。并將閾值下限H1、閾值上限H2和變量Η 一并存儲到閾值寄存器中。
[0050] 當(dāng)比較電路輸出高電平時,判斷(Η2-Η) + (Η-Η1)是否大于1,如果(Η2-Η) + (Η-Η1) 大于1,則檢測電流閾值就等于Η,然后結(jié)束校準(zhǔn)檢測。如果(Η2-Η) + (Η-Η1)不大于1,則讓Η1 =Η,并算出新的Η= (Η2+Η1) + 2,然后將這個新的變量Η值賦給閾值寄存器。
[0051 ]當(dāng)比較電路輸出低電平時,判斷(H-Hl) + (Η2-Η)是否大于1,如果(H-Hl) + (Η2-Η) 大于1,則檢測電流閾值就等于Η1,然后結(jié)束校準(zhǔn)檢測。如果(Η-Η1) + (Η2-Η)大于1,則讓Η2 =Η,并算出新的Η= (Η2+Η1) + 2,然后將這個新的變量Η值賦給閾值寄存器。
[0052 ]然后由閾值寄存器中新的變量Η值來控制比較電路輸出的高低電平信號。
[0053] 本實例中的HI = 2mVrms,H2 = 4mVrms〇
[0054] 下面進(jìn)行全失壓檢測功能驗證
[0055] 為了保證發(fā)明的可靠性,需要通過實際測試來進(jìn)行驗證。本實施例在驗證時準(zhǔn)備 了 3只電表在各種情況下進(jìn)行驗證。根據(jù)國網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn),全失壓發(fā)生結(jié)束條件為:
[0056] 累計時間以1分鐘為最小時間單位。
[0057]發(fā)生條件為:最大相電壓<臨界電壓閥值(60%Un),并且負(fù)荷電流>(5%Ib),At > (60s) 〇
[0058] 結(jié)束條件為:最大相電壓彡臨界電壓閥值(60%Un)或者負(fù)荷電流彡(5%Ib),At > (60s) 〇
[0059] 根據(jù)發(fā)生結(jié)束條件,測試結(jié)果如表1所示:
[0060] 表1:全失壓測試數(shù)據(jù)
[0061]
[0062]下面進(jìn)行功耗計算及對比
[0063]根據(jù)表1描述,下面我們分別對兩種全失壓檢測方法的功耗做大致計算和對比。
[0064]假設(shè)50s檢測一次,考慮可靠檢測,電流檢測模式的樣本建立時間從32ms放寬到 50ms,并且未發(fā)生全失壓,計量芯片平均功耗電流如下。
[0065]常規(guī)檢測方法
[0066] (50(s)*l(uA)+0.05(s)*13000(uA))/50.05(s) = 13.986(uA)
[0067] 降功耗檢測方法二:
[0068] (50(s)*l(uA)+0.05(s)*200(uA))/50.05(s) = 1.1988(uA)
[0069] 可見,采用方法二功耗差不多只有原來的8.57%,功耗降低非常明顯。
[0070] 本實施例電表工作在電池模式時,能讓電表按照設(shè)定的電流檢測頻率進(jìn)行低功耗 的全失壓記錄電流檢測,電能消耗低,電池使用壽命長,可靠性高,實現(xiàn)了電表在電池模式 全失壓異常時的低功耗檢測,為電表在電池模式下實現(xiàn)全失壓連續(xù)長時間檢測提供了可 能。電池功耗的降低意味著電池使用時間的延長,也節(jié)省了因更換電池造成的成本,具有較 高的技術(shù)和經(jīng)濟(jì)價值。
[0071] 上面結(jié)合附圖描述了本發(fā)明的實施方式,但實現(xiàn)時不受上述實施例限制,本領(lǐng)域 普通技術(shù)人員可以在所附權(quán)利要求的范圍內(nèi)做出各種變化或修改。
【主權(quán)項】
1. 電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制方法,其特征在于,包括計量芯片和與 計量芯片連接的主芯片,所述計量芯片包括正常模式、部分檢測模式、電流檢測模式和休眠 模式,控制方法包括如下步驟: 當(dāng)電表工作在電池模式下時,主芯片根據(jù)預(yù)先設(shè)置的對負(fù)荷電流檢測的時間間隔來控 制計量芯片的電流檢測頻率; 在電池模式下全失壓低功耗檢測包括全失壓檢測和計量檢測;并且只有在全失壓檢測 后根據(jù)全失壓檢測結(jié)果來判定是否要進(jìn)行計量檢測,如果有全失壓發(fā)生才進(jìn)行計量檢測, 如果沒有全失壓發(fā)生就不進(jìn)行計量檢測; 通過電流閾值比較器檢測負(fù)荷電流是否達(dá)到電流門限的閾值來判定電表是否發(fā)生全 失壓; 如果發(fā)生了全失壓,則由電流閾值比較器觸發(fā)一個中斷信號給主芯片,主芯片收到中 斷信號后,主芯片給計量芯片信號,隨即開啟計量芯片從休眠模式切換到電流檢測模式進(jìn) 行全失壓記錄,否則不開啟計量芯片的電流檢測模式。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制方法,其特征在于, 在計量芯片不檢測時,通過主芯片控制,使計量芯片工作在功耗最低的休眠模式下,然后按 照設(shè)定的時間間隔喚醒計量芯片從休眠模式下切換到電流檢測模式下;在電流檢測模式下 計量芯片將三相負(fù)荷電流與預(yù)先校好的電流閾值比較,若有在閾值以上的分相負(fù)荷電流, 則會觸發(fā)計量芯片的中斷輸出端而輸出低電平,從而決定是否開啟計量芯片的電流檢測模 式進(jìn)行全失壓記錄。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制方法,其特征在于, 計量芯片從休眠模式切換到電流檢測模式進(jìn)行全失壓記錄的過程如下:開始,每隔設(shè)定時 間喚醒計量芯片到電流檢測模式,然后判斷負(fù)荷電流是否超過閾值; 如果負(fù)荷電流沒有超過閾值,則說明當(dāng)前沒有發(fā)生全失壓,同時讀取上一次發(fā)生的全 失壓;然后判斷當(dāng)前沒有發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)是否相同? 如果當(dāng)前沒有發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)相同,則直接將計量 芯片切換到休眠模式; 如果當(dāng)前沒有發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)不相同,則將計量芯 片切換到正常模式,對當(dāng)前沒有發(fā)生的全失壓的狀態(tài)進(jìn)行記錄,并結(jié)束上一次發(fā)生的全失 壓的狀態(tài)記錄,同時將全失壓狀態(tài)標(biāo)志更新為未發(fā)生全失壓狀態(tài)標(biāo)志,并同時將閾值下限 寫入閾值寄存器,然后再將計量芯片切換到休眠模式; 如果負(fù)荷電流已經(jīng)超過閾值,則說明當(dāng)前正在發(fā)生全失壓,同時讀取上一次發(fā)生的全 失壓;然后判斷當(dāng)前正在發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)是否相同? 如果當(dāng)前正在發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)相同,則直接將計量 芯片切換到休眠模式; 如果當(dāng)前正在發(fā)生的全失壓的狀態(tài)和上一次發(fā)生的全失壓的狀態(tài)不相同,則將計量芯 片切換到正常模式,對當(dāng)前正在發(fā)生的全失壓的狀態(tài)進(jìn)行記錄,并結(jié)束上一次發(fā)生的全失 壓的狀態(tài)記錄,同時將全失壓狀態(tài)標(biāo)志更新為已發(fā)生全失壓狀態(tài)標(biāo)志,并同時將閾值上限 寫入閾值寄存器,然后再將計量芯片切換到休眠模式; 當(dāng)計量芯片切換到休眠模式狀態(tài)后,再根據(jù)設(shè)定的時間間隔返回到開始狀態(tài),如此往 復(fù)重新開始進(jìn)行下一次是否開啟計量芯片的電流檢測模式進(jìn)行下一次的全失壓記錄。4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制方法,其特征在于, 為了全失壓不被漏檢,則需要預(yù)先設(shè)定電流門限的兩個閾值,即閾值上限和閾值下限;判斷 全失壓開始時則采用閾值下限,判斷全失壓結(jié)束時則采用閾值上限。5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制方法,其特征在于, 所述計量芯片包括模式管腳PM1和模式管腳PMO,并由主芯片控制正常模式、部分檢測模式、 電流檢測模式和休眠模式之間的切換。6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制方法,其特征在于, 還包括低功耗的比較電路,并通過比較電路對電流檢測模式下的閾值進(jìn)行校驗,電流檢測 由比較電路實現(xiàn),當(dāng)外部電流小于設(shè)定的閾值時,比較電路輸出低電平;當(dāng)外部電流大于設(shè) 定閾值時,則輸出高電平。7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制方法,其特征在于, 電流閾值比較器共有六個,這六個電流閾值比較器分別用于三相電的正向電流和負(fù)向電流 的檢測,并這六個電流閾值比較器分別用各自對應(yīng)的電流檢測控制位來控制各自電流閾值 比較器的開啟和關(guān)閉;每個電流閾值比較器的電流檢測閾值由各自的閾值寄存器來設(shè)置。8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述電表掉電狀態(tài)下極低功耗的全失壓檢測控制方法,其特征在于, 電流閾值比較器的電流檢測閾值由該電流閾值比較器的閾值寄存器來設(shè)置, 設(shè)電流閾值比較器的電流檢測閾值范圍為H1-H2,設(shè)電流閾值比較器的電流檢測閾值 范圍的閾值下限為H1,設(shè)電流閾值比較器的電流檢測閾值范圍的閾值上限為H2,設(shè)落在閾 值下限H1和閾值上限H2之間的一個值為變量H;并將閾值下限H1、閾值上限H2和變量Η-并 存儲到閾值寄存器中; 當(dāng)比較電路輸出高電平時,判斷(Η2-Η) + (Η-Η1)是否大于1,如果(Η2-Η) + (Η-Η1)大于 1,則檢測電流閾值就等于Η,然后結(jié)束校準(zhǔn)檢測;如果(Η2-Η) + (Η-Η1)不大于1,則讓Η1 = Η, 并算出新的Η= (Η2+Η1) + 2,然后將這個新的變量Η值賦給閾值寄存器; 當(dāng)比較電路輸出低電平時,判斷(H-Hl) + (Η2-Η)是否大于1,如果(H-Hl) + (Η2-Η)大于 1,則檢測電流閾值就等于Η1,然后結(jié)束校準(zhǔn)檢測;如果(H-Hl) + (Η2-Η)不大于1,則讓Η2 = Η,并算出新的Η= (Η2+Η1) + 2,然后將這個新的變量Η值賦給閾值寄存器; 然后由閾值寄存器中新的變量Η值來控制比較電路輸出的高低電平信號。
【文檔編號】G01R19/165GK106093560SQ201610463524
【公開日】2016年11月9日
【申請日】2016年6月22日
【發(fā)明人】陳武, 陳一武, 姚徐旭
【申請人】華立科技股份有限公司
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