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集成電路功能測試裝置的制造方法

文檔序號:9994511閱讀:441來源:國知局
集成電路功能測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種集成電路測試裝置,具體地說是一種集成電路功能測試裝置,屬于集成電路測試裝置領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]集成電路的測試技術(shù)隨著集成電路開發(fā)應(yīng)用的飛速發(fā)展而發(fā)展。集成電路測試儀也從最初測試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測試中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路。集成電路測試儀按測試門類可分為:數(shù)字集成電路測試儀、存儲器測試儀、模擬與混合信號電路測試儀、在線測試系統(tǒng)和驗證系統(tǒng)等。目前市場上的測試儀產(chǎn)品功能較單一,價格非常昂貴,給電路的測試、維護帶來不便。名稱為“集成電路功能測試儀”申請?zhí)枮椤?01320433013.9”的中國實用新型專利公開了一種集成電路測試裝置,包括殼體,所述的殼體上安裝有顯示屏、控制按鈕,所述的顯示屏、控制按鈕與安裝在所述的殼體內(nèi)部的微控制器連接,所述的微控制器分別與A/D轉(zhuǎn)換芯片、地址譯碼器、電源電路連接。然而,該裝置其電源通常安裝在設(shè)備內(nèi)部的,在實際使用過程中,因為經(jīng)常更換電源使用,所以造成了不便,降低了工作效率,操作繁瑣。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]為了解決上述問題,本實用新型設(shè)計了一種集成電路功能測試裝置,通過插槽進行插接實現(xiàn)供電,當需要卸下電源時,拔下來即可,使用方便,提高了工作效率。
[0004]本實用新型的技術(shù)方案為:
[0005]集成電路功能測試裝置,包括殼體,所述殼體上安裝有顯示屏和控制按鈕,所述的顯示屏和控制按鈕與安裝在所述殼體內(nèi)部的微控制器連接,所述微控制器分別與A/D轉(zhuǎn)換芯片、地址譯碼器、總線電路連接;所述殼體上設(shè)有電源插口,所述電源插口與所述總線電路電連接,所述電源插口上插接有移動電源,通過移動電源在電源插口進行插接實現(xiàn)供電,當需要卸下電源時,拔下來即可,使用方便,提高了工作效率。
[0006]進一步地,所述微控制器為USB微控制器,USB微控制器通過USB總線與計算機相連;所述地址譯碼器分別與ADC08098測試電路、DAC0832測試電路、LM555測試電路、WC3524測試電路連接。
[0007]進一步地,每個所述測試模塊內(nèi)設(shè)有所述總線電路以及接口電路、程控電源電路和測試控制電路,測試控制電路、程控電源電路、接口電路分別與總線電路相連,每個所述測試模塊內(nèi)的總線電路互連,即各個測試模塊內(nèi)的總線電路相連通。其中,所述接口電路用于連接集成電路,提供統(tǒng)一的接口 ;所述總線電路還連接有電源驅(qū)動報警電路,用于電源驅(qū)動異常報警;每個所述測試模塊主要用于控制及完成集成電路的測試,所述測試控制電路用于集成電路上信號采集處理與程控電源電路的控制,程控電源電路用于輸出測試信號與進行?目號調(diào)理。
[0008]本實用新型通過多個測試模塊,可以同時對多個集成電路進行測試并輸出測試結(jié)果。電路設(shè)計簡單,通過統(tǒng)一的接口與計算機和待測集成電路相連,無需龐大的主機柜和連接線覽,降低了系統(tǒng)的運行成本。
[0009]本實用新型的優(yōu)點在于:操作簡單、測試準確、效率高,通過插槽進行插接實現(xiàn)供電,當需要卸下電源時,拔下來即可,使用方便,提高了工作效率。
[0010]下面結(jié)合附圖和實施例對本實用新型作進一步說明。
【附圖說明】
[0011]圖1為本實用新型實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0012]以下對本實用新型的優(yōu)選實施例進行說明,應(yīng)當理解,此處所描述的優(yōu)選實施例僅用于說明和解釋本實用新型,并不用于限定本實用新型。
[0013]實施例1
[0014]如圖1所示,一種集成電路功能測試裝置,包括殼體1,所述殼體I上安裝有顯示屏2和控制按鈕3,所述的顯示屏2和控制按鈕3與安裝在所述殼體內(nèi)部的微控制器4連接,所述微控制器4分別與A/D轉(zhuǎn)換芯片5、地址譯碼器6、總線電路7連接。所述殼體上設(shè)有電源插口 12,所述電源插口 12與所述總線電路7電連接,所述電源插口 12上插接有移動電源13,通過移動電源在電源插口進行插接實現(xiàn)供電,當需要卸下電源時,拔下來即可,使用方便,提高了工作效率。
[0015]所述的微控制器4為AT89C55單片機,所述地址譯碼器6分別與ADC08098測試電路8、DAC0832測試電路9、LM555測試電路10、WC3524測試電路11連接。
[0016]其中,每個所述測試模塊內(nèi)設(shè)有所述總線電路以及接口電路、程控電源電路和測試控制電路,測試控制電路、程控電源電路、接口電路分別與總線電路相連,每個所述測試模塊內(nèi)的總線電路互連,即各個測試模塊內(nèi)的總線電路相連通。其中,所述接口電路用于連接集成電路,提供統(tǒng)一的接口 ;所述總線電路還連接有電源驅(qū)動報警電路,用于電源驅(qū)動異常報警;每個所述測試模塊主要用于控制及完成集成電路的測試,所述測試控制電路用于集成電路上信號采集處理與程控電源電路的控制,程控電源電路用于輸出測試信號與進行信號調(diào)理。
【主權(quán)項】
1.集成電路功能測試裝置,其特征在于:包括殼體,所述殼體上安裝有顯示屏和控制按鈕,所述的顯示屏和控制按鈕與安裝在所述殼體內(nèi)部的微控制器連接,所述微控制器分別與A/D轉(zhuǎn)換芯片、地址譯碼器、總線電路連接;所述殼體上設(shè)有電源插口,所述電源插口與所述總線電路電連接,所述電源插口上插接有移動電源。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路功能測試裝置,其特征在于:所述微控制器為USB微控制器,USB微控制器通過USB總線與計算機相連,所述地址譯碼器分別與ADC08098測試電路、DAC0832測試電路、LM555測試電路、WC3524測試電路連接。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路功能測試裝置,其特征在于:每個所述測試模塊內(nèi)設(shè)有所述總線電路以及接口電路、程控電源電路和測試控制電路,測試控制電路、程控電源電路、接口電路分別與總線電路相連,每個所述測試模塊內(nèi)的總線電路互連,即各個測試模塊內(nèi)的總線電路相連通;其中,所述接口電路用于連接集成電路,提供統(tǒng)一的接口 ;所述總線電路還連接有電源驅(qū)動報警電路,用于電源驅(qū)動異常報警;每個所述測試模塊主要用于控制及完成集成電路的測試,所述測試控制電路用于集成電路上信號采集處理與程控電源電路的控制,程控電源電路用于輸出測試信號與進行信號調(diào)理。
【專利摘要】本實用新型公開了一種集成電路功能測試裝置,包括殼體,所述殼體上安裝有顯示屏和控制按鈕,所述的顯示屏和控制按鈕與安裝在所述殼體內(nèi)部的微控制器連接,所述微控制器分別與A/D轉(zhuǎn)換芯片、地址譯碼器、總線電路連接;所述殼體上設(shè)有電源插口,所述電源插口與所述總線電路電連接,所述電源插口上插接有移動電源;本實用新型的優(yōu)點在于:操作簡單、測試準確、效率高,通過插槽進行插接實現(xiàn)供電,當需要卸下電源時,拔下來即可,使用方便,提高了工作效率。
【IPC分類】G01R31/28, G01R1/04
【公開號】CN204903574
【申請?zhí)枴緾N201520459183
【發(fā)明人】徐子昆
【申請人】北京泰碼思測控技術(shù)有限公司
【公開日】2015年12月23日
【申請日】2015年7月1日
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