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一種用于檢測(cè)非接觸卡芯片不良的裝置的制造方法

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一種用于檢測(cè)非接觸卡芯片不良的裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本申請(qǐng)涉及一種消費(fèi)型卡片生產(chǎn)設(shè)備,特別涉及一種用于檢測(cè)非接觸卡芯片不良的裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]為確保IC卡卡片非接功能正常,卡片生產(chǎn)廠商需要抽調(diào)大量的人員及時(shí)間在非接觸功能的檢驗(yàn)上面,因此在IC卡非接手工電測(cè)方面耗費(fèi)大量的檢測(cè)工時(shí),此前每萬(wàn)張卡片手工非接電測(cè)耗時(shí)約為5-6工時(shí),按一家中小型發(fā)卡中心每年發(fā)卡1000萬(wàn)張估算,僅電測(cè)工序就耗費(fèi)工時(shí)超5000小時(shí)。這種方式效率非常低下,浪費(fèi)太多的人力物力,這種問(wèn)題亟待解決。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]有鑒于此,本實(shí)用新型實(shí)施例提供一種用于檢測(cè)非接觸卡芯片不良的裝置,可以有效提尚不良卡的檢測(cè)效率。
[0004]本實(shí)用新型實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的,一種用于檢測(cè)非接觸卡芯片不良的裝置,包括:刷卡器,用于接收非接觸卡反饋的高頻信號(hào);
[0005]延時(shí)繼電器控制器,與所述刷卡器相連,用于接收所述高頻信號(hào)并在一段延時(shí)后傳遞給制卡設(shè)備控制器;
[0006]制卡設(shè)備控制器,用于接收所述高頻信號(hào)后,如果沒(méi)有接收到所述高頻信號(hào),則控制制卡設(shè)備暫停工作;
[0007]所述制卡設(shè)備控制器包括:
[0008]高頻信號(hào)接收板,與所述延時(shí)繼電器控制器相連,用于接收所述高頻信號(hào),并控制光電感應(yīng)開(kāi)關(guān)的通斷;
[0009]光電感應(yīng)開(kāi)關(guān),與所述高頻信號(hào)接收板相連,根據(jù)高頻信號(hào)板的控制產(chǎn)生反饋信號(hào)給制卡設(shè)備。
[0010]進(jìn)一步地,所述裝置還包括計(jì)數(shù)器,與所述延時(shí)繼電器控制器相連,當(dāng)刷卡器接收到所述非接觸卡反饋的高頻信號(hào)后,延時(shí)繼電器將所述高頻信號(hào)發(fā)送到計(jì)數(shù)器。
[0011 ] 進(jìn)一步地,所述延時(shí)繼電器包括一延時(shí)時(shí)間調(diào)整控制,用于控制延時(shí)時(shí)間。
[0012]進(jìn)一步地,所述裝置還包括一報(bào)警裝置,用于當(dāng)待檢測(cè)到非接觸卡芯片不良時(shí)發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
[0013]采用上述技術(shù)方案,具有如下有益效果:減少、取締這一工耗問(wèn)題,從生產(chǎn)根源出發(fā),利用光電感應(yīng)開(kāi)關(guān)以及非接刷卡技術(shù)相結(jié)合,自動(dòng)控制卡片生產(chǎn)設(shè)備判別并剔除非接觸不良類型卡片。
【附圖說(shuō)明】
[0014]通過(guò)閱讀參照以下附圖所作的對(duì)非限制性實(shí)施例所作的詳細(xì)描述,本申請(qǐng)的其它特征、目的和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更明顯:
[0015]圖1示出了本申請(qǐng)?zhí)峁┑挠糜跈z測(cè)非接觸卡芯片不良的裝置的結(jié)構(gòu)框圖;
[0016]圖2示出了本申請(qǐng)?zhí)峁┑挠糜跈z測(cè)非接觸卡芯片不良的裝置的另外一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本申請(qǐng)作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明??梢岳斫獾氖?,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用于解釋相關(guān)實(shí)用新型,而非對(duì)該實(shí)用新型的限定。另外還需要說(shuō)明的是,為了便于描述,附圖中僅示出了與有關(guān)實(shí)用新型相關(guān)的部分。
[0018]需要說(shuō)明的是,在不沖突的情況下,本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本申請(qǐng)。
[0019]如圖1所示,一種用于檢測(cè)非接觸卡芯片不良的裝置10,包括:刷卡器101,用于接收非接觸卡反饋的高頻信號(hào);
[0020]延時(shí)繼電器控制器102,與所述刷卡器相連,用于接收所述高頻信號(hào)并在一段延時(shí)后傳遞給制卡設(shè)備控制器;
[0021]制卡設(shè)備控制器103,用于接收所述高頻信號(hào)后,如果沒(méi)有接收到所述高頻信號(hào),則控制制卡設(shè)備暫停工作。
[0022]刷卡器負(fù)責(zé)檢測(cè)IC卡芯片是否良品,如是良品會(huì)反饋高頻信號(hào),不良品則無(wú)感應(yīng),無(wú)高頻信號(hào)返回。上述刷卡器為非接刷卡器,將非接刷卡器安裝于生產(chǎn)設(shè)備最易損傷IC天線的模塊位置。
[0023]打開(kāi)檢測(cè)設(shè)備,制卡設(shè)備控制器自動(dòng)開(kāi)啟攔截功能。制卡設(shè)備控制器進(jìn)一步包括高頻信號(hào)接收板和光電感應(yīng)開(kāi)關(guān),其中高頻信號(hào)接收板,與所述延時(shí)繼電器控制器相連,用于接收所述高頻信號(hào),并控制光電感應(yīng)開(kāi)關(guān)的通斷;其中光電感應(yīng)開(kāi)關(guān),與所述高頻信號(hào)接收板相連,根據(jù)高頻信號(hào)板的控制產(chǎn)生反饋信號(hào)給制卡設(shè)備。
[0024]當(dāng)有效的非接觸IC卡片經(jīng)過(guò)刷卡器時(shí),刷卡器會(huì)給檢測(cè)設(shè)備一個(gè)“PASS”信號(hào)讓光電感應(yīng)開(kāi)關(guān)自動(dòng)開(kāi)啟過(guò)卡通道,以達(dá)到正常生產(chǎn)目通過(guò)。反之,當(dāng)無(wú)效的非接觸卡片經(jīng)過(guò)刷卡器時(shí),刷卡器則不會(huì)給檢測(cè)設(shè)備任何信號(hào),然后就被隨時(shí)待命的光電開(kāi)關(guān)攔截下來(lái),被成功剔除。
[0025]本實(shí)用新型還提供另外一實(shí)施例,所述裝置還包括計(jì)數(shù)器,與所述延時(shí)繼電器控制器相連,當(dāng)刷卡器接收到所述非接觸卡反饋的高頻信號(hào)后,延時(shí)繼電器將所述高頻信號(hào)發(fā)送到計(jì)數(shù)器。當(dāng)成功識(shí)別有效卡片時(shí),檢測(cè)設(shè)備能實(shí)時(shí)準(zhǔn)確地累加計(jì)數(shù),讓卡片生產(chǎn)更加直觀更加明了。也可以方便產(chǎn)品生產(chǎn)完的核對(duì)操作,防止不良品流出。
[0026]本實(shí)用新型還提供另外一實(shí)施例,所述裝置還包括一報(bào)警裝置,用于當(dāng)待檢測(cè)非解除卡芯片不良時(shí)發(fā)出報(bào)警信號(hào)。報(bào)警裝置可以是蜂鳴器等可以發(fā)出提醒功能的裝置。
[0027]本實(shí)用新型還提供另外一實(shí)施例,延時(shí)繼電器包括一延時(shí)控制器,用于控制延時(shí)時(shí)間。這里的延時(shí)時(shí)間就是光電感應(yīng)被屏蔽的時(shí)間,即在此時(shí)間內(nèi)卡片經(jīng)過(guò)光電感應(yīng),機(jī)器不會(huì)暫停,超出此時(shí)間卡片在經(jīng)過(guò)光電感應(yīng),則機(jī)器會(huì)暫停。由于本產(chǎn)品安裝在機(jī)器的出卡處,不同卡款的卡片經(jīng)過(guò)本檢測(cè)機(jī)器的時(shí)間會(huì)有所區(qū)別,所以要用到調(diào)整延時(shí)時(shí)間來(lái)滿足正常卡片能順利經(jīng)過(guò)光電感應(yīng),不良卡片能被及時(shí)攔下。
[0028]如圖2所示,為本實(shí)用新型提供的另一實(shí)施例。
[0029]在工作前需要根據(jù)相應(yīng)卡款調(diào)整光電感應(yīng)延遲時(shí)間,延遲時(shí)間調(diào)整完畢后,在打IC卡時(shí)開(kāi)啟此機(jī)器。
[0030]其中IC凸字卡延時(shí)時(shí)間調(diào)整為1.6S,IC UG卡調(diào)整延時(shí)時(shí)間為2.4S。
[0031]如遇到特殊卡款:這里假定一張卡片經(jīng)過(guò)刷卡器到光電感應(yīng)的時(shí)間為tl,兩張卡片經(jīng)過(guò)刷卡器到光電感應(yīng)的時(shí)間為t2,延時(shí)時(shí)間為t3,則此延時(shí)時(shí)間的調(diào)整按照tl < t3< t2的原則進(jìn)行調(diào)整。
[0032]其中一號(hào)主板為延時(shí)繼電器控制板,延時(shí)時(shí)間可調(diào)整,主要用于調(diào)整不同卡款的光電感應(yīng)延時(shí)。
[0033]二號(hào)主板為反饋信號(hào)接收板,可以接收刷卡器反饋的高頻信號(hào)并作出判斷,改變相應(yīng)端口的通斷。
[0034]正??ㄆㄟ^(guò)刷卡器時(shí),刷卡器工作,反饋高頻信號(hào)至一號(hào)主板,同時(shí)反饋信號(hào)至計(jì)數(shù)器,計(jì)數(shù)器會(huì)累計(jì)計(jì)數(shù)+1,一號(hào)主板依據(jù)設(shè)定的延遲時(shí)間控制二號(hào)主板+_端口電壓,再由二號(hào)主板來(lái)控制斷開(kāi)光電開(kāi)關(guān)的感應(yīng)功能,斷開(kāi)時(shí)間即一號(hào)主板設(shè)置的延時(shí)時(shí)間。此時(shí)卡會(huì)正常通過(guò)檢測(cè)機(jī),不會(huì)停留。
[0035]如遇IC異??ㄆ诮?jīng)過(guò)檢測(cè)機(jī)刷卡器位置時(shí),刷卡器不會(huì)感應(yīng),此時(shí)光電管正常工作,異??ㄆ?jīng)過(guò)光電感應(yīng)時(shí),光電感應(yīng)會(huì)反饋信號(hào)給制卡設(shè)備,暫停當(dāng)前制卡,由操作員檢查該張卡片是否芯片不良。
[0036]具體操作步驟為:
[0037]—、打開(kāi)檢測(cè)裝置電源開(kāi)關(guān)。
[0038]二、按“RESET”鍵手動(dòng)清零刷卡計(jì)數(shù)器。
[0039]三、當(dāng)蜂鳴報(bào)警器響起時(shí),手動(dòng)將傳送帶上面的卡片清空。
[0040]四、點(diǎn)擊繼續(xù)按鈕繼續(xù)生產(chǎn)。
[0041]五、手工檢測(cè)點(diǎn)繼續(xù)之后出來(lái)的5張卡片,檢查是否有非接不良品。(批卡檢測(cè)好卡槽最后一張以及點(diǎn)繼續(xù)生產(chǎn)之后的第一張卡片)
[0042]六、如遇點(diǎn)擊繼續(xù)按鈕后有連續(xù)暫停情況。關(guān)閉檢測(cè)器電源,待正常過(guò)卡一張之后再次打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)繼續(xù)生產(chǎn)。
[0043]以上描述僅為本申請(qǐng)的較佳實(shí)施例以及對(duì)所運(yùn)用技術(shù)原理的說(shuō)明。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解,本申請(qǐng)中所涉及的實(shí)用新型范圍,并不限于上述技術(shù)特征的特定組合而成的技術(shù)方案,同時(shí)也應(yīng)涵蓋在不脫離所述實(shí)用新型構(gòu)思的情況下,由上述技術(shù)特征或其等同特征進(jìn)行任意組合而形成的其它技術(shù)方案。例如上述特征與本申請(qǐng)中公開(kāi)的(但不限于)具有類似功能的技術(shù)特征進(jìn)行互相替換而形成的技術(shù)方案。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于檢測(cè)非接觸卡芯片不良的裝置,其特征在于,包括: 刷卡器,用于接收非接觸卡反饋的高頻信號(hào); 延時(shí)繼電器控制器,與所述刷卡器相連,用于接收所述高頻信號(hào)并在一段延時(shí)后傳遞給制卡設(shè)備控制器; 制卡設(shè)備控制器,用于接收所述高頻信號(hào),如果沒(méi)有接收到所述高頻信號(hào),則控制制卡設(shè)備暫停工作; 所述制卡設(shè)備控制器包括: 高頻信號(hào)接收板,與所述延時(shí)繼電器控制器相連,用于接收所述高頻信號(hào),并控制光電感應(yīng)開(kāi)關(guān)的通斷; 光電感應(yīng)開(kāi)關(guān),與所述高頻信號(hào)接收板相連,根據(jù)高頻信號(hào)板的控制產(chǎn)生反饋信號(hào)給制卡設(shè)備。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)非接觸卡芯片不良的裝置,其特征在于,所述裝置還包括計(jì)數(shù)器,與所述延時(shí)繼電器控制器相連,當(dāng)刷卡器接收到所述非接觸卡反饋的高頻信號(hào)后,延時(shí)繼電器將所述高頻信號(hào)發(fā)送到計(jì)數(shù)器。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)非接觸卡芯片不良的裝置,其特征在于,所述延時(shí)繼電器包括一延時(shí)時(shí)間調(diào)整控制,用于控制延時(shí)時(shí)間。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)非接觸卡芯片不良的裝置,其特征在于,所述裝置還包括一報(bào)警裝置,用于當(dāng)待檢測(cè)到非接觸卡芯片不良時(shí)發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
【專利摘要】本實(shí)用新型實(shí)施例提供一種用于檢測(cè)非接觸卡芯片不良的裝置,包括:刷卡器,用于接收非接觸卡反饋的高頻信號(hào);延時(shí)繼電器控制器,與所述刷卡器相連,用于接收所述高頻信號(hào)并在一段延時(shí)后傳遞給制卡設(shè)備控制器;制卡設(shè)備控制器,用于接收所述高頻信號(hào),如果沒(méi)有接收到所述高頻信號(hào),則控制制卡設(shè)備暫停工作;所述制卡設(shè)備控制器包括:高頻信號(hào)接收板,與所述延時(shí)繼電器控制器相連,用于接收所述高頻信號(hào),并控制光電感應(yīng)開(kāi)關(guān)的通斷;光電感應(yīng)開(kāi)關(guān),與所述高頻信號(hào)接收板相連,根據(jù)高頻信號(hào)板的控制產(chǎn)生反饋信號(hào)給制卡設(shè)備。本方案可以有效提高不良卡的檢測(cè)效率。
【IPC分類】G01R31/00
【公開(kāi)號(hào)】CN204903663
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520166240
【發(fā)明人】胡安輝, 周斌, 張琛航, 龔家杰
【申請(qǐng)人】珠海市金邦達(dá)保密卡有限公司
【公開(kāi)日】2015年12月23日
【申請(qǐng)日】2015年3月23日
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