一種薄壁圓形工件幾何量尺寸測量具的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種薄壁圓形工件幾何量尺寸測量具，包括定位底座，定位底座上方放置有至少一個位置調(diào)節(jié)具，位于最上方的位置調(diào)節(jié)具上方的放置有至少一個矯正圓盤；所述定位底座由圓柱型底座下段和圓錐型底座上段形成，底座下段下端面形成凸緣，定位底座中間形成通孔；所述位置調(diào)節(jié)具由圓柱型調(diào)節(jié)具上段和圓錐型調(diào)節(jié)具下段形成，調(diào)節(jié)具上段內(nèi)部焊接有圓盤，圓盤上形成沿圓周均布的多個圓孔；所述矯正圓盤上形成沿圓周均布的多個圓盤通孔。本實用新型易于被測工件的裝卡，能保證工件在測量中穩(wěn)固不動，特別是能很好的矯正薄壁工件的變形，可以測量任何指定截面的直徑尺寸，使得工件直徑的測量結(jié)果更加準(zhǔn)確。
【專利說明】
一種薄壁圓形工件幾何量尺寸測量具
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型屬于一種幾何量尺寸測量工具，具體涉及一種薄壁圓形工件幾何量尺寸測量具。
【背景技術(shù)】
[0002]在使用三坐標(biāo)測量機(jī)測量薄壁圓形工件指定截面直徑尺寸時，通常采用的是V型鐵和橡皮泥定位工件底部外圓，或者采用芯軸裝入工件內(nèi)壁，再利用測量儀器進(jìn)行測量。使用上述方法時存在如下弊端:
[0003]由于是薄壁工件，加工后產(chǎn)生較大變形，圓度最大有3mm左右，再采用V型鐵和橡皮泥定位工件底部外圓，該裝卡方式容易造成工件在測量中不穩(wěn)固及產(chǎn)生二次變形，加上工件本身變形，雖然能測量任意截面直徑，但是由于形狀誤差很大，導(dǎo)致測量的直徑尺寸誤差很大。
[0004]另外采用芯軸裝入工件內(nèi)壁，由于工件較長，受內(nèi)徑尺寸錐度的影響，存在芯軸不易從工件取出，特別是不能很好的矯正工件被測截面的變形，因此存在測量誤差較大的問題。
【實用新型內(nèi)容】
[0005]本實用新型是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點而提出的，其目的是提供一種薄壁圓形工件幾何量尺寸測量具。
[0006]本實用新型的技術(shù)方案是:
[0007]—種薄壁圓形工件幾何量尺寸測量具，包括定位底座，定位底座上方放置有至少一個位置調(diào)節(jié)具，位于最上方的位置調(diào)節(jié)具上方的放置有至少一個矯正圓盤;所述定位底座由圓柱型底座下段和圓錐型底座上段形成，底座下段下端面形成凸緣，定位底座中間形成通孔;所述位置調(diào)節(jié)具由圓柱型調(diào)節(jié)具上段和圓錐型調(diào)節(jié)具下段形成，調(diào)節(jié)具上段內(nèi)部焊接有圓盤，圓盤上形成沿圓周均布的多個圓孔;所述矯正圓盤上形成沿圓周均布的多個圓盤通孔。
[0008]所述底座下段外徑與工件內(nèi)徑下偏差匹配。
[0009]所述底座下段外徑比底座上段外徑大0.4mm?0.5mm;凸緣的外徑大于底座下段外徑30mmο
[0010]所述調(diào)節(jié)具上段外徑與工件內(nèi)徑下偏差匹配。
[0011 ] 所述調(diào)節(jié)具上段外徑比調(diào)節(jié)具下段外徑大0.4mm?0.5mm。
[0012]所述矯正圓盤外徑與工件內(nèi)徑相匹配。
[0013]所述矯正圓盤兩端面外圓周邊緣形成倒角。
[0014]本實用新型的有益效果是:
[0015]本實用新型通過測量具的不同組合對工件進(jìn)行軸向和端面的固定，易于被測工件的裝卡，能保證工件在測量中穩(wěn)固不動，特別是能很好的矯正被測量薄壁工件截面的變形，可以測量任何指定截面的直徑尺寸，使得工件直徑的測量結(jié)果更加準(zhǔn)確，提高測量效率。
【附圖說明】
[0016]圖1是本實用新型測量A截面直徑時的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0017]圖2是本實用新型測量B截面直徑時的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0018]圖3是本實用新型中定位底座的主視剖面圖；
[0019]圖4是本實用新型中定位底座的俯視圖；
[0020]圖5是本實用新型中位置調(diào)節(jié)具的主視剖面圖；
[0021 ]圖6是本實用新型中位置調(diào)節(jié)具的俯視圖；
[0022]圖7是本實用新型中矯正圓盤的主視剖面圖；
[0023]圖8是本實用新型中矯正圓盤的俯視圖。
[0024]其中:
[0025]I 定位底座2 位置調(diào)節(jié)具
[0026]3 矯正圓盤4 工件
[0027]5 測量儀器測頭11底座下段
[0028]12底座上段13凸緣
[0029]14通孔21調(diào)節(jié)具上段
[0030]22調(diào)節(jié)具下段23圓盤
[0031]24圓孔31圓盤通孔。
【具體實施方式】
[0032]下面結(jié)合說明書附圖及實施例對本實用新型一種薄壁圓形工件幾何量尺寸測量具進(jìn)行詳細(xì)說明:
[0033]如圖1、2所示，一種薄壁圓形工件幾何量尺寸測量具，包括定位底座I，定位底座I上方放置有至少一個位置調(diào)節(jié)具2，位于最上方的位置調(diào)節(jié)具2上方的放置有矯正圓盤3;
[0034]如圖3、4所示，所述定位底座I由圓柱型底座下段11和圓錐型底座上段12形成套筒狀結(jié)構(gòu)，底座下段11下端面形成凸緣13，定位底座I中間形成通孔14;定位基座I用于工件4的定位及工件4底部的變形矯正，并支撐位置調(diào)節(jié)具2和矯正圓盤3，通孔14以減輕定位底座I的重量，又保證圓柱、圓錐面不變形，作為優(yōu)選定位底座I的最小壁厚在2mm?3mm之間。
[0035]所述底座下段11外徑與工件4內(nèi)徑下偏差匹配。
[0036]所述底座下段11外徑比底座上段12外徑大0.4mm?0.5mm，使底座上段12不影響工件4的取放，另外也能起到一定的矯正工件4變形的作用；凸緣13的外徑大于底座下段11外徑30mmο
[0037]如圖5、6所示，所述位置調(diào)節(jié)具2由圓柱型調(diào)節(jié)具上段21和圓錐型調(diào)節(jié)具下段22形成的中空套筒狀結(jié)構(gòu)，調(diào)節(jié)具上段21內(nèi)部焊接有圓盤23，圓盤23上形成沿圓周均布的多個圓孔24，圓孔24孔邊倒角；位置調(diào)節(jié)具2用于矯正工件4的變形，支撐矯正圓盤3，以矯正測量工件4的指定截面的變形。
[0038]所述調(diào)節(jié)具上段21外徑與工件4內(nèi)徑下偏差匹配。
[0039]所述調(diào)節(jié)具上段21外徑比調(diào)節(jié)具下段22外徑大0.4mm?0.5mm，保證調(diào)節(jié)具下段22不影響位置調(diào)節(jié)具2從工件4的內(nèi)部的取放，另外也能起到一定的矯正工件4變形的作用。
[0040]如圖7、8所示，所述矯正圓盤3為扁圓柱形，其上形成沿圓周均布的多個圓盤通孔31，圓盤通孔31孔邊倒角，易于操作者在測量前后放入和取出矯正圓盤3;
[0041]所述矯正圓盤3外徑與工件4內(nèi)徑相匹配。
[0042]所述矯正圓盤3兩端面外圓周邊緣形成倒角，為保證與工件4內(nèi)徑尺寸最佳匹配。在工件4內(nèi)徑公差范圍以相差0.05mm?0.1mm為一個直徑規(guī)格制成多個直徑尺寸的矯正圓盤3。
[0043]所述矯正圓盤3的厚度為1mm左右。根據(jù)不同的測量位置要求，將相應(yīng)的位置調(diào)節(jié)具2與矯正圓盤3，與定位基座I進(jìn)行組合，定位基座I在最下方，中間是位置調(diào)節(jié)具2，矯正圓盤3在最上方，保證矯正圓盤3上端位置為被測量截面，保證工件4軸心與被測量截面垂直；保證工件4裝卡牢固不動;矯正薄壁被測保證工件4指定測量截面的變形，保證工件直徑的測量結(jié)果更加準(zhǔn)確。
[0044]測量截面之間的距離，小于30mm時，可由2_3個矯正圓盤3來調(diào)節(jié)和矯正被測截面，測量截面之間的距離大于30mm時，位置調(diào)節(jié)具2的長度尺寸，根據(jù)測量截面之間的距離，減掉一個矯正圓盤的長度。
[0045]本實用新型的使用方法:
[0046]以測量工件4的A截面直徑尺寸為例:
[0047]按照圖1所示，首先將工件4放入定位基座I，使工件4底端面與凸緣13接觸;然后，先放入第一個位置調(diào)節(jié)具2，使位置調(diào)節(jié)具2底面與定位基座I上端接觸，再放入第二個位置調(diào)節(jié)具2，使其底面與第一個位置調(diào)節(jié)具上端接觸;根據(jù)被測截面的尺寸選擇適宜尺寸的矯正圓盤3放入工件4內(nèi)，與第二個位置調(diào)節(jié)具2上端接觸。矯正圓盤3上方5mm的位置即為要求測量截面位置，即正好適合測量儀器測頭5進(jìn)行接觸測量;上述裝卡好的工件4置于測量儀器的平臺上，即可操作儀器開始測量。
[0048]以測量工件B截面直徑尺寸為例:
[0049]按照圖2所示，首先將工件4放入定位基座I，使工件4底端面與凸緣13接觸;然后，先放入第一個位置調(diào)節(jié)具2，使位置調(diào)節(jié)具2底面與定位基座I上端接觸;根據(jù)被測截面的尺寸，選擇適宜直徑尺寸的矯正圓盤3放入工件4內(nèi)，與位置調(diào)節(jié)具2上端接觸。矯正圓盤3上方5mm的位置即為要求測量截面位置，即正好適合測量儀器測頭5進(jìn)行接觸測量;將上述裝卡好的工件4置于測量儀器的平臺上，即可操作儀器開始測量。
【主權(quán)項】
1.一種薄壁圓形工件幾何量尺寸測量具，其特征在于:包括定位底座(I)，定位底座(I)上方放置有至少一個位置調(diào)節(jié)具(2)，位于最上方的位置調(diào)節(jié)具(2)上方的放置有至少一個矯正圓盤(3);所述定位底座(I)由圓柱型底座下段(11)和圓錐型底座上段(12)形成，底座下段(11)下端面形成凸緣(13)，定位底座(I)中間形成通孔(14);所述位置調(diào)節(jié)具(2)由圓柱型調(diào)節(jié)具上段(21)和圓錐型調(diào)節(jié)具下段(22)形成，調(diào)節(jié)具上段(21)內(nèi)部焊接有圓盤(23)，圓盤(23)上形成沿圓周均布的多個圓孔(24);所述矯正圓盤(3)上形成沿圓周均布的多個圓盤通孔(31)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種薄壁圓形工件幾何量尺寸測量具，其特征在于:所述底座下段(11)外徑與工件(4)內(nèi)徑下偏差匹配。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種薄壁圓形工件幾何量尺寸測量具，其特征在于:所述底座下段(11)外徑比底座上段(12)外徑大0.4 mm?0.5mm;凸緣(13)的外徑大于底座下段(11)外徑30mm。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種薄壁圓形工件幾何量尺寸測量具，其特征在于:所述調(diào)節(jié)具上段(21)外徑與工件(4)內(nèi)徑下偏差匹配。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種薄壁圓形工件幾何量尺寸測量具，其特征在于:所述調(diào)節(jié)具上段(21)外徑比調(diào)節(jié)具下段(22)外徑大0.4 mm?0.5mm。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種薄壁圓形工件幾何量尺寸測量具，其特征在于:所述矯正圓盤(3)外徑與工件(4)內(nèi)徑相匹配。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種薄壁圓形工件幾何量尺寸測量具，其特征在于:所述矯正圓盤(3)兩端面外圓周邊緣形成倒角。
【文檔編號】G01B21/10GK205482884SQ201620057303
【公開日】2016年8月17日
【申請日】2016年1月21日
【發(fā)明人】劉紅, 張寶華, 王超, 張云江, 劉海梅, 曹昆武, 姚江偉
【申請人】核工業(yè)理化工程研究院