大顆粒物料的近紅外光譜分析裝置的制造方法
【專利摘要】本實用新型提供了一種大顆粒物料的近紅外光譜分析裝置，所述近紅外光譜分析裝置包括分析儀表；采樣單元，所述采樣單元用于采樣待測樣品，并送粉碎單元；粉碎單元，所述粉碎單元用于粉碎傳送來的待測樣品，粉碎后的待測樣品送分析儀表分析；留樣單元，所述留樣單元安裝在所述粉碎單元的下游，用于留樣分析后的待測樣品。本實用新型具有精度高等優(yōu)點。
【專利說明】
大顆粒物料的近紅外光譜分析裝置
技術領域
[0001]本實用新型涉及近紅外光譜分析領域，特別涉及一種大顆粒物料的近紅外光譜分析裝置。
【背景技術】
[0002]工業(yè)生產(chǎn)過程中，利用近紅外光譜分析方法對非均勻的固態(tài)樣品進行在線檢測存在如下問題:I不能建立良好的近紅外光譜在線分析模型；2近紅外在線檢測值與抽樣后離線檢測值不一致，在線分析結(jié)果準確度低。(實際生產(chǎn)中，一般以抽樣離線檢測數(shù)據(jù)為基準，衡量在線檢測數(shù)據(jù)的準確性，因此認為在線分析數(shù)據(jù)準確度低)。
[0003]產(chǎn)生上述問題的原因在于:光譜在線掃描的樣品與抽樣分析的樣品不是同一個樣品。因生產(chǎn)過程的連續(xù)性，近紅外在線儀器掃描到的是一段時間內(nèi)的樣品，而抽樣則只是其中一個時間點的樣品，在線分析的樣品與抽樣分析的樣品不一致，同時由于樣品自身不均勻，更擴大了在線樣品與抽樣樣品的差異。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]為了解決上述現(xiàn)有技術方案中的不足，本實用新型提供了一種精度高的大顆粒物料的近紅外光譜分析裝置。
[0005]本實用新型的目的是通過以下技術方案實現(xiàn)的:
[0006]—種大顆粒物料的近紅外光譜分析裝置，所述近紅外光譜分析裝置包括分析儀表;所述近紅外光譜分析裝置進一步包括:
[0007]采樣單元，所述采樣單元用于采樣待測樣品，并送粉碎單元；
[0008]粉碎單元，所述粉碎單元用于粉碎傳送來的待測樣品，粉碎后的待測樣品送分析儀表分析；
[0009]留樣單元，所述留樣單元安裝在所述粉碎單元的下游，用于留樣分析后的待測樣品O
[0010]根據(jù)上述的近紅外光譜分析裝置，優(yōu)選地，所述采樣單元的一端安裝在豎直或傾斜設置的物料管道上。
[0011]根據(jù)上述的近紅外光譜分析裝置，可選地，所述近紅外光譜分析裝置進一步包括:
[0012]收集單元，所述收集單元用于收集采樣后的待測樣品，并送粉碎單元；
[0013]閥門，所述閥門安裝在所述收集單元和粉碎單元的連接通道上。
[0014]根據(jù)上述的近紅外光譜分析裝置，優(yōu)選地，所述收集單元是料斗。
[0015]根據(jù)上述的近紅外光譜分析裝置，可選地，所述近紅外光譜分析裝置進一步包括:
[0016]傳送機，所述傳送機設置在所述粉碎單元的下方；
[0017]限位板，所述限位板設置在所述傳送機的上方，且處于所述分析儀表和粉碎單元的出口之間。
[0018]根據(jù)上述的近紅外光譜分析裝置，可選地，所述近紅外光譜分析裝置進一步包括:
[0019]混勻單元，所述混勻單元設置在所述粉碎單元內(nèi)，用于混勻粉碎后的待測樣品。
[0020]與現(xiàn)有技術相比，本實用新型具有的有益效果為:
[0021]1.在線分析所獲得的光譜與抽樣離線參考數(shù)據(jù)具有較好的對應性，可建立的具有良好預測能力的分析模型；
[0022]2.在線分析數(shù)據(jù)與抽樣離線參考數(shù)據(jù)可進行良好對照，能充分說明在線分析方法及裝置的有效性；
[0023]3.粉料在線檢測結(jié)果誤差小、精度高，能較好地反映生產(chǎn)參數(shù)變化或生產(chǎn)過程物料質(zhì)量變化情況，便于指導調(diào)整生產(chǎn)工藝參數(shù)；
[0024]4.粉碎混勻、在線分析等單元均不在生產(chǎn)管路上，安裝維護不影響正常生產(chǎn)過程，便于在工廠實施。
【附圖說明】
[0025]參照附圖，本實用新型的公開內(nèi)容將變得更易理解。本領域技術人員容易理解的是:這些附圖僅僅用于舉例說明本實用新型的技術方案，而并非意在對本實用新型的保護范圍構(gòu)成限制。圖中:
[0026]圖1是根據(jù)本實用新型實施例1的近紅外光譜分析裝置的結(jié)構(gòu)簡圖；
[0027]圖2是根據(jù)本實用新型實施例2的近紅外光譜分析裝置的結(jié)構(gòu)簡圖；
[0028]圖3是根據(jù)本實用新型實施例3的近紅外光譜分析裝置的結(jié)構(gòu)簡圖。
【具體實施方式】
[0029]圖1-3和以下說明描述了本實用新型的可選實施方式以教導本領域技術人員如何實施和再現(xiàn)本實用新型。為了教導本實用新型技術方案，已簡化或省略了一些常規(guī)方面。本領域技術人員應該理解源自這些實施方式的變型或替換將在本實用新型的范圍內(nèi)。本領域技術人員應該理解下述特征能夠以各種方式組合以形成本實用新型的多個變型。由此，本實用新型并不局限于下述可選實施方式，而僅由權利要求和它們的等同物限定。
[0030]實施例1:
[0031]圖1示意性地給出了本實用新型實施例的大顆粒物料的近紅外光譜分析裝置的結(jié)構(gòu)簡圖，如圖1所示，所述近紅外光譜分析裝置包括:
[0032]采樣單元2，所述采樣單元用于從物料輸送機I上間歇性地抓取采樣待測樣品，并傳送到收集單元；
[0033]收集單元3，如料斗，所述收集單元用于收集采樣后的待測樣品，并送粉碎單元；
[0034]閥門31，所述閥門安裝在所述收集單元和粉碎單元的連接通道上；
[0035]粉碎單元4，所述粉碎單元用于粉碎傳送來的待測樣品，粉碎后的待測樣品送分析儀表分析；
[0036]混勻單元，如攪拌器，所述混勻單元設置在所述粉碎單元內(nèi)，用于混勻粉碎后的待測樣品；
[0037]分析儀表5，所述分析儀表利用近紅外光譜分析技術分析粉碎混勻后的待測樣品；安裝分析儀表的管道上設置觀察窗6，用于觀察樣品的流動狀態(tài)；
[0038]留樣單元，所述留樣單元安裝在所述粉碎單元的下游，采樣倒“Y”形結(jié)構(gòu)，將分析后的樣品分為兩路34、7，一路用作留樣，另一路將多余的樣品送回到物料輸送機上，每一路上均設置閥門33、32。
[0039]本實用新型實施例的一種大顆粒物料的近紅外光譜分析方法，即上述近紅外光譜分析裝置的工作過程，所述近紅外光譜分析方法包括以下步驟:
[0040](Al)利用采樣單元抓取待測樣品，并送到收集單元；
[0041](A2)收集單元收集一定時間內(nèi)的待測樣品，之后打開閥門，粉碎混勻取樣后的待測樣品；
[0042](A3)使用近紅外光譜分析儀表分析粉碎后的待測樣品；
[0043 ] (A4)分析后的樣品一部分留樣，另一部分送回到物料輸送機上；
[0044](A5)離線分析留樣的樣品，獲得的數(shù)據(jù)用于完善所述近紅外光譜分析儀表的分析模型。
[0045]實施例2:
[0046]圖2示意性地給出了本實用新型實施例的大顆粒物料的近紅外光譜分析裝置的結(jié)構(gòu)簡圖，如圖2所示，所述近紅外光譜分析裝置包括:
[0047]采樣單元12，所述采樣單元傾斜設置，輸入口設置在豎直的物料管道11內(nèi)，用于采樣待測樣品，并傳送到收集單元;采樣單元12上安裝閥門13，用于間歇性取樣；
[0048]收集單元3，如料斗，所述收集單元用于收集采樣后的待測樣品，并送粉碎單元；
[0049]閥門31，所述閥門安裝在所述收集單元和粉碎單元的連接通道上；
[0050]粉碎單元4，所述粉碎單元用于粉碎傳送來的待測樣品，粉碎后的待測樣品送分析儀表分析；
[0051 ]混勻單元，如攪拌器，所述混勻單元設置在所述粉碎單元內(nèi)，用于混勻粉碎后的待測樣品；
[0052]分析儀表5，所述分析儀表利用近紅外光譜分析技術分析粉碎混勻后的待測樣品；安裝分析儀表的管道上設置觀察窗6，用于觀察樣品的流動狀態(tài)；
[0053]留樣單元，所述留樣單元安裝在所述粉碎單元的下游，采樣倒“Y”形結(jié)構(gòu)，將分析后的樣品分為兩路34、7，一路用作留樣，另一路將多余的樣品送回到物料輸送機上，每一路上均設置閥門33、32。
[0054]本實用新型實施例的一種大顆粒物料的近紅外光譜分析方法，即上述近紅外光譜分析裝置的工作過程，所述近紅外光譜分析方法包括以下步驟:
[0055](Al)利用采樣單元采樣待測樣品，并送到收集單元；
[0056](A2)收集單元收集一定時間內(nèi)的待測樣品，之后打開閥門，粉碎混勻取樣后的待測樣品；
[0057](A3)使用近紅外光譜分析儀表分析粉碎后的待測樣品；
[0058](A4)分析后的樣品一部分留樣，另一部分送回到物料輸送機上；
[0059](A5)離線分析留樣的樣品，獲得的數(shù)據(jù)用于完善所述近紅外光譜分析儀表的分析模型。
[0060]實施例3:
[0061]圖3示意性地給出了本實用新型實施例的大顆粒物料的近紅外光譜分析裝置的結(jié)構(gòu)簡圖，如圖3所示，所述近紅外光譜分析裝置包括:
[0062]采樣單元12，所述采樣單元傾斜設置，輸入口設置在豎直的物料管道11內(nèi)，用于采樣待測樣品，并傳送到收集單元;采樣單元12上安裝閥門13，用于間歇性取樣；
[0063]收集單元3，如料斗，所述收集單元用于收集采樣后的待測樣品，并送粉碎單元；
[0064]閥門31，所述閥門安裝在所述收集單元和粉碎單元的連接通道上；
[0065]粉碎單元4，所述粉碎單元用于粉碎傳送來的待測樣品，粉碎后的待測樣品送分析儀表分析；
[0066]混勻單元，如攪拌器，所述混勻單元設置在所述粉碎單元內(nèi)，用于混勻粉碎后的待測樣品；
[0067]物料輸送機22，所述物料輸送機22設置在所述粉碎單元的出口下方，使得從所述出口輸出的待測樣品落在所述物料輸送機上，并向前輸送；
[0068]分析儀表5，所述分析儀表設置在所述物料輸送機的上方，利用近紅外光譜分析技術分析粉碎混勻后的待測樣品；
[0069]限位板21，所述限位板設置在所述分析儀表的側(cè)部，用于將輸送到分析儀表下方的物料輸送機上的待測樣品刮平；
[0070]留樣單元23，所述留樣單元為容器，安裝在所述物料輸送機22的尾端；當輸送機上的被分析儀表分析后的樣品運動到尾端時，落在所述容器內(nèi)。
[0071]本實用新型實施例的一種大顆粒物料的近紅外光譜分析方法，即上述近紅外光譜分析裝置的工作過程，所述近紅外光譜分析方法包括以下步驟:
[0072](Al)利用采樣單元采樣待測樣品，并送到收集單元；
[0073](A2)收集單元收集一定時間內(nèi)的待測樣品，之后打開閥門，粉碎混勻取樣后的待測樣品；
[0074](A3)使用近紅外光譜分析儀表分析粉碎后的待測樣品；
[0075](A4)分析后的樣品一部分留樣；
[0076](A5)離線分析留樣的樣品，獲得的數(shù)據(jù)用于完善所述近紅外光譜分析儀表的分析模型。
【主權項】
1.一種大顆粒物料的近紅外光譜分析裝置，所述近紅外光譜分析裝置包括分析儀表；其特征在于:所述近紅外光譜分析裝置進一步包括: 采樣單元，所述采樣單元用于采樣待測樣品，并送粉碎單元； 粉碎單元，所述粉碎單元用于粉碎傳送來的待測樣品，粉碎后的待測樣品送分析儀表分析； 留樣單元，所述留樣單元安裝在所述粉碎單元的下游，用于留樣分析后的待測樣品。2.根據(jù)權利要求1所述的近紅外光譜分析裝置，其特征在于:所述采樣單元的一端安裝在豎直或傾斜設置的物料管道上。3.根據(jù)權利要求1所述的近紅外光譜分析裝置，其特征在于:所述近紅外光譜分析裝置進一步包括: 收集單元，所述收集單元用于收集采樣后的待測樣品，并送粉碎單元； 閥門，所述閥門安裝在所述收集單元和粉碎單元的連接通道上。4.根據(jù)權利要求3所述的近紅外光譜分析裝置，其特征在于:所述收集單元是料斗。5.根據(jù)權利要求1所述的近紅外光譜分析裝置，其特征在于:所述近紅外光譜分析裝置進一步包括: 傳送機，所述傳送機設置在所述粉碎單元的下方； 限位板，所述限位板設置在所述傳送機的上方，且處于所述分析儀表和粉碎單元的出口之間。6.根據(jù)權利要求1所述的近紅外光譜分析裝置，其特征在于:所述近紅外光譜分析裝置進一步包括: 混勻單元，所述混勻單元設置在所述粉碎單元內(nèi)，用于混勻粉碎后的待測樣品。
【文檔編號】G01N21/3563GK205484031SQ201521140478
【公開日】2016年8月17日
【申請日】2015年12月31日
【發(fā)明人】周新奇, 韓雙來, 郭中原, 楊偉偉, 陳勝福, 慎石磊, 張丹, 胡杰, 吳鍵波
【申請人】聚光科技(杭州)股份有限公司