一種適用于pcb測試治具的微型探針的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及PCB測試設備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種適用于PCB測試治具的微型探針。本實用新型的一種適用于PCB測試治具的微型探針，包括導電針體，還包括絕緣粒體，絕緣粒體固定于導電針體的中段，導電針體的直徑為0.1~0.2mm。本實用新型的一種適用于PCB測試治具的微型探針，絕緣粒體無法穿過PCB測試治具的模板，避免該探針被拉動，提高了PCB測試治具的可靠性；導電針體的直徑為0.1~0.2mm，可以用于測試體積較小的、高精度的PCB。本實用新型的一種適用于PCB測試治具的微型探針，工作時，與彈簧連線連接良好，性能穩(wěn)定，提高了PCB測試治具的可靠性。
【專利說明】
一種適用于PCB測試治具的微型探針
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型涉及PCB測試設備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種適用于PCB測試治具的微型探針。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，PCB測試機種所使用的彈簧連線包括經(jīng)彈簧絲一體繞成的測試探針托體，電子導線焊接于彈簧下端。測試探針能上下活動地置于探針板中，處于PCB待測點下方，測試探針活動接觸于彈簧上端，在PCB測試時，上下測試治具中的探針板互向?qū)CB擠壓，使探針板中的測試探針上端在接觸到電路板測試點的同時，測試探針的下端下移接觸到彈簧連線中的彈簧上端托體，測試電流將通過測試機排線流到電子導線，通過電子導線轉(zhuǎn)流到彈簧，經(jīng)繞過彈簧后再流到測試探針從而實現(xiàn)導電測試。彈簧的作用是對測試探針的下移起到緩沖作用，避免測試探針扎傷PCB?，F(xiàn)有的探針，結(jié)構(gòu)簡單，易與彈簧發(fā)生脫離，性能不穩(wěn)定。
[0003]因此有必要提供一種性能可靠的、不易與彈簧發(fā)生脫離的探針。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]本實用新型的目的在于針對現(xiàn)有技術(shù)的不足提供一種適用于PCB測試治具的微型探針，性能可靠，不易與彈簧脫離。
[0005]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型的一種適用于PCB測試治具的微型探針，包括導電針體，還包括絕緣粒體，絕緣粒體固定于導電針體的中段，導電針體的直徑為0.1?0.2_。
[0006]優(yōu)選的，所述導電針體的直徑為0.15_。
[0007]優(yōu)選的，所述絕緣粒體呈圓柱狀。
[0008]優(yōu)選的，所述絕緣粒體為塑料材質(zhì)的絕緣粒體。
[0009]優(yōu)選的，所述導電針體的一端沿導電針體的軸線方向依次設置有第一扁平段和針尖段。
[0010]優(yōu)選的，所述扁平段的長度為Imm?3mm。
[0011]優(yōu)選的，所述導電針體的另一端的末端設置有防脫部。
[0012]優(yōu)選的，所述防脫部呈球狀。
[0013]優(yōu)選的，所述防脫部的一側(cè)設置有第二扁平部，絕緣粒體包覆于第二扁平部。
[0014]本實用新型的有益效果:本實用新型的一種適用于PCB測試治具的微型探針，工作時，絕緣粒體無法穿過PCB測試治具的模板，避免該探針被拉動，避免將探針從PCB測試治具的模板拔出造成該探針與彈簧連線的彈簧脫離，提高了 PCB測試治具的可靠性;導電針體的直徑為0.1?0.2_，可用于檢測排列較密的PCB待測點，可以用于測試體積較小的、高精度的PCB。本實用新型的一種適用于PCB測試治具的微型探針，工作時，與彈簧連線連接良好，性能穩(wěn)定，提高了 PCB測試治具的可靠性。
【附圖說明】
[0015]圖1為本實用新型的實施例一的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0016]圖2為本實用新型的實施例二的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0017]圖3為圖2中A-A方向的剖視結(jié)構(gòu)示意圖。
[0018]附圖標記包括:
[0019]!—導電針體
[0020]n 一第一扁平段 12—針尖段13—防脫部
[0021]14 一第二扁平部
[0022]2—絕緣粒體。
【具體實施方式】
[0023]以下結(jié)合附圖對本實用新型進行詳細的描述。
[0024]實施例一。
[0025]如圖1所示，本實用新型的一種適用于PCB測試治具的微型探針，包括導電針體I，還包括絕緣粒體2，絕緣粒體2固定于導電針體I的中段，導電針體I的直徑為0.1?0.2mm。工作時，本實用新型的一種適用于PCB測試治具的微型探針的一端與彈簧連線的彈簧體連接，該探針的另一端穿過PCB測試治具的模板后與PCB待測點電連接，絕緣粒體2無法穿過PCB測試治具的模板，避免該探針被拉動，避免將探針從PCB測試治具的模板拔出造成該探針與彈簧連線的彈簧脫離，提高了PCB測試治具的可靠性;導電針體I的直徑為0.1?0.2mm，可用于檢測排列較密的PCB待測點，可以用于測試體積較小的、高精度的PCB。本實用新型的一種適用于PCB測試治具的微型探針，工作時，與彈簧連線連接良好，性能穩(wěn)定，提高了 PCB測試治具的可靠性。進一步優(yōu)選的，所述絕緣粒體2呈圓柱狀。
[0026]優(yōu)選的，所述導電針體I的直徑為0.15mm，可用于檢測手機、智能手表等PCB待測點密度較高的PCB。
[0027]為了便于加工，所述絕緣粒體2為塑料材質(zhì)的絕緣粒體，塑料材質(zhì)的絕緣粒體2，可通過注塑形成，可先將導電針體I固定于注塑模腔，然后將熔融的塑料注入模腔，冷卻后開模即可形成本實用新型的微型探針，另外塑料材質(zhì)的絕緣粒體2絕緣效果好。本實用新型的一種適用于PCB測試治具的微型探針，便于實施，成本低，性能可靠。
[0028]如圖1所示，所述導電針體I的一端沿導電針體I的軸線方向依次設置有第一扁平段11和針尖段12。第一扁平段11可代替黑膠棉，防止卡針，提高了該微型探針的可靠性，針尖段12用于與PCB待測點接觸，導電效果好，本實用新型的一種適用于PCB測試治具的微型探針，可靠性高。進一步優(yōu)選的，所述扁平段的長度為Imm?3mm。
[0029]實施例二。
[0030]如圖2、3所示，本實施例與實施例一不同之處在于，所述導電針體I的另一端的末端設置有防脫部13;工作時，防脫部13與外部彈簧連線的彈簧體過盈配合，彈簧體與導線體連接時，將防脫部13嵌于彈簧體的一端即可完成連接，連接效率高，且連接穩(wěn)定，避免彈簧體與導線體松脫;本實用新型的一種適用于PCB測試治具的微型探針，便于與外部的彈簧體連接，性能可靠，不易發(fā)生故障。
[0031]如圖2所示，所述防脫部13呈球狀。球狀的防脫部13可通過將該探針的一端熔融一小段后形成。進一步優(yōu)選的，所述防脫部13呈橢球狀，橢球狀的防脫部13的末端具有一定的錐度，便于彈簧體套接于防脫部13。本實用新型的一種適用于PCB測試治具的微型探針，于實施，成本低。
[0032]優(yōu)選的，所述防脫部13的一側(cè)設置有第二扁平部14，絕緣粒體2包覆于第二扁平部14，扁平部對絕緣粒體2的軸向移動起到限制作用，避免絕緣粒體2與導電針體I松脫，提高了本實用新型的適用于PCB測試治具的微型探針的可靠性。
[0033]本實施例的其余部分與實施例一相同，在本實施例中未解釋的特征，均采用實施例一的解釋，這里不再進行贅述。
[0034]綜上所述可知本實用新型乃具有以上所述的優(yōu)良特性，得以令其在使用上，增進以往技術(shù)中所未有的效能而具有實用性，成為一極具實用價值的產(chǎn)品。
[0035]以上內(nèi)容僅為本實用新型的較佳實施例，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，依據(jù)本實用新型的思想，在【具體實施方式】及應用范圍上均會有改變之處，本說明書內(nèi)容不應理解為對本實用新型的限制。
【主權(quán)項】
1.一種適用于PCB測試治具的微型探針，包括導電針體(1)，其特征在于:還包括絕緣粒體(2)，絕緣粒體(2)固定于導電針體(I)的中段，導電針體(I)的直徑為0.1-0.2_。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于PCB測試治具的微型探針，其特征在于:所述導電針體(I)的直徑為0.15mm。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于PCB測試治具的微型探針，其特征在于:所述絕緣粒體(2)呈圓柱狀。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于PCB測試治具的微型探針，其特征在于:所述絕緣粒體(2)為塑料材質(zhì)的絕緣粒體。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于PCB測試治具的微型探針，其特征在于:所述導電針體(I)的一端沿導電針體(I)的軸線方向依次設置有第一扁平段(11)和針尖段(12)。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種適用于PCB測試治具的微型探針，其特征在于:所述扁平段的長度為Imm?3mm。7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種適用于PCB測試治具的微型探針，其特征在于:所述導電針體(I)的另一端的末端設置有防脫部(13)。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種適用于PCB測試治具的微型探針，其特征在于:所述防脫部(13)呈球狀。9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種適用于PCB測試治具的微型探針，其特征在于:所述防脫部(13)的一側(cè)設置有第二扁平部(14)，絕緣粒體(2)包覆于第二扁平部(14)。
【文檔編號】G01R1/067GK205484690SQ201521125543
【公開日】2016年8月17日
【申請日】2015年12月31日
【發(fā)明人】蘇寶軍
【申請人】東莞市連威電子有限公司