專利名稱：具有安全功能的半導(dǎo)體集成電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本申請(qǐng)要求2002年2月5日提交的韓國(guó)專利申請(qǐng)No.2002-6435的優(yōu)先權(quán)，其內(nèi)容在此引入作為參考。
本發(fā)明一般地涉及具有安全功能的集成電路。具體上，本發(fā)明涉及具有安全控制器的IC(集成電路)卡，該安全控制器檢測(cè)諸如未授權(quán)存取、破壞或由未授權(quán)用戶更改信息的異常狀態(tài)以及異常的操作環(huán)境。
背景技術(shù)：
自從十九世紀(jì)二十年代出現(xiàn)信用卡以來(lái)，各種類型的個(gè)人卡(例如現(xiàn)金卡、識(shí)別卡、購(gòu)物卡、信用卡等等)已經(jīng)廣泛用于執(zhí)行各種交易。近來(lái)，由于由IC卡所帶來(lái)的許多好處，如方便、安全以及通過(guò)使用IC卡所賦予的各種實(shí)用功能，IC卡已經(jīng)變得很普遍。
通常，IC卡是用板上芯片(COB)的形式，通過(guò)將薄的半導(dǎo)體設(shè)備附著在具有厚度約0.5mm的信用卡大小的塑料薄板上制作的。IC卡非常適用于和先進(jìn)信息多媒體應(yīng)用一起使用，因?yàn)榕c具有磁帶的卡相比，IC卡提供更好的安全性并防止數(shù)據(jù)丟失的保護(hù)。
通常，對(duì)具有與典型的磁條卡類似的圖形和大小的IC卡來(lái)說(shuō)，有兩種類型的IC卡，即遙控IC卡(CICC)和遠(yuǎn)程耦合通信卡(RCCC)。一個(gè)CICC(由AT&T開發(fā))能在1/2英寸的范圍內(nèi)感測(cè)，RCCC能在由ISO DIS 10536標(biāo)準(zhǔn)化的700cm的范圍內(nèi)感測(cè)。
還有另一種基于例如IC卡是否包括嵌入式微處理器來(lái)分類IC卡的方法。具有嵌入式微處理器的IC卡通常稱為“智能卡”，其與不包括微處理器的遙控IC卡和存儲(chǔ)卡區(qū)分開來(lái)。智能卡通常包括中央處理單元、用于存儲(chǔ)應(yīng)用程序文件的電可擦可編程序只讀存儲(chǔ)器(EEPROM)、ROM以及RAM。
智能卡可用在各種應(yīng)用中，提供高可靠性/安全性、大數(shù)據(jù)存儲(chǔ)容量以及各種功能(如電子錢包)。實(shí)際上，智能卡能用在各種領(lǐng)域中以便于通過(guò)雙向通信、分布式處理以及安全的信息保存來(lái)管理信息。這些領(lǐng)域包括如金融、經(jīng)銷、工廠和辦公自動(dòng)化、醫(yī)學(xué)治療、交通、工業(yè)、社會(huì)保險(xiǎn)、移動(dòng)通信、公用自動(dòng)收費(fèi)電話、有線電視、電力、煤氣以及供水維護(hù)、教育、信用卡、付款卡、預(yù)付卡、城市煤氣維護(hù)、信息安全以及家庭銀行。因此，鑒于當(dāng)前趨勢(shì)是將各種與服務(wù)有關(guān)的功能集成在單個(gè)卡中，智能卡方便地提供用于支持各種服務(wù)所需要的裝置和通信方法。
對(duì)智能卡來(lái)說(shuō)最好提供能保持存儲(chǔ)在其中的信息的可靠的安全性以便防止用戶或系統(tǒng)管理員的信息外流。用于監(jiān)視智能卡的內(nèi)部信號(hào)以便找出數(shù)據(jù)特性的一些方法可能導(dǎo)致破壞數(shù)據(jù)，如使用用于在去除覆蓋芯片表面(稱為“解封裝”)的氧化硅層后掃描芯片表面上的金屬導(dǎo)線的示波器。為消除這種監(jiān)視，需要用于檢測(cè)解封裝事件的檢測(cè)設(shè)備，如連接到光接收器的曝光檢測(cè)器(light exposure detector)或去除鈍化檢測(cè)器(passivation removal detector)。另外一種監(jiān)視智能卡的方法是使用頻率檢測(cè)器來(lái)監(jiān)視正通過(guò)傳輸線通信的數(shù)據(jù)以確定主時(shí)鐘信號(hào)頻率是否超出預(yù)定范圍。
智能卡應(yīng)當(dāng)被適配防止由于如操作環(huán)境以及未授權(quán)解封裝而導(dǎo)致的物理?yè)p壞?？刹捎秒妷簷z測(cè)器通過(guò)管理標(biāo)準(zhǔn)電壓的范圍來(lái)保護(hù)智能卡以及防止超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)電壓的范圍，超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)電壓的范圍可能導(dǎo)致將破壞性的電應(yīng)力加在智能卡上。另外，溫度檢測(cè)器可用來(lái)檢測(cè)異常溫度以防止由于異常低或高的溫度損壞智能卡。
如上所述，當(dāng)從檢測(cè)裝置(如光檢測(cè)器、去鈍化檢測(cè)器、頻率檢測(cè)器、電壓檢測(cè)器、溫度傳感器等等)產(chǎn)生至少一個(gè)有效檢測(cè)信號(hào)時(shí)，通過(guò)復(fù)位智能卡的內(nèi)部電路以及微處理器，可保護(hù)常規(guī)智能卡受到損壞，例如由于外部侵入所帶來(lái)的信息泄漏、物理破壞、數(shù)據(jù)調(diào)制、或異常的操作環(huán)境。然而，常規(guī)的智能卡不包括在其恢復(fù)主時(shí)鐘頻率、電壓、環(huán)境溫度等等后通過(guò)重新封裝使智能卡導(dǎo)通的同時(shí)允許用戶確認(rèn)未授權(quán)侵入或復(fù)位原因的功能。實(shí)際上，即使已經(jīng)被惡意入侵者偷竊或修改過(guò)有關(guān)私人事務(wù)或財(cái)務(wù)帳戶的專用信息，授權(quán)用戶或許可的系統(tǒng)管理員不能確定或檢驗(yàn)非法侵入。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明涉及包括安全電路的半導(dǎo)體IC(集成電路)，該安全電路能存儲(chǔ)與由于未授權(quán)入侵和異常操作環(huán)境而導(dǎo)致的異常狀態(tài)的檢測(cè)有關(guān)的信息。最好將安全電路嵌入在IC卡中并將信息提供給用戶，該信息使用戶能確定IC卡的中央處理單元的復(fù)位狀態(tài)及其原因。
在本發(fā)明的一個(gè)方面中，具有中央處理單元的半導(dǎo)體集成電路包括多個(gè)檢測(cè)器，其中每個(gè)檢測(cè)器檢測(cè)集成電路的對(duì)應(yīng)的操作狀態(tài)并產(chǎn)生表示異常狀態(tài)的檢測(cè)信號(hào)；復(fù)位信息生成器，用于響應(yīng)于從檢測(cè)器之一輸出的檢測(cè)信號(hào)而生成復(fù)位信號(hào)；以及非易失性存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)從檢測(cè)器輸出的檢測(cè)信號(hào)。在將檢測(cè)信息存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器中后，響應(yīng)于復(fù)位信號(hào)而復(fù)位中央處理單元。
在另一方面中，集成電路包括鎖存器，用于存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)；邏輯電路，用于當(dāng)至少一個(gè)檢測(cè)信息表示異常狀態(tài)時(shí)產(chǎn)生程序信號(hào)；以及定時(shí)器，用于當(dāng)激活程序信號(hào)后預(yù)定時(shí)間過(guò)后時(shí)生成定時(shí)器控制信號(hào)。非易失性存儲(chǔ)器響應(yīng)于程序信號(hào)而存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)。復(fù)位信號(hào)生成器響應(yīng)于定時(shí)器控制信號(hào)而生成復(fù)位信號(hào)。預(yù)定時(shí)間最好是用于響應(yīng)于程序信號(hào)而將檢測(cè)信號(hào)存儲(chǔ)到非易失性存儲(chǔ)器中所需的時(shí)間。
在本發(fā)明的另一方面中，非易失性存儲(chǔ)器包括用于存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)的多個(gè)存儲(chǔ)單元。存儲(chǔ)單元最好是電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器存儲(chǔ)單元。
在本發(fā)明的另一方面中，集成電路可包括具有嵌入式中央處理單元的智能卡。
在另一方面中，檢測(cè)器包括用于檢測(cè)諸如系統(tǒng)時(shí)鐘頻率、電源電壓、溫度以及曝光的操作環(huán)境的檢測(cè)器。
本發(fā)明的這些和其他方面、特性以及優(yōu)點(diǎn)將從下述的結(jié)合附圖的優(yōu)選實(shí)施例的詳細(xì)說(shuō)明變得清楚。


圖1是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的包括嵌入式安全控制器的智能卡的框圖。
圖2是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的說(shuō)明安全控制器的細(xì)節(jié)的智能卡的示意圖。
圖3是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的說(shuō)明存儲(chǔ)單元的示意圖，其最好是在圖2所示的安全控制器中實(shí)現(xiàn)。
具體實(shí)施例方式
現(xiàn)在將參考附圖來(lái)詳細(xì)地描述本發(fā)明，在附圖中示出了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。在所有圖中，相同的附圖標(biāo)號(hào)表示相同或相似的元件。應(yīng)當(dāng)理解在此所描述的不同的實(shí)施例可能包含在許多不同的形式中以及在此的說(shuō)明不應(yīng)當(dāng)解釋為限制本發(fā)明的范圍。
參考圖1，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的智能卡包括中央處理單元(CPU)31、只讀存儲(chǔ)器(ROM)32、隨機(jī)存儲(chǔ)器(RAM)33、電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器(EEPROM)34、串行輸入輸出接口(SIO)單元35、頻率檢測(cè)器11、電壓檢測(cè)器12、溫度檢測(cè)器13、光檢測(cè)器14以及安全控制器20。安全控制器20響應(yīng)由檢測(cè)器/傳感器11-14生成的多個(gè)檢測(cè)信號(hào)DET0～DET3中的至少一個(gè)生成復(fù)位信號(hào)RST。
頻率檢測(cè)器11檢測(cè)主時(shí)鐘信號(hào)的頻率并且當(dāng)主時(shí)鐘信號(hào)的當(dāng)前頻率超出規(guī)定的頻率范圍時(shí)生成產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)DET0。電壓檢測(cè)器12確定從如卡引導(dǎo)器(card leader)提供的外部電壓的電壓電平并且如果檢測(cè)的電壓電平超過(guò)規(guī)定范圍，則產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)DET1。溫度檢測(cè)器13感應(yīng)智能卡1周圍的的溫度以及當(dāng)檢測(cè)的溫度超過(guò)預(yù)定范圍時(shí)產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)DET2。當(dāng)由于消除了用作芯片表面的鈍化層的氧化硅膜而將芯片表面曝光時(shí)，光檢測(cè)器14產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)DET3。除檢測(cè)單元11-14外，可將各種類型的檢測(cè)器/傳感器包括在智能卡1中以確定如與未授權(quán)入侵有關(guān)的異常狀態(tài)或異常操作條件。在存儲(chǔ)來(lái)自檢測(cè)器11-14的一個(gè)檢測(cè)信號(hào)后，安全控制器20生成復(fù)位信號(hào)RST來(lái)復(fù)位CPU31。
參考圖2，在優(yōu)選實(shí)施例中，安全控制器20包括存儲(chǔ)單元100、鎖存單元101～104、信號(hào)傳感器105、定時(shí)器106以及復(fù)位信號(hào)生成器107。鎖存電路101～104對(duì)應(yīng)于檢測(cè)器11～14排列并存儲(chǔ)各自的檢測(cè)信號(hào)。信號(hào)傳感器105，如OR門確定是否至少有存儲(chǔ)在鎖存電路中的一個(gè)檢測(cè)信號(hào)，并產(chǎn)生程序信號(hào)PGM。響應(yīng)于程序信號(hào)PGM，存儲(chǔ)單元100存儲(chǔ)保存在鎖存電路101～104中的檢測(cè)信號(hào)DET0～DET3。在從OR門105提供程序信號(hào)PGM的時(shí)間過(guò)去預(yù)定時(shí)間后，定時(shí)器106生成控制信號(hào)。響應(yīng)于由定時(shí)器106提供的控制信號(hào)，復(fù)位信號(hào)生成器107輸出復(fù)位信號(hào)RST。復(fù)位信號(hào)RST初始化CPU31。在復(fù)位后，在正常的狀態(tài)下，可通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)的電源電壓以及常規(guī)頻率的時(shí)鐘信號(hào)重啟CPU 31。當(dāng)初始化CPU 31時(shí)，根據(jù)讀信號(hào)RD以及地址ADD，從存儲(chǔ)單元100讀出數(shù)據(jù)。從存儲(chǔ)單元100讀出的、表示有未授權(quán)侵入或發(fā)生異常條件的數(shù)據(jù)可在調(diào)節(jié)系統(tǒng)中由用戶參考。
參考圖3，存儲(chǔ)單元100包括具有沿一行和多列排列的多個(gè)存儲(chǔ)單元，如MC0～MC3的存儲(chǔ)單元陣列110。唯一行由控制線CL和字線WL組成，以及將列構(gòu)造成位線BL0～BL3。每個(gè)存儲(chǔ)單元包括電可編程以及可擦的單元晶體管(如C0～C3)以及行選擇晶體管(如WS0～WS3)。單元晶體管C0～C3主要存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)。單元晶體管可用其他類型的非易失性存儲(chǔ)單元，如EEPROM單元或快閃單元(flash cell)構(gòu)成，即使當(dāng)關(guān)閉電源時(shí)，這些非易失性存儲(chǔ)器也能保留它們自己的數(shù)據(jù)。將單元晶體管的源極端共同連接到電源線SL，以及單元晶體管的控制門端共同耦合到控制線CL。將行選擇晶體管WS0～WS3的源極端的每一個(gè)連接到單元晶體管C0～C3的漏極端。將行選擇晶體管WS0～WS3的漏極端的每一個(gè)連接到位線BL0～BL3以及將行選擇晶體管的柵極共同耦合到字線WL。在讀操作期間，響應(yīng)控制電路170，電源線控制晶體管130將電源線SL連接到接地電壓。
響應(yīng)于讀信號(hào)RD、清除信號(hào)ER以及程序信號(hào)PGM，控制電路170操作電路元件。如下所述，高壓生成器150生成用在編程和刪除存儲(chǔ)單元MC0～MC3以及用于讀取存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單元中的數(shù)據(jù)的高壓。根據(jù)地址信號(hào)ADD，X-譯碼器140用高壓驅(qū)動(dòng)字線WL。
應(yīng)當(dāng)理解，在這里所述的示例性的實(shí)施例中，X-譯碼器140與唯一行有關(guān)，從而X-譯碼器140僅僅驅(qū)動(dòng)唯一字線WL。在其他實(shí)施例中，在存儲(chǔ)單元陣列包括以行和列的矩陣排列的存儲(chǔ)單元的情況下，響應(yīng)于地址，X-譯碼器將選擇多個(gè)行的備選的一些。
響應(yīng)于來(lái)自控制電路170的控制信號(hào)，電平移動(dòng)器160通過(guò)高壓VPP、地電壓GND或預(yù)定正電壓驅(qū)動(dòng)控制線CL。鎖存電路190存儲(chǔ)從鎖存器101～104提供的檢測(cè)信號(hào)DET0～DET3。根據(jù)檢測(cè)信號(hào)DET0～DET3以及來(lái)自控制電路170的控制信號(hào)，位線電平移動(dòng)器180通過(guò)高壓VPP、地電壓GND或預(yù)定正電壓驅(qū)動(dòng)位線BL0～BL3。
響應(yīng)于外部地址ADD，Y-譯碼器生成選擇信號(hào)來(lái)指定位線BL0～BL3中的一個(gè)。響應(yīng)于由Y-譯碼器120提供的選擇信號(hào)，輸出選擇器200將在位線BL0～BL3出現(xiàn)的一個(gè)電壓傳送給讀出放大器210。讀出放大器210將由輸出選擇器200獲得的電壓電平轉(zhuǎn)換成數(shù)據(jù)輸出信號(hào)DO。
現(xiàn)在將參考圖2和3進(jìn)一步詳細(xì)地討論存儲(chǔ)單元100和智能卡的操作模式的詳細(xì)情況。在優(yōu)選實(shí)施例中，當(dāng)通過(guò)檢測(cè)器11～14檢測(cè)到錯(cuò)誤狀態(tài)時(shí)，檢測(cè)器將產(chǎn)生具有邏輯“高”電平的檢測(cè)信號(hào)DET0～DET3，而當(dāng)(在正常狀態(tài)期間)沒(méi)有檢測(cè)到錯(cuò)誤時(shí)，檢測(cè)信號(hào)將保持在邏輯“低”電平。例如，如果解封裝覆蓋芯片表面的氧化硅層，光檢測(cè)器14將生成具有“高”邏輯電平的檢測(cè)信號(hào)DET3。因此，鎖存器104將存儲(chǔ)高電平的檢測(cè)信號(hào)DET3，而其他的鎖存器將存儲(chǔ)低電平的檢測(cè)信號(hào)DET0～DET2。響應(yīng)于高電平的檢測(cè)信號(hào)DET3，OR門105生成具有高邏輯電平的程序信號(hào)PGM，然后以具有字線WL、位線BL、控制線CL以及電源線SL的適當(dāng)?shù)钠脿顟B(tài)編程單元晶體管C0～C3。下面表1概括了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，用于編程、刪除以及讀取單元晶體管(或存儲(chǔ)單元)的偏置狀態(tài)。
表1

在“編程”操作期間，X-譯碼器140將字線WL引導(dǎo)到由高壓生成器150提供的高壓VPP。控制電路170斷開電源線控制晶體管130，浮動(dòng)電源線SL。電平移動(dòng)器160將控制線CL設(shè)置成地電壓GND。鎖存電路190接收保存在鎖存器101～104中的檢測(cè)信號(hào)DET0～DET3。通過(guò)高壓VPP，位線電平移動(dòng)器180驅(qū)動(dòng)與高電平檢測(cè)信號(hào)(即DET3)對(duì)應(yīng)的位線(即BL3)并將其他的位線(即BL0～BL2)設(shè)置成地電壓GND。因此，將與位線BL3連接的單元晶體管C3編程為邏輯“0”，而其他單元晶體管C0～C2保持在邏輯數(shù)據(jù)“1”(假定在編程前刪除所有單元晶體管)。
同時(shí)，參考圖1，定時(shí)器106接收“高”邏輯電平的編程信號(hào)PGM并在預(yù)定時(shí)間過(guò)去后產(chǎn)生控制信號(hào)。最好，定時(shí)器106中的預(yù)定時(shí)間提供允許完成單元晶體管C0～C3的編程操作(即存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào))的充夠延遲(如約2ms)。響應(yīng)于來(lái)自定時(shí)器106的控制信號(hào)，復(fù)位信號(hào)生成器107輸出復(fù)位信號(hào)RST以便復(fù)位CPU 31。
通過(guò)在復(fù)位CPU 31后返回正常的操作狀態(tài)，CPU 31根據(jù)提供的穩(wěn)壓電壓以及系統(tǒng)時(shí)鐘重啟它的固有操作。在重啟時(shí)，CPU 31將讀信號(hào)RD和地址ADD提供給存儲(chǔ)單元100以便從存儲(chǔ)單元100讀出檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)。地址ADD可以是指定串聯(lián)或并聯(lián)單元晶體管C0～C3(或存儲(chǔ)單元MC0～MC3)的信號(hào)。
參考圖3，在“讀”操作期間，由具有稍微高于如約5V的電源電壓的電壓的X-譯碼器140驅(qū)動(dòng)字線WL。分別通過(guò)電平移動(dòng)器160和180，用約2V的預(yù)定正電壓驅(qū)動(dòng)控制線CL和位線BL0～BL3?？刂齐娐?70開啟晶體管130以便將電源線SL連接到地電壓GND。因此，將存儲(chǔ)在單元晶體管C0～C3中的檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)經(jīng)它們的對(duì)應(yīng)的位線BL0～BL3傳送到輸出選擇器200。響應(yīng)于表示一個(gè)位線的選擇信號(hào)，輸出選擇器200將位線的一個(gè)電壓電平傳送到讀出放大器210。將從讀出放大器210輸出的數(shù)據(jù)信號(hào)DO提供給CPU 31。CPU 31確定從讀出放大器210接收的數(shù)據(jù)輸出信號(hào)DO是否表示異常狀態(tài)(如氧化層的解封裝)，然后通知用戶發(fā)生了異常狀態(tài)。更具體地說(shuō)，在此所描述的優(yōu)選實(shí)施例中，假定單元晶體管C0～C2均存儲(chǔ)邏輯“1”而單元晶體管C3存儲(chǔ)邏輯“0”，CPU 31通知用戶光檢測(cè)器14已經(jīng)檢測(cè)到出現(xiàn)了異常狀態(tài)。
在完成對(duì)于用戶的第一通知步驟后，均刪除存儲(chǔ)單元100中的單元晶體管C0～C3以便準(zhǔn)備下一檢測(cè)過(guò)程。在“刪除”單元晶體管(或存儲(chǔ)單元)的步驟期間，X-譯碼器140以及電平移動(dòng)器160用約17V的高電平驅(qū)動(dòng)字線WL以及控制線CL。位線電平移動(dòng)器180將位線BL0～BL3設(shè)置成地電壓GND?？刂齐娐?70斷開晶體管130以提供浮動(dòng)電源線SL。因此，同時(shí)刪除所有單元晶體管C0～C3。
如上所述，在本發(fā)明的典型實(shí)施例中，檢測(cè)智能卡中的異常狀態(tài)或錯(cuò)誤(如未授權(quán)入侵以及關(guān)于頻率、溫度或電壓的不合常規(guī)的環(huán)境，其可能導(dǎo)致智能卡的內(nèi)部電路損壞)，并且將關(guān)于這些差錯(cuò)的信息存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)單元中。由于將有關(guān)異常狀態(tài)的這些信息存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)單元中后復(fù)位CPU，因此用戶可確認(rèn)狀態(tài)以及采取適當(dāng)?shù)男袆?dòng)。
盡管在此已經(jīng)參考附圖描述過(guò)示例性的實(shí)施例，應(yīng)當(dāng)理解本發(fā)明不限于那些具體的實(shí)施例，以及其中可由本領(lǐng)域的技術(shù)人員做出各種其他的改變以及修改而不脫離本發(fā)明的范圍和精神。將所有這些改變和修改確定為由附加權(quán)利要求定義的本發(fā)明的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種具有中央處理單元的半導(dǎo)體集成電路，包括多個(gè)檢測(cè)器，其中每個(gè)檢測(cè)器檢測(cè)集成電路的對(duì)應(yīng)的操作狀態(tài)并產(chǎn)生表示異常狀態(tài)的檢測(cè)信號(hào)；復(fù)位信號(hào)生成器，用于響應(yīng)于從檢測(cè)器之一輸出的檢測(cè)信號(hào)生成復(fù)位信號(hào)；以及非易失性存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)從檢測(cè)器輸出的檢測(cè)信號(hào)；其中在將檢測(cè)信號(hào)存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器中后，響應(yīng)于復(fù)位信號(hào)而復(fù)位中央處理單元。
2.如權(quán)利要求1所述的集成電路，進(jìn)一步包括用于存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)的多個(gè)鎖存器。
3.如權(quán)利要求1所述的集成電路，進(jìn)一步包括當(dāng)至少一個(gè)檢測(cè)信號(hào)表示異常狀態(tài)時(shí)產(chǎn)生程序信號(hào)的邏輯電路。
4.如權(quán)利要求3所述的集成電路，其中響應(yīng)于程序信號(hào)，非易失性存儲(chǔ)器存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)。
5.如權(quán)利要求3所述的集成電路，進(jìn)一步包括當(dāng)在激活程序信號(hào)后預(yù)定時(shí)間過(guò)去時(shí)生成定時(shí)器控制信號(hào)的定時(shí)器。
6.如權(quán)利要求5所述的集成電路，其中響應(yīng)于定時(shí)器控制信號(hào)，復(fù)位信號(hào)生成器生成復(fù)位信號(hào)。
7.如權(quán)利要求5所述的集成電路，其中，預(yù)定時(shí)間基本上等于用于響應(yīng)于程序信號(hào)將檢測(cè)信號(hào)寫入非易失性存儲(chǔ)器所需的時(shí)間。
8.如權(quán)利要求1所述的集成電路，其中非易失性存儲(chǔ)器包括用于存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)的多個(gè)存儲(chǔ)單元。
9.如權(quán)利要求8所述的集成電路，其中存儲(chǔ)單元包括電可擦可編程只讀存儲(chǔ)單元。
10.如權(quán)利要求1所述的集成電路，其中檢測(cè)器包括用于檢測(cè)系統(tǒng)時(shí)鐘頻率的頻率檢測(cè)器，用于檢測(cè)電源電壓的電壓檢測(cè)器，用于檢測(cè)溫度的溫度檢測(cè)器，或用于檢測(cè)曝光的光檢測(cè)器，或它們的任何組合。
11.一種IC(集成電路)卡，包括嵌入式CPU(中央處理單元)；多個(gè)檢測(cè)器，每個(gè)檢測(cè)器檢測(cè)IC卡的對(duì)應(yīng)的操作狀態(tài)并產(chǎn)生表示異常狀態(tài)的檢測(cè)信號(hào)；復(fù)位信號(hào)生成器，響應(yīng)于從檢測(cè)器之一輸出的檢測(cè)信號(hào)，生成復(fù)位信號(hào)；以及非易失性存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)從檢測(cè)器輸出的檢測(cè)信號(hào)；其中在將檢測(cè)信號(hào)存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器中后，響應(yīng)于復(fù)位信號(hào)復(fù)位CPU。
12.如權(quán)利要求11所述的IC卡，進(jìn)一步包括用于存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)的多個(gè)鎖存器。
13.如權(quán)利要求11所述的IC卡，進(jìn)一步包括當(dāng)至少一個(gè)檢測(cè)信號(hào)表示異常狀態(tài)時(shí)用于產(chǎn)生程序信號(hào)的邏輯電路。
14.如權(quán)利要求13所述的IC卡，其中響應(yīng)于程序信號(hào)，非易失性存儲(chǔ)器存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)。
15.如權(quán)利要求13所述的IC卡，進(jìn)一步包括當(dāng)激活程序信號(hào)后當(dāng)預(yù)定時(shí)間過(guò)去后生成定時(shí)器控制信號(hào)的定時(shí)器。
16.如權(quán)利要求15所述的IC卡，其中響應(yīng)于定時(shí)器控制信號(hào)，復(fù)位信號(hào)生成器生成復(fù)位信號(hào)。
17.如權(quán)利要求15所述的IC卡，其中預(yù)定時(shí)間基本上等于用于響應(yīng)于程序信號(hào)將檢測(cè)信號(hào)寫入非易失性存儲(chǔ)器所需的時(shí)間。
18.如權(quán)利要求11所述的IC卡，其中非易失性存儲(chǔ)器包括用于存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)的多個(gè)存儲(chǔ)單元。
19.如權(quán)利要求18所述的IC卡，其中存儲(chǔ)單元包括電可擦可編程只讀存儲(chǔ)單元。
20.如權(quán)利要求11所述的IC卡，其中檢測(cè)器包括用于檢測(cè)系統(tǒng)時(shí)鐘頻率的頻率檢測(cè)器，用于檢測(cè)電源電壓的電壓檢測(cè)器，用于檢測(cè)溫度的溫度檢測(cè)器，或用于檢測(cè)曝光的光檢測(cè)器，或它們的任何組合。
21.一種用于監(jiān)視集成電路的操作的方法，包括步驟檢測(cè)集成電路的多個(gè)操作狀態(tài)；如果檢測(cè)到異常操作狀態(tài)，產(chǎn)生和存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)；響應(yīng)于檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生復(fù)位信號(hào)；在存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)后，響應(yīng)于復(fù)位信號(hào)復(fù)位CPU(中央處理單元)；以及在復(fù)位CPU后，輸出存儲(chǔ)的檢測(cè)信號(hào)。
22.如權(quán)利要求21所述的方法，進(jìn)一步包括步驟響應(yīng)于檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生程序信號(hào)，其中響應(yīng)于程序信號(hào)存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)。
23.如權(quán)利要求22所述的方法，進(jìn)一步包括步驟在產(chǎn)生程序信號(hào)后當(dāng)預(yù)定時(shí)間過(guò)去后產(chǎn)生定時(shí)器控制信號(hào)，其中響應(yīng)于定時(shí)器控制信號(hào)產(chǎn)生復(fù)位信號(hào)。
24.如權(quán)利要求23所述的方法，其中，預(yù)定時(shí)間基本上等于響應(yīng)于程序信號(hào)存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)所需的時(shí)間。
25.如權(quán)利要求21所述的方法，其中檢測(cè)步驟包括檢測(cè)系統(tǒng)時(shí)鐘頻率、檢測(cè)電源電壓、檢測(cè)溫度或檢測(cè)曝光，或它們的任何組合。
全文摘要
IC(集成電路)卡(或智能卡)包括多個(gè)檢測(cè)器，用于檢測(cè)IC卡的異常操作狀態(tài)。如果通過(guò)一個(gè)檢測(cè)器檢測(cè)到異常狀態(tài)，檢測(cè)器將產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)，然后將檢測(cè)信號(hào)存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器中。然后響應(yīng)于檢測(cè)信號(hào)生成復(fù)位信號(hào)以便復(fù)位中央處理單元。中央處理單元通知用戶復(fù)位狀態(tài)及其原因。
文檔編號(hào)G06F21/00GK1448844SQ0312852
公開日2003年10月15日 申請(qǐng)日期2003年2月5日 優(yōu)先權(quán)日2002年2月5日
發(fā)明者金鐘哲 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社