本項(xiàng)發(fā)明涉及集成電路設(shè)計(jì)，涉及一種集成電路設(shè)計(jì)流程中關(guān)鍵數(shù)據(jù)的提取與展示的方法。

背景技術(shù)：

1、在集成電路的設(shè)計(jì)流程中，因?yàn)殡娐芬?guī)模非常龐大，設(shè)計(jì)工程師通常需要將一個(gè)完成的流程拆分成多個(gè)相對(duì)獨(dú)立的模塊，且每個(gè)模塊都具有前后依賴關(guān)系。整個(gè)流程如同一張巨大的有向無(wú)環(huán)圖，為確保整張圖的流程能完整且正確的運(yùn)行，就需要先保證圖中每個(gè)節(jié)點(diǎn)模塊能正確運(yùn)行。若一個(gè)節(jié)點(diǎn)運(yùn)行錯(cuò)誤，其后所依賴的節(jié)點(diǎn)都不可運(yùn)行。

2、在這樣的環(huán)境下，監(jiān)控節(jié)點(diǎn)模塊的運(yùn)行，判斷其運(yùn)行狀態(tài)，及時(shí)發(fā)現(xiàn)并定位錯(cuò)誤就顯得尤為重要。判斷每個(gè)節(jié)點(diǎn)模塊正確性至少要保證兩點(diǎn)：

3、1.?模塊運(yùn)行完成；

4、2.?模塊運(yùn)行過(guò)程中產(chǎn)生的關(guān)鍵數(shù)據(jù)在正常范圍內(nèi)。

5、這兩點(diǎn)都比較好理解，監(jiān)控模塊運(yùn)行完成很容易，但提取模塊運(yùn)行過(guò)程中的關(guān)鍵數(shù)據(jù)就比較復(fù)雜，因?yàn)槊總€(gè)模塊的關(guān)鍵數(shù)據(jù)都可能不一樣，位于不同的文件中，且文件格式也可能不相同。例如有的可能是文本文件，有的可能是壓縮文件，或者有些數(shù)據(jù)可能需要在出現(xiàn)某個(gè)關(guān)鍵信息后才能開始提取。因此，在集成電路的設(shè)計(jì)流程中，為確保整個(gè)流程的完整性和正確性，很有必要設(shè)計(jì)一種通用且靈活的關(guān)鍵數(shù)據(jù)提取方案。

6、集成電路的設(shè)計(jì)流程是一個(gè)非常復(fù)雜，非常耗時(shí)的流程，且流程中的每個(gè)節(jié)點(diǎn)可能是串行的，也可能是并行的，一旦發(fā)生錯(cuò)誤，單靠人工排查是非常不方便的。對(duì)運(yùn)行出錯(cuò)的節(jié)點(diǎn)還好說(shuō)，若節(jié)點(diǎn)能正常運(yùn)行，但數(shù)據(jù)不在正常范圍內(nèi)，人工排查起來(lái)更麻煩。

7、在驗(yàn)證集成電路的設(shè)計(jì)流程是否正確的過(guò)程中，工程師通常需要根據(jù)不同的輸入數(shù)據(jù)，比較不同的輸出結(jié)果，找出潛在隱藏的問(wèn)題。對(duì)于?gpu/cpu/5g?等超大規(guī)模數(shù)字芯片，流程驗(yàn)證的時(shí)間可能需要數(shù)天，在數(shù)十次迭代的情況下，對(duì)關(guān)鍵數(shù)據(jù)的提取和驗(yàn)證在排查錯(cuò)誤的過(guò)程中就顯得尤為重要。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本項(xiàng)發(fā)明主要用于驗(yàn)證集成電路的設(shè)計(jì)流程是否正確，為異常的輸出提供排查方向。本發(fā)明在集成電路設(shè)計(jì)流程中，提供一種通用的配置方法提取并展示集成電路設(shè)計(jì)流程中每個(gè)節(jié)點(diǎn)模塊的關(guān)鍵數(shù)據(jù)信息，并通過(guò)表格、圖表或圖片形式顯示，方便用戶查看和分析數(shù)據(jù)。本發(fā)明是通過(guò)如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的：使用標(biāo)準(zhǔn)通用的json數(shù)據(jù)定義關(guān)鍵數(shù)據(jù)的提取格式和顯示模板；使用字符串匹配算法，根據(jù)用戶定義的格式從日志文件中提取數(shù)據(jù)，支持通配符和忽略符；最后根據(jù)定義的模板，采用繪圖算法，以表格、折線圖或柱狀圖的方式展示芯片設(shè)計(jì)流程中各節(jié)點(diǎn)模塊的關(guān)鍵信息；

2、針對(duì)芯片設(shè)計(jì)流程中不同節(jié)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)內(nèi)容并不相同，使不同節(jié)點(diǎn)可配置不同的數(shù)據(jù)提取格式，且同時(shí)支持文本和壓縮格式的日志文件；若用戶想忽略該節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)，則不用配置任何提取信息，系統(tǒng)會(huì)認(rèn)為該節(jié)點(diǎn)不需要提取數(shù)據(jù)，在數(shù)據(jù)提取過(guò)程中直接跳過(guò)該節(jié)點(diǎn)；

3、對(duì)關(guān)鍵數(shù)據(jù)的展示同樣也是使用json數(shù)據(jù)格式進(jìn)行設(shè)置，按照用戶定義的順序進(jìn)行結(jié)果展示；每種數(shù)據(jù)中都包含類型和名稱兩個(gè)固定屬性，類型包括圖片、表格、折線圖和柱狀圖，名稱由用戶自定義；包括：

4、（1）圖片類型需要設(shè)置圖片名稱和圖片路徑；

5、（2）表格類型需要設(shè)置行列名稱和數(shù)據(jù)的計(jì)算函數(shù)和計(jì)算參數(shù)；

6、（3）圖表設(shè)置數(shù)據(jù)源和數(shù)據(jù)范圍，包含起始和終止的行列號(hào)，還需要設(shè)置顯示的坐標(biāo)軸。

7、本發(fā)明的有益效果是：

8、本發(fā)明方案用于在集成電路設(shè)計(jì)流程中，提取每個(gè)節(jié)點(diǎn)的關(guān)鍵數(shù)據(jù)，并用于展示和分析。它具有以下幾個(gè)優(yōu)勢(shì)：

9、（1）通用性：本發(fā)明中采用字符串匹配算法，用戶可以根據(jù)自身的數(shù)據(jù)樣式來(lái)設(shè)置數(shù)據(jù)提取的格式，并且通過(guò)處理特殊字符來(lái)實(shí)現(xiàn)模糊匹配和忽略跳過(guò)的功能。另外，匹配后的鍵值可由用戶自定義，用戶可以根據(jù)實(shí)際情況來(lái)定義有意義的鍵值，使之與提取的關(guān)鍵數(shù)據(jù)一一對(duì)應(yīng)，方便后期做數(shù)據(jù)展示和數(shù)據(jù)分析。

10、（2）提供可視化結(jié)果：對(duì)于提取的關(guān)鍵數(shù)據(jù)，除了以表格形式展示外，還提供了統(tǒng)計(jì)圖的展示，比如折線圖和柱狀圖等?？梢苑奖阌脩暨M(jìn)行直觀的比較。

11、（3）快速精確的定位：對(duì)于異常數(shù)據(jù)，即小于0或者數(shù)量級(jí)特別大的數(shù)據(jù)，用戶可以快速而精確的定位到數(shù)據(jù)所在的日志中，比如對(duì)異常數(shù)據(jù)進(jìn)行雙擊操作，十分方便用戶排查日志，定位問(wèn)題。

12、綜上所述，基于本方案對(duì)集成電路設(shè)計(jì)流程中的關(guān)鍵數(shù)據(jù)進(jìn)行提取、展示和分析，可以有效的幫助設(shè)計(jì)人員定位問(wèn)題，提高效率，能很大程度的降低在芯片開發(fā)過(guò)程中的設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)，節(jié)約用戶的成本和時(shí)間。

13、本發(fā)明提取關(guān)鍵數(shù)據(jù)的目標(biāo)是確保電路設(shè)計(jì)流程中的每個(gè)步驟都能滿足預(yù)定要求，提高電路設(shè)計(jì)的正確性和可靠性。對(duì)數(shù)據(jù)的展示也能直觀顯示設(shè)計(jì)流程中每一步的狀態(tài)信息、敏感數(shù)據(jù)和錯(cuò)誤數(shù)據(jù)，并生成統(tǒng)計(jì)圖用于參考分析，方便設(shè)計(jì)工程師排查電路設(shè)計(jì)中的錯(cuò)誤，降低設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)，提供優(yōu)化方向。

技術(shù)特征：

1.一種集成電路設(shè)計(jì)流程中關(guān)鍵數(shù)據(jù)的提取與展示的方法，其特征在于，包括使用標(biāo)準(zhǔn)通用的json數(shù)據(jù)定義關(guān)鍵數(shù)據(jù)的提取格式和顯示模板；使用字符串匹配算法，根據(jù)用戶定義的格式從日志文件中提取數(shù)據(jù)，支持通配符和忽略符；最后根據(jù)定義的模板，采用繪圖算法，以表格、折線圖或柱狀圖的方式展示芯片設(shè)計(jì)流程中各節(jié)點(diǎn)模塊的關(guān)鍵信息；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路設(shè)計(jì)流程中關(guān)鍵數(shù)據(jù)的提取與展示的方法，其特征在于，對(duì)不同類型的數(shù)據(jù)格式進(jìn)行具體設(shè)置，包括：

技術(shù)總結(jié)
本項(xiàng)發(fā)明公開了一種在集成電路設(shè)計(jì)流程中關(guān)鍵數(shù)據(jù)的提取與展示的方法，涉及集成電路設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域。在驗(yàn)證集成電路設(shè)計(jì)流程時(shí)采用本發(fā)明簡(jiǎn)單通用的數(shù)據(jù)定義格式，并基于此格式對(duì)集成電路設(shè)計(jì)流程中產(chǎn)生的關(guān)鍵數(shù)據(jù)進(jìn)行提取、展示和分析，并生成直觀的表格、圖表和圖片顯示給用戶。在驗(yàn)證集成電路設(shè)計(jì)流程時(shí)，因?yàn)殡娐芬?guī)模龐大，會(huì)導(dǎo)致整個(gè)驗(yàn)證過(guò)程非常漫長(zhǎng)，如何有效的發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤，定位錯(cuò)誤就顯得尤為重要。這其中通過(guò)對(duì)關(guān)鍵數(shù)據(jù)的提取和分析就能很好的方便用戶進(jìn)行排錯(cuò)和優(yōu)化，進(jìn)一步彌補(bǔ)了工程師的經(jīng)驗(yàn)不足，提升設(shè)計(jì)效率。本發(fā)明中的方法幫助用戶更好的發(fā)現(xiàn)和解決問(wèn)題，既提高電路設(shè)計(jì)的準(zhǔn)確性，也極大的節(jié)省了時(shí)間成本和人工成本。

技術(shù)研發(fā)人員：馬雅威,李慶昌
受保護(hù)的技術(shù)使用者：濟(jì)南日觀科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/9/29