本申請(qǐng)涉及缺陷檢測(cè)領(lǐng)域,特別是涉及一種工件表面缺陷檢測(cè)模型獲取方法和系統(tǒng)。
背景技術(shù):
1、工件表面缺陷檢測(cè)是保證工件生產(chǎn)質(zhì)量的重要途徑。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)和3d相機(jī)的發(fā)展,現(xiàn)有技術(shù)形成了基于2d圖像的機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)方法和基于3d點(diǎn)云的表面缺陷檢測(cè)方法。
2、基于2d圖像的機(jī)器視覺(jué)表面缺陷檢測(cè)方法,通常采用傳統(tǒng)模板匹配或深度學(xué)習(xí)方法檢測(cè)缺陷,但是此方法受限于2d圖像本身的特性,只能檢測(cè)到平面成像上可見(jiàn)缺陷,對(duì)于立體缺陷檢測(cè)性能不佳?;?d點(diǎn)云的表面缺陷檢測(cè)方法,主要通過(guò)3d成像技術(shù)獲取產(chǎn)品的三維點(diǎn)云數(shù)據(jù),根據(jù)點(diǎn)云深度信息捕獲工件表面的幾何信息,實(shí)現(xiàn)對(duì)物體表面的缺陷檢測(cè)。由于3d缺陷視覺(jué)檢測(cè)對(duì)數(shù)據(jù)質(zhì)量要求較高,因此需要對(duì)獲取到的3d數(shù)據(jù)進(jìn)行復(fù)雜繁瑣的預(yù)處理。對(duì)于不同環(huán)境下獲取的點(diǎn)云預(yù)處理方式差異較大,且無(wú)法檢測(cè)表面無(wú)深度差異的缺陷,如臟污等。
3、現(xiàn)有的工件表面缺陷檢測(cè)方法存在漏檢問(wèn)題,缺陷檢測(cè)效果有待提升。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種工件表面缺陷檢測(cè)模型獲取方法和系統(tǒng),以至少解決相關(guān)技術(shù)中工件表面缺陷檢測(cè)方法存在漏檢的問(wèn)題。
2、第一方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種工件表面缺陷檢測(cè)模型獲取方法,包括:
3、獲取目標(biāo)工件的rgb圖像和點(diǎn)云圖像;
4、根據(jù)所述rgb圖像和點(diǎn)云圖像對(duì)缺陷檢測(cè)模型進(jìn)行訓(xùn)練,響應(yīng)于滿足預(yù)設(shè)迭代條件時(shí),停止迭代,得到缺陷檢測(cè)模型;
5、所述缺陷檢測(cè)模型包括rgb分支、點(diǎn)云分支、融合模塊和輸出模塊,
6、所述rgb分支用于通過(guò)多層網(wǎng)絡(luò)提取所述rgb圖像的rgb圖像特征,
7、所述點(diǎn)云分支用于通過(guò)多層網(wǎng)絡(luò)提取所述點(diǎn)云圖像的點(diǎn)云圖像特征,
8、所述融合模塊用于融合所述rgb圖像特征和點(diǎn)云圖像特征得到目標(biāo)圖像特征,且具體包括梯度注意力模塊,所述梯度注意力模塊用于交替接收所述rgb分支或所述點(diǎn)云分支發(fā)送的當(dāng)前層提取特征,對(duì)所述當(dāng)前層特征進(jìn)行處理得到梯度增強(qiáng)特征,并將所述梯度增強(qiáng)特征發(fā)送至另一分支進(jìn)行特征融合,以獲取所述目標(biāo)圖像特征,
9、所述輸出模塊用于根據(jù)所述目標(biāo)圖像特征檢測(cè)缺陷區(qū)域并輸出檢測(cè)結(jié)果。
10、在一實(shí)施例中,所述梯度注意力模塊包括通道注意力模塊和空間注意力模塊。
11、在一實(shí)施例中,所述缺陷檢測(cè)模型還包括拼接模塊,所述拼接模塊包括rgb拼接模塊和點(diǎn)云拼接模塊,
12、所述rgb拼接模塊與rgb分支中的每個(gè)中間層連接,用于獲取每個(gè)中間層的特征,對(duì)特征進(jìn)行拼接,并將拼接后的特征傳輸至rgb分支的cbr模塊;
13、所述點(diǎn)云拼接模塊與點(diǎn)云分支中的每個(gè)中間層連接,用于獲取每個(gè)中間層的特征,對(duì)特征進(jìn)行拼接,并將拼接后的特征傳輸至點(diǎn)云分支的cbr模塊。
14、在一實(shí)施例中,根據(jù)所述rgb圖像和點(diǎn)云圖像對(duì)缺陷檢測(cè)模型進(jìn)行訓(xùn)練,包括:
15、采用交叉熵?fù)p失對(duì)所述缺陷檢測(cè)模型進(jìn)行訓(xùn)練,訓(xùn)練時(shí)的損失包括rgb分支損失、點(diǎn)云分支損失以及rgb分支和點(diǎn)云分支的混合損失,所述缺陷檢測(cè)模型的整體損失表示為:
16、
17、其中,l為整體損失,l3d表示所述點(diǎn)云分支損失,l2d表示所述rgb分支損失,lmain表示所述混合損失,λ1和λ2為損失權(quán)重。
18、在一實(shí)施例中,所述獲取目標(biāo)工件的rgb圖像和點(diǎn)云圖像,包括:
19、獲取目標(biāo)工件的圖像,根據(jù)所述圖像中工件的位置對(duì)所述圖像進(jìn)行裁剪得到目標(biāo)圖像,所述目標(biāo)圖像包括rgb圖像和點(diǎn)云圖像;
20、對(duì)所述rgb圖像進(jìn)行翻轉(zhuǎn)、模糊、修改亮度和對(duì)比度處理;
21、對(duì)所述點(diǎn)云圖像進(jìn)行翻轉(zhuǎn)、模糊處理。
22、第二方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種工件表面缺陷檢測(cè)方法,包括:
23、獲取目標(biāo)工件圖像,所述目標(biāo)工件圖像包括rgb圖像和點(diǎn)云圖像,根據(jù)所述目標(biāo)工件圖像中工件的位置對(duì)所述目標(biāo)工件圖像進(jìn)行裁剪得到待檢測(cè)圖像;
24、通過(guò)第一方面所述的缺陷檢測(cè)模型對(duì)所述待檢測(cè)圖像進(jìn)行處理,得到缺陷區(qū)域。
25、在一實(shí)施例中,所述缺陷檢測(cè)模型在檢測(cè)時(shí),采用交叉熵?fù)p失對(duì)所述缺陷檢測(cè)模型進(jìn)行訓(xùn)練,檢測(cè)時(shí)的損失包括rgb分支和點(diǎn)云分支的混合損失。
26、第三方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種工件表面缺陷檢測(cè)模型獲取系統(tǒng),包括:
27、獲取模塊:用于獲取目標(biāo)工件的rgb圖像和點(diǎn)云圖像;
28、訓(xùn)練模塊:用于根據(jù)所述rgb圖像和點(diǎn)云圖像對(duì)缺陷檢測(cè)模型進(jìn)行訓(xùn)練,響應(yīng)于滿足預(yù)設(shè)迭代條件時(shí),停止迭代,得到缺陷檢測(cè)模型;
29、所述缺陷檢測(cè)模型包括rgb分支、點(diǎn)云分支、融合模塊和輸出模塊,
30、所述rgb分支用于通過(guò)多層網(wǎng)絡(luò)提取所述rgb圖像的rgb圖像特征,
31、所述點(diǎn)云分支用于通過(guò)多層網(wǎng)絡(luò)提取所述點(diǎn)云圖像的點(diǎn)云圖像特征,
32、所述融合模塊用于融合所述rgb圖像特征和點(diǎn)云圖像特征得到目標(biāo)圖像特征,且具體包括梯度注意力子模塊,所述梯度注意力子模塊用于交替接收所述rgb分支或所述點(diǎn)云分支發(fā)送的當(dāng)前層提取特征,對(duì)所述當(dāng)前層特征進(jìn)行處理得到梯度增強(qiáng)特征,并將所述梯度增強(qiáng)特征發(fā)送至另一分支進(jìn)行特征融合,以獲取所述目標(biāo)圖像特征,
33、所述輸出模塊用于根據(jù)所述目標(biāo)圖像特征檢測(cè)缺陷區(qū)域并輸出檢測(cè)結(jié)果。
34、第四方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備,包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述第一方面所述的工件表面缺陷檢測(cè)模型獲取方法以及第二方面所述的工件表面缺陷檢測(cè)方法。
35、第五方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述第一方面所述的工件表面缺陷檢測(cè)模型獲取方法以及第二方面所述的工件表面缺陷檢測(cè)方法。
36、本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種工件表面缺陷檢測(cè)模型獲取方法和系統(tǒng),至少具有以下技術(shù)效果。
37、本申請(qǐng)采用3d點(diǎn)云和2d-rgb圖像檢測(cè)相結(jié)合的方式,有效的擴(kuò)展了缺陷檢測(cè)類型?;?d點(diǎn)云和rgb圖像、梯度注意力模塊以及雙分支交互的融合模塊,充分結(jié)合多模態(tài)數(shù)據(jù)的特征,形成多模態(tài)信息相互促進(jìn)的學(xué)習(xí)模式,實(shí)現(xiàn)信息利用最大化,以避免缺陷檢測(cè)時(shí)的漏檢問(wèn)題,提高缺陷檢測(cè)模型的準(zhǔn)確率。
38、本申請(qǐng)的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例的細(xì)節(jié)在以下附圖和描述中提出,以使本申請(qǐng)的其他特征、目的和優(yōu)點(diǎn)更加簡(jiǎn)明易懂。
1.一種工件表面缺陷檢測(cè)模型獲取方法,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種工件表面缺陷檢測(cè)模型獲取方法,其特征在于,所述梯度注意力模塊包括通道注意力模塊和空間注意力模塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種工件表面缺陷檢測(cè)模型獲取方法,其特征在于,所述缺陷檢測(cè)模型還包括拼接模塊,所述拼接模塊包括rgb拼接模塊和點(diǎn)云拼接模塊,
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種工件表面缺陷檢測(cè)模型獲取方法,其特征在于,根據(jù)所述rgb圖像和點(diǎn)云圖像對(duì)缺陷檢測(cè)模型進(jìn)行訓(xùn)練,包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種工件表面缺陷檢測(cè)模型獲取方法,其特征在于,所述獲取目標(biāo)工件的rgb圖像和點(diǎn)云圖像,包括:
6.一種工件表面缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,包括:
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種工件表面缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述缺陷檢測(cè)模型在檢測(cè)時(shí),采用交叉熵?fù)p失對(duì)所述缺陷檢測(cè)模型進(jìn)行訓(xùn)練,檢測(cè)時(shí)的損失包括rgb分支和點(diǎn)云分支的混合損失。
8.一種工件表面缺陷檢測(cè)模型獲取系統(tǒng),其特征在于,包括:
9.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的工件表面缺陷檢測(cè)模型獲取方法以及權(quán)利要求6至7中任一項(xiàng)所述的工件表面缺陷檢測(cè)方法。