筆記本電腦的測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種筆記本的測試方法，尤其涉及一種使用測試卡對筆記本電腦的電路板進行測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]電腦的電路板(主機板)設(shè)計之后，需要對其性能進行測試，測試通過之后才進行批量生產(chǎn)。DEBUG卡是一種可檢測電腦故障的測試卡，早期有PCI和ISA接口兩種，以方便在不同型號的主板上使用。當DEBUG卡插入PCI或ISA插槽后，啟動電腦時卡上自帶的顯示屏就會根據(jù)啟動的進度顯示出各種代碼。主板加電后，首先要對CPU進行檢測，測試它各個內(nèi)部寄存器是否正常；接著B1S將對CPU中其他所有的寄存器進行檢測，并判斷是否正確；然后是檢測和初始化主板的芯片組；接下來檢測動態(tài)內(nèi)存的刷新是否正常；然后將屏幕清成黑屏，初始化鍵盤；接下來檢測CMOS接口及電池狀況。如果某個設(shè)備沒有通過測試，系統(tǒng)就會停下來不再繼續(xù)啟動，而這時，DEBUG卡上所顯示的代碼也就不再變化了。這樣，我們通過對照說明書查詢代碼所對應(yīng)的硬件，就可較容易地判斷出故障大概是出現(xiàn)在哪個部件上。
[0003]新的英特爾筆記本芯片組不再提供MINI PCI接口，取而代之是MINIPC1-E卡槽，且在電路板上提供測試觸點，現(xiàn)有的MINI PC1-E測試卡(MINIPC1-E DEBUG卡)在插入MINIPC1-E卡槽后，還要通過其上另外設(shè)置的測試端子與電路板上的測試觸點相連接。這樣測試的連接非常不方便，且接觸效果不好，不利于電路板的測試操作。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于，提供一種筆記本電腦的測試方法，其通過將數(shù)個測試接點與MINI PC1-E卡槽內(nèi)的預(yù)留接腳相連，將測試卡插入MINI PC1-E卡槽內(nèi)，通過測試端子與測試接點電性連接，該種連接方式簡單快捷，信號接觸穩(wěn)定可靠。
[0005]為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的筆記本電腦的測試方法包括:
[0006]步騾I，提供待測試筆記本電腦的電路板，該電路板上設(shè)有MINI PC1-E卡槽與數(shù)個測試接點；
[0007]步驟2，將數(shù)個測試接點分別電性連接到MINI PC1-E卡槽內(nèi)預(yù)留接腳上；
[0008]步驟3，提供測試卡，該測試卡與MINI PC1-E卡槽插接，其上設(shè)有對應(yīng)該分別與測試接點連接的預(yù)留接腳的測試端子；
[0009]步驟4，將測試卡插入MINI PC1-E卡槽內(nèi)，實現(xiàn)測試接點與測試端子的電性連接。
[0010]所述MINI PC1-E卡槽的預(yù)留接腳與測試接點分別通過O歐姆電阻進行連接。
[0011]本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明筆記本電腦的測試方法，其通過合理利用MINI PC1-E卡槽內(nèi)的預(yù)留管腳，將數(shù)個測試接點與MINI PC1-E卡槽內(nèi)的預(yù)留接腳相連，將測試卡插入MINI PC1-E卡槽內(nèi)，通過測試端子與測試接點電性連接，進而通過該測試端子對電腦進行測試，簡單快捷，且信號接觸性好。
[0012]為了能更進一步了解本發(fā)明的特征以及技術(shù)內(nèi)容，請參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細說明與附圖，然而附圖僅提供參考與說明用，并非用來對本發(fā)明加以限制。
【附圖說明】
[0013]下面結(jié)合附圖，通過對本發(fā)明的【具體實施方式】詳細描述，將使本發(fā)明的技術(shù)方案及其它有益效果顯而易見。
[0014]附圖中，
[0015]圖1為本發(fā)明筆記本電腦的測試方法的流程示意圖。
【具體實施方式】
[0016]為更進一步闡述本發(fā)明所采取的技術(shù)手段及其效果，以下結(jié)合本發(fā)明的優(yōu)選實施例及其附圖進行詳細描述。
[0017]如圖1所示，本發(fā)明筆記本電腦的測試方法包括如下步驟:
[0018]步驟1，提供待測試筆記本電腦的電路板，該電路板上設(shè)有MINI PC1-E卡槽與數(shù)個測試接點。
[0019]步驟2，將數(shù)個測試接點分別電性連接到MINI PC1-E卡槽內(nèi)預(yù)留接腳上。
[0020]步驟3，提供測試卡(DEBUG卡)，該測試卡與MINI PC1-E卡槽插接，其上設(shè)有對應(yīng)該分別與測試接點連接的預(yù)留接腳的測試端子。
[0021]步驟4，將測試卡插入MINI PC1-E卡槽內(nèi)，實現(xiàn)測試接點與測試端子的電性連接。測試卡通過該測試端子對電腦進行測試。MINI PC1-E卡槽的預(yù)留接腳與測試接點分別通過O歐姆電阻進行電性連接。在量產(chǎn)的時候，這些具有測試屬性的電阻元器件都可以刪掉。
[0022]綜上所述，本發(fā)明筆記本電腦的測試方法，其通過合理利用MINI PC1-E卡槽內(nèi)的預(yù)留管腳，將數(shù)個測試接點與MINI PC1-E卡槽內(nèi)的預(yù)留接腳相連，將測試卡插入MINIPC1-E卡槽內(nèi)，通過測試端子與測試接點電性連接，進而通過該測試端子對電腦的進行測試，簡單快捷，且信號接觸性好。
[0023]以上所述，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案和技術(shù)構(gòu)思作出其他各種相應(yīng)的改變和變形，而所有這些改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護范圍。
【主權(quán)項】
1.一種筆記本電腦的測試方法，其特征在于，包括如下步驟: 步驟1，提供待測試筆記本電腦的電路板，該電路板上設(shè)有MINI PC1-E卡槽與數(shù)個測試接點； 步驟2，將數(shù)個測試接點分別電性連接到MINI PC1-E卡槽內(nèi)預(yù)留接腳上； 步驟3，提供測試卡，該測試卡與MINI PC1-E卡槽插接，其上設(shè)有對應(yīng)該分別與測試接點連接的預(yù)留接腳的測試端子； 步驟4，將測試卡插入MINI PC1-E卡槽內(nèi)，實現(xiàn)測試接點與測試端子的電性連接。
2.如權(quán)利要求1所述的筆記本電腦的測試方法，其特征在于，所述MINIPC1-E卡槽的預(yù)留接腳與測試接點分別通過O歐姆電阻進行連接。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種筆記本電腦的測試方法，該方法包括：步驟1，提供待測試筆記本電腦的電路板，該電路板上設(shè)有MINI？PCI？E卡槽與數(shù)個測試接點；步驟2，將數(shù)個測試接點分別電性連接到MINI？PCI？E卡槽內(nèi)預(yù)留接腳上；步驟3，提供測試卡，該測試卡與MINI？PCI？E卡槽插接，其上設(shè)有對應(yīng)該分別與測試接點連接的預(yù)留接腳的測試端子；步驟4，將測試卡插入MINIPCI？E卡槽內(nèi)，實現(xiàn)測試接點與測試端子的電性連接。
【IPC分類】G06F11-22
【公開號】CN104572367
【申請?zhí)枴緾N201310517049
【發(fā)明人】不公告發(fā)明人
【申請人】西安群豐電子信息科技有限公司
【公開日】2015年4月29日
【申請日】2013年10月27日