專利名稱：四倍數(shù)據(jù)速率qdr控制器及其實(shí)現(xiàn)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)傳輸技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及網(wǎng)絡(luò)交換設(shè)備中的一種四倍數(shù)據(jù)速率 QDR控制器及其實(shí)現(xiàn)方法。
背景技術(shù)：
QDRII SRAM (Quad-Data Rate Static Random Access Memory,四倍數(shù)據(jù)速率的靜態(tài)隨機(jī)接入存儲(chǔ)器)器件是為滿足更高的帶寬存儲(chǔ)要求而開發(fā)，以網(wǎng)絡(luò)和電信應(yīng)用為目標(biāo)?；镜腝DR架構(gòu)具有獨(dú)立的讀、寫數(shù)據(jù)通路，便于同時(shí)操作。每個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)，兩個(gè)通路均使用雙倍數(shù)據(jù)速率(DDR)傳輸發(fā)送兩個(gè)字，一個(gè)在時(shí)鐘上升沿發(fā)送，一個(gè)在時(shí)鐘下降沿發(fā)送。在每個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)會(huì)傳輸四個(gè)總線寬度的數(shù)據(jù)(兩個(gè)讀和兩個(gè)寫)，這就是四倍數(shù)據(jù)速率的由來(lái)。QDR控制器設(shè)計(jì)有如下兩種常見的方法(1)用異步FIF0(First In First Out，先入先出)將QDRII SRAM的讀數(shù)據(jù)同步到系統(tǒng)時(shí)鐘域，其優(yōu)點(diǎn)是簡(jiǎn)單易行、可靠性好，缺點(diǎn)是讀延時(shí)較長(zhǎng)，一般在8個(gè)時(shí)鐘周期以上；(2)用可編程延遲器件延遲QDRII SRAM的讀數(shù)據(jù)，同步到系統(tǒng)時(shí)鐘域，優(yōu)點(diǎn)是讀延時(shí)較短，一般為6-8個(gè)時(shí)鐘周期，缺點(diǎn)是有些ASIC廠家沒有配置可編程延遲器件，在此情況下則不能實(shí)現(xiàn)QDR控制器。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于，提出了一種四倍數(shù)據(jù)速率QDR控制器及其實(shí)現(xiàn)方法，用以克服現(xiàn)有QDR控制器讀延時(shí)大或依賴于可編程延遲器件的缺點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)讀延時(shí)小且不需要可編程延遲器件的四倍數(shù)據(jù)速率QDR數(shù)據(jù)讀寫。本發(fā)明提供一種四倍數(shù)據(jù)速率QDR的控制器，包括仲裁器(101)，控制狀態(tài)機(jī)(102)，讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘生成模塊(103)，讀數(shù)據(jù)通路模塊(104)，讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊 (105)，其中仲裁器，用于根據(jù)控制狀態(tài)機(jī)的狀態(tài)對(duì)命令和數(shù)據(jù)進(jìn)行仲裁；控制狀態(tài)機(jī)，用于管理四倍數(shù)據(jù)速率QDR控制器的狀態(tài)，為仲裁器仲裁命令和數(shù)據(jù)提供狀態(tài)依據(jù)；讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘生成模塊，用于生成同源同頻異相的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘；讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊，用于在控制狀態(tài)機(jī)為“讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)狀態(tài)”時(shí)，通過(guò)讀訓(xùn)練字從所生成的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘中，分別確定讀數(shù)據(jù)通路模塊進(jìn)行讀數(shù)據(jù)時(shí)的正沿?cái)?shù)據(jù)和負(fù)沿?cái)?shù)據(jù)的采樣時(shí)鐘；讀數(shù)據(jù)通路模塊，用于根據(jù)讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊確定的采樣時(shí)鐘，將非系統(tǒng)時(shí)鐘域的正沿讀數(shù)據(jù)和負(fù)沿讀數(shù)據(jù)同步到系統(tǒng)時(shí)鐘域。所述四倍數(shù)據(jù)速率QDR的控制器還包括物理層模塊(105)，用于完成仲裁器的具體命令的執(zhí)行和讀數(shù)據(jù)通路模塊對(duì)數(shù)據(jù)
5的訪問(wèn)操作；寄存器管理模塊(106)，用于處理來(lái)自CPU的對(duì)控制狀態(tài)機(jī)和物理層的配置信息。所述讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊，包括校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)(1051)，校準(zhǔn)寫命令發(fā)生器 (1052)，校準(zhǔn)讀命令發(fā)生器(1053)，校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)(1054)，讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成器 (1055)；其中控制狀態(tài)機(jī)的狀態(tài)指示為“讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)狀態(tài)”時(shí)，校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)跳轉(zhuǎn)到寫訓(xùn)練字狀態(tài)，使能校準(zhǔn)寫命令發(fā)生器生成校準(zhǔn)寫命令和寫訓(xùn)練字，經(jīng)仲裁器和物理層寫入 QDRII SRAM 器件；校準(zhǔn)寫命令完成后，校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)跳轉(zhuǎn)到讀訓(xùn)練字狀態(tài)，使能校準(zhǔn)讀命令發(fā)生器生成校準(zhǔn)讀命令，經(jīng)仲裁器和物理層寫入QDRII SRAM器件；校準(zhǔn)讀命令完成后，校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)跳轉(zhuǎn)到讀訓(xùn)練字檢測(cè)狀態(tài)，使能讀數(shù)據(jù)檢測(cè)器分別檢測(cè)來(lái)自讀數(shù)據(jù)通路模塊的正沿讀數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字正沿?cái)?shù)據(jù)的一致性，檢測(cè)來(lái)自讀數(shù)據(jù)通路模塊的負(fù)沿讀數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字負(fù)沿?cái)?shù)據(jù)的一致性，記錄讀數(shù)據(jù)檢測(cè)結(jié)果；讀訓(xùn)練字檢測(cè)完成后，校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)跳轉(zhuǎn)到讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成狀態(tài)，使能讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成器根據(jù)讀數(shù)據(jù)檢測(cè)器記錄的讀數(shù)據(jù)檢測(cè)結(jié)果，生成讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)。所述讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘生成模塊生成的同源同頻異相的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘，包括4個(gè)讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘 sys_clk，sys_clk_90、sys_clk_180 和 sys_clk_270。所述讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成器根據(jù)讀數(shù)據(jù)檢測(cè)器記錄的讀數(shù)據(jù)檢測(cè)結(jié)果，生成讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)的選擇方式包括如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)均與訓(xùn)練字一致，根據(jù)在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致的時(shí)鐘個(gè)數(shù)以及下一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致的時(shí)鐘個(gè)數(shù)，選擇其中一個(gè)作為采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)中有且僅有3個(gè)與訓(xùn)練字一致，從一致的3個(gè)連續(xù)時(shí)鐘中選擇中間的采樣時(shí)鐘為采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)中僅有2個(gè)或少于2個(gè)與訓(xùn)練字一致，則報(bào)錯(cuò)。所述讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成器根據(jù)讀數(shù)據(jù)檢測(cè)器記錄的讀數(shù)據(jù)檢測(cè)結(jié)果，生成讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)，如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)均與訓(xùn)練字一致，則在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，4個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)均與訓(xùn)練字一致，選擇sys_Clk_180采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，3個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，1 個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，選擇sys_Clk_270采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，2個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，2 個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，選擇sys_clk采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，1個(gè)時(shí)鐘采樣到得數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，3個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，選擇sys_Clk_90采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路。本發(fā)明還提供一種四倍數(shù)據(jù)速率QDR的控制器的實(shí)現(xiàn)方法，包括采用同源同頻異相的4個(gè)時(shí)鐘采樣讀數(shù)據(jù)；根據(jù)各時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)的結(jié)果，確定讀數(shù)據(jù)的采樣時(shí)鐘；
按所確定的采樣時(shí)鐘將讀數(shù)據(jù)同步到系統(tǒng)時(shí)鐘域。其中，所述同源同頻異相的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘，包括4個(gè)讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘sys_Clk， sys_clk_90、sys_clk_180 禾口 sys_clk_270。所述根據(jù)各時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)的結(jié)果確定讀數(shù)據(jù)的采樣時(shí)鐘的步驟，是由讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊在QDR控制器的控制狀態(tài)機(jī)為“讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)狀態(tài)”時(shí)，通過(guò)讀訓(xùn)練字從所生成的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘中，分別確定讀數(shù)據(jù)通路模塊進(jìn)行讀數(shù)據(jù)時(shí)的正沿?cái)?shù)據(jù)和負(fù)沿?cái)?shù)據(jù)的采樣時(shí)鐘。所述同源同頻異相的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘包括4個(gè)sys_Clk，sys_clk_90, sys_ clk_180和sys_Clk_270 ；所述根據(jù)各時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)的結(jié)果確定讀數(shù)據(jù)的采樣時(shí)鐘的步驟， 具體分為如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)均與訓(xùn)練字一致，根據(jù)在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致的時(shí)鐘個(gè)數(shù)以及下一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致的時(shí)鐘個(gè)數(shù)，從所述4個(gè)采樣時(shí)鐘中選擇其中一個(gè)為采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)中有且僅有3個(gè)與訓(xùn)練字一致，從一致的3個(gè)連續(xù)時(shí)鐘中選擇中間的采樣時(shí)鐘為采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)中僅有2個(gè)或少于2個(gè)與訓(xùn)練字一致，則報(bào)錯(cuò)。進(jìn)一步地，所述如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)均與訓(xùn)練字一致，根據(jù)在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致的時(shí)鐘個(gè)數(shù)以及下一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致的時(shí)鐘個(gè)數(shù)，選擇其中一個(gè)作為采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路，具體又分為在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，4個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)均與訓(xùn)練字一致，選擇sys_Clk_180采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，3個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，1 個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，選擇sys_Clk_270采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，2個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，2 個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，選擇sys_clk采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，1個(gè)時(shí)鐘采樣到得數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，3個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，選擇sys_Clk_90采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路。本發(fā)明的所述方法和裝置，與現(xiàn)有技術(shù)相比，減小了 QDR控制器的讀延時(shí)，避免了對(duì)可編程延遲器件的依賴，本發(fā)明讀延時(shí)小且不需要可編程延遲器件、易于實(shí)現(xiàn)。


圖1是本發(fā)明QDR控制器的實(shí)現(xiàn)裝置示意圖；圖2是本發(fā)明控制狀態(tài)機(jī)示意圖；圖3是本發(fā)明讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘生成模塊實(shí)現(xiàn)示意圖；圖4是本發(fā)明讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘生成示意圖；
圖5是讀數(shù)據(jù)通路模塊實(shí)現(xiàn)示意圖；圖6是本發(fā)明讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊實(shí)現(xiàn)示意圖；圖7是本發(fā)明讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)狀態(tài)機(jī)示意圖；圖8是本發(fā)明讀數(shù)據(jù)通路時(shí)鐘選擇情況1示意圖9是本發(fā)明讀數(shù)據(jù)通路時(shí)鐘選擇情況2示意圖。
具體實(shí)施例方式為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步地詳細(xì)說(shuō)明。如圖1所示，顯示了本發(fā)明的一種QDR控制器的實(shí)現(xiàn)模塊圖，該QDR控制器100包括仲裁器101，用于根據(jù)控制狀態(tài)機(jī)102的狀態(tài)指示仲裁命令和數(shù)據(jù)；控制狀態(tài)機(jī)102，如圖1和圖2所示，該控制狀態(tài)機(jī)102用于管理QDR控制器的各個(gè)狀態(tài)，為仲裁器101仲裁命令和數(shù)據(jù)提供依據(jù)。其中，控制狀態(tài)機(jī)102控制的狀態(tài)共4個(gè)， 即空閑狀態(tài)、物理層配置狀態(tài)、讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)狀態(tài)和正常工作狀態(tài)。讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘生成模塊103，用于生成同源同頻異相的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘sys_ clk_90、sys_clk_180 禾口 sys_clk_270 ；讀數(shù)據(jù)通路模塊104，如圖1和圖5所示，用于將非系統(tǒng)時(shí)鐘域的正沿讀數(shù)據(jù)和負(fù)沿讀數(shù)據(jù)同步到系統(tǒng)時(shí)鐘域；讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊105，如圖1、圖6和圖7所示，用于通過(guò)讀訓(xùn)練字分別確定正沿?cái)?shù)據(jù)和負(fù)沿?cái)?shù)據(jù)的采樣時(shí)鐘；寄存器管理模塊106，如圖1所示，用于處理來(lái)自CPU的配置信息；物理層107，如圖1所示，用于完成具體命令的執(zhí)行和數(shù)據(jù)的訪問(wèn)操作；此物理層部分不在本發(fā)明說(shuō)明范圍內(nèi)，但要依靠此完成工作。如圖2所示，顯示了控制狀態(tài)機(jī)102控制的空閑狀態(tài)、物理層配置狀態(tài)、讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)狀態(tài)和正常工作狀態(tài)，以及各狀態(tài)變化過(guò)程系統(tǒng)復(fù)位時(shí)和系統(tǒng)復(fù)位撤銷時(shí)，控制狀態(tài)機(jī)102為空閑狀態(tài)；系統(tǒng)復(fù)位撤銷后，自動(dòng)跳轉(zhuǎn)到物理層配置狀態(tài)；在物理層配置狀態(tài)，需配置物理層相關(guān)參數(shù)，配置完成跳轉(zhuǎn)到讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)狀態(tài)；在讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)狀態(tài)，需根據(jù)校準(zhǔn)規(guī)則分別確定正沿讀數(shù)據(jù)和負(fù)沿讀數(shù)據(jù)的采樣時(shí)鐘，校準(zhǔn)完成跳轉(zhuǎn)到正常工作狀態(tài)；在正常工作狀態(tài)，用戶可以讀寫QDRII SRAM。所述仲裁器101對(duì)之進(jìn)行仲裁的命令和數(shù)據(jù)，包括用戶寫命令、用戶寫數(shù)據(jù)、用戶讀命令、校準(zhǔn)寫命令、校準(zhǔn)寫數(shù)據(jù)和校準(zhǔn)讀命令。上述仲裁過(guò)程是根據(jù)控制狀態(tài)機(jī)102的狀態(tài)進(jìn)行仲裁指示的，其中在空閑狀態(tài)和物理層配置狀態(tài)時(shí)，仲裁器101輸出的寫命令、寫數(shù)據(jù)、讀命令和用戶讀數(shù)據(jù)均無(wú)效；在讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)狀態(tài)時(shí)，仲裁器101分別選擇校準(zhǔn)寫命令、校準(zhǔn)寫數(shù)據(jù)和校準(zhǔn)讀命令作為寫命令、寫數(shù)據(jù)和讀命令輸出，而輸出的用戶讀數(shù)據(jù)無(wú)效；在正常工作狀態(tài)時(shí)，仲裁器101分別選擇用戶寫命令、用戶寫數(shù)據(jù)和用戶讀命令作為寫命令、寫數(shù)據(jù)和讀命令輸出，將來(lái)自讀數(shù)據(jù)通路模塊104的讀數(shù)據(jù)作為用戶讀數(shù)據(jù)輸出。
如圖1、圖3和圖4所示，所述讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘生成模塊103生成讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘 sys_clk_90、sys_clk_180 和 sys_clk_270 的具體方式如下sys_clk_90 由 clk_500m 的負(fù)沿采樣 sys_clk 得到；sys_clk_180 由 clk_500m 的正沿采樣 sys_clk_90 得到；sys_clk_270 由 clk_500m 的負(fù)沿采樣 sys_clk_180 得到；sys_clk 為 250MHz 時(shí)鐘，sys_clk 是由 clk_500m 二分頻得到；其中，clk_500m為 500MHz 時(shí)鐘，如圖1、圖6和圖7所示，讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊105通過(guò)讀訓(xùn)練字分別確定正沿?cái)?shù)據(jù)和負(fù)沿?cái)?shù)據(jù)的采樣時(shí)鐘，其具體又包括如下子模塊校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)1051，用于管理讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)的各個(gè)狀態(tài)；校準(zhǔn)寫命令發(fā)生器1052，用于生成校準(zhǔn)寫命令和寫訓(xùn)練字；校準(zhǔn)讀命令發(fā)生器1053，用于生成校準(zhǔn)讀命令；讀數(shù)據(jù)檢測(cè)器1054，用于檢測(cè)各讀數(shù)據(jù)通路模塊104輸出的讀數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字的一致性，并記錄檢測(cè)結(jié)果；讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成器1055，根據(jù)讀數(shù)據(jù)檢測(cè)器1054記錄的讀數(shù)據(jù)檢測(cè)結(jié)果，生成讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)?；趫D1所示的QDR控制器，本發(fā)明的QDR控制器的實(shí)現(xiàn)方法，如圖1、圖5、圖6、 圖7、圖8和圖9所示，該方法的核心思想為采用同源同頻異相的4個(gè)時(shí)鐘采樣讀數(shù)據(jù)，根據(jù)各時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)的結(jié)果，確定讀數(shù)據(jù)的采樣時(shí)鐘，將讀數(shù)據(jù)同步到系統(tǒng)時(shí)鐘域。下面結(jié)合圖1所示的QDR控制器具體說(shuō)明如何實(shí)現(xiàn)QDR控制器的具體過(guò)程。如圖7所示，并結(jié)合圖6 —起描述了讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊105進(jìn)行讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)的過(guò)程。讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊105中校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)1051的初始狀態(tài)為空閑狀態(tài)，當(dāng)QDR 控制器的控制狀態(tài)機(jī)102的狀態(tài)指示為“讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)狀態(tài)”時(shí)，校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)1051跳轉(zhuǎn)到寫訓(xùn)練字狀態(tài)；校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)1051的狀態(tài)為寫訓(xùn)練字狀態(tài)時(shí)，使能校準(zhǔn)寫命令發(fā)生器1052，校準(zhǔn)寫命令發(fā)生器1052生成校準(zhǔn)寫命令和寫訓(xùn)練字，經(jīng)仲裁器101和物理層107寫入QDRII SRAM器件，校準(zhǔn)寫命令完成后校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)1051跳轉(zhuǎn)到讀訓(xùn)練字狀態(tài)；校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)1051的狀態(tài)為讀訓(xùn)練字狀態(tài)時(shí)，使能校準(zhǔn)讀命令發(fā)生器1053，校準(zhǔn)讀命令發(fā)生器1053生成校準(zhǔn)讀命令，經(jīng)仲裁器101和物理層107寫入QDRII SRAM器件， 校準(zhǔn)讀命令完成后校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)1051跳轉(zhuǎn)到讀訓(xùn)練字檢測(cè)狀態(tài)；如圖1和圖5所示，QDRII SRAM器件收到讀訓(xùn)練字命令后，發(fā)出讀數(shù)據(jù)到物理層， 物理層采樣來(lái)自QDRII SRAM器件的讀數(shù)據(jù)，輸出正沿讀數(shù)據(jù)p0S_rd_data和負(fù)沿讀數(shù)據(jù) neg_rd_data,其中，pos_rd_data 禾口 neg_rd_data 均非系統(tǒng)時(shí)鐘域。如圖5所示，以正沿讀數(shù)據(jù)為例描述讀數(shù)據(jù)在讀數(shù)據(jù)通路模塊104中的處理過(guò)程sys_clk、sys_clk_90、sys_clk_180和sys_clk_270分別采樣來(lái)自物理層的正沿讀數(shù)據(jù) pos_rd_data，分別得到采樣數(shù)據(jù) pos_rd_data_0、pos_rd_data_90、pos_rd_data _80 和 pos_rd_data_270 ；接著，系統(tǒng)時(shí)鐘 sys_clk 采樣 pos_rd_data_0、pos_rd_data_90、pos_rd_data_180禾口 pos_rd_data_270，分另Ij 得至Ij 數(shù)據(jù) pos_rd_data_0_r> pos_rd_data_90_r> pos_rrd_ data_180_r 禾口 pos_rd_data_270_r ；負(fù)沿讀數(shù)據(jù)的處理方式與正沿讀數(shù)據(jù)一致，參見圖5。如圖1、圖6和圖7所示，校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)1051的狀態(tài)為讀訓(xùn)練字檢測(cè)狀態(tài)時(shí)，使能讀數(shù)據(jù)檢測(cè)器1054，讀數(shù)據(jù)檢測(cè)器1054分別檢測(cè)來(lái)自讀數(shù)據(jù)通路模塊104的正沿讀數(shù)據(jù) pos—rd—data—0—r、pos—rd—data—90—r、pos—rd—data—180—r 禾口 pos—rd—data—270—r 與訓(xùn)練字正沿?cái)?shù)據(jù)的一致性，檢測(cè)來(lái)自讀數(shù)據(jù)通路模塊104的負(fù)沿讀數(shù)據(jù)neg_rd_data_0_r、neg_ rd_data_90_r、pos_rd_data_180_r 和 pos_rd_data_270_r 與訓(xùn)練字負(fù)沿?cái)?shù)據(jù)的一致性，記錄檢測(cè)結(jié)果。以圖9中正沿?cái)?shù)據(jù)為例，讀數(shù)據(jù)檢測(cè)器1054首先在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)檢測(cè)到 pos_rd_data_90_r>pos_rd_data_180_r 禾口 pos_rd_data_270_r 與訓(xùn)練、字正沿?cái)?shù)據(jù)一致,然后在下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)檢測(cè)到pOS_rd_data_0_r與訓(xùn)練字正沿?cái)?shù)據(jù)一致，記錄結(jié)果為4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)均與訓(xùn)練字正沿?cái)?shù)據(jù)一致，且一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi) 3個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字正沿?cái)?shù)據(jù)一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)1個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字正沿?cái)?shù)據(jù)一致。讀訓(xùn)練字檢測(cè)完成后，校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)1054跳轉(zhuǎn)到讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成狀態(tài)。如圖1、圖6和圖7所示，校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)1051的狀態(tài)為讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成狀態(tài)時(shí)，使能讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成器1055，讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成器1055根據(jù)讀數(shù)據(jù)檢測(cè)器1054記錄的讀數(shù)據(jù)檢測(cè)結(jié)果，生成讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)。生成讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)的方法如下如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)均與訓(xùn)練字一致，讀數(shù)據(jù)通路選擇分以下幾種情況1)在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，4個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)均與訓(xùn)練字一致，選擇sys_clk_180 采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路，見圖8中正沿?cái)?shù)據(jù)；2)在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，3個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，1個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，選擇sys_Clk_270采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路，見圖9中正沿?cái)?shù)據(jù)；3)在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，2個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，2個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，選擇sys_Clk采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路，見圖8中負(fù)沿?cái)?shù)據(jù)；4)在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，1個(gè)時(shí)鐘采樣到得數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，3個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，選擇sys_Clk_90采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路，見圖 9中負(fù)沿?cái)?shù)據(jù)。如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)中有且僅有3個(gè)與訓(xùn)練字一致，從3個(gè)連續(xù)時(shí)鐘中，選擇中間的采樣時(shí)鐘的采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路。例如時(shí)鐘順序?yàn)椤璼ys_clk、sys_clk_90、sys_clk_180、sys_clk_270、sys_clk、 sys_clk_90, sys_clk_180, sys_clk_270···，若有3個(gè)時(shí)鐘采樣到的數(shù)據(jù)與預(yù)期值(訓(xùn)練字)相同，3個(gè)時(shí)鐘是連續(xù)的，選3個(gè)連續(xù)時(shí)鐘中間的一個(gè)。比如情況1，sys_Clk、sys_ clk_90、sys_clk_180，選 sys_clk_90 ；情況 2，sys_clk_90、sys_clk_180、sys_clk_270，選sys_clk_180 ；個(gè)青況 3，sys_clk_180、sys_clk_270、sys_clk，選 sys_clk_270 ；個(gè)青況 4，sys_ clk_270、sys_clk> sys_clk_90,選 sys_clk。如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)中僅有2個(gè)或少于2個(gè)與訓(xùn)練字一致，則報(bào)錯(cuò)。在讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成完畢后，校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)1051跳轉(zhuǎn)到校準(zhǔn)結(jié)束狀態(tài)， 讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)結(jié)束，QDR控制器狀態(tài)機(jī)102跳轉(zhuǎn)到正常工作狀態(tài)。綜上，本發(fā)明解決了 QDR控制器讀延時(shí)大和依賴于可編程延遲器件的問(wèn)題，提供一種讀延時(shí)小且不需要可編程延遲器件的QDR控制器設(shè)計(jì)方法。并且本發(fā)明提供的實(shí)現(xiàn)裝置，可以廣泛的應(yīng)用于FPGA和ASIC邏輯電路中。以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、 等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍之內(nèi)。
1權(quán)利要求
1.一種四倍數(shù)據(jù)速率QDR的控制器，包括仲裁器(101)，控制狀態(tài)機(jī)(102)，讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘生成模塊(103)，讀數(shù)據(jù)通路模塊(104)，讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊(105)，其中仲裁器，用于根據(jù)控制狀態(tài)機(jī)的狀態(tài)對(duì)命令和數(shù)據(jù)進(jìn)行仲裁；控制狀態(tài)機(jī)，用于管理四倍數(shù)據(jù)速率QDR控制器的狀態(tài)，為仲裁器仲裁命令和數(shù)據(jù)提供狀態(tài)依據(jù)；讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘生成模塊，用于生成同源同頻異相的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘；讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊，用于在控制狀態(tài)機(jī)為“讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)狀態(tài)”時(shí)，通過(guò)讀訓(xùn)練字從所生成的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘中，分別確定讀數(shù)據(jù)通路模塊進(jìn)行讀數(shù)據(jù)時(shí)的正沿?cái)?shù)據(jù)和負(fù)沿?cái)?shù)據(jù)的采樣時(shí)鐘；讀數(shù)據(jù)通路模塊，用于根據(jù)讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊確定的采樣時(shí)鐘，將非系統(tǒng)時(shí)鐘域的正沿讀數(shù)據(jù)和負(fù)沿讀數(shù)據(jù)同步到系統(tǒng)時(shí)鐘域。
2.如權(quán)利要求1所述的控制器，其特征在于，還包括物理層模塊(105)，用于完成仲裁器的具體命令的執(zhí)行和讀數(shù)據(jù)通路模塊對(duì)數(shù)據(jù)的訪問(wèn)操作；寄存器管理模塊(106)，用于處理來(lái)自CPU的對(duì)控制狀態(tài)機(jī)和物理層的配置信息。
3.如權(quán)利要求1所述的控制器，其特征在于，所述讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊，包括校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)(1051)，校準(zhǔn)寫命令發(fā)生器(1052)，校準(zhǔn)讀命令發(fā)生器(1053)，校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī) (1054)，讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成器(1055)；其中控制狀態(tài)機(jī)的狀態(tài)指示為“讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)狀態(tài)”時(shí)，校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)跳轉(zhuǎn)到寫訓(xùn)練字狀態(tài)，使能校準(zhǔn)寫命令發(fā)生器生成校準(zhǔn)寫命令和寫訓(xùn)練字，經(jīng)仲裁器和物理層寫入QDRII SRAM器件；校準(zhǔn)寫命令完成后，校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)跳轉(zhuǎn)到讀訓(xùn)練字狀態(tài)，使能校準(zhǔn)讀命令發(fā)生器生成校準(zhǔn)讀命令，經(jīng)仲裁器和物理層寫入QDRII SRAM器件；校準(zhǔn)讀命令完成后，校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)跳轉(zhuǎn)到讀訓(xùn)練字檢測(cè)狀態(tài)，使能讀數(shù)據(jù)檢測(cè)器分別檢測(cè)來(lái)自讀數(shù)據(jù)通路模塊的正沿讀數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字正沿?cái)?shù)據(jù)的一致性，檢測(cè)來(lái)自讀數(shù)據(jù)通路模塊的負(fù)沿讀數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字負(fù)沿?cái)?shù)據(jù)的一致性，記錄讀數(shù)據(jù)檢測(cè)結(jié)果；讀訓(xùn)練字檢測(cè)完成后，校準(zhǔn)控制狀態(tài)機(jī)跳轉(zhuǎn)到讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成狀態(tài)，使能讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成器根據(jù)讀數(shù)據(jù)檢測(cè)器記錄的讀數(shù)據(jù)檢測(cè)結(jié)果，生成讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)。
4.如權(quán)利要求1所述的控制器，其特征在于，所述讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘生成模塊生成的同源同頻異相的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘，包括4個(gè)讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘sys_Clk，sys_clk_90, sys_ clk_180 和 sys_clk_270。
5.如權(quán)利要求3所述的控制器，其特征在于，所述讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘生成模塊生成的同源同頻異相的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘包括4個(gè)讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘SyS_clk，sys_clk_90, sys_ clk_180 和 sys_clk_270 ；所述讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成器根據(jù)讀數(shù)據(jù)檢測(cè)器記錄的讀數(shù)據(jù)檢測(cè)結(jié)果，生成讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)的選擇方式包括如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)均與訓(xùn)練字一致，根據(jù)在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致的時(shí)鐘個(gè)數(shù)以及下一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致的時(shí)鐘個(gè)數(shù)，選擇其中一個(gè)作為采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)中有且僅有3個(gè)與訓(xùn)練字一致，從一致的3個(gè)連續(xù)時(shí)鐘中選擇中間的采樣時(shí)鐘為采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)中僅有2個(gè)或少于2個(gè)與訓(xùn)練字一致，則報(bào)錯(cuò)。
6.如權(quán)利要求4所述的控制器，其特征在于，所述讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)生成器根據(jù)讀數(shù)據(jù)檢測(cè)器記錄的讀數(shù)據(jù)檢測(cè)結(jié)果，生成讀數(shù)據(jù)通路選擇信號(hào)，如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)均與訓(xùn)練字一致，則在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，4個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)均與訓(xùn)練字一致，選擇sys_Clk_180采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，3個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，1個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，選擇sys_Clk_270采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，2個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，2個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，選擇sys_clk采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，1個(gè)時(shí)鐘采樣到得數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，3 個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，選擇sys_Clk_90采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路。
7.一種四倍數(shù)據(jù)速率QDR的控制器的實(shí)現(xiàn)方法，其特征在于，包括 采用同源同頻異相的4個(gè)時(shí)鐘采樣讀數(shù)據(jù)；根據(jù)各時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)的結(jié)果，確定讀數(shù)據(jù)的采樣時(shí)鐘； 按所確定的采樣時(shí)鐘將讀數(shù)據(jù)同步到系統(tǒng)時(shí)鐘域。
8.如權(quán)利要求7所述的實(shí)現(xiàn)方法，其特征在于，所述同源同頻異相的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘， 包括 4 個(gè)讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘 sys_clk，sys_clk_90、sys_clk_180 和 sys_clk_270。
9.如權(quán)利要求7所述的實(shí)現(xiàn)方法，其特征在于，所述根據(jù)各時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)的結(jié)果確定讀數(shù)據(jù)的采樣時(shí)鐘的步驟，是由讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊在QDR控制器的控制狀態(tài)機(jī)為“讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)狀態(tài)”時(shí)，通過(guò)讀訓(xùn)練字從所生成的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘中，分別確定讀數(shù)據(jù)通路模塊進(jìn)行讀數(shù)據(jù)時(shí)的正沿?cái)?shù)據(jù)和負(fù)沿?cái)?shù)據(jù)的采樣時(shí)鐘。
10.如權(quán)利要求9所述的實(shí)現(xiàn)方法，其特征在于，所述同源同頻異相的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘包括4個(gè)SyS_clk，sys_clk_90,sys_clk_180和 sys_clk_270 ；所述根據(jù)各時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)的結(jié)果確定讀數(shù)據(jù)的采樣時(shí)鐘的步驟，具體分為 如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)均與訓(xùn)練字一致，根據(jù)在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致的時(shí)鐘個(gè)數(shù)以及下一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致的時(shí)鐘個(gè)數(shù)，從所述4個(gè)采樣時(shí)鐘中選擇其中一個(gè)為采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)中有且僅有3個(gè)與訓(xùn)練字一致，從一致的3個(gè)連續(xù)時(shí)鐘中選擇中間的采樣時(shí)鐘為采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)中僅有2個(gè)或少于2個(gè)與訓(xùn)練字一致，則報(bào)錯(cuò)。
11.如權(quán)利要求10所述的實(shí)現(xiàn)方法，其特征在于，所述如果4個(gè)采樣時(shí)鐘采樣到的讀數(shù)據(jù)均與訓(xùn)練字一致，根據(jù)在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致的時(shí)鐘個(gè)數(shù)以及下一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致的時(shí)鐘個(gè)數(shù)，選擇其中一個(gè)作為采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路，具體又分為在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，4個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)均與訓(xùn)練字一致，選擇sys_Clk_180采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，3個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，1個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，選擇sys_Clk_270采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，2個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，2個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，選擇sys_clk采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路；在一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，1個(gè)時(shí)鐘采樣到得數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，下一系統(tǒng)時(shí)鐘周期內(nèi)，3 個(gè)時(shí)鐘采樣數(shù)據(jù)與訓(xùn)練字一致，選擇sys_Clk_90采樣讀數(shù)據(jù)的讀數(shù)據(jù)通路。
全文摘要
本發(fā)明公開了四倍數(shù)據(jù)速率QDR的控制器及實(shí)現(xiàn)方法，所述控制器包括仲裁器(101)，控制狀態(tài)機(jī)(102)，讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘生成模塊(103)，讀數(shù)據(jù)通路模塊(104)，讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊(105)。仲裁器根據(jù)控制狀態(tài)機(jī)的狀態(tài)對(duì)命令和數(shù)據(jù)進(jìn)行仲裁；讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘生成模塊生成同源同頻異相的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘；讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)模塊在控制狀態(tài)機(jī)為“讀數(shù)據(jù)通路校準(zhǔn)狀態(tài)”時(shí)，通過(guò)讀訓(xùn)練字從所生成的讀數(shù)據(jù)采樣時(shí)鐘中確定讀數(shù)據(jù)通路模塊進(jìn)行讀數(shù)據(jù)時(shí)的正沿?cái)?shù)據(jù)和負(fù)沿?cái)?shù)據(jù)的采樣時(shí)鐘；讀數(shù)據(jù)通路模塊根據(jù)確定的采樣時(shí)鐘，將非系統(tǒng)時(shí)鐘域的正沿讀數(shù)據(jù)和負(fù)沿讀數(shù)據(jù)同步到系統(tǒng)時(shí)鐘域。本發(fā)明讀延時(shí)小且不需要可編程延遲器件、易于實(shí)現(xiàn)。
文檔編號(hào)G11C11/413GK102254569SQ20101018259
公開日2011年11月23日 申請(qǐng)日期2010年5月21日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月21日
發(fā)明者丁己善, 于克東, 廖智勇, 王建兵, 賴偉, 黃煒 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司