專利名稱:光盤設(shè)備與光盤的控制方法
光盤設(shè)備與光盤的控制方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明是以下發(fā)明專利申請(qǐng)的分案申請(qǐng)申請(qǐng)?zhí)?00510067786.x,申請(qǐng)日2005年2月M日,發(fā)明名稱光盤設(shè)備與光盤的控制方法。技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明通常涉及一種光盤設(shè)備和控制光盤設(shè)備旋轉(zhuǎn)光盤的方法。
技術(shù)背景
在過(guò)去,對(duì)于大容量數(shù)據(jù)記錄應(yīng)用,主要使用磁帶、光磁帶、和其它帶類記錄媒體, 但是,近年來(lái),使用數(shù)字通用盤(DVD)和其它類似的光盤,其可以處理大量數(shù)據(jù)。因此,諸如 DVD的光盤被越來(lái)越多地用于記錄應(yīng)用。
在光盤中,沒(méi)有諸如帶類記錄媒體的倒帶或進(jìn)帶操作,并且,目標(biāo)地址可以被高速 訪問(wèn)。因此,在隨機(jī)訪問(wèn)時(shí),光盤可以以比帶類記錄媒體更高的速度訪問(wèn)數(shù)據(jù)。
然而,在圖像拾取設(shè)備和其它圖像數(shù)據(jù)處理設(shè)備中,處理的數(shù)據(jù)數(shù)量已經(jīng)增加,所 以,要求光盤設(shè)備高速記錄和重現(xiàn)大量數(shù)據(jù)。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明有關(guān)一種光盤設(shè)備和控制允許更高訪問(wèn)速度的光盤的方法。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供一種用于訪問(wèn)光盤上的指定地址的光盤設(shè)備,所述 光盤設(shè)備包括控制器,在訪問(wèn)光盤上一指定地址時(shí)、當(dāng)所述控制器判斷是所述光盤的缺陷 引起訪問(wèn)失敗時(shí),如果從所述光盤上讀取出有關(guān)地址的信息,則所述控制器將訪問(wèn)目的地 改變至距離引起失敗訪問(wèn)嘗試的地址恰好第一地址寬度的地址,否則,如果未讀取出有關(guān) 地址的信息,則控制器決定在所述光盤的預(yù)定參考位置訪問(wèn)是否可能,并且,如果在所述參 考位置訪問(wèn)可能,那么控制器將訪問(wèn)目的地改變至距離引起失敗訪問(wèn)嘗試的地址恰好第二 地址寬度的地址,所述第二地址寬度大于所述第一地址寬度。
本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例著重于一種光盤裝置,包括旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部分,用于驅(qū)動(dòng)光盤的 旋轉(zhuǎn);和控制器,用來(lái)控制旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部分,以便當(dāng)訪問(wèn)從所述光盤的中心到光盤中心和外圍 之間的第一軌道的區(qū)域時(shí),驅(qū)動(dòng)光盤以恒定的角速度旋轉(zhuǎn);而當(dāng)訪問(wèn)從所述第一軌道到光 盤的外圍軌道的區(qū)域時(shí),驅(qū)動(dòng)光盤以恒定的線速度旋轉(zhuǎn)。
最好,第一軌道是由光盤的旋轉(zhuǎn)特性、旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部分和數(shù)據(jù)讀取速度所確定的。
當(dāng)確定訪問(wèn)失敗時(shí),所述控制器對(duì)所述光盤重試失敗的訪問(wèn)嘗試,并且所述控制 器判斷是否是所述光盤的缺陷引起訪問(wèn)失敗,并且,所述控制器進(jìn)一步判斷在所述光盤的 預(yù)定的鄰近范圍內(nèi),所述訪問(wèn)失敗的預(yù)定原因是否重復(fù)出現(xiàn)。
根據(jù)本發(fā)明的第一方面的設(shè)備可以進(jìn)一步包括振蕩(vibration)檢測(cè)器,用來(lái)檢 測(cè)出現(xiàn)在光盤中的振蕩,并且當(dāng)在重試訪問(wèn)嘗試中訪問(wèn)失敗的原因沒(méi)有在所述預(yù)定的鄰近 范圍內(nèi)重復(fù)出現(xiàn)且在訪問(wèn)失敗時(shí)由所述振蕩檢測(cè)器檢測(cè)的振蕩超過(guò)預(yù)定閾值時(shí),所述控制 器判斷是否是振蕩引起訪問(wèn)失敗;而當(dāng)所述振蕩沒(méi)有超過(guò)預(yù)定閾值時(shí),控制器判斷是否是所述光盤的缺陷引起訪問(wèn)失敗。
進(jìn)而,當(dāng)訪問(wèn)光盤上的指定地址時(shí),所述控制器可能判斷所述光盤的缺陷引起訪 問(wèn)失敗,如果從所述光盤上讀取有關(guān)地址的信息,則所述控制器將訪問(wèn)目的地改變?yōu)殡x引 起失敗的訪問(wèn)嘗試的地址恰好第一地址的寬度的地址;同時(shí),控制器確定在所述光盤的預(yù) 定參考位置訪問(wèn)是否可能和有關(guān)地址的信息是否被讀取,并且,如果在所述參考位置訪問(wèn) 是可能的,那么控制器將訪問(wèn)目的地改變?yōu)殡x引起失敗的訪問(wèn)嘗試的地址恰好第二地址寬 度的地址,所述第二地址寬度大于所述第一地址寬度。
本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例著重于光盤設(shè)備,其中,(i)當(dāng)發(fā)射光束的位置是在從所述 光盤中心至第一軌道的區(qū)域中時(shí),光盤的旋轉(zhuǎn)速度變?yōu)楹愣?;?ii)當(dāng)發(fā)射光束的位置在 第一軌道至所述光盤的外圍邊緣的區(qū)域中時(shí),發(fā)射光束的位置以恒定的速度在信息軌道上 移動(dòng)。
該設(shè)備可進(jìn)一步包含光拾取器,用來(lái)輸出從所述光盤反射的并被轉(zhuǎn)換成電信號(hào)的 發(fā)射光束;和信號(hào)處理器,用于處理光拾取器的輸出信號(hào),其中,(i)當(dāng)所述光盤的旋轉(zhuǎn)速 度恒定時(shí),旋轉(zhuǎn)速度變成能夠被旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)驅(qū)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)速度的預(yù)定上限,和(ii)發(fā)射光束在 所述信息軌道上的位置的運(yùn)動(dòng)速度控制所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部分,以便所述光拾取器的輸出信號(hào) 頻率變?yōu)槟軌蛟谛盘?hào)處理器處理的頻率的預(yù)定上限。
本發(fā)明的再一實(shí)施例著重于一種方法,其通過(guò)在訪問(wèn)從所述光盤的中心到光盤中 心和光盤外圍之間的第一軌道的區(qū)域時(shí),以恒定的角速度來(lái)驅(qū)動(dòng)光盤的旋轉(zhuǎn),而當(dāng)訪問(wèn)從 所述第一軌道到光盤的外圍邊緣的區(qū)域時(shí),以恒定的線速度來(lái)驅(qū)動(dòng)光盤的旋轉(zhuǎn),來(lái)控制光ο
本發(fā)明的再一實(shí)施例著重于一種光盤設(shè)備,包括控制器,用于當(dāng)訪問(wèn)失敗的預(yù)定 原因在所述光盤上的預(yù)定鄰近范圍內(nèi)重復(fù)發(fā)生時(shí),判斷所述光盤的缺陷引起訪問(wèn)失敗。
本發(fā)明的再一實(shí)施例著重于一種光盤設(shè)備,用于當(dāng)訪問(wèn)光盤上的指定地址時(shí),判 斷光盤的缺陷引起訪問(wèn)失敗,如果從所述光盤讀取了有關(guān)地址的信息,則控制器將訪問(wèn)目 的地改變?yōu)殡x引起失敗的訪問(wèn)嘗試的地址恰好第一地址的寬度的地址;同時(shí),控制器確定 在光盤的預(yù)定參考位置訪問(wèn)是否可能和有關(guān)地址的信息是否被讀取,并且,如果在所述參 考位置訪問(wèn)是可能的,那么控制器將訪問(wèn)目的地改變?yōu)殡x引起失敗的訪問(wèn)嘗試的地址恰好 第二地址寬度的地址,所述第二地址寬度大于第一地址寬度。
如果有關(guān)地址的信息未被讀取,則在確定所述預(yù)定參考位置之前,所述控制器從 未訪問(wèn)的所述地址開(kāi)始的預(yù)定地址范圍內(nèi)搜索可讀的地址,并且如果所述范圍有可讀的地 址,則該控制器將訪問(wèn)目的地改變?yōu)樗龅刂?;而如果所述范圍沒(méi)有可讀的地址,那么控制 器確定所述參考位置。
如果預(yù)定的訪問(wèn)失敗原因在所述光盤上的預(yù)定鄰近范圍內(nèi)重復(fù)出現(xiàn),則在所述訪 問(wèn)嘗試的重試中判斷所述光盤的缺陷引起訪問(wèn)失敗時(shí),控制器可以執(zhí)行重試失敗的訪問(wèn)嘗 試的處理;而當(dāng)經(jīng)預(yù)定時(shí)間或預(yù)定次重復(fù)該判斷時(shí),所述控制器執(zhí)行訪問(wèn)目的地改變處理。
本發(fā)明的再一實(shí)施例著重于振蕩檢測(cè)器,用來(lái)檢測(cè)在光盤中出現(xiàn)的振蕩,其中,當(dāng) 在訪問(wèn)嘗試的重試中訪問(wèn)失敗的原因沒(méi)有在預(yù)定的鄰近范圍內(nèi)重復(fù)出現(xiàn),并且在訪問(wèn)失敗 時(shí)由振蕩檢測(cè)器檢測(cè)的振蕩超過(guò)預(yù)定閾值時(shí),控制器判斷是否是振蕩引起訪問(wèn)失敗;而當(dāng) 振蕩沒(méi)有超過(guò)預(yù)定閾值時(shí),控制器判斷是否是光盤的缺陷引起訪問(wèn)失敗。4
于是,根據(jù)本發(fā)明,第一,通過(guò)在恒定旋轉(zhuǎn)速度模式和恒定線速度模式之間恰當(dāng)?shù)?轉(zhuǎn)換光盤的旋轉(zhuǎn)控制模式,由于旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)的性能限制而造成的對(duì)線速度的約束消失了,且 能夠提高訪問(wèn)速度。
第二,能夠區(qū)分由于光盤缺陷而產(chǎn)生的訪問(wèn)失敗和由于來(lái)自外部源的振蕩而產(chǎn)生 的訪問(wèn)失敗。
第三,當(dāng)由于光盤缺陷而造成訪問(wèn)失敗時(shí),通過(guò)根據(jù)缺陷的狀態(tài)將訪問(wèn)目的地改 變?yōu)榫嚯x合適地址寬度的地址,能夠抑制由于訪問(wèn)失敗而導(dǎo)致的處理延遲。
從以下參照附圖給出的優(yōu)選實(shí)施例的描述中,本發(fā)明的這些或其它目的和特征將 變得更加清晰,其中
圖1是根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的光盤設(shè)備的結(jié)構(gòu)示例;
圖2是表示在寫訪問(wèn)或讀訪問(wèn)處理中的處理的第一流程圖3是表示在寫訪問(wèn)或讀訪問(wèn)處理中的處理的第二流程圖4是表示在寫訪問(wèn)或讀訪問(wèn)處理中的處理的第三流程圖5是說(shuō)明當(dāng)執(zhí)行參考位置終止操作時(shí)的處理的第一流程圖6是說(shuō)明當(dāng)執(zhí)行參考位置終止操作時(shí)的處理的第二流程圖7是錯(cuò)誤原因判斷處理的流程圖8是缺陷錯(cuò)誤處理的流程圖9是在根據(jù)本發(fā)明的光盤設(shè)備中跟蹤錯(cuò)誤判斷的結(jié)構(gòu)的示例;
圖10A、10B、10C是當(dāng)施加強(qiáng)振蕩時(shí)或在光盤遇到缺陷的情況下,跟蹤錯(cuò)誤的檢測(cè) 信號(hào)的波形示例;
圖11是距離光盤中心的激光光束的發(fā)射位置與光盤設(shè)備中光盤的旋轉(zhuǎn)速度之間 的關(guān)系的示例;
圖12A、12B是普通光盤設(shè)備中的查找操作示例;
圖13是光盤設(shè)備中的查找操作示例;
圖14是光盤設(shè)備中的查找操作示例;和
圖15是圖像拾取設(shè)備的結(jié)構(gòu)示例。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的六個(gè)典型實(shí)施例作說(shuō)明。
第一實(shí)施例
包括使用光盤的視頻播放機(jī)或攝像機(jī)的視頻設(shè)備正變得越來(lái)越普及。近年來(lái),光 盤已被制得更小而存儲(chǔ)容量更大。因此,已極大地改進(jìn)了光盤的性能。
光盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)用于驅(qū)動(dòng)光盤,且包括以恒定線速度驅(qū)動(dòng)光盤的CLV(恒定線速度) 系統(tǒng)和以恒定角速度驅(qū)動(dòng)光盤的CAV(恒定角速度)系統(tǒng)。
當(dāng)光盤用于諸如攝像機(jī)的小型視頻設(shè)備時(shí),驅(qū)動(dòng)光盤的主軸馬達(dá)的旋轉(zhuǎn)性能有限 制。由于這個(gè)限制,例如,即使將光盤格式化成以攝像機(jī)的記錄媒體上的恒定線速度來(lái)驅(qū) 動(dòng),但是由于小型主軸馬達(dá)的性能限制,也許不能以預(yù)想的線速度使用光盤的很多區(qū)域。
因此,如圖11所示,例如,本發(fā)明的部分是由CAV系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)從光盤的中心至某個(gè)軌 道的CLV格式化的光盤,而由CLV系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)從某個(gè)軌道開(kāi)始的區(qū)域至光盤的周圍邊緣的光 盤,從而根據(jù)激光光束在軌道上的位置來(lái)改變主軸馬達(dá)的旋轉(zhuǎn)速度。
該驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)被稱為受限的CLVdimited CLV,LCLV)系統(tǒng)。
注意,攝像機(jī)和其它視頻設(shè)備可以帶有各種類型的可換光盤。在根據(jù)本發(fā)明的一 個(gè)實(shí)施例的光盤設(shè)備中,不僅能夠由LCLV系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)光盤,而且能夠由CLV系統(tǒng)或CAV系統(tǒng) 驅(qū)動(dòng)光盤。
第二實(shí)施例
圖1是根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的光盤設(shè)備的結(jié)構(gòu)示例。
圖1所示的光盤設(shè)備具有接口 1、FIFO單元2、數(shù)據(jù)處理器3、寫處理器4、光拾取 器5、RF信號(hào)處理器10、讀處理器11、偏斜檢測(cè)器12、振蕩檢測(cè)器13、光拾取器驅(qū)動(dòng)器14、 馬達(dá)控制器15、主軸馬達(dá)16、伺服控制器17,和系統(tǒng)控制器18。
進(jìn)一步,光拾取器5有功率控制器6、激光二極管7、光學(xué)系統(tǒng)8和光敏元件9。
在上述結(jié)構(gòu)中,馬達(dá)16是本發(fā)明的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)的例證。
系統(tǒng)控制器18是本發(fā)明的控制器的例證。
振蕩檢測(cè)器13是本發(fā)明的振蕩檢測(cè)器的例證。
光拾取器5是本發(fā)明的光拾取器的例證。
光拾取器驅(qū)動(dòng)器14是本發(fā)明的光拾取器驅(qū)動(dòng)的例證。
包括RF信號(hào)處理器10和讀處理器11的單元是本發(fā)明的信號(hào)處理器的例證。
馬達(dá)控制器15是本發(fā)明的旋轉(zhuǎn)控制器的例證。
偏斜檢測(cè)器12是本發(fā)明的偏斜檢測(cè)器的例證。
對(duì)圖1所示的上述光盤設(shè)備的元件作出說(shuō)明。
接口 1從外部設(shè)備(未示出)向光盤20輸入寫數(shù)據(jù)。進(jìn)而,接口 1從光盤20向 外部設(shè)備(未示出)輸出讀數(shù)據(jù)。進(jìn)而,光盤設(shè)備執(zhí)行將從外部設(shè)備輸入的各種指令傳遞 到系統(tǒng)控制器18的處理,或?qū)南到y(tǒng)控制器18發(fā)出的響應(yīng)消息傳遞給外部設(shè)備的處理。
接口 1根據(jù)例如ATA(AT附件)或其它常用接口標(biāo)準(zhǔn),與這種外部設(shè)備連接。
FIFO單元2臨時(shí)存儲(chǔ)從接口 1向數(shù)據(jù)處理器3輸入的寫數(shù)據(jù)和從數(shù)據(jù)處理器3向 接口 1讀取的讀數(shù)據(jù)。
數(shù)據(jù)處理器3對(duì)光盤20的寫數(shù)據(jù)和讀數(shù)據(jù)執(zhí)行各種數(shù)據(jù)處理。
根據(jù)光盤20的預(yù)定記錄格式,由接口 1輸入的寫數(shù)據(jù)受到預(yù)定的碼處理(例如, 糾錯(cuò)碼處理)。由此,該寫數(shù)據(jù)被替換為具有寫入光盤20的格式的數(shù)據(jù)。進(jìn)而,從讀處理器 11輸入的讀數(shù)據(jù)受到解碼處理。結(jié)果,寫前數(shù)據(jù)被重現(xiàn)。
基于數(shù)據(jù)處理器3處理的寫數(shù)據(jù),寫處理器4產(chǎn)生用來(lái)驅(qū)動(dòng)激光二極管7的寫脈 沖信號(hào)。寫處理器4根據(jù)被寫的光盤20的類型,適當(dāng)?shù)卦O(shè)置寫脈沖信號(hào)的振幅或脈沖寬度。
功率控制器6檢測(cè)從光學(xué)系統(tǒng)8反饋的激光二極管7的輸出功率,并控制激光二 極管7的發(fā)射數(shù)量,以便在寫脈沖信號(hào)中檢測(cè)的功率和檢測(cè)的輸出功率變?yōu)橄嗟取?br>
激光二極管7根據(jù)功率控制器6的控制,產(chǎn)生具有功率的激光光束。
光學(xué)系統(tǒng)8引導(dǎo)激光二極管7產(chǎn)生的激光光束,并將其聚焦在光盤20的光接收表 面上。進(jìn)而,在激光二極管7產(chǎn)生的部分激光光束返回至功率控制器6。從光盤20反射的光被引導(dǎo)至光敏元件9。
光學(xué)系統(tǒng)8相對(duì)于光盤20的焦點(diǎn)位置隨如何驅(qū)動(dòng)光拾取器驅(qū)動(dòng)器14而改變。
光敏元件9將從光盤20反射的光轉(zhuǎn)換成電信號(hào)。
設(shè)計(jì)光敏元件9,以便除了獲得記錄在光盤20上的信息以外,還獲得表示光盤20 的信息軌道和發(fā)射的激光光束的位置之間的偏移(跟蹤錯(cuò)誤,tracking error)的信息,和 表示光學(xué)系統(tǒng)8的焦點(diǎn)至光盤20的偏移(聚焦錯(cuò)誤,focus error)的信息。
例如,光敏元件9具有多個(gè)光學(xué)檢測(cè)器,其被排列成能夠在從光盤20反射的光束 照射到的平面上的多個(gè)對(duì)稱位置上檢測(cè)反射光的強(qiáng)度。
根據(jù)光盤20的記錄數(shù)據(jù),RF信號(hào)處理器10放大、二進(jìn)制化、或按照RF機(jī)制以其 它方式處理由光敏元件9轉(zhuǎn)換的電信號(hào),以產(chǎn)生讀數(shù)據(jù)。
進(jìn)而,根據(jù)光敏元件9的輸出信號(hào),RF信號(hào)處理器10產(chǎn)生與上述跟蹤錯(cuò)誤或聚焦 錯(cuò)誤相關(guān)的信號(hào),并且將這樣的信號(hào)輸出至伺服控制器17。例如,RF信號(hào)處理器10運(yùn)行處 理,例如,加或減。上述多個(gè)光學(xué)檢測(cè)器的檢測(cè)結(jié)果包含在光敏元件9內(nèi),以產(chǎn)生與跟蹤錯(cuò) 誤或聚焦錯(cuò)誤有關(guān)的信號(hào)。這些信號(hào)被用在伺服控制器17中以進(jìn)行伺服控制。
進(jìn)而,在本實(shí)施例中,作為一個(gè)示例,假定在光盤20的信息軌道上形成擺動(dòng)。術(shù)語(yǔ) “擺動(dòng)”是指位于信息軌道側(cè)面的周期性彎曲形狀。例如,用作寫操作訪問(wèn)時(shí)的基準(zhǔn)的時(shí)鐘 信號(hào)的信息或有關(guān)信息軌道上的地址的信息,作為擺動(dòng)被隱藏在光盤20中。
RF信號(hào)處理器10基于該擺動(dòng)(擺動(dòng)信號(hào))從光敏元件9的輸出信號(hào)中提取周期 性的信號(hào)分量,并將這樣的信號(hào)輸出至讀處理器11。
讀處理器11對(duì)從光盤20讀取的信號(hào)執(zhí)行各種處理。例如,讀處理器11基于從RF 信號(hào)處理器10輸出的擺動(dòng)信號(hào)執(zhí)行重現(xiàn)基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)的處理,和執(zhí)行解調(diào)擺動(dòng)信號(hào)并重 現(xiàn)在信息軌道上的地址信息的處理。
偏斜檢測(cè)器12檢測(cè)光盤20的光接收表面相對(duì)于從光拾取器5發(fā)出的光束的偏 斜。光盤20發(fā)生偏斜是,例如,由于光盤20外部的震動(dòng),也就是由于在與光盤20的旋轉(zhuǎn)軸 平行的方向上施加的震動(dòng)。
振蕩檢測(cè)器13檢測(cè)施加在光盤設(shè)備上的振蕩。為了檢測(cè)振蕩,可以使用加速度傳 感器。
光拾取器驅(qū)動(dòng)器14在伺服控制器17的控制下,使光拾取器的發(fā)射激光光束的位 置相對(duì)于信息軌道或光學(xué)系統(tǒng)8的聚焦位置移動(dòng)。例如,光拾取器驅(qū)動(dòng)器14有致動(dòng)裝置, 其使得光拾取器5沿著光盤20平面的方向或與平面垂直的方向滑動(dòng)。
馬達(dá)控制器15控制主軸馬達(dá)16,以使光盤20的旋轉(zhuǎn)速度保持在由系統(tǒng)控制器18 指定的旋轉(zhuǎn)速度上。
主軸馬達(dá)16在馬達(dá)控制器15的控制下,驅(qū)動(dòng)光盤20的旋轉(zhuǎn)。
伺服控制器17根據(jù)RF信號(hào)處理器10產(chǎn)生的跟蹤錯(cuò)誤或聚焦錯(cuò)誤的信號(hào),通過(guò)伺 服控制來(lái)控制光拾取器驅(qū)動(dòng)器14,以便在光學(xué)系統(tǒng)8的聚焦?fàn)顟B(tài)下,在光盤20的信息軌道 上的指定位置發(fā)射光拾取器5的激光光束。
進(jìn)而,根據(jù)偏斜檢測(cè)器12或振蕩檢測(cè)器13的檢測(cè)結(jié)果,伺服控制器17控制光拾 取器驅(qū)動(dòng)器14,以便即使當(dāng)外部震動(dòng)引起振蕩時(shí),上述伺服控制依然運(yùn)行。當(dāng)光拾取器5和 光盤20之間的碰撞即將發(fā)生時(shí),伺服控制器17控制光拾取器驅(qū)動(dòng)器14以避免碰撞。
進(jìn)而,當(dāng)對(duì)用于在信息軌道上的指定位置發(fā)射激光光束的伺服控制(跟蹤控制) 或者用于將光學(xué)系統(tǒng)8聚焦在信息軌道上的伺服控制(聚焦控制)的鎖定丟失時(shí),伺服控 制器17通知系統(tǒng)控制器18。
系統(tǒng)控制器18執(zhí)行與光盤設(shè)備的整體操作有關(guān)的各種處理。
例如,系統(tǒng)控制器18獲得從外部設(shè)備經(jīng)接口 1輸入的指令,發(fā)送消息至外部設(shè)備, 監(jiān)控存儲(chǔ)在FIFO單元2中的寫數(shù)據(jù)或讀數(shù)據(jù)的數(shù)量,獲得在讀處理器11重現(xiàn)的光盤20的 地址信息,指令在數(shù)據(jù)處理器3或伺服控制器17進(jìn)行的處理。
進(jìn)而,系統(tǒng)控制器18在嘗試訪問(wèn)光盤20時(shí),執(zhí)行重試失敗的訪問(wèn)嘗試的處理。進(jìn) 一步,當(dāng)重新嘗試訪問(wèn)時(shí),如果不良的伺服控制、地址信息的不良讀取、或任何訪問(wèn)失敗的 其它原因在光盤20的預(yù)定鄰近范圍內(nèi)重復(fù)發(fā)生,則系統(tǒng)控制器18執(zhí)行處理,以判斷是否是 由于光盤20的缺陷而引起訪問(wèn)失敗。
進(jìn)而,當(dāng)作出由于光盤20的缺陷而使得對(duì)光盤20上的指定地址的訪問(wèn)失敗的判 斷時(shí),那么如果讀處理器11能夠讀地址信息,則系統(tǒng)控制器18執(zhí)行處理,以將訪問(wèn)目的地 更新為距離要訪問(wèn)的失敗地址預(yù)定地址寬度(第一地址寬度)的地址。另一方面,如果讀 處理器11不讀地址信息(例如,當(dāng)伺服控制器18對(duì)跟蹤控制或聚焦控制的鎖定丟失時(shí)), 系統(tǒng)控制器18確定在光盤20的預(yù)定參考位置(例如,光盤20的最內(nèi)部的圓周)上訪問(wèn)是 否可能,并且如果在該參考位置訪問(wèn)是可能的,則將訪問(wèn)目的地更新為距離要訪問(wèn)的失敗 地址預(yù)定地址寬度(比第一地址寬度更長(zhǎng)的第二地址寬度)的地址。
將描述在圖1所示的光盤設(shè)備具有上述結(jié)構(gòu)并執(zhí)行讀訪問(wèn)或?qū)懺L問(wèn)處理(以下被 稱為“R/W訪問(wèn)”)的情況下的操作。
圖2至圖4是表示R/W訪問(wèn)處理的示例的流程圖。
在執(zhí)行R/W訪問(wèn)中,系統(tǒng)控制器設(shè)置以下常量。
常量#1 (外部因素超時(shí)時(shí)間Ts)
外部因素超時(shí)時(shí)間Ts表示在振蕩或其它外部因素引起訪問(wèn)失敗時(shí)重復(fù)訪問(wèn)重試 的時(shí)間的上限。然而,該上限時(shí)間的起點(diǎn)是外部設(shè)備向系統(tǒng)控制器18發(fā)出指令執(zhí)行寫或讀 訪問(wèn)的指令的時(shí)間。
常量#2 (缺陷時(shí)重試次數(shù)Nd的上限值)
缺陷時(shí)重試次數(shù)Nd的上限值表明當(dāng)由于光盤20的缺陷而重試訪問(wèn)時(shí)的重試次數(shù) 的上限值。
常量#3 (內(nèi)部錯(cuò)誤時(shí)重試次數(shù)Ni的上限值)
內(nèi)部錯(cuò)誤時(shí)重試次數(shù)Ni的上限值表示當(dāng)由于光盤設(shè)備的內(nèi)部錯(cuò)誤而重試訪問(wèn)時(shí) 的重試次數(shù)的上限值。
常量#4 (查找開(kāi)始前的超時(shí)時(shí)間Tt)
這表示在開(kāi)始查找處理前重復(fù)訪問(wèn)重試的時(shí)間的上限。上限時(shí)間的起點(diǎn)與外部因 素超時(shí)時(shí)間iTs相同。
常量#5 :(內(nèi)部因素超時(shí)時(shí)間Ti)
這個(gè)常量表示當(dāng)光盤的內(nèi)部原因引起訪問(wèn)失敗時(shí)可以進(jìn)行重試的時(shí)間的上限。上 限時(shí)間的起點(diǎn)與外部因素超時(shí)時(shí)間Ts相同。
將上述的五個(gè)常量,例如,通過(guò)接口 1從外部設(shè)備給系統(tǒng)控制器18。
當(dāng)外部設(shè)備發(fā)出R/W訪問(wèn)指令時(shí),系統(tǒng)控制器18從指令發(fā)出時(shí)間起在內(nèi)部計(jì)時(shí)器 開(kāi)始計(jì)數(shù)。
首先,系統(tǒng)控制器18比較該計(jì)時(shí)器數(shù)值和外部因素超時(shí)時(shí)間Ts (步驟ST100),和 當(dāng)該計(jì)時(shí)器數(shù)值超過(guò)此上限時(shí),系統(tǒng)控制器18結(jié)束訪問(wèn)重試并執(zhí)行預(yù)定的錯(cuò)誤處理(步驟 ST102)。例如,系統(tǒng)控制器18執(zhí)行處理,以通知外部設(shè)備由于震動(dòng)或其它外部因素而產(chǎn)生 了錯(cuò)誤。
當(dāng)計(jì)時(shí)器數(shù)值不超過(guò)外部因素超時(shí)時(shí)間Ts時(shí),系統(tǒng)控制器18確定查找操作是否 可能(步驟ST104)。
當(dāng)查找操作不可能時(shí),系統(tǒng)控制器18確定原因是否是地址的不良讀取(步驟 ST106)。例如,系統(tǒng)控制器18確定是否由于在伺服控制器17內(nèi)跟蹤控制或聚焦控制的鎖 定的完全丟失而不再讀取地址信息。如果沒(méi)有此類錯(cuò)誤發(fā)生且能從光盤20讀取地址,那么 程序回到步驟ST100且R/W訪問(wèn)處理被再次執(zhí)行。
另一方面,當(dāng)?shù)刂沸畔⑽幢蛔x取時(shí),系統(tǒng)控制器18比較上述計(jì)時(shí)器數(shù)值和查找開(kāi) 始前的超時(shí)時(shí)間Tt (步驟ST108)。當(dāng)計(jì)時(shí)器數(shù)值超過(guò)該上限時(shí),程序回到步驟ST100,在這 里R/W訪問(wèn)處理被再次執(zhí)行。當(dāng)計(jì)時(shí)器數(shù)值超過(guò)該上限值時(shí),控制器在參考位置停止操作 STllO步驟中確定在光盤20的參考位置的訪問(wèn)是否可能。將參照?qǐng)D5和圖6詳細(xì)說(shuō)明參考 位置停止操作ST110。
當(dāng)在步驟ST104判斷查找操作是可能的時(shí),系統(tǒng)控制器18開(kāi)始查找操作(步驟 ST112)。在查找操作中,系統(tǒng)控制器18沿光盤20的徑向移動(dòng)發(fā)射激光光束的位置,同時(shí), 跳過(guò)信息軌道,以便使訪問(wèn)地址跳至在包含R/W處理開(kāi)始的目標(biāo)地址的軌道之前的一個(gè)軌 道(信息軌道的一周)。
直到查找操作結(jié)束,系統(tǒng)控制器18監(jiān)控上述計(jì)時(shí)器數(shù)值是否超過(guò)外部因素超時(shí) 時(shí)間Ts (步驟ST114、ST118)。如果,例如,震動(dòng)使得查找操作沒(méi)有結(jié)束,且計(jì)時(shí)器數(shù)值超過(guò) 外部因素超時(shí)時(shí)間Ts,則系統(tǒng)控制器18結(jié)束訪問(wèn)重試,并執(zhí)行與步驟ST102(步驟ST116) 中的相同的錯(cuò)誤處理。
當(dāng)查找操作結(jié)束時(shí),系統(tǒng)控制器18判斷其在查找操作中是否失敗(步驟ST120)。
當(dāng)查找操作失敗時(shí),系統(tǒng)控制器18判斷該失敗是否是因?yàn)樾∪毕蒎e(cuò)誤(步驟 ST122)。這里,“小缺陷錯(cuò)誤”是指由于光盤20的相對(duì)小范圍的缺陷而引起的訪問(wèn)錯(cuò)誤。當(dāng) 伺服控制器17內(nèi)的聚焦控制或跟蹤控制的鎖定的丟失導(dǎo)致不再能夠讀取地址信息的嚴(yán)重 情況時(shí)的情況也包含在該小缺陷錯(cuò)誤中。
當(dāng)訪問(wèn)失敗的預(yù)定原因在光盤20上的預(yù)定鄰近范圍內(nèi)重復(fù)出現(xiàn)時(shí),系統(tǒng)控制器 18判斷在鄰近范圍內(nèi)出現(xiàn)光盤20的缺陷。進(jìn)而,當(dāng)該訪問(wèn)失敗原因不是達(dá)到地址信息不再 能夠被讀取的程度的嚴(yán)重失敗原因時(shí),系統(tǒng)控制器18判斷小缺陷在光盤20上出現(xiàn)。當(dāng)導(dǎo) 致伺服控制器17內(nèi)聚焦控制或跟蹤控制的鎖定的暫時(shí)丟失的錯(cuò)誤、或在讀處理器11中導(dǎo) 致時(shí)鐘信號(hào)重現(xiàn)處理的錯(cuò)誤發(fā)生在光盤20的鄰近預(yù)定范圍內(nèi)時(shí),系統(tǒng)控制器18判斷光盤 20上的小缺陷已經(jīng)引起訪問(wèn)失敗(在這個(gè)步驟,查找操作)。
當(dāng)在查找操作中判斷光盤20上的小缺陷已經(jīng)引起失敗時(shí),系統(tǒng)控制器18執(zhí)行預(yù) 定錯(cuò)誤處理(步驟ST124)。例如,系統(tǒng)控制器18將R/W訪問(wèn)起始的目標(biāo)地址改變至距失敗 的初始訪問(wèn)地址恰好預(yù)定地址寬度(第一地址寬度)的位置,并且再次執(zhí)行R/W訪問(wèn)。
當(dāng)在查找操作中判斷小缺陷已經(jīng)引起失敗時(shí),系統(tǒng)控制器18判斷是否能夠從光 盤20讀取地址信息(步驟ST126)。例如,伺服控制器17判斷引起伺服控制的鎖定完全丟 失的錯(cuò)誤是否產(chǎn)生。當(dāng)這樣一個(gè)錯(cuò)誤阻止了地址信息被讀出時(shí),系統(tǒng)控制器18執(zhí)行下面將 要進(jìn)行說(shuō)明的參考位置停止操作(步驟ST128)。
另一方面,當(dāng)?shù)刂沸畔⒖梢员蛔x取時(shí),假設(shè)錯(cuò)誤是由振蕩引起,所以,系統(tǒng)控制器 18返回步驟ST100并再次執(zhí)行R/W訪問(wèn)處理。
當(dāng)在步驟ST120判斷查找操作以正常方式結(jié)束時(shí),系統(tǒng)控制器18執(zhí)行控制以將發(fā) 射激光光束的位置從查找操作之后的位置提前至R/W訪問(wèn)起始的目標(biāo)地址。進(jìn)而,系統(tǒng)控 制器18監(jiān)控預(yù)定錯(cuò)誤的發(fā)生,直至到達(dá)R/W訪問(wèn)起始的目標(biāo)地址。例如,系統(tǒng)控制器18監(jiān) 控導(dǎo)致在伺服控制器17丟失對(duì)聚焦控制或跟蹤控制的鎖定的錯(cuò)誤或?qū)е掳l(fā)射激光光束的 位置從目標(biāo)地址的起始之前的一個(gè)軌道偏離的錯(cuò)誤(步驟ST130、ST132、ST134)。
當(dāng)這樣的錯(cuò)誤產(chǎn)生時(shí),系統(tǒng)控制器18判斷錯(cuò)誤是否由震動(dòng)或其它外部因素引起 (步驟ST136)。該判斷的詳細(xì)情況參照?qǐng)D7作解釋。當(dāng)判斷錯(cuò)誤由震動(dòng)或其它外部因素引 起時(shí),系統(tǒng)控制器18返回步驟ST100,在這里再次執(zhí)行R/W訪問(wèn)處理。
另一方面,當(dāng)判斷由光盤20的缺陷引起錯(cuò)誤產(chǎn)生時(shí),系統(tǒng)控制器18判斷在作出光 盤20的缺陷已經(jīng)引起訪問(wèn)失敗的判斷時(shí)累積的次數(shù)(D-Retry)是否超過(guò)上述重試次數(shù)Nd 的上限值(步驟ST138)。當(dāng)該上限值沒(méi)有被超過(guò)時(shí),系統(tǒng)控制器18在累積次數(shù)D-Retry上 加1,然后返回至步驟ST100,并再次執(zhí)行R/W訪問(wèn)處理。當(dāng)累積次數(shù)D-Retry超過(guò)上限值 時(shí),系統(tǒng)控制器18結(jié)束訪問(wèn)的重試操作,并執(zhí)行缺陷錯(cuò)誤處理(見(jiàn)圖3)(步驟ST140)。
當(dāng)在步驟ST134判斷發(fā)射激光光束的位置已經(jīng)到達(dá)R/W訪問(wèn)起始的目標(biāo)地址時(shí), 系統(tǒng)控制器18判斷R/W訪問(wèn)能否被啟動(dòng)(步驟ST142)。例如,系統(tǒng)控制器18確定在FIFO 單元2中是否有足夠的空區(qū)域。
當(dāng)判斷R/W訪問(wèn)不能被啟動(dòng)時(shí),系統(tǒng)控制器18比較上述計(jì)時(shí)器數(shù)值和內(nèi)部因素超 時(shí)時(shí)間Ti (步驟ST144)。當(dāng)計(jì)時(shí)器數(shù)值沒(méi)有超過(guò)內(nèi)部因素超時(shí)時(shí)間Ti時(shí),系統(tǒng)控制器18 返回至步驟ST100,在這里再次執(zhí)行R/W訪問(wèn)處理,而當(dāng)計(jì)時(shí)器數(shù)值超過(guò)Ti時(shí),系統(tǒng)控制器 18執(zhí)行預(yù)定錯(cuò)誤處理(步驟ST146)。例如,系統(tǒng)控制器18執(zhí)行處理以便通知外部設(shè)備 FIFO單元2的內(nèi)部因素已經(jīng)在R/W訪問(wèn)的開(kāi)始中引起了失敗。
當(dāng)在步驟ST142判斷R/W訪問(wèn)能夠被啟動(dòng)時(shí),系統(tǒng)控制器18啟動(dòng)R/W訪問(wèn)(步驟 ST148)。進(jìn)而,如果訪問(wèn)期間產(chǎn)生錯(cuò)誤,系統(tǒng)控制器18結(jié)束R/W訪問(wèn)處理。
另一方面,如果訪問(wèn)期間產(chǎn)生錯(cuò)誤,系統(tǒng)控制器18判斷錯(cuò)誤是否由激光二極管7 的不良發(fā)射或由功率控制器6的不良控制引起(步驟ST152)。
當(dāng)判斷由于內(nèi)部因素而產(chǎn)生錯(cuò)誤時(shí),系統(tǒng)控制器18判斷在作出由于內(nèi)部因素而 產(chǎn)生的錯(cuò)誤已經(jīng)引起訪問(wèn)失敗的判斷時(shí)累積的次數(shù)(I-Retry)是否超過(guò)上述重試次數(shù)Ni 的上限值。當(dāng)該上限值沒(méi)有被超過(guò)時(shí),系統(tǒng)控制器18在累積次數(shù)I-Retry上加1,然后返回 至步驟ST100,在這里再次執(zhí)行R/W訪問(wèn)處理。當(dāng)累積次數(shù)I-Retry超過(guò)上限值時(shí),系統(tǒng)控 制器18執(zhí)行預(yù)定內(nèi)部錯(cuò)誤處理(步驟ST156)。例如,系統(tǒng)控制器18執(zhí)行處理以通知外部 設(shè)備,激光二極管7的內(nèi)部因素已經(jīng)引起R/W訪問(wèn)失敗。
當(dāng)在步驟ST152判斷沒(méi)有由于激光二極管7的內(nèi)部因素而產(chǎn)生的錯(cuò)誤時(shí),系統(tǒng)控 制器18判斷錯(cuò)誤是否由光盤20的缺陷引起(步驟ST158)。
當(dāng)在步驟ST158判斷沒(méi)有由光盤20的缺陷引起的錯(cuò)誤時(shí),系統(tǒng)控制器18返回至 步驟ST100,并再次執(zhí)行R/W訪問(wèn)處理。
另一方面,當(dāng)判斷光盤20的缺陷已經(jīng)引起錯(cuò)誤時(shí),系統(tǒng)控制器18判斷缺陷判斷的 累積次數(shù)D-Retry是否已經(jīng)超過(guò)上述重試次數(shù)Nd的上限值(步驟ST160)。當(dāng)沒(méi)有超過(guò)該 上限值時(shí),系統(tǒng)控制器18在累積次數(shù)D-Retry上加1,然后返回至步驟ST100,并再次執(zhí)行 R/W訪問(wèn)處理。當(dāng)累積次數(shù)D-Retry超過(guò)該上限值時(shí),系統(tǒng)控制器18結(jié)束訪問(wèn)的重試操作, 并執(zhí)行缺陷錯(cuò)誤處理(見(jiàn)圖4)(步驟ST162)。
上文中,解釋了如圖2至圖4所示的R/W訪問(wèn)處理。
圖2的步驟ST100、ST128的參考位置停止操作的詳細(xì)情況解釋如下。
圖5和圖6是在執(zhí)行參考位置停止操作時(shí)的處理的流程圖。
首先,系統(tǒng)控制器18執(zhí)行停止與R/W訪問(wèn)相關(guān)的操作的處理(步驟ST200),并確 認(rèn)來(lái)自激光二極管7的光發(fā)射已停止(步驟ST202)。
在確認(rèn)與R/W訪問(wèn)相關(guān)的操作已經(jīng)停止后,系統(tǒng)控制器18執(zhí)行處理以移動(dòng)發(fā)射激 光光束的位置并將其停止在光盤20的預(yù)定參考位置上(例如,在光盤20的最內(nèi)部的圓周 的區(qū)域)(步驟ST204)。
圖6是步驟ST204的處理的流程圖。
系統(tǒng)控制器18執(zhí)行移動(dòng)發(fā)射激光光束的位置至光盤20的預(yù)定參考位置的指令 (步驟ST300),然后,確認(rèn)來(lái)自光拾取器的、通知系統(tǒng)控制器18移動(dòng)已經(jīng)結(jié)束的響應(yīng)(步驟 ST302)。
在確認(rèn)發(fā)射激光光束的位置移動(dòng)中,系統(tǒng)控制器18確定在該參考位置能否訪問(wèn) 光盤20(步驟ST206)。例如,系統(tǒng)控制器18確定地址信息在該參考位置能否被讀出。當(dāng)在 參考位置不能訪問(wèn)光盤20時(shí)或當(dāng)指示發(fā)射激光光束的位置移動(dòng)失敗的信號(hào)從光拾取器5 輸出時(shí),系統(tǒng)控制器18執(zhí)行預(yù)定內(nèi)部錯(cuò)誤處理(例如,通知外部設(shè)備內(nèi)部因素已經(jīng)引起參 考位置停止操作失敗的處理),并且,結(jié)束參考位置停止操作(步驟ST208)。
當(dāng)?shù)刂沸畔⒃趨⒖嘉恢媚鼙蛔x出時(shí),在調(diào)用(call up)參考位置停止操作之前, 系統(tǒng)控制器18在錯(cuò)誤產(chǎn)生的位置執(zhí)行查找操作(步驟ST210)。進(jìn)而,系統(tǒng)控制器18執(zhí)行 處理以例如在查找位置讀取地址信息并判斷查找操作是否以正常方式結(jié)束(步驟ST212)。 當(dāng)確認(rèn)結(jié)果是查找操作能夠以正常方式執(zhí)行時(shí),系統(tǒng)控制器18執(zhí)行返回R/W訪問(wèn)操作的處 理,并結(jié)束參考位置停止操作(步驟ST214)。
當(dāng)在步驟ST212判斷查找操作已經(jīng)再次失敗時(shí),系統(tǒng)控制器18將激光光束位置 移動(dòng)至圖6所示的參考位置(步驟ST216),并確定光盤20在參考位置能否被訪問(wèn)(步驟 ST218)。當(dāng)光盤20在參考位置不能被訪問(wèn)時(shí),系統(tǒng)控制器18執(zhí)行預(yù)定內(nèi)部錯(cuò)誤處理并結(jié) 束參考位置停止操作(步驟ST222)。
另一方面,當(dāng)?shù)刂沸畔⒃趨⒖嘉恢媚鼙蛔x出時(shí),系統(tǒng)控制器18判斷在步驟ST212 判斷查找操作失敗的位置上發(fā)生了大缺陷錯(cuò)誤,并執(zhí)行預(yù)定錯(cuò)誤處理(步驟ST220)。
大缺陷錯(cuò)誤是指由于光盤20的相對(duì)寬范圍內(nèi)的缺陷而引起的訪問(wèn)錯(cuò)誤。例如,如 果有大缺陷在圓周方向擴(kuò)展,則出現(xiàn)在伺服控制器17中伺服控制的鎖定完全丟失的情況, 或者時(shí)鐘信號(hào)不再能從讀處理器11中的擺動(dòng)信號(hào)中重現(xiàn)的情況,并且地址信息不再能被 讀取。這種情況被包含在大缺陷錯(cuò)誤檢測(cè)中。
當(dāng)判斷大缺陷已經(jīng)在光盤20上產(chǎn)生時(shí),系統(tǒng)控制器18,例如,將R/W訪問(wèn)起始的目 標(biāo)地址改變至距要訪問(wèn)的初始失敗地址預(yù)定地址寬度(第二地址寬度)的位置,并且再次 執(zhí)行R/W訪問(wèn)。在這種情況下的第二地址寬度被設(shè)置成大于在小缺陷產(chǎn)生的情況下的第一 地址寬度。即,根據(jù)預(yù)測(cè)缺陷的大小適當(dāng)?shù)卦O(shè)置改變后的地址寬度。
對(duì)圖3的步驟ST136或圖4的步驟ST158中的錯(cuò)誤原因的判斷處理作了解釋。
圖7是說(shuō)明用于判斷訪問(wèn)錯(cuò)誤是否由光盤20的缺陷或由振蕩引起的錯(cuò)誤判斷處 理的流程圖。
首先,系統(tǒng)控制器18判斷,在訪問(wèn)重試中,伺服控制器17的不良伺服控制(伺服 控制的鎖定的暫時(shí)丟失)是否在光盤20的預(yù)定鄰近范圍內(nèi)重復(fù)發(fā)生(步驟ST400)。
例如,系統(tǒng)控制器18判斷在先前的訪問(wèn)錯(cuò)誤中發(fā)生不良伺服控制的光盤20上的 位置和在當(dāng)前的訪問(wèn)錯(cuò)誤中發(fā)生不良伺服控制的光盤20上的位置之間的距離是否比預(yù)定距離更短。
當(dāng)判斷鄰近范圍內(nèi)不良伺服控制重復(fù)發(fā)生時(shí),系統(tǒng)控制器18作出光盤20的缺陷 引起訪問(wèn)錯(cuò)誤的判斷,并且結(jié)束錯(cuò)誤判斷處理(步驟ST412)。
當(dāng)在步驟ST400判斷在附近范圍內(nèi)不良伺服控制沒(méi)有重復(fù)發(fā)生時(shí),系統(tǒng)控制器18 在訪問(wèn)失敗時(shí)判斷馬達(dá)控制器15對(duì)旋轉(zhuǎn)速度的不良控制是否發(fā)生(步驟ST402)。
旋轉(zhuǎn)速度的不良控制可能不是由于光盤20的缺陷而產(chǎn)生的,那么在訪問(wèn)失敗時(shí), 如果馬達(dá)控制器15受到旋轉(zhuǎn)速度的不良控制,則系統(tǒng)控制器18判斷是振蕩引起訪問(wèn)錯(cuò)誤 產(chǎn)生,并結(jié)束錯(cuò)誤判斷處理(步驟ST414)。
當(dāng)在步驟ST402判斷在訪問(wèn)失敗時(shí),旋轉(zhuǎn)速度的不良控制沒(méi)有發(fā)生,系統(tǒng)控制器 18判斷,在訪問(wèn)重試中,讀處理器11的不良時(shí)鐘信號(hào)重現(xiàn)處理(用于重現(xiàn)時(shí)鐘信號(hào)的PLL 電路的鎖定丟失)在光盤20的預(yù)定鄰近范圍內(nèi)是否重復(fù)發(fā)生(步驟ST404)。
當(dāng)判斷不良時(shí)鐘信號(hào)重現(xiàn)處理在預(yù)定鄰近范圍內(nèi)重復(fù)發(fā)生時(shí),系統(tǒng)控制器18作 出光盤20的缺陷引起訪問(wèn)錯(cuò)誤的判斷,并結(jié)束錯(cuò)誤判斷處理(步驟ST412)。
當(dāng)在步驟ST404判斷不良時(shí)鐘信號(hào)重現(xiàn)處理沒(méi)有在預(yù)定鄰近范圍內(nèi)重復(fù)發(fā)生時(shí), 系統(tǒng)控制器18判斷在訪問(wèn)失敗時(shí),由偏斜檢測(cè)器12檢測(cè)的光盤20的偏斜是否超過(guò)預(yù)定閾 值(步驟ST406)。
光盤20的傾斜可能不是由光盤20的缺陷引起的,所以在訪問(wèn)失敗時(shí),如果超過(guò)了 閾值的偏斜被檢測(cè)到,那么系統(tǒng)控制器18作出振蕩引起訪問(wèn)錯(cuò)誤的判斷,并結(jié)束錯(cuò)誤判斷 處理(步驟ST414)。
當(dāng)在步驟ST406判斷在訪問(wèn)失敗時(shí),超過(guò)閾值的偏斜沒(méi)有被檢測(cè)到,那么系統(tǒng)控 制器18判斷在訪問(wèn)重試期間,讀處理器11的不良地址信息重現(xiàn)處理在光盤20的預(yù)定鄰近 范圍內(nèi)是否重復(fù)發(fā)生(步驟ST408)。
當(dāng)判斷不良地址信息重現(xiàn)處理在預(yù)定鄰近范圍內(nèi)重復(fù)發(fā)生時(shí),系統(tǒng)控制器18作 出光盤20的缺陷引起訪問(wèn)錯(cuò)誤的判斷,并結(jié)束錯(cuò)誤判斷處理(步驟ST412)。
當(dāng)在步驟ST408判斷不良地址信息重現(xiàn)處理沒(méi)有在預(yù)定鄰近范圍內(nèi)重復(fù)發(fā)生時(shí), 系統(tǒng)控制器18判斷在訪問(wèn)失敗時(shí),由振蕩檢測(cè)器13所檢測(cè)的振蕩是否超過(guò)了預(yù)定閾值 (步驟 ST410)。
振蕩也許不是因光盤20的缺陷而產(chǎn)生的,所以,在訪問(wèn)失敗時(shí),如果超過(guò)閾值的振蕩被檢測(cè)到,系統(tǒng)控制器18判斷振蕩引起訪問(wèn)錯(cuò)誤,并結(jié)束錯(cuò)誤判斷處理(步驟ST414)。
另一方面,當(dāng)在步驟ST410中判斷訪問(wèn)失敗時(shí)超過(guò)閾值的振蕩沒(méi)有被檢測(cè)到時(shí), 系統(tǒng)控制器18作出光盤20的缺陷引起訪問(wèn)錯(cuò)誤的判斷,并結(jié)束錯(cuò)誤判斷處理(步驟 ST412)。
已對(duì)在圖3的步驟ST140和圖4的步驟ST162中的缺陷錯(cuò)誤處理作了解釋。
圖8是當(dāng)判斷在訪問(wèn)中光盤20的缺陷引起失敗超過(guò)上限數(shù)目時(shí)執(zhí)行的缺陷錯(cuò)誤 處理的流程圖。
首先,系統(tǒng)控制器18判斷地址信息能否從光盤20讀取(步驟ST500)。例如,系 統(tǒng)控制器18判斷錯(cuò)誤是否已經(jīng)發(fā)生,例如伺服控制器17隨著伺服控制的鎖定的完全丟失 而結(jié)束。當(dāng)這種錯(cuò)誤沒(méi)有發(fā)生而且地址信息能被讀出時(shí),系統(tǒng)控制器18將訪問(wèn)目的地改變 至恰好相距第一地址寬度的地址,并決定再次執(zhí)行R/W訪問(wèn),并結(jié)束缺陷錯(cuò)誤處理(步驟 ST502)。這種情況下,系統(tǒng)控制器18將光盤20的缺陷看作是小缺陷,并設(shè)置地址改變的范 圍。
當(dāng)在步驟ST500判斷地址信息不能被讀出時(shí),系統(tǒng)控制器18在從訪問(wèn)失敗的地址 開(kāi)始的預(yù)定地址范圍內(nèi)搜索可讀地址(步驟ST504)。進(jìn)而,如果在這個(gè)地址范圍內(nèi)有可讀 地址,系統(tǒng)控制器18將訪問(wèn)目的地改變至該地址,同時(shí)決定再次執(zhí)行R/W訪問(wèn),并結(jié)束缺陷 錯(cuò)誤處理(步驟ST506)。
當(dāng)在步驟ST504判斷在預(yù)定地址范圍內(nèi)沒(méi)有可讀地址時(shí),系統(tǒng)控制器18執(zhí)行移動(dòng) 發(fā)射激光光束的位置至參考位置的處理,以確定在光盤20的參考位置訪問(wèn)是否可能(步驟 ST508、ST510、ST512、和ST514)。該處理與已作解釋的處理步驟ST200、ST202、ST300、和 ST302相同。
在確認(rèn)發(fā)射激光光束位置的移動(dòng)中,系統(tǒng)控制器18確定在該參考位置,訪問(wèn)光盤 20是否可能(步驟ST516)。例如,系統(tǒng)控制器18確定在該參考位置,地址信息能否被讀取。 當(dāng)光盤20在參考位置不能被訪問(wèn),或指示發(fā)射激光光束的位置移動(dòng)失敗的信號(hào)由光拾取 器5輸出時(shí),系統(tǒng)控制器18執(zhí)行預(yù)定的內(nèi)部錯(cuò)誤處理,并結(jié)束缺陷錯(cuò)誤處理(步驟ST518)。
當(dāng)在參考位置地址信息能被讀取時(shí),系統(tǒng)控制器18決定改變?cè)L問(wèn)目的地至恰好 相距第二地址寬度的地址,并再次執(zhí)行R/W訪問(wèn),并結(jié)束缺陷錯(cuò)誤處理(步驟ST520)。這種 情況下,系統(tǒng)控制器18估計(jì)光盤20的缺陷是上述的大缺陷,并設(shè)置地址改變的數(shù)量。
如上面所作的說(shuō)明,根據(jù)按照本實(shí)施例的光盤設(shè)備,如果不良的伺服控制、不良的 時(shí)鐘信號(hào)重現(xiàn)處理、或訪問(wèn)失敗的其他預(yù)定原因在光盤20上的預(yù)定鄰近范圍內(nèi)重復(fù)出現(xiàn), 則系統(tǒng)控制器判斷是光盤20的缺陷引起訪問(wèn)失敗。
所以,由光盤20的缺陷引起的訪問(wèn)失敗能夠明顯地與由其它因素引起的訪問(wèn)失 敗辨別開(kāi)來(lái)。由此,對(duì)于由光盤20的缺陷引起的訪問(wèn)失敗,適當(dāng)處理是可能的。
進(jìn)而,在光盤設(shè)備中,訪問(wèn)重試時(shí),如果不良的伺服控制、不良的時(shí)鐘信號(hào)重現(xiàn)處 理、或訪問(wèn)失敗的另外原因在光盤20上的預(yù)定鄰近范圍內(nèi)重復(fù)出現(xiàn),訪問(wèn)失敗時(shí),如果由 振蕩檢測(cè)器13所檢測(cè)的振蕩超過(guò)預(yù)定閾值,可以判斷是振蕩引起訪問(wèn)失敗,而如果檢測(cè)的 振蕩沒(méi)有超過(guò)預(yù)定閾值,可以判斷是光盤20的缺陷引起訪問(wèn)失敗。
因此,如果由光盤20的缺陷引起訪問(wèn)失敗和如果由從外部源施加的振蕩引起訪 問(wèn)失敗,這些失敗能夠被清楚地區(qū)分。由此,對(duì)由于光盤20的缺陷引起的訪問(wèn)失敗和由振蕩引起的訪問(wèn)失敗的錯(cuò)誤判斷較少出現(xiàn),并且能夠分別針對(duì)失敗原因進(jìn)行適當(dāng)?shù)腻e(cuò)誤處理。
進(jìn)而,在光盤設(shè)備中,當(dāng)光盤20的缺陷已引起訪問(wèn)失敗的判斷被重復(fù)超過(guò)重試次 數(shù)Nd的上限值時(shí),訪問(wèn)重試被終止,且缺陷錯(cuò)誤處理被執(zhí)行。當(dāng)振蕩引起訪問(wèn)失敗的判斷 被重復(fù)超過(guò)外部因素超時(shí)時(shí)間Ts時(shí),訪問(wèn)重試被終止,且對(duì)于外部因素的預(yù)定錯(cuò)誤處理被 執(zhí)行。
由此,對(duì)于光盤20的缺陷引起訪問(wèn)失敗的情況和振蕩引起訪問(wèn)失敗的情況,轉(zhuǎn)換 錯(cuò)誤處理的條件能夠被分別設(shè)定。
通常,當(dāng)由于光盤20內(nèi)的缺陷引起訪問(wèn)失敗產(chǎn)生時(shí),即使重復(fù)重試訪問(wèn)嘗試,被 浪費(fèi)的處理時(shí)間結(jié)束變長(zhǎng)。與此相反,當(dāng)由于振蕩引起訪問(wèn)失敗產(chǎn)生時(shí),有一個(gè)很好的機(jī) 會(huì),即在預(yù)定時(shí)間之后,訪問(wèn)將變得可能,所以,設(shè)定大數(shù)目的重試次數(shù)是必要的。因此,有 可能清楚地分辨由光盤20的缺陷引起的訪問(wèn)失敗和由振蕩引起的訪問(wèn)失敗,并且按照確 定的失敗原因,適當(dāng)?shù)卦O(shè)置訪問(wèn)重試時(shí)間或重試次數(shù)。因此,按照失敗原因適當(dāng)?shù)貓?zhí)行錯(cuò)誤 處理,同時(shí)抑制由于多次重試或嘗試而被浪費(fèi)的處理時(shí)間是可能的。
進(jìn)而,當(dāng)由于光盤20上的指定地址而使光盤20的缺陷引起訪問(wèn)失敗時(shí),如果地址 信息能從光盤20被讀取,則訪問(wèn)目的地被改變至與訪問(wèn)失敗的地址恰好距離第一地址寬 度的地址。另一方面,如果地址信息不被讀取,則調(diào)查在光盤20的預(yù)定參考位置上訪問(wèn)是 否可能。進(jìn)而,如果該確定顯示在參考位置的訪問(wèn)是可能的,那么訪問(wèn)目的地被改變至恰好 距離訪問(wèn)失敗的地址第二地址寬度的地址,該第二地址寬度大于第一地址寬度。
因此,當(dāng)估計(jì)的缺陷等級(jí)相對(duì)大時(shí),訪問(wèn)目的地被改變至與當(dāng)估計(jì)缺陷等級(jí)小時(shí) 相比更遠(yuǎn)的位置,以使訪問(wèn)可以被完成,同時(shí)在跳過(guò)訪問(wèn)時(shí)抑制被浪費(fèi)的存儲(chǔ)區(qū)域的增加。
特別的,當(dāng)寫數(shù)據(jù)被實(shí)時(shí)傳送至光盤20時(shí),如果由于訪問(wèn)失敗而使寫處理中的延 遲被延長(zhǎng),則FIFO單元2可能溢出,所以,最好盡快重新啟動(dòng)寫操作。在這一方面,按照跳至 恰好距離預(yù)設(shè)的地址寬度的位置的上述方法,與無(wú)休止地尋找可訪問(wèn)的地址的方法相比, 能夠以更高的速度重新啟動(dòng)寫操作,所以,能夠有效地避免FIFO單元2的溢出。
第三實(shí)施例
對(duì)本發(fā)明的第三實(shí)施例作解釋。
第三實(shí)施例是有關(guān)跟蹤錯(cuò)誤是否已經(jīng)變得比預(yù)定極限更大的判斷的實(shí)施例。
圖9是有關(guān)光盤20中的跟蹤錯(cuò)誤的判斷部分的結(jié)構(gòu)示例。圖9和圖1中相同的 參考數(shù)字表示同一元件。注意,光盤設(shè)備的結(jié)構(gòu)除了圖9中所示的有關(guān)跟蹤錯(cuò)誤判斷的部 分之外的其余部分與圖1所示的光盤設(shè)備相同。
在圖9的示例中,光敏元件9有光學(xué)檢測(cè)器91和92。RF信號(hào)處理器10有微分放 大器101。伺服控制器16有判斷單元161、162和163。
包含判斷單元161、162和163的單元是跟蹤錯(cuò)誤判斷單元的實(shí)施例。
光學(xué)檢測(cè)器91和92將從光盤20反射的光束轉(zhuǎn)換成電信號(hào)。光學(xué)檢測(cè)器91和 92,例如,如圖9所示,被對(duì)稱地設(shè)置在一個(gè)平面上。當(dāng)用激光光束在中心部分撞擊信息軌 道時(shí),光學(xué)檢測(cè)器91和92的輸出信號(hào)的電平變得基本上相等。
微分放大器101放大并輸出光學(xué)檢測(cè)器91和92的輸出信號(hào)電平的差值。微分放 大器101的輸出信號(hào)TE對(duì)應(yīng)于發(fā)射激光光束的位置相對(duì)于信息軌道的偏差(跟蹤錯(cuò)誤)14的檢測(cè)數(shù)值。
當(dāng)微分放大器101的輸出信號(hào)TE的等級(jí)(即,由微分放大器101檢測(cè)的跟蹤錯(cuò)誤 的等級(jí))在時(shí)間TA內(nèi)超過(guò)閾值THA時(shí),判斷單元161判斷跟蹤錯(cuò)誤的等級(jí)已經(jīng)達(dá)到第一錯(cuò) 誤判斷基準(zhǔn)。
當(dāng)由振蕩檢測(cè)器13所檢測(cè)的振蕩已經(jīng)變得比預(yù)定閾值更大,并且信號(hào)TE的等級(jí) 在時(shí)間TB內(nèi)超過(guò)閾值THB時(shí),判斷單元162判斷跟蹤錯(cuò)誤的等級(jí)已經(jīng)達(dá)到第二錯(cuò)誤判斷基 準(zhǔn)。然而,閾值THB大于閾值THA,并且時(shí)間TB比時(shí)間TA更短。
當(dāng)在判斷單元161或162中,跟蹤錯(cuò)誤的等級(jí)達(dá)到第一錯(cuò)誤判斷基準(zhǔn)或第二錯(cuò)誤 判斷基準(zhǔn)時(shí),判斷單元163輸出表示跟蹤錯(cuò)誤已經(jīng)變得比某一極限更大(S卩,不良的跟蹤控 制已經(jīng)產(chǎn)生)的信號(hào)ERR_T。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu),當(dāng)由振蕩檢測(cè)器13所檢測(cè)的振蕩小于預(yù)定的閾值時(shí),判斷是否已 經(jīng)達(dá)到第一錯(cuò)誤判斷基準(zhǔn),當(dāng)由振蕩檢測(cè)器13所檢測(cè)的振蕩大于預(yù)定的閾值時(shí),除該第一 錯(cuò)誤判斷基準(zhǔn)之外,還判斷是否已經(jīng)達(dá)到第二錯(cuò)誤判斷基準(zhǔn)。
圖10是微分放大器101的輸出信號(hào)TE在各種情況下的波形示例。
圖10(A)示出了信號(hào)TE在光盤設(shè)備受到強(qiáng)烈震動(dòng)的情況下的波形。在這種情況 下,信號(hào)TE在相當(dāng)短的時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生了大的峰值。
圖10⑶示出了信號(hào)TE在光盤20有缺陷的情況下的波形。在這種情況下,信號(hào) TE有持續(xù)比受到震動(dòng)的情況更長(zhǎng)時(shí)間的較低的峰值。
圖10(C)示出了信號(hào)TE在光盤20有較小缺陷的情況下的波形。在這種情況下, 信號(hào)TE有持續(xù)比受到震動(dòng)的情況更短時(shí)間的較低的峰值。
在圖10㈧和圖10⑶中的波形示例所示的情況下,判斷跟蹤錯(cuò)誤是否已超過(guò)某 一極限很有必要。在圖10(c)的情況下,就是說(shuō),光盤20發(fā)生較小缺陷的情況下,即使進(jìn)行 連續(xù)訪問(wèn),也通常沒(méi)有問(wèn)題發(fā)生,所以最好不去判斷跟蹤錯(cuò)誤是否已經(jīng)超過(guò)預(yù)定極限。
然而,在傳統(tǒng)的光盤設(shè)備中,通常單個(gè)判斷標(biāo)準(zhǔn)被用于判斷跟蹤錯(cuò)誤是否已經(jīng)發(fā) 生,所以就出現(xiàn)一個(gè)問(wèn)題,即不易于分辨施加強(qiáng)烈震動(dòng)的情況和小缺陷發(fā)生的情況。例如, 在圖10的波形示例中,如果僅僅依靠第一判斷標(biāo)準(zhǔn)(閾值THA,時(shí)間TA)來(lái)判斷,由于脈沖 寬度t2和t4在圖10(A)和圖10(C)的情況下很接近,所以分辨兩者是很困難的。最近幾 年中,隨著光盤20的速度更高,小缺陷的脈沖寬度變得更小并且已經(jīng)接近于強(qiáng)烈震動(dòng)的脈 沖寬度,所以分辨兩者已變得困難。
如果為了使小缺陷的產(chǎn)生不被判斷為錯(cuò)誤而放寬錯(cuò)誤判斷基準(zhǔn),當(dāng)由于強(qiáng)烈震動(dòng) 而檢測(cè)到如圖10(A)所示的高速信號(hào)TE時(shí),錯(cuò)誤判斷中產(chǎn)生延遲,同時(shí)存儲(chǔ)內(nèi)容的重寫或 其它問(wèn)題可能發(fā)生。相反,如果錯(cuò)誤判斷基準(zhǔn)過(guò)于嚴(yán)格,即便在記錄和重現(xiàn)能夠被繼續(xù)的小 缺陷情況下,操作可能被錯(cuò)誤判斷所中斷。
與此相反,根據(jù)按照上述本實(shí)施例的光盤設(shè)備的判斷方法,當(dāng)由振蕩檢測(cè)器13檢 測(cè)的振蕩超過(guò)預(yù)定閾值或沒(méi)有超過(guò)預(yù)定閾值時(shí),使用不同的判斷標(biāo)準(zhǔn)。
就是說(shuō),當(dāng)振蕩檢測(cè)器13檢測(cè)到多于預(yù)定數(shù)量的振蕩時(shí),第一判斷標(biāo)準(zhǔn)(閾值 THA,時(shí)間TA)和第二判斷標(biāo)準(zhǔn)(閾值THB,時(shí)間TB)都變得有效,所以除了由光盤20的缺陷 引起的錯(cuò)誤(圖10(B))之外,可靠地判斷由于強(qiáng)烈震動(dòng)引起的錯(cuò)誤(圖10(A))變得可能。
另一方面,當(dāng)振蕩檢測(cè)器13沒(méi)有檢測(cè)到多于預(yù)定數(shù)量的振蕩時(shí),只有第一判斷標(biāo)15準(zhǔn)(閾值THA,時(shí)間TA)變得有效,所以,當(dāng)微小缺陷發(fā)生(圖10(C))時(shí),避免錯(cuò)誤判斷是可 能的。
因此,根據(jù)按照上述實(shí)施例的光盤設(shè)備,通過(guò)合理地設(shè)定判斷標(biāo)準(zhǔn),如果由于從外 部源給出的振蕩而導(dǎo)致的光盤20信息軌道上光束的發(fā)射位置的偏移超過(guò)預(yù)定極限,則提 高判斷的精度是可能的。由此,可靠地確定由強(qiáng)烈震動(dòng)引起的錯(cuò)誤是可能的。進(jìn)而,光盤20 上小缺陷的發(fā)生被錯(cuò)誤判斷為錯(cuò)誤的情況被減少,由于錯(cuò)誤的判斷而導(dǎo)致的記錄和重現(xiàn)的 無(wú)效中斷和不用的存儲(chǔ)區(qū)域較少。因此,減少存儲(chǔ)區(qū)域內(nèi)浪費(fèi)的信息是可能的。
第四實(shí)施例
對(duì)本發(fā)明的第四實(shí)施例作解釋。
第四實(shí)施例是關(guān)于光盤20的旋轉(zhuǎn)速度的控制的實(shí)施例。
按照第四實(shí)施例的光盤設(shè)備,例如,有與圖1所示的光盤設(shè)備類似的結(jié)構(gòu)。然而, 對(duì)于光盤20的旋轉(zhuǎn)速度的控制,系統(tǒng)控制器18執(zhí)行如下面所說(shuō)明的控制。
當(dāng)光拾取器5的發(fā)射激光光束的位置是在從光盤20的中心到預(yù)定軌道之間的區(qū) 域時(shí),系統(tǒng)控制器18指令馬達(dá)控制器15的旋轉(zhuǎn)速度以使光盤20的旋轉(zhuǎn)速度變?yōu)楹愣?。?一方面,當(dāng)發(fā)射激光光束的位置是在預(yù)定軌道至光盤20的周邊之間時(shí),系統(tǒng)控制器18指令 馬達(dá)控制器15的旋轉(zhuǎn)速度以使發(fā)射激光光束的位置以恒定的速度在光盤20的信息軌道上 移動(dòng)。
由此,當(dāng)從光盤20的盤心至發(fā)射激光光束的位置之間的距離小于預(yù)定距離時(shí),以 恒定的旋轉(zhuǎn)速度驅(qū)動(dòng)光盤20。另一方面,當(dāng)距離盤心的距離大于預(yù)定距離時(shí),驅(qū)動(dòng)光盤20 旋轉(zhuǎn)以使發(fā)射激光光束的位置在信息軌道上的移動(dòng)速度變?yōu)楹愣ā?br>
圖11示出了距光盤20的中心的距離與光盤20的旋轉(zhuǎn)速度之間關(guān)系。
如圖11所示,當(dāng)發(fā)射激光光束的位置是在與光盤20的中心相距距離R的范圍內(nèi) 時(shí),通過(guò)保持旋轉(zhuǎn)速度恒定,系統(tǒng)控制器18執(zhí)行以CAV模式訪問(wèn)光盤20的處理。進(jìn)而,通 過(guò)在發(fā)射激光光束的位置與光盤20的中心相距R的位置上保持發(fā)射激光光束的位置在信 息軌道上的移動(dòng)速度(線速度)恒定,系統(tǒng)控制器18執(zhí)行以CLV模式訪問(wèn)光盤20的處理。
進(jìn)而,當(dāng)執(zhí)行上面的操作以便在CAV模式和CLV模式之間轉(zhuǎn)換時(shí),系統(tǒng)控制器18 以CAV模式控制旋轉(zhuǎn)速度或以CLV模式控制線速度。
就是說(shuō),當(dāng)在用于將光盤20的旋轉(zhuǎn)速度控制為恒定的CAV模式下進(jìn)行操作時(shí),系 統(tǒng)控制器18指令馬達(dá)控制器15的旋轉(zhuǎn)速度以使主軸馬達(dá)16的旋轉(zhuǎn)速度變?yōu)樵谥鬏S馬達(dá) 16中的旋轉(zhuǎn)速度的預(yù)定上限。
當(dāng)在用于將線速度控制為恒定的CLV模式下進(jìn)行操作時(shí),系統(tǒng)控制器18指令馬達(dá) 控制器15的旋轉(zhuǎn)速度以使光拾取器5的輸出信號(hào)的頻率變?yōu)樵赗F信號(hào)處理器10中處理 的頻率的預(yù)定上限。
通常,與CAV模式相比,當(dāng)沿著信息軌道訪問(wèn)連續(xù)區(qū)域時(shí),CLV模式更快。因此,當(dāng) 高速訪問(wèn)連續(xù)區(qū)域時(shí),CLV模式更加有利。然而,傳統(tǒng)的光盤設(shè)備或以CLV模式操作,或以 CAV模式操作,所以,主軸馬達(dá)的旋轉(zhuǎn)速度的性能極限要求犧牲訪問(wèn)速度。
就是說(shuō),在CLV模式下,越靠近光盤的內(nèi)側(cè),就需要光盤的旋轉(zhuǎn)速度越高,所以,主 軸馬達(dá)的旋轉(zhuǎn)速度的性能極限導(dǎo)致線速度受限。當(dāng)以受限的線速度從光拾取器拾取的RF 信號(hào)的頻率低于RF信號(hào)處理電路中可以處理的頻率的上限時(shí),不能充分顯示原始的訪問(wèn)速度性能。
另一方面,根據(jù)按照本實(shí)施例的上述光盤設(shè)備,在主軸馬達(dá)的旋轉(zhuǎn)速度到達(dá)其極 限的光盤20的內(nèi)部區(qū)域中,CAV模式用于訪問(wèn),同時(shí)在RF信號(hào)處理器10的頻帶達(dá)到其極 限的光盤20的外部區(qū)域中,CLV模式用于訪問(wèn)。由此,在主軸馬達(dá)16和RF信號(hào)處理器10 的性能極限的范圍之內(nèi),實(shí)現(xiàn)盡可能高的訪問(wèn)速度是可能的。
進(jìn)而,因?yàn)榭梢詮闹鬏S馬達(dá)16和RF信號(hào)處理器10中抽取最高性能,所以能夠大 大提高CAV模式的訪問(wèn)速度和CLV模式的數(shù)據(jù)傳遞速度。
第五實(shí)施例
對(duì)本發(fā)明的第五實(shí)施例作說(shuō)明。
第五實(shí)施例是有關(guān)查找速度的提高的實(shí)施例。
按照本實(shí)施例的光盤設(shè)備有著與例如圖1所示的光盤設(shè)備相似的結(jié)構(gòu),并且如下 面所說(shuō)明的訪問(wèn)光盤。
就是說(shuō),本實(shí)施例中將要被訪問(wèn)的光盤有以螺旋形結(jié)構(gòu)形成的信息軌道。該信息 軌道被分割成多個(gè)扇區(qū)且為其每一個(gè)都分配了地址。在每個(gè)扇區(qū)中,沿著信息軌道連續(xù)記 錄重現(xiàn)指定的地址所需的信息。
例如,光盤的這種結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)于基于被稱為“Blu-ray”的標(biāo)準(zhǔn)的光盤。
Blu-ray光盤的信息軌道被分割成被稱作“RUB”的64K字節(jié)的扇區(qū)。一個(gè)RUB進(jìn) 一步被分割成三個(gè)扇區(qū)。在這三個(gè)扇區(qū)中,一個(gè)地址信息被記錄。
通過(guò)根據(jù)地址信息來(lái)調(diào)制擺動(dòng)的周期性形狀的方法,在一個(gè)扇區(qū)中的地址信息沿 著信息軌道被連續(xù)地記錄。因此,跟蹤1個(gè)RUB的1/3扇區(qū)對(duì)于重現(xiàn)一個(gè)地址信息很有必 要。
當(dāng)在這樣一個(gè)光盤的圓周方向上移動(dòng)激光光束的發(fā)射位置時(shí),普通的光盤設(shè)備沿 著信息軌道在一預(yù)定方向上移動(dòng)發(fā)射位置。例如,在訪問(wèn)期間,可能使激光光束的發(fā)射位置 不在相反方向上移動(dòng)。
圖12是在普通光盤設(shè)備中的查找操作示例。
在圖12中,符號(hào)‘T(n-l)’、‘T(n)’,...表示信息軌道,而符號(hào)‘S(i)’, ‘S(i+1)’,...表示劃分信息軌道的扇區(qū)。進(jìn)而,符號(hào)‘Al’至‘A3’表示信息軌道上的地址。
光盤設(shè)備按照軌道!^!!-!)、!^!!)、!^!!+!),...的順序,沿著一個(gè)方向移動(dòng)激光光 束的發(fā)射位置,
在圖12㈧的示例中,地址A2在查找操作前位于軌道T(n-l)上,要被訪問(wèn)的地址 Al位于軌道T(n+1)上。如果執(zhí)行查找操作,激光光束的發(fā)射位置被移至軌道T(η)的地址 A3, T (η)是要被訪問(wèn)的地址Al所在軌道T (η+1)之前的一個(gè)軌道。
在普通的光盤設(shè)備中,使地址跳至訪問(wèn)地址所在的軌道之前的一個(gè)軌道,例如,如 圖12(B)所示,有時(shí)跳至的地址A3被包含在包括訪問(wèn)地址Al的扇區(qū)S(i+1)之前的一個(gè)扇 區(qū)S(i)中。正如上面所說(shuō)明的,要重現(xiàn)一個(gè)地址信息,跟蹤一個(gè)扇區(qū)很有必要,所以在這種 情況下,當(dāng)沿著從地址A3至地址Al的方向進(jìn)行跟蹤時(shí),首先被重現(xiàn)的地址信息變?yōu)樯葏^(qū) S(i+1)的地址信息。在獲得扇區(qū)S(i+1)的地址信息時(shí),光盤設(shè)備能夠作出判斷以確定查找 操作是否已經(jīng)被正確執(zhí)行,但是此時(shí),激光光束的發(fā)射位置已經(jīng)過(guò)了已訪問(wèn)的地址Al。因 此,從這個(gè)位置沿著相反的方向跟蹤是不可能的,所以在這種情況下,光盤設(shè)備就返回至軌道T(n),然后再次跟蹤信息軌道以嘗試訪問(wèn)地址Al。
就是說(shuō),在普通的光盤設(shè)備中,當(dāng)執(zhí)行跟蹤操作以獲得一個(gè)扇區(qū)的地址信息時(shí),有 時(shí)查找目標(biāo)地址在被通過(guò)時(shí)結(jié)束。這種情況下有一個(gè)問(wèn)題,即查找操作和跟蹤操作將被不 必要地重復(fù)。
相反,在本實(shí)施例的光盤設(shè)備的系統(tǒng)控制器18中,當(dāng)沿著光盤20的徑向朝著訪 問(wèn)地址移動(dòng)激光光束的發(fā)射位置來(lái)執(zhí)行查找操作時(shí),沿徑向跳的信息軌道的圈數(shù)(軌道數(shù) 目)被確定,以便當(dāng)沿上面的一個(gè)方向前進(jìn)時(shí),查找操作之后激光光束的發(fā)射位置被包含 在距訪問(wèn)扇區(qū)至少兩扇區(qū)的扇區(qū)中。
例如,如圖13所示,查找后的地址A3被包含在含有訪問(wèn)地址Al的扇區(qū)S(i+1)之 前兩扇區(qū)的扇區(qū)s(i-l)中。因此,當(dāng)從查找后的位置執(zhí)行跟蹤操作時(shí),第一個(gè)被重現(xiàn)的地 址信息變?yōu)樯葏^(qū)s(i)的地址信息。這個(gè)地址信息能夠在激光光束的發(fā)射位置到達(dá)訪問(wèn)地 址Al之前被得到。因此,系統(tǒng)控制器18確認(rèn)查找操作基于所獲得的地址信息以正常的方 式被執(zhí)行,并且能夠在沒(méi)有返回的情況下訪問(wèn)地址Al。
注意,系統(tǒng)控制器18也可以在查找操作之后,執(zhí)行檢測(cè)地址信息的讀取錯(cuò)誤的處 理。就是說(shuō),在查找操作結(jié)束之后,可以執(zhí)行跟蹤操作,以從讀處理器11獲得信息軌道上兩 個(gè)相鄰扇區(qū)的地址信息,并且根據(jù)所獲得的兩個(gè)地址檢測(cè)地址信息的讀取錯(cuò)誤。例如,通過(guò) 確定所獲得的兩個(gè)地址信息顯示的地址是否是連續(xù)的,來(lái)檢測(cè)讀取錯(cuò)誤。
當(dāng)檢測(cè)該地址信息的讀取錯(cuò)誤時(shí),有必要將查找操作之后的激光光束的發(fā)射位置 設(shè)置到一個(gè)比圖13 (圖14)所示的情況前方更遠(yuǎn)的扇區(qū)上。
就是說(shuō),當(dāng)系統(tǒng)控制器18執(zhí)行一個(gè)查找操作時(shí),沿徑向所跳的軌道數(shù)目被確定, 以便在查找操作之后激光光束的發(fā)射位置被包含在距訪問(wèn)扇區(qū)至少三個(gè)扇區(qū)的扇區(qū)中。根 據(jù)該結(jié)果,激光光束的發(fā)射位置被移動(dòng),然后系統(tǒng)控制器18執(zhí)行檢測(cè)上述地址信息的讀取 錯(cuò)誤的處理。
例如,如圖14所示,查找后的地址A3被包含在含有訪問(wèn)地址Al的扇區(qū)S (i+Ι)之 前三扇區(qū)的扇區(qū)S(i-2)中。如果從查找后的地址A3開(kāi)始執(zhí)行跟蹤操作,扇區(qū)S(i-l)和 S(i)的地址信息能被獲得,從而達(dá)到地址Al的扇區(qū)S(i+1)。因此,系統(tǒng)控制器18基于所 獲得的兩個(gè)地址信息,確認(rèn)查找操作已經(jīng)以正常方式被執(zhí)行,或地址信息的讀取錯(cuò)誤已經(jīng) 或沒(méi)有發(fā)生,從而能夠在不返回的情況下訪問(wèn)地址Al。
這樣,根據(jù)按照本實(shí)施例的光盤設(shè)備,在查找操作之后讀取地址信息避免了激光 光束的發(fā)射位置在通過(guò)訪問(wèn)地址時(shí)結(jié)束的問(wèn)題,從而,消除查找操作的無(wú)用重復(fù)和加速查 找操作是可能的。
第六實(shí)施例
對(duì)本發(fā)明的第六實(shí)施例作說(shuō)明。
圖15是按照本發(fā)明第六實(shí)施例的圖像拾取設(shè)備的結(jié)構(gòu)方框圖。
圖15所示的圖像拾取設(shè)備有圖像拾取器100、圖像數(shù)據(jù)處理器200、顯示器300、和 光盤設(shè)備400。
圖像拾取器100拾取移動(dòng)圖像或靜止圖像并產(chǎn)生圖像數(shù)據(jù)。
圖像數(shù)據(jù)處理器200通過(guò)編碼、濾波、像素?cái)?shù)量變換、或其它預(yù)定的圖像處理來(lái)處 理從圖像拾取器100輸出的圖像數(shù)據(jù),并在光盤設(shè)備400中記錄結(jié)果。
進(jìn)而,從光盤設(shè)備400讀取的圖像數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)譯碼、濾波、像素?cái)?shù)量變換、或其它預(yù) 定的圖像處理被處理,以產(chǎn)生提供給顯示器300的圖像信號(hào)。
顯示器300顯示由圖像數(shù)據(jù)處理器200提供的圖像信號(hào)。
光盤設(shè)備400是第一至第五實(shí)施例中的任何一個(gè)的光盤設(shè)備,并依據(jù)圖像數(shù)據(jù)處 理器200的命令記錄或重現(xiàn)圖像數(shù)據(jù)。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu)的圖像拾取設(shè)備,在光盤設(shè)備400中,由于光盤缺陷而引起的訪問(wèn) 失敗和由于外部源施加的振蕩而引起的訪問(wèn)失敗能夠被清楚地分辨,并且能夠根據(jù)失敗原 因執(zhí)行適當(dāng)?shù)腻e(cuò)誤處理。因此,能夠提高圖像數(shù)據(jù)的記錄操作的可靠性。
進(jìn)而,即使當(dāng)振蕩引起訪問(wèn)失敗時(shí),也可以很快地返回記錄操作,所以能夠有效地 防止實(shí)時(shí)產(chǎn)生的圖像數(shù)據(jù)的丟失。
因?yàn)橛蓮?qiáng)烈振蕩引起的不良跟蹤控制能夠被可靠地檢測(cè),所以在這點(diǎn)上,圖像數(shù) 據(jù)的丟失也同樣能被阻止。
由于在光盤設(shè)備400中,光盤的旋轉(zhuǎn)控制模式被適當(dāng)?shù)剞D(zhuǎn)換,所以圖像數(shù)據(jù)的高 速記錄或重現(xiàn)變得可能。
由于在光盤設(shè)備400中,不再有查找操作或跟蹤操作的無(wú)用重復(fù),所以圖像數(shù)據(jù) 的高速記錄或重現(xiàn)變得可能。
以上,本發(fā)明的幾個(gè)實(shí)施例已作解釋,但是本發(fā)明不局限于這些實(shí)施例,各種更改 皆有可能。
例如,在上述實(shí)施例中的處理至少可以通過(guò)電腦和程序部分地實(shí)現(xiàn)。例如,伺服控 制器或系統(tǒng)控制器可以通過(guò)專用電腦來(lái)實(shí)現(xiàn)或通過(guò)相同的電腦來(lái)實(shí)現(xiàn)。
權(quán)利要求
1.一種用于訪問(wèn)光盤上的指定地址的光盤設(shè)備,所述光盤設(shè)備包括控制器,在訪問(wèn)光盤上一指定地址時(shí)、當(dāng)所述控制器判斷是所述光盤的缺陷引起訪問(wèn) 失敗時(shí),如果從所述光盤上讀取出有關(guān)地址的信息,則所述控制器將訪問(wèn)目的地改變至距 離引起失敗訪問(wèn)嘗試的地址恰好第一地址寬度的地址,否則,如果未讀取出有關(guān)地址的信 息,則控制器決定在所述光盤的預(yù)定參考位置訪問(wèn)是否可能,并且,如果在所述參考位置訪 問(wèn)可能,那么控制器將訪問(wèn)目的地改變至距離引起失敗訪問(wèn)嘗試的地址恰好第二地址寬度 的地址,所述第二地址寬度大于所述第一地址寬度。
2.如權(quán)利要求1所述的光盤設(shè)備,其中,如果未讀取出有關(guān)地址的信息,則在確定所述 預(yù)定參考位置之前,所述控制器在從所述未被訪問(wèn)的地址開(kāi)始的預(yù)定地址范圍內(nèi)搜索可讀 地址,并且如果所述范圍有可讀地址,則該控制器將訪問(wèn)目的地改變至所述地址,而如果所 述范圍沒(méi)有可讀地址,則該控制器確定所述參考位置。
3.如權(quán)利要求1所述的光盤設(shè)備,其中,如果訪問(wèn)失敗的預(yù)定原因在所述光盤的預(yù)定 鄰近范圍內(nèi)重復(fù)出現(xiàn),則所述控制器在判斷在所述訪問(wèn)嘗試的重試中所述光盤的缺陷引起 訪問(wèn)失敗時(shí),執(zhí)行重試失敗的訪問(wèn)嘗試的處理,而當(dāng)重復(fù)該判斷超過(guò)預(yù)定時(shí)間或預(yù)定次數(shù) 時(shí),所述控制器執(zhí)行訪問(wèn)目的地改變處理。
4.如權(quán)利要求3所述的光盤設(shè)備,所述光盤設(shè)備進(jìn)一步包括振蕩檢測(cè)器,用來(lái)檢測(cè)在該光盤中出現(xiàn)的振蕩,其中,當(dāng)在所述訪問(wèn)嘗試的重試中訪問(wèn)失敗的原因在所述預(yù)定鄰近范圍內(nèi)沒(méi)有重復(fù)出 現(xiàn)且訪問(wèn)失敗時(shí)由所述振蕩檢測(cè)器檢測(cè)的振蕩超過(guò)預(yù)定閾值時(shí),所述控制器判斷是否是振 蕩引起訪問(wèn)失敗,而當(dāng)所述振蕩沒(méi)有超過(guò)該預(yù)定閾值時(shí),所述控制器判斷是否是所述光盤 的缺陷引起訪問(wèn)失敗。
全文摘要
提供了一種能夠提高訪問(wèn)速度的光盤設(shè)備和一種具有這樣的光盤設(shè)備的圖像拾取設(shè)備。在主軸馬達(dá)的旋轉(zhuǎn)速度達(dá)到其極限的光盤的內(nèi)部區(qū)域中,將CAV模式用于訪問(wèn),而在RF信號(hào)處理器的頻帶達(dá)到其極限的光盤的外部區(qū)域中,將CLV模式用于訪問(wèn)。實(shí)現(xiàn)了在主軸馬達(dá)和RF信號(hào)處理器的性能極限范圍內(nèi)的最大程度的高速訪問(wèn)。
文檔編號(hào)G11B19/04GK102034512SQ20101052694
公開(kāi)日2011年4月27日 申請(qǐng)日期2005年2月24日 優(yōu)先權(quán)日2004年2月24日
發(fā)明者寺田明生, 永友孝志, 田中則夫, 鈴木雄一 申請(qǐng)人:索尼株式會(huì)社