本發(fā)明涉及ecc算法，具體涉及一種存儲(chǔ)陣列的ecc校驗(yàn)方法及裝置。

背景技術(shù)：

1、基于漢明碼的ecc校驗(yàn)方法是常用的一種對(duì)存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)的方法，該方法在otp、flash、sram等存儲(chǔ)器中經(jīng)常使用。漢明碼將有效信息按某種規(guī)律分成若干組，每組安排一個(gè)校驗(yàn)位通過(guò)異或運(yùn)算進(jìn)行校驗(yàn)，得出具體的ecc校驗(yàn)碼。在存儲(chǔ)器中，常將預(yù)先計(jì)算好的ecc校驗(yàn)碼存放于存儲(chǔ)器中，在取讀數(shù)據(jù)時(shí)對(duì)數(shù)據(jù)計(jì)算ecc，計(jì)算得ecc校驗(yàn)碼與預(yù)存儲(chǔ)的校驗(yàn)碼進(jìn)行比對(duì)，從而得知數(shù)據(jù)是否存在錯(cuò)誤，并修正錯(cuò)誤。

2、現(xiàn)有技術(shù)采用并發(fā)計(jì)算方式，將數(shù)據(jù)全部取出放入臨時(shí)存儲(chǔ)器中，計(jì)算ecc校驗(yàn)碼；校驗(yàn)碼比對(duì)后，若發(fā)現(xiàn)存在1bit錯(cuò)誤則把錯(cuò)誤修正之后將數(shù)據(jù)送出；若沒(méi)有錯(cuò)誤則直接送出數(shù)據(jù)；若發(fā)現(xiàn)多bit錯(cuò)誤，則丟棄數(shù)據(jù)。

3、現(xiàn)有的方法存在以下問(wèn)題：

4、1）需要一次性將用于計(jì)算ecc的數(shù)據(jù)全部取出放入臨時(shí)存儲(chǔ)器中，當(dāng)計(jì)算的數(shù)據(jù)量大時(shí)，需要占用大量臨時(shí)存儲(chǔ)空間；

5、2）只適用于一維數(shù)據(jù)的計(jì)算，不適用于二維數(shù)據(jù)，需要將二維數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為一維數(shù)據(jù)再進(jìn)行計(jì)算；

6、3）ecc計(jì)算使用的計(jì)算單元，隨著數(shù)據(jù)的增加而成比例增加。

7、基于這一技術(shù)背景，本發(fā)明研究了一種存儲(chǔ)陣列的ecc校驗(yàn)方法及裝置。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提出一種存儲(chǔ)陣列的ecc校驗(yàn)方法及裝置，該方法將存儲(chǔ)陣存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)分別計(jì)算出行映射數(shù)據(jù)和列映射數(shù)據(jù)，對(duì)行映射數(shù)據(jù)和列映射數(shù)據(jù)分別計(jì)算得到行ecc值和列ecc值，解決了現(xiàn)有技術(shù)需要一次性取出所有數(shù)據(jù)的問(wèn)題，特別適用于二維數(shù)據(jù)，該方法極大地節(jié)省ecc計(jì)算單元，同時(shí)，保證了ecc計(jì)算單元數(shù)量固定，不隨計(jì)算數(shù)據(jù)的增加而增加。

2、為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明第一方面提供一種存儲(chǔ)陣列的ecc校驗(yàn)方法，包括：

3、基于所述存儲(chǔ)陣存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)分別計(jì)算出行映射數(shù)據(jù)和列映射數(shù)據(jù)；

4、基于所述行映射數(shù)據(jù)和列映射數(shù)據(jù)分別計(jì)算得到行ecc值和列ecc值；

5、分別對(duì)所述行ecc值、列ecc值進(jìn)行ecc校驗(yàn)，判斷是否存在錯(cuò)誤，如果存在錯(cuò)誤進(jìn)行定位或指示。

6、本發(fā)明第二方面提供一種上述的方法所采用的存儲(chǔ)陣列的ecc校驗(yàn)裝置，包括：

7、行ecc計(jì)算單元，用于基于接收到的數(shù)據(jù)計(jì)算得到行ecc值；

8、行ecc比對(duì)單元，與所述行ecc計(jì)算單元電連接，用于將所述行ecc值與所預(yù)期的行ecc值進(jìn)行比較；

9、地址解析單元，設(shè)置有地址輸入端口；

10、列ecc計(jì)算單元，與所述地址解析單元電連接，用于基于接收到的數(shù)據(jù)計(jì)算得到列ecc值；

11、列ecc比對(duì)單元，與所述列ecc計(jì)算單元電連接，用于將所述列ecc值與所預(yù)期的列ecc值進(jìn)行比較；

12、錯(cuò)誤判斷單元，設(shè)置有錯(cuò)誤輸出端口，分別與行ecc比對(duì)單元與列ecc比對(duì)單元電連接。

13、本發(fā)明的有益效果包括：

14、（1）本發(fā)明提出的存儲(chǔ)陣列的ecc校驗(yàn)方法，將存儲(chǔ)陣存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)分別計(jì)算出行映射數(shù)據(jù)和列映射數(shù)據(jù)，對(duì)行映射數(shù)據(jù)和列映射數(shù)據(jù)分別計(jì)算得到行ecc值和列ecc值，解決了現(xiàn)有技術(shù)需要一次性取出所有數(shù)據(jù)的問(wèn)題，特別適用于二維數(shù)據(jù)，該方法極大地節(jié)省ecc計(jì)算單元，同時(shí)，保證了ecc計(jì)算單元數(shù)量固定，不隨計(jì)算數(shù)據(jù)的增加而增加。

15、（2）本發(fā)明提出的存儲(chǔ)陣列的ecc校驗(yàn)方法，可以對(duì)存在1比特錯(cuò)誤，通過(guò)ecc校驗(yàn)定位該錯(cuò)誤比特位置；對(duì)存在2比特錯(cuò)誤，通過(guò)ecc校驗(yàn)指示錯(cuò)誤比特所在的行和/或列。

16、（3）本發(fā)明提出的存儲(chǔ)陣列的ecc校驗(yàn)裝置，通過(guò)基于接收到的分組數(shù)據(jù)，進(jìn)行迭代計(jì)算得到行映射數(shù)據(jù)，得到所有行的列映射位及其ecc值，解決了現(xiàn)有技術(shù)中需要一次性輸入所有數(shù)據(jù)進(jìn)行ecc值的計(jì)算問(wèn)題，節(jié)省了ecc值的計(jì)算的軟硬件開(kāi)銷(xiāo)。

17、本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后具體實(shí)施方式部分予以詳細(xì)說(shuō)明。

技術(shù)特征：

1.一種存儲(chǔ)陣列的ecc校驗(yàn)方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述存儲(chǔ)陣存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)分別計(jì)算出行映射數(shù)據(jù)和列映射數(shù)據(jù)包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，如果存在錯(cuò)誤進(jìn)行定位或指示包括：

4.一種權(quán)利要求1-3中任意一項(xiàng)所述的方法所采用的存儲(chǔ)陣列的ecc校驗(yàn)裝置，其特征在于，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述行ecc計(jì)算單元和列ecc計(jì)算單元均設(shè)置有各自的數(shù)據(jù)輸入端口、數(shù)據(jù)有效標(biāo)志輸入端口；

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，基于接收到的數(shù)據(jù)計(jì)算得到行ecc值包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，基于接收到的數(shù)據(jù)計(jì)算得到行映射數(shù)據(jù)包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述迭代計(jì)算的終止條件為所述行ecc計(jì)算單元和列ecc計(jì)算單元的數(shù)據(jù)有效標(biāo)志輸入端口共同接收到外部輸入的最后一組數(shù)據(jù)輸入完成的標(biāo)志信號(hào)。

9.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，還包括：所述錯(cuò)誤輸出端口包括1比特錯(cuò)誤輸出端口、2比特錯(cuò)誤輸出端口，錯(cuò)誤行輸出端口和錯(cuò)誤列輸出端口。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，當(dāng)1比特錯(cuò)誤輸出端口輸出指示信號(hào)后，錯(cuò)誤行輸出端口和錯(cuò)誤列輸出端口分別指示輸出該1比特錯(cuò)誤所在的行號(hào)和列號(hào)；

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及ECC算法技術(shù)領(lǐng)域，具體公開(kāi)一種存儲(chǔ)陣列的ECC校驗(yàn)方法及裝置，該方法包括：基于所述存儲(chǔ)陣存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)分別計(jì)算出行映射數(shù)據(jù)和列映射數(shù)據(jù)；基于所述行映射數(shù)據(jù)和列映射數(shù)據(jù)分別計(jì)算得到行ECC值和列ECC值；分別對(duì)所述行ECC值、列ECC值進(jìn)行ECC校驗(yàn)，判斷是否存在錯(cuò)誤，如果存在錯(cuò)誤進(jìn)行定位或指示。本發(fā)明將存儲(chǔ)陣存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)分別計(jì)算出行映射數(shù)據(jù)和列映射數(shù)據(jù)，對(duì)行映射數(shù)據(jù)和列映射數(shù)據(jù)分別計(jì)算得到行ECC值和列ECC值，解決了現(xiàn)有技術(shù)需要一次性取出所有數(shù)據(jù)的問(wèn)題，特別適用于二維數(shù)據(jù)，該方法極大地節(jié)省ECC計(jì)算單元，同時(shí)，保證了ECC計(jì)算單元數(shù)量固定，不隨計(jì)算數(shù)據(jù)的增加而增加。

技術(shù)研發(fā)人員：殷亞?wèn)|,周常瑞,梁翔,薛通
受保護(hù)的技術(shù)使用者：蘇州領(lǐng)慧立芯科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/9/29