本技術(shù)涉及一種存儲芯片測試，特別是涉及一種芯片測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、ic芯片(i?ntegrated?ci?rcu?it集成電路)是將大量的微電子元器件集成在一起，形成一塊芯片。存儲芯片是具有存儲功能的ic芯片(如內(nèi)存芯片，又被人叫做“內(nèi)存顆粒”)。存儲芯片是存儲器件中最核心的部件，存儲芯片的質(zhì)量可以直接關(guān)系到存儲設備的性能，所以存儲芯片在出廠前要經(jīng)過嚴格的檢測。

2、一個合格的存儲芯片一般要進行兩次測試。一次是晶圓片測試，即制造好的晶圓片需要進行嚴格的測試然后進行劃片、封裝等步驟，實際上只有通過測試的晶圓顆粒(die)才會進行封裝，而未通過測試的顆粒直接被淘汰。另一次為成品測試，即通過晶圓片測試和封裝的芯片還不能算真正的產(chǎn)品，仍然需要進一步進行測試，確認沒有故障(此時故障主要是封裝過程中引起的故障)才能成為真正的合格產(chǎn)品。

3、然而，現(xiàn)有技術(shù)中針對封裝后的存儲芯片的測試多采用人工的操作方式對存儲芯片進行測試。比如人工把存儲芯片裝載入特定的夾具內(nèi)，人工再把裝好存儲芯片的夾具插入測試設備中，之后進行測試，測試完后再由人工手動拔下夾具。這種人工的操作方式效率很低，而投入的人工成本巨大。

4、鑒于此，如何開發(fā)一種性價比高的自動化的存儲芯片測試系統(tǒng)，是本領域內(nèi)技術(shù)人員普遍關(guān)注的問題。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本實用新型提供了一種芯片測試系統(tǒng)，可以快速響應自動化動作指令以及對存儲芯片開展自動化測試,大大節(jié)約了人工成本以及提高了測試效率。

2、一種芯片測試系統(tǒng),包含測試單元、控制單元、測試座、供電單元、上位機與接口單元。所述的測試座電性連接所述的測試單元,用于置放與固定存儲芯片。所述的測試單元通過串口電路連接所述的控制單元,用于測試存儲芯片。所述的供電單元電性連接所述的控制單元或/和所述的測試單元,用于給所述的芯片測試系統(tǒng)供電。所述的控制單元連接所述的上位機,用于控制所述的芯片測試系統(tǒng)工作。所述的接口單元包含燒錄接口與調(diào)試接口；其中，所述的燒錄接口包含第一燒錄接口與第二燒錄接口，所述的第一燒錄接口電性連接所述的測試單元，用于給所述的測試單元燒錄測試程序；所述的第二燒錄接口電性連接所述的控制單元，用于給所述的控制單元燒錄控制程序。所述的調(diào)試接口包含第一調(diào)試接口與第二調(diào)試接口，所述的第一調(diào)試接口電性連接所述的測試單元，用于調(diào)試所述的測試單元；所述的第二調(diào)試接口電性連接所述的控制單元，用于調(diào)試所述的控制單元。進一步地，所述的第一燒錄接口為tpye-c接口、micro-usb接口、min?i-usb接口中的一種。

3、進一步地，所述的第二燒錄接口為swd接口或jtag接口。

4、進一步地,所述的芯片測試系統(tǒng)還包含按鍵組件，所述的按鍵組件包含復位按鍵與燒錄按鍵。所述的復位按鍵包含第一復位按鍵與第二復位按鍵，所述的第一復位按鍵電性連接所述的測試單元，用于控制所述的測試單元的復位操作；所述的第二復位按鍵電性連接所述的控制單元，用于控制所述的控制單元的復位操作。所述的燒錄按鍵包含第一燒錄按鍵與第二燒錄按鍵，所述的第一燒錄按鍵電性連接所述的測試單元，用于控制所述的測試單元的燒錄操作；所述的第二燒錄按鍵電性連接所述的控制單元，用于控制所述的控制單元的燒錄操作。

5、進一步地,所述的接口單元還包含通訊接口，所述的通訊接口用于所述控制單元與所述上位機之間的連接及通訊。

6、進一步地,所述的通訊接口類型為485通訊接口。

7、進一步地,所述的串口電路包含第一串口電路與第二串口電路，所述的第一串口電路用于所述測試單元向所述控制單元數(shù)據(jù)通訊，所述的第二串口電路用于所述控制單元向所述測試單元數(shù)據(jù)通訊。

8、進一步地,所述的第一串口電路包含第一電阻r1、第二電阻r2與第一mos管q1。所述的第一電阻r1一端連接vcc_3.3v電壓端，另一端連接所述第一mos管q1的漏極，所述第一mos管q1的柵極連接vcc_1.8v電壓端。所述第二電阻r2的一端連接vcc_1.8v電壓端，另一端連接所述第一mos管q1的源極。所述的第一mos管q1的漏極連接所述的控制單元，所述的第一mos管q1的源極連接所述的測試單元。

9、進一步地,所述的第二串口電路包含第三電阻r3、第四電阻r4與第二mos管q2。所述的第三電阻r3一端連接vcc_3.3v電壓端，另一端連接所述第二mos管q2的漏極，所述第二mos管q2的柵極連接vcc_1.8v電壓端。所述第四電阻r4的一端連接vcc_1.8v電壓端，另一端連接所述第二mos管q2的源極。所述的第二mos管q2的漏極連接所述的控制單元，所述的第二mos管q2的源極連接所述的測試單元。

10、本實用新型一種芯片測試系統(tǒng),主要應用在自動化存儲芯片測試領域,旨在解決存儲芯片的自動化測試問題,控制單元連接上位機可以快速響應自動化動作指令以及測試單元通過串口電路連接控制單元可以對存儲芯片開展自動化測試,從而大大節(jié)約了人工成本與提高了測試效率。

技術(shù)特征：

1.一種芯片測試系統(tǒng),包含測試單元、控制單元、測試座、供電單元、上位機與接口單元，其特征在于:

2.如權(quán)利要求1所述的芯片測試系統(tǒng),其特征在于：

3.如權(quán)利要求1所述的芯片測試系統(tǒng),其特征在于,所述的芯片測試系統(tǒng)還包含按鍵組件，所述的按鍵組件包含復位按鍵與燒錄按鍵；

4.如權(quán)利要求1所述的芯片測試系統(tǒng),其特征在于,所述的接口單元還包含通訊接口，所述的通訊接口用于所述控制單元與所述上位機之間的連接及通訊。

5.如權(quán)利要求4所述的芯片測試系統(tǒng),其特征在于,所述的通訊接口類型為485通訊接口。

6.如權(quán)利要求1所述的芯片測試系統(tǒng),其特征在于,所述的串口電路包含第一串口電路與第二串口電路，所述的第一串口電路用于所述測試單元向所述控制單元數(shù)據(jù)通訊，所述的第二串口電路用于所述控制單元向所述測試單元數(shù)據(jù)通訊。

7.如權(quán)利要求6所述的芯片測試系統(tǒng),其特征在于,所述的第一串口電路包含第一電阻r1、第二電阻r2與第一mos管q1；

8.如權(quán)利要求6所述的芯片測試系統(tǒng),其特征在于,所述的第二串口電路包含第三電阻r3、第四電阻r4與第二mos管q2；

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開了一種芯片測試系統(tǒng),包含測試單元、控制單元、測試座、供電單元與上位機，所述的測試座電性連接所述的測試單元,用于置放與固定存儲芯片；所述的測試單元通過串口電路連接所述的控制單元,用于測試存儲芯片，所述的供電單元電性連接所述的控制單元或/和所述的測試單元,用于給所述的芯片測試系統(tǒng)供電；所述的控制單元連接所述的上位機,用于控制所述的芯片測試系統(tǒng)工作，本技術(shù)主要應用在自動化存儲芯片測試領域,旨在解決存儲芯片的自動化測試問題,可以快速響應自動化動作指令以及對存儲芯片開展自動化測試,從而大大節(jié)約了人工成本與提高了測試效率。

技術(shù)研發(fā)人員：許曉旋,李承翰,李斌
受保護的技術(shù)使用者：深圳市宏旺微電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240314
技術(shù)公布日：2024/10/21