專利名稱:綜合老化臺(tái)的制作方法
本實(shí)用新型屬于電子元器件的老化設(shè)備。
隨著電子技術(shù)的迅速發(fā)展，電子設(shè)備已經(jīng)廣泛用于科學(xué)技術(shù)的各個(gè)領(lǐng)域。對電子產(chǎn)品的可靠性也日益重視。因此對電子元器件的可靠性提出了更高的要求。在電子元器件(包括電阻、電容、二極管、晶體管、集成電路等)的出廠前以及用戶使用前都要將這些元器件進(jìn)行老化篩選，用以剔除早期失效和穩(wěn)定性差的那部分元件，從而保證其使用的可靠性。目前大多數(shù)單位采用的是品種單一的老化設(shè)備。用戶面對眾多的電子元器件就需購買多臺(tái)老化設(shè)備。而且有些電子元器件的老化臺(tái)還沒有成品供應(yīng)。在現(xiàn)有的多品種的綜合老化臺(tái)中，以航天部重慶巴山儀器廠生產(chǎn)的7913系列綜合老化臺(tái)為先進(jìn)，但是該老化臺(tái)對集成電路仍然不能老化，此外還存在老化箱和老化板之間采用固定搭配。老化夾具固定，一次只能老化一個(gè)品種(二端器件或者晶體管)。以及擴(kuò)展老化困難等缺點(diǎn)。即使對于專用的集成電路老化設(shè)備，也不能同時(shí)兼顧到老化各類集成電路(包括數(shù)字集成電路、模擬集成電路和其他類型集成電路)對特殊、非標(biāo)準(zhǔn)的集成電路老化就更為困難。
本實(shí)用新型的目的在于制造出一種新型的綜合老化臺(tái)?？赏瑫r(shí)兼容老化二端器件、晶體管和集成電路三種類型的元器件。對老化中的元器件還可隨機(jī)檢測。
本實(shí)用新型的特點(diǎn)在于
1.采用積木組合結(jié)構(gòu)。老化板與老化箱之間采用“活板”結(jié)構(gòu)組合。即采用接插形式。對于各功能箱(包括控制箱(1)、電源箱(5)、高溫箱(6)二端器件老化箱(3)、晶體管老化箱(2)集成電路老化箱(4))與機(jī)柜的組合采用抽屜式積木結(jié)構(gòu)。各功能箱可以根據(jù)需要自由組合。以便增減某一品種的老化數(shù)量和擴(kuò)展老化品種(特殊的、非標(biāo)準(zhǔn)的和新的品種)。
2.為解決不同類型集成電路的老化兼容問題。采用了“條件板”方式，即對于某一品種的集成電路老化，每塊被老化集成電路旁邊配有一塊專用條件板，與被老化集成電路一一對應(yīng)，并分插在完全并聯(lián)的雙列插座上，條件板用接插件與老化板組合。如要更換老化的集成電路品種，只需更換相應(yīng)的條件板。
3.集成電路的參數(shù)測試相當(dāng)復(fù)雜。在老化箱內(nèi)的集成電路品種各異，其測試就更為困難。本實(shí)用新型采用測量集成電路輸出波形和測量工作電流相結(jié)合的方法，來分析集成電路在老化中的情況。其構(gòu)成是將被測電路與條件板上的元器件構(gòu)成完整的電路。定時(shí)測試整體工作電流。并以工作電流的穩(wěn)定情況來判斷分析集成電路質(zhì)量。本實(shí)用新型還設(shè)置了信號(hào)源和示波器，用以檢查集成電路輸出波形是否符合要求，借以剔除失效的器件。
本實(shí)用新型的綜合老化臺(tái)，既可用作老化，又可作為高溫測試篩選元器件的設(shè)備，還可進(jìn)行質(zhì)量分析，做壽命試驗(yàn)。每次老化既可以單一品種，又可以同時(shí)老化多個(gè)品種。本實(shí)用新型采用連續(xù)方式工作，裝有定時(shí)、報(bào)警、高溫測試、高溫控制和過壓保護(hù)等裝置，可同時(shí)老化功率小于1瓦的晶體管200只，老化電流小于1A的二端器件(電阻、電容、二極管、穩(wěn)壓管)200只，接腳不大于18腳(也可以擴(kuò)展到40腳)的集成電路100只。這樣為科研單位、大專院校及小批量生產(chǎn)電子設(shè)備的工廠和其它需要老化電子元器件和壽命試驗(yàn)的單位提供了經(jīng)濟(jì)合理的老化設(shè)備。
圖1a為本實(shí)用新型的實(shí)物照片。
圖1b為本實(shí)用新型的老化板實(shí)物照片。
圖2為本實(shí)用新型的組合示意圖。
圖3為本實(shí)用新型的集成電路測試原理圖。
圖4為本實(shí)用新型的集成電路老化插座接線圖。
圖5為本實(shí)用新型的方框示意圖。
實(shí)施例本實(shí)用新型是由機(jī)柜(7)和各功能箱所組成(圖1)。功能箱包括控制箱(1)、晶體管老化箱(2)、二端器件老化箱(3)、集成電路老化箱(4)、電源箱(5)、高溫箱(6)。將各功能箱制成規(guī)格統(tǒng)一的抽屜。與機(jī)柜以積木式組合在一起。其中老化板與老化箱之間采用三個(gè)40線的鍍金接插件相連接(圖2)。其中晶體管老化板(10)與晶體管老化箱(2)組合，二端器件老化板(8)與二端器件老化箱(3)組合，集成電路老化板(9)與高溫箱(6)組合。高溫箱(6)與集成電路老化箱(4)互連。所有老化箱與機(jī)柜(7)組合，各老化箱老化板都可以根據(jù)需要增減，以擴(kuò)展老化數(shù)量或品種。圖3展示了對老化中的集成電路進(jìn)行測試的原理圖，其中(CP)為輸入信號(hào)，由安置在本發(fā)明中的信號(hào)發(fā)生器(20)產(chǎn)生，其頻率為正弦波信號(hào)為50Hz，方波信號(hào)為50Hz～500Hz。(OUT)為輸出信號(hào)，將被測電路(X)輸出的信號(hào)送到示波器(14)上。本實(shí)用新型中安置頻率范圍10Hz～1.5MHz的J2459示波器，作為檢測信號(hào)和維修用。測試中將被測電路(X)與條件板(C′)組成一個(gè)工作狀態(tài)的完整電路，每一個(gè)品種的集成電路都有一一對應(yīng)的條件板，這樣可根據(jù)需要進(jìn)行老化測試。電源(F1)為可調(diào)直流穩(wěn)壓電源，(E2)為備用可調(diào)直流穩(wěn)壓電源，都在4～30V可調(diào)。圖中的(G)均為地線。圖4為集成電路老化插座接線圖。其中，(A)為雙列或扁平封裝夾具插座。(B)為金屬圓殼集成電路插座。(C)為條件板插座。
圖5為本實(shí)用新型的方框示意圖。控制箱(1)。電源(E3)(E4)分別為0～100V可調(diào)直流電源和恒壓直流電源，向晶體管老化箱(2)供電；電源(E5)(E6)分別為0～90V可調(diào)直流電源和恒壓直流電源，向二端器件老化箱供電；(16)為定時(shí)單元，它可分別對各老化箱進(jìn)行老化定時(shí)，時(shí)間范圍在1～99小時(shí)內(nèi)。本實(shí)用新型裝有過壓保護(hù)裝置(18)。其整定范圍在4～30V，短路過流檢測裝置(17)其整定范圍為0.5～10A；對于過壓和過流均可通過報(bào)警單元(19)報(bào)警。高溫箱(6)采用1KW的電爐加熱，其溫度在50℃～85℃范圍內(nèi)，溫度測試控制器(15)可測量和控制高溫箱(6)中的溫度。信號(hào)發(fā)生器(20)、示波器(14)及檢測單元(13)安裝在集成電路老化箱(4)內(nèi)，對老化的集成電路性能進(jìn)行檢測。檢測單元(11)(12)分別檢測晶體管老化箱(2)和二端器件老化箱(3)中老化的元器件性能。本實(shí)用新型采用24V直流穩(wěn)壓電源(E1)作為整機(jī)工作電源。
權(quán)利要求
1.一種綜合老化臺(tái)，由各功能箱(包括二端器件老化箱[3]、晶體管老化箱[2]、集成電路老化箱[4]、控制箱[1]、電源箱[5]、高溫箱[6]和機(jī)柜[7])所組成。其特征在于所述的綜合老化臺(tái)。各功能箱與機(jī)柜之間采用抽屜式積木結(jié)構(gòu)組合。各老化箱與老化板之間采用接插的活板結(jié)構(gòu)組合。
2.按照權(quán)利要求
1所述的綜合老化臺(tái)，其特征在于集成電路老化板〔9〕上裝有對各種集成電路老化的條件板〔C〕，條件板與被老化集成電路一一對應(yīng)，并且條件板采用接插件與老化板組合。
3.按照權(quán)利要求
1或2所述的綜合老化臺(tái)，其特征在于裝有對高溫箱中老化的集成電路進(jìn)行隨機(jī)檢測的裝置，采用示波器和電流表結(jié)合進(jìn)行檢測。
專利摘要
本實(shí)用新型屬于電子元器件的老化設(shè)備。本實(shí)用新型采用抽屜式積木結(jié)構(gòu)將各功能箱與機(jī)柜組合在一起。老化箱與老化板之間采用活板結(jié)構(gòu)。集成電路老化板上裝有可更換的條件板，以便對各種集成電路進(jìn)行老化。對正在老化的集成電路可同時(shí)進(jìn)行檢測(采用示波器加電流表同時(shí)觀察輸出波形和電流值)。適用于對各種電子元器件進(jìn)行老化和壽命試驗(yàn)以及質(zhì)量分析的場合。
文檔編號(hào)H01L21/70GK85202316SQ85202316
公開日1986年5月7日 申請日期1985年6月14日
發(fā)明者屠錫余 申請人:煤炭工業(yè)部煤炭科學(xué)研究院南京研究所導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan