本發(fā)明涉及無刷電機(jī)。

背景技術(shù)：

1、作為現(xiàn)有的無刷電機(jī)，已知在以下專利文獻(xiàn)1中記載的無刷電機(jī)。該無刷電機(jī)是所謂的ipm電機(jī)，具有可旋轉(zhuǎn)地配置在形成為框狀的定子的內(nèi)部的轉(zhuǎn)子。在定子的一端側(cè)設(shè)有檢測轉(zhuǎn)子的磁極位置的磁傳感器。

2、轉(zhuǎn)子具有能夠旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)軸，并且具有一體地安裝于所述旋轉(zhuǎn)軸的圓筒狀的轉(zhuǎn)子鐵芯。該轉(zhuǎn)子鐵芯具有沿著旋轉(zhuǎn)軸的軸向的多個貫通孔。

3、另外，轉(zhuǎn)子具有插入固定于轉(zhuǎn)子鐵芯的各軸向孔的多個永磁體。該各永磁體形成為具有規(guī)定的壁厚的板狀，具有一部分從所述各軸向孔的一端開口部分別突出的突出部。

4、另外，在與所述轉(zhuǎn)子的外周部相對的位置設(shè)有磁傳感器。該磁傳感器檢測從插入固定于轉(zhuǎn)子鐵芯的各貫通孔的多個永磁體的各突出部產(chǎn)生的磁通，從而檢測轉(zhuǎn)子的磁極位置。

5、現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

6、專利文獻(xiàn)

7、專利文獻(xiàn)1：（日本）特開2013-20783號公報（參照圖1、圖3）

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、發(fā)明所要解決的技術(shù)問題

2、在上述現(xiàn)有的無刷電機(jī)中，磁傳感器檢測從上述多個永磁體的各突出部產(chǎn)生的磁通，但由于上述相鄰的各突出部之間的距離較遠(yuǎn)，因此存在磁傳感器對磁極的切換的識別有延遲的隱患。

3、即，當(dāng)相鄰的突出部之間的距離變大時，則磁極變化的時刻延遲。另外，在相鄰的永磁體的突出部之間的空間，沒有產(chǎn)生磁通的永磁體，因此在磁傳感器位置處的磁通變?nèi)酰虼舜艂鞲衅髦械拇艠O切換判定的時刻延遲。如果磁極的切換的識別延遲，則理想的通電時刻延遲，產(chǎn)生相同轉(zhuǎn)矩的電流變大。其結(jié)果是，存在電耗、線圈的發(fā)熱量變多的隱患。

4、本發(fā)明是鑒于上述現(xiàn)有的技術(shù)問題而提出的，其目的之一在于提供一種無刷電機(jī)，能夠縮短相鄰的永磁體的延伸部（突出部）間的距離，減少磁傳感器位置處的磁通減弱，減少電耗、線圈的發(fā)熱量。

5、用于解決技術(shù)問題的技術(shù)方案

6、作為優(yōu)選的方案之一，尤其具備：永磁體，其為分別配置于轉(zhuǎn)子鐵芯的各軸向孔的內(nèi)部板狀的多個永磁體，具有位于所述多個軸向孔的內(nèi)部的主體和從所述多個軸向孔的一端開口部向軸向突出的突出部；旋轉(zhuǎn)檢測傳感器，其以從軸向與所述突出部相對的方式配置，檢測所述永磁體的旋轉(zhuǎn)軸方向的磁通成分；延伸部，其設(shè)置于所述各突出部的所述轉(zhuǎn)子的周向的至少一方的側(cè)面，以相鄰的所述突出部隔著間隙相互靠近的方式沿所述轉(zhuǎn)子的周向延伸。

7、發(fā)明的效果

8、根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選方案，能夠提高旋轉(zhuǎn)檢測傳感器的檢測磁通密度并能夠減少電耗、線圈的發(fā)熱量。

技術(shù)特征：

1.一種無刷電機(jī)，其特征在于，具備：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的無刷電機(jī)，其特征在于，

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的無刷電機(jī)，其特征在于，

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的無刷電機(jī)，其特征在于，

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的無刷電機(jī)，其特征在于，

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的無刷電機(jī)，其特征在于，

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的無刷電機(jī)，其特征在于，

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的無刷電機(jī)，其特征在于，

技術(shù)總結(jié)
無刷電機(jī)具有：轉(zhuǎn)子5，其具有固定有電機(jī)輸出軸4的轉(zhuǎn)子鐵芯9；永磁體11，其具有在轉(zhuǎn)子鐵芯的外周部形成的各保持孔10的內(nèi)部配置的主體11a以及從各保持孔的一端開口部10a向軸向突出的突出部11b；磁傳感器22a～22c，其以從軸向與突出部相對的方式配置，檢測永磁體的旋轉(zhuǎn)軸方向的磁通成分；兩個延伸部12,12，其設(shè)置于各突出部的轉(zhuǎn)子鐵芯的周向的兩側(cè)面；各延伸部形成為相鄰的永磁體的相對的延伸部的相對的一端面12a和另一端面12b隔著間隙C相互靠近。由此，能夠提高旋轉(zhuǎn)檢測傳感器的檢測磁通密度，減少電耗、線圈的發(fā)熱量。

技術(shù)研發(fā)人員：橫山涉,鈴木一平,寺崎肇,西澤佑亮
受保護(hù)的技術(shù)使用者：日立安斯泰莫株式會社
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/10/21