一種高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試系統(tǒng)及測試方法
【專利摘要】一種高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試系統(tǒng)及測試方法，其中，測試系統(tǒng)包括：測試信號(hào)發(fā)生器，用于產(chǎn)生待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器所需要的測試信號(hào)、數(shù)據(jù)采集卡的觸發(fā)信號(hào)以及待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器的工作時(shí)鐘；DAC評(píng)估板，用于接收測試信號(hào)，將測試信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)輸出；數(shù)據(jù)采集卡，在每個(gè)外部觸發(fā)信號(hào)的上升沿對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行采集；數(shù)據(jù)處理模塊，將數(shù)據(jù)采集卡采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，計(jì)算得到待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器的靜態(tài)參數(shù)DNL、INL。本發(fā)明的測試系統(tǒng)經(jīng)濟(jì)高效地完成高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器靜態(tài)參數(shù)測試，并可以根據(jù)不同精度的待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器生成相應(yīng)的測試信號(hào)和相應(yīng)的數(shù)據(jù)處理，滿足不同精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試需要。
【專利說明】
一種高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試系統(tǒng)及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試系統(tǒng)及測試方法，屬于數(shù)模轉(zhuǎn)換器技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]數(shù)模轉(zhuǎn)換器廣泛地應(yīng)用于導(dǎo)彈、衛(wèi)星、航空航天等軍事國防領(lǐng)域和民用消費(fèi)電子領(lǐng)域。隨著半導(dǎo)體工藝的發(fā)展，數(shù)模轉(zhuǎn)換器的精度越來越高，相應(yīng)的對(duì)數(shù)模轉(zhuǎn)換器性能評(píng)估顯得尤為重要。
[0003]數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片在ATE上的測試，需要采購昂貴的專用儀器，且對(duì)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境有較高要求。數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片利用六位半萬用表來采集DAC評(píng)估板輸出的模擬信號(hào)并計(jì)算全碼靜態(tài)參數(shù)的方法耗時(shí)冗長。所以，需要一種更經(jīng)濟(jì)更易實(shí)現(xiàn)效率更高的適用于實(shí)驗(yàn)室的高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試系統(tǒng)和測試方法。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的技術(shù)解決方案是:克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試系統(tǒng)及測試方法，該測試方法可以靈活準(zhǔn)確且快速地評(píng)估數(shù)模轉(zhuǎn)換器的靜態(tài)參數(shù)，經(jīng)濟(jì)實(shí)惠，易于實(shí)現(xiàn)，容易擴(kuò)展。
[0005]本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:
[0006]—種高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試系統(tǒng)，包括測試信號(hào)發(fā)生器、DAC評(píng)估板、供電電源、時(shí)鐘源、數(shù)據(jù)采集卡和數(shù)據(jù)處理模塊；
[0007]DAC評(píng)估板包括電源模塊、時(shí)鐘模塊和FMC接口 ；
[0008]待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片置于所述DAC評(píng)估板上，時(shí)鐘模塊接收時(shí)鐘源提供的信號(hào)，生成DCO時(shí)鐘，通過FMC接口提供給測試信號(hào)發(fā)生器，作為測試信號(hào)發(fā)生器的工作時(shí)鐘;所述供電電源給電源模塊供電，電源模塊提供所述待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片需要的數(shù)字電源和模擬電源；
[0009]測試信號(hào)發(fā)生器輸出DCI時(shí)鐘信號(hào)和TRIG時(shí)鐘信號(hào)，DCI時(shí)鐘信號(hào)提供給所述待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片作為其工作時(shí)鐘，TRIG時(shí)鐘信號(hào)提供給數(shù)據(jù)采集卡作為數(shù)據(jù)采集卡的采樣時(shí)鐘；同時(shí)，測試信號(hào)發(fā)生器還輸出數(shù)字測試信號(hào)，通過FMC接口提供給待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片;待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片對(duì)接收到的數(shù)字測試信號(hào)進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換，生成差分模擬信號(hào)并輸出給數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行采集，數(shù)據(jù)采集卡將采集結(jié)果發(fā)送給數(shù)據(jù)處理模塊進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，完成對(duì)待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的測試。
[0010]所述測試信號(hào)發(fā)生器中包括位數(shù)切換模塊，通過外部控制信號(hào)對(duì)位數(shù)切換模塊進(jìn)行控制，實(shí)現(xiàn)測試信號(hào)發(fā)生器輸出的數(shù)字測試信號(hào)的切換，用于對(duì)應(yīng)不同位數(shù)的所述待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片。
[0011]所述待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的位數(shù)為14位、16位或者20位。
[0012]所述數(shù)據(jù)采集卡以500KHz/s的采樣速率和24位分辨率對(duì)信號(hào)進(jìn)行采集。
[0013]所述數(shù)字測試信號(hào)為起始值為2N—I從起始值下降到0，然后上升到2N-1再到O的周期信號(hào)，其中，N為待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的位數(shù)。
[0014]—種基于所述高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試方法，包括如下步驟:
[0015](I)將待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片安裝在DAC評(píng)估板上，
[0016](2)根據(jù)待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的位數(shù)，調(diào)整測試信號(hào)發(fā)生器中的位數(shù)切換模塊，使得測試信號(hào)發(fā)生器輸出的數(shù)字測試信號(hào)與待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片匹配；
[0017](3)待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片對(duì)輸入的數(shù)字測試信號(hào)進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換，輸出差分模擬信號(hào)給信號(hào)采集卡；
[0018](4)信號(hào)采集卡在TIRG信號(hào)控制下，以500KHz/s的采樣速率和24位分辨率對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行采集，采樣數(shù)據(jù)長度為為待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的位數(shù)；
[0019](5)數(shù)據(jù)處理模塊對(duì)信號(hào)采集卡采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，取出后2N個(gè)數(shù)值，即從O至2N-1的完整上升斜波，數(shù)據(jù)處理模塊根據(jù)該2N個(gè)數(shù)值計(jì)算靜態(tài)參數(shù)，完成對(duì)高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試。
[0020]所述數(shù)字測試信號(hào)為起始值為2N—I從起始值下降到0，然后上升到2N-1再到O的周期信號(hào)，其中，N為待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的位數(shù)。
[0021]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的有益效果是:
[0022](I)發(fā)明中的信號(hào)發(fā)生器可以產(chǎn)生不同精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器所需的測試信號(hào)。信號(hào)發(fā)生器由FPGA開發(fā)板實(shí)現(xiàn)，提供待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試信號(hào)，根據(jù)精度不同，提供周期性中間值到全O到全I(xiàn)到全O的三角波信號(hào)。不需采購專門的設(shè)備，易于實(shí)現(xiàn)，易于擴(kuò)展且經(jīng)濟(jì)實(shí)惠。
[0023](2)信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生的測試信號(hào)為中間值為起始值的周期性三角波信號(hào)。分析顯示系統(tǒng)從中截取全O至全I(xiàn)的上升斜波信號(hào)來計(jì)算靜態(tài)參數(shù)，這樣可以避免前一周期從全I(xiàn)至全O的信號(hào)突變帶來的誤差。
[0024](3)待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器評(píng)估板配置FMC接口，可以方便地接收信號(hào)發(fā)生器即FPGA產(chǎn)生的測試信號(hào)以及時(shí)鐘信號(hào)；
[0025](4)采用基于PXI的高精度數(shù)據(jù)采集卡采集模擬信號(hào)。該采集卡以500KHz/s頻率，24位精度對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行采集，適用于采集分辨率小于24位DAC的模擬輸出信號(hào)。采用高精度數(shù)字采集卡取代多功能萬用表采集模擬信號(hào)大大提高了數(shù)據(jù)采集速率，使得對(duì)高精度DAC靜態(tài)參數(shù)進(jìn)行全碼測試成為可能。
【附圖說明】
[0026]圖1高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)框圖
[0027]圖2測試信號(hào)發(fā)生器結(jié)構(gòu)示意圖
[0028]圖3測試信號(hào)波形圖
[0029]圖4數(shù)據(jù)采集卡采集到的信號(hào)波形圖
[0030]圖5數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理流程圖[0031 ]圖6數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理前面板
【具體實(shí)施方式】
[0032]下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)的描述:
[0033]如圖1所示，本發(fā)明提供了一種高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試系統(tǒng)，包括測試信號(hào)發(fā)生器、DAC評(píng)估板、供電電源、時(shí)鐘源、數(shù)據(jù)采集卡和數(shù)據(jù)處理模塊；
[0034]DAC評(píng)估板包括電源模塊、時(shí)鐘模塊和FMC接口 ；
[0035]待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片置于所述DAC評(píng)估板上，時(shí)鐘模塊接收時(shí)鐘源提供的信號(hào)，生成DCO時(shí)鐘，通過FMC接口提供給測試信號(hào)發(fā)生器，作為測試信號(hào)發(fā)生器的工作時(shí)鐘，其中，時(shí)鐘源頻率與待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器頻率相同；所述供電電源給電源模塊供電，電源模塊提供所述待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片需要的數(shù)字電源和模擬電源；
[0036]圖2所示為測試信號(hào)發(fā)生器結(jié)構(gòu)示意圖，測試信號(hào)發(fā)生器輸出DCI時(shí)鐘信號(hào)和TRIG時(shí)鐘信號(hào)，DCI時(shí)鐘信號(hào)提供給所述待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片作為其工作時(shí)鐘，TRIG時(shí)鐘信號(hào)提供給數(shù)據(jù)采集卡作為數(shù)據(jù)采集卡的采樣時(shí)鐘；同時(shí)，測試信號(hào)發(fā)生器還輸出數(shù)字測試信號(hào)，通過FMC接口提供給待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片;待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片對(duì)接收到的數(shù)字測試信號(hào)進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換，生成差分模擬信號(hào)并輸出給數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行采集，數(shù)據(jù)采集卡將采集結(jié)果發(fā)送給數(shù)據(jù)處理模塊進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，完成對(duì)待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的測試。
[0037]如圖2所示，測試信號(hào)發(fā)生器中包括位數(shù)切換模塊，通過外部控制信號(hào)對(duì)位數(shù)切換模塊進(jìn)行控制，實(shí)現(xiàn)測試信號(hào)發(fā)生器輸出的數(shù)字測試信號(hào)的切換，用于對(duì)應(yīng)不同位數(shù)的所述待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片。待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的位數(shù)為14位、16位或者20位。本領(lǐng)域中，14位以上精度的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片被稱為高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器。
[0038]數(shù)據(jù)采集卡以500KHz/s的采樣速率和24位分辨率對(duì)信號(hào)進(jìn)行采集。如圖4所示為數(shù)據(jù)采集卡采集到的波形。數(shù)字測試信號(hào)為起始值為2^，從起始值下降到0，然后上升到2N-1再到O的周期信號(hào)，其中，N為待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的位數(shù)。
[0039]基于上述測試系統(tǒng)，本發(fā)明還提供了一種高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試方法，包括如下步驟:
[0040](I)將待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片安裝在DAC評(píng)估板上；
[0041](2)測試信號(hào)發(fā)生器由FPGA開發(fā)板來實(shí)現(xiàn)，根據(jù)待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的位數(shù)，通過調(diào)整測試信號(hào)發(fā)生器(FPGA開發(fā)板)上的撥碼開關(guān)來控制測試信號(hào)發(fā)生器中的位數(shù)切換模塊，使得測試信號(hào)發(fā)生器輸出的數(shù)字測試信號(hào)與待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片匹配;FPGA程序中的位數(shù)切換模塊根據(jù)撥碼開關(guān)的狀態(tài)產(chǎn)生控制信號(hào)控制波形生成模塊中的計(jì)數(shù)器狀態(tài)，不同的計(jì)數(shù)器狀態(tài)對(duì)應(yīng)輸出不同位數(shù)數(shù)模轉(zhuǎn)換器所需測試信號(hào)，圖3為測試信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生的周期性波形示意圖。信號(hào)的起始值為2N—\遞減至0，然后為O至2N-1的周期性波形；
[0042](3)DAC評(píng)估板通過FMC接口使待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器接收來自測試信號(hào)發(fā)生器的測試信號(hào)和時(shí)鐘信號(hào)，并將數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)輸出到數(shù)據(jù)采集卡；
[0043](4)數(shù)據(jù)采集卡在TIRG信號(hào)控制下，以500KHz/s的頻率對(duì)評(píng)估板輸出的2KHz/s的模擬信號(hào)進(jìn)行采集。采集流程如圖5所示，先對(duì)數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行初始化，設(shè)置采集方式為單端方式，采集卡的兩個(gè)通道channel O和channel I分別以單端方式采集數(shù)模轉(zhuǎn)換器輸出的模擬信號(hào)，取兩個(gè)通道采集到信號(hào)的差值作為數(shù)模轉(zhuǎn)換器的差分信號(hào)進(jìn)行靜態(tài)參數(shù)分析計(jì)算。觸發(fā)方式為外部觸發(fā)，觸發(fā)延時(shí)設(shè)置為15us，外部觸發(fā)信號(hào)為測試信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生的TRIG信號(hào)，設(shè)置觸發(fā)延時(shí)可以避免觸發(fā)信號(hào)上升沿的抖動(dòng)對(duì)采集信號(hào)的影響，在上升沿后15us外部觸發(fā)信號(hào)穩(wěn)定后開始采集數(shù)據(jù)。圖6所示為LABVIEW實(shí)現(xiàn)的數(shù)據(jù)處理模塊控制數(shù)據(jù)采集卡采集數(shù)據(jù)并計(jì)算靜態(tài)參數(shù)的前面板。采集卡的采集速率設(shè)置為500KHz/s，24位精度，可以對(duì)低于24位精度的數(shù)模轉(zhuǎn)換器靜態(tài)參數(shù)進(jìn)行分析。設(shè)置待測試數(shù)模轉(zhuǎn)換器的位數(shù)N，采樣數(shù)據(jù)長度為2N+2N—11。使用For循環(huán)來采集模擬信號(hào)，循環(huán)次數(shù)為2N+2N—11，每次循環(huán)采集一個(gè)模擬信號(hào)，采樣值為2KHz外部觸發(fā)信號(hào)TRIG觸發(fā)下，以500KHz頻率采樣100次的平均值。采樣完成后，取出后2N個(gè)數(shù)值，即從O至2N-1完整的上升斜波來計(jì)算靜態(tài)參數(shù)，這么做是為了消除前一個(gè)周期最大值到最小值的突變對(duì)測試結(jié)果的影響。這樣完成了對(duì)高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試。
[0044]實(shí)施例:
[0045]在實(shí)驗(yàn)室用本發(fā)明的系統(tǒng)和方法測試了兩款數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片，分別描述如下:
[0046]待測芯片I: 14位2.5GSPS的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片
[0047]如圖1連接測試系統(tǒng)，5V的供電電源經(jīng)過DAC評(píng)估板上的電源模塊，產(chǎn)生待測芯片I所需的3.3V模擬電源、1.8V模擬電源、3.3V數(shù)字電源和1.8V數(shù)字電源。時(shí)鐘源為2.5GHz，待測信號(hào)發(fā)生器切換到產(chǎn)生14位待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器狀態(tài)。
[0048]系統(tǒng)運(yùn)行后，時(shí)鐘源經(jīng)由DAC評(píng)估板時(shí)鐘模塊產(chǎn)生的D⑶時(shí)鐘信號(hào)通過FMC接口連接至測試信號(hào)發(fā)生器，作為其主時(shí)鐘。由該時(shí)鐘分頻產(chǎn)生2KHz的輸出信號(hào)TRIG連至數(shù)據(jù)采集卡。參數(shù)設(shè)置好的數(shù)據(jù)采集卡以TRIG為觸發(fā)信號(hào)以500KHz的速率對(duì)DAC評(píng)估板輸出的模擬信號(hào)進(jìn)行采集，共采集24575個(gè)采樣點(diǎn)，數(shù)據(jù)處理模塊取后16384個(gè)點(diǎn)計(jì)算靜態(tài)參數(shù)，結(jié)果為DNL = 0.9LSB，INL = 3.ILSB。整個(gè)測試過程用時(shí)40秒。
[0049]待測芯片2: 16位1.0GSPS的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片
[0050]如圖1連接測試系統(tǒng)，5V的供電電源經(jīng)過DAC評(píng)估板上的電源模塊，產(chǎn)生待測芯片2所需的3.3V模擬電源、1.8V模擬電源、3.3V數(shù)字電源和1.8V數(shù)字電源。時(shí)鐘源為1.0GHz，待測信號(hào)發(fā)生器切換到產(chǎn)生16位待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器狀態(tài)。
[0051 ]系統(tǒng)運(yùn)行后，時(shí)鐘源經(jīng)由DAC評(píng)估板時(shí)鐘模塊產(chǎn)生的D⑶時(shí)鐘信號(hào)通過FMC接口連接至測試信號(hào)發(fā)生器，作為其主時(shí)鐘。由該時(shí)鐘分頻產(chǎn)生2KHz的輸出信號(hào)TRIG連至數(shù)據(jù)采集卡。參數(shù)設(shè)置好的數(shù)據(jù)采集卡以TRIG為觸發(fā)信號(hào)以500KHz的速率對(duì)DAC評(píng)估板輸出的模擬信號(hào)進(jìn)行采集，共采集98303個(gè)采樣點(diǎn)，數(shù)據(jù)處理模塊取后65536個(gè)點(diǎn)計(jì)算靜態(tài)參數(shù)，結(jié)果為DNL =1.1LSB INL = 3.4LSB。整個(gè)測試過程用時(shí)160秒。
[0052]如果用六位半多功能萬用表來測試待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器的靜態(tài)參數(shù)，I分鐘大概可以采1000個(gè)點(diǎn)，對(duì)于待測芯片I，14位數(shù)模轉(zhuǎn)換器全碼測試萬用表一共需要采集16384個(gè)采樣點(diǎn)，這樣完成全碼靜態(tài)參數(shù)測試一共需要16分鐘。對(duì)于待測芯片2，16位數(shù)模轉(zhuǎn)換器全碼測試萬用表一共需要采集65536個(gè)采樣點(diǎn)，這樣完成全碼靜態(tài)參數(shù)測試一共需要64分鐘。且使用六位半萬用表測試待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器的靜態(tài)參數(shù)測試結(jié)果和本發(fā)明的測試結(jié)果相當(dāng)。
[0053]所以本發(fā)明相比使用萬用表采集待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器模擬信號(hào)計(jì)算其靜態(tài)參數(shù)的方法，在不影響測試結(jié)果的情況下，大大提升了測試效率。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試系統(tǒng)，其特征在于，包括測試信號(hào)發(fā)生器、DAC評(píng)估板、供電電源、時(shí)鐘源、數(shù)據(jù)采集卡和數(shù)據(jù)處理模塊； DAC評(píng)估板包括電源模塊、時(shí)鐘模塊和FMC接口 ； 待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片置于所述DAC評(píng)估板上，時(shí)鐘模塊接收時(shí)鐘源提供的信號(hào)，生成DCO時(shí)鐘，通過FMC接口提供給測試信號(hào)發(fā)生器，作為測試信號(hào)發(fā)生器的工作時(shí)鐘;所述供電電源給電源模塊供電，電源模塊提供所述待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片需要的數(shù)字電源和模擬電源； 測試信號(hào)發(fā)生器輸出DCI時(shí)鐘信號(hào)和TRIG時(shí)鐘信號(hào)，DCI時(shí)鐘信號(hào)提供給所述待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片作為其工作時(shí)鐘，TRIG時(shí)鐘信號(hào)提供給數(shù)據(jù)采集卡作為數(shù)據(jù)采集卡的采樣時(shí)鐘；同時(shí)，測試信號(hào)發(fā)生器還輸出數(shù)字測試信號(hào)，通過FMC接口提供給待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片;待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片對(duì)接收到的數(shù)字測試信號(hào)進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換，生成差分模擬信號(hào)并輸出給數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行采集，數(shù)據(jù)采集卡將采集結(jié)果發(fā)送給數(shù)據(jù)處理模塊進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，完成對(duì)待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的測試。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試系統(tǒng)，其特征在于:所述測試信號(hào)發(fā)生器中包括位數(shù)切換模塊，通過外部控制信號(hào)對(duì)位數(shù)切換模塊進(jìn)行控制，實(shí)現(xiàn)測試信號(hào)發(fā)生器輸出的數(shù)字測試信號(hào)的切換，用于對(duì)應(yīng)不同位數(shù)的所述待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試系統(tǒng)，其特征在于:所述待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的位數(shù)為14位、16位或者20位。4.根據(jù)權(quán)利要求1中任一項(xiàng)所述的一種高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試系統(tǒng)，其特征在于:所述數(shù)據(jù)采集卡以500KHz/s的采樣速率和24位分辨率對(duì)信號(hào)進(jìn)行采集。5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試系統(tǒng)，其特征在于:所述數(shù)字測試信號(hào)為起始值為2N—S從起始值下降到0，然后上升到2N-1再到O的周期信號(hào)，其中，N為待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的位數(shù)。6.—種基于權(quán)利要求1所述高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試方法，其特征在于，包括如下步驟: (1)將待測的數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片安裝在DAC評(píng)估板上， (2)根據(jù)待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的位數(shù)，調(diào)整測試信號(hào)發(fā)生器中的位數(shù)切換模塊，使得測試信號(hào)發(fā)生器輸出的數(shù)字測試信號(hào)與待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片匹配； (3)待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片對(duì)輸入的數(shù)字測試信號(hào)進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換，輸出差分模擬信號(hào)給?目號(hào)米集卡； (4)信號(hào)采集卡在TIRG信號(hào)控制下，以500KHz/s的采樣速率和24位分辨率對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行采集，采樣數(shù)據(jù)長度為為待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的位數(shù)； (5)數(shù)據(jù)處理模塊對(duì)信號(hào)采集卡采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，取出后2n個(gè)數(shù)值，即從O至2n-1的完整上升斜波，數(shù)據(jù)處理模塊根據(jù)該2N個(gè)數(shù)值計(jì)算靜態(tài)參數(shù)，完成對(duì)高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的測試。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征在于:所述數(shù)字測試信號(hào)為起始值為2吣，從起始值下降到0，然后上升到2N-1再到O的周期信號(hào)，其中，N為待測數(shù)模轉(zhuǎn)換器芯片的位數(shù)。
【文檔編號(hào)】H03M1/10GK105959007SQ201610402555
【公開日】2016年9月21日
【申請(qǐng)日】2016年6月8日
【發(fā)明人】秦坤, 王宗民, 譚博, 張春義, 劉睿辰, 張鑫星
【申請(qǐng)人】北京時(shí)代民芯科技有限公司, 北京微電子技術(shù)研究所