專利名稱：一種調(diào)測射頻板卡的系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及射頻調(diào)測技術(shù)，特別涉及一種調(diào)測射頻板卡的系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
通信設(shè)備在從生產(chǎn)線上制造的過程中，需要對其參數(shù)進(jìn)行調(diào)整并進(jìn)行性能、 以及可靠性等方面的測試，以保證從生產(chǎn)線上下來的通信設(shè)備滿足規(guī)范或設(shè)定 的技術(shù)指標(biāo)要求。
射頻板卡是通信設(shè)備的一個重要組成部分，由于射頻板卡中各電路元器件 數(shù)量較多、且各元器件參數(shù)具有一定的離散性，因而，即使是同一生產(chǎn)流程制 造出的射頻板卡，其射頻性能指標(biāo)與預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)都會存在一定范 圍內(nèi)的隨機(jī)偏差。因此，為了保證制造的射頻板卡的射頻性能指標(biāo)都能達(dá)到設(shè) 計(jì)的射頻性能指標(biāo)，需要在生產(chǎn)線上對射頻板卡進(jìn)行射頻測試和調(diào)整，以保證 射頻板卡的射頻性能指標(biāo)滿足設(shè)計(jì)要求。
圖1為目前調(diào)測射頻板卡的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖，參見圖1，該系統(tǒng)包4奮信 號源發(fā)生裝置、射頻板卡、以及射頻頻鐠儀，信號源發(fā)生裝置和射頻板卡之間 通過線纜連接，射頻板卡和射頻頻譜儀之間通過線纜連接，其中，
信號源發(fā)生裝置，用于按照測試者的要求生成射頻測試信號，輸出至射頻 板卡；
實(shí)際應(yīng)用中，根據(jù)不同通信i殳備支持的不通通信模式，信號源發(fā)生裝置可 以提供測試所需的碼分多址(CDMA, Code Division Multiple Access) 2000、寬 帶碼分多址(WCDMA, Wideband Code Division Multiple Access )、以及時分-碼分多址(TD-SCDMA, Time Division-Code Division Multiple Access)射頻測
試信號。射頻板卡，用于接收射頻測試信號，按照自身的處理模式處理后輸出待分
析的射頻測試信號；
按照自身的處理模式，也就是將射頻板卡作為一個完整的物理設(shè)備，接收 射頻測試信號，按照預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻板卡射頻處理流程進(jìn)行射頻處理，將處理 后的信號作為待分析的射頻測試信號輸出。
射頻頻譜儀，用于接收待分析的射頻測試信號，進(jìn)行測試；
測試者根據(jù)射頻頻譜儀測試得出的射頻性能指標(biāo)參數(shù)，對比預(yù)先設(shè)計(jì)的射 頻性能指標(biāo)，使用無感螺絲刀手工來調(diào)整射頻板卡中的偏置電壓值，調(diào)整射頻 板卡中的射頻參數(shù)特性，使得射頻板卡將接收的射頻測試信號按照調(diào)整的射頻 參數(shù)處理后，將調(diào)整后的信號作為待分析的射頻測試信號輸出至射頻頻語儀進(jìn) 行測試，直至射頻頻譜儀測試得出的射頻性能指標(biāo)參數(shù)滿足預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性 能指標(biāo)。
下面描述中，對于射頻板卡中與射頻測試和調(diào)整無關(guān)的模塊，后面不再贅 述，與射頻測試和調(diào)整相關(guān)的模塊包括射頻接收模塊、射頻控制模塊、偏置 調(diào)試電路模塊、功率放大模塊以及射頻發(fā)射模塊，其中，
射頻接收模塊，與信號源發(fā)生裝置通過線纜相連，接收信號源發(fā)生裝置輸 出的射頻測試信號，發(fā)送至功率放大模塊；
射頻控制模塊，用于配置射頻板卡工作的頻點(diǎn)、以及射頻板卡處于射頻接 收狀態(tài)或是射頻發(fā)射狀態(tài)；
偏置調(diào)試電鴻4莫塊，用于測試者才艮據(jù)射頻頻"i普儀測試得出的射頻性能指標(biāo) 參數(shù)，對比預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)，使用無感螺絲刀手工調(diào)整偏置調(diào)試電路 模塊的偏置電壓值，從而調(diào)整輸出的功率放大模塊偏置電壓，以控制功率放大 模塊功放；
實(shí)際應(yīng)用中，偏置調(diào)試電路模塊一般為模擬電位器。
功率放大模塊，用于接收來自射頻接收模塊的射頻測試信號，在偏置調(diào)試電路模塊輸出的偏置電壓控制下，對射頻測試信號進(jìn)行功放后，輸出待分析的
射頻測試信號至射頻發(fā)射模塊；
射頻發(fā)射模塊，與射頻頻譜儀通過線纜相連，將接收的待分析的射頻測試 信號進(jìn)行射頻處理后輸出至射頻頻譜儀。
由上述可見，目前的射頻板卡測試系統(tǒng)，需要測試者采用手工方式通過無 感螺絲刀調(diào)整射頻控制模塊的旋鈕，從而調(diào)整偏置調(diào)試電路模塊的偏置電壓， 使得功率放大模塊的參數(shù)發(fā)生變化，從而使得功率放大模塊輸出的待分析的射 頻測試信號逐漸滿足預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)。但由于手工校準(zhǔn)方式需要測試 者根據(jù)射頻頻譜儀測試的射頻性能指標(biāo)不斷調(diào)整偏置電壓，調(diào)試時間較長、生
產(chǎn)效率較低；進(jìn)一步地，手工校準(zhǔn)方式與測試者的工作經(jīng)驗(yàn)有很大關(guān)系，精度 不易保證、誤差較大，即使同一測試者，在不同的時間內(nèi)，其調(diào)試的指標(biāo)參數(shù) 也存在較大的偏差，使得調(diào)試后的射頻板卡一致性較差。

實(shí)用新型內(nèi)容
有鑒于此，本實(shí)用新型的一個主要目的在于提供一種調(diào)測射頻板卡的系 統(tǒng)，降低調(diào)試時間、提高生產(chǎn)效率。
為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型提供了一種調(diào)測射頻板卡的系統(tǒng)，該系統(tǒng) 包括
可根據(jù)測試者的選擇輸出初始化設(shè)置信號、使射頻頻譜儀的測試結(jié)果與預(yù)設(shè) 射頻性能指標(biāo)之差向預(yù)先設(shè)定的指標(biāo)誤差范圍內(nèi)變化的射頻性能參數(shù)控制信 號、以及相應(yīng)信號源控制信號的射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置；
可依據(jù)所述信號源控制信號生成相應(yīng)射頻測試信號的信號源發(fā)生裝置，通 過線纜與所述射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置相連；
可依據(jù)所述初始化設(shè)置信號進(jìn)行初始化、依據(jù)所述射頻性能參數(shù)控制信號 調(diào)節(jié)自身的射頻性能參數(shù)、并對所述射頻測試信號按照自身處理模式處理得到 待分析的射頻測試信號的射頻板卡，通過線纜與所述信號源發(fā)生裝置和所述相連；
可將所述待分析射頻測試信號按照預(yù)先配置的頻點(diǎn)進(jìn)行測試、并將得到的 測試結(jié)果輸出的射頻頻譜儀，通過線纜與所述射頻板卡相連。
所述射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置包括
可在初始化上電后根據(jù)輸入通信模式輸出所述信號源控制信號、所述初始 化設(shè)置信號、以及供射頻頻語儀配置測試頻點(diǎn)的頻點(diǎn)配置信號的初始化模塊；
存儲有所述預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)、以及所述預(yù)先設(shè)定的指標(biāo)誤差范圍 的存儲模塊；
可判斷所述測試結(jié)果與所述預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)之差是否超過所述預(yù) 先設(shè)定的指標(biāo)誤差范圍、并可在所述測試結(jié)果與所述預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo) 之差不超過所述預(yù)先設(shè)定的指標(biāo)誤差范圍時結(jié)束調(diào)試的判斷模塊；
可才艮據(jù)所述測試結(jié)果與所述預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)之差確定調(diào)節(jié)步長、 并輸出包含調(diào)節(jié)步長的所述射頻性能參數(shù)控制信號的步長調(diào)節(jié)模塊。
所述射頻板卡包括
接收所述射頻測試信號、并將所述射頻測試信號發(fā)送至功率放大模塊的射 頻接收模塊；
可依據(jù)所述初始化設(shè)置信號配置射頻板卡初始化參數(shù)、并可將所述射頻性 能參數(shù)控制信號轉(zhuǎn)換成控制數(shù)字電位器的偏置電壓控制信號的射頻控制模塊；
可根據(jù)所述偏置電壓控制信號調(diào)整功率放大模塊偏置電壓的數(shù)字電位器；
可在所述偏置電壓控制下對所述射頻接收模塊接收的所述射頻測試信號進(jìn) 行功放、并輸出所述待分析射頻測試信號的功率放大模塊；
可將功率放大模塊輸出的所述待分析射頻測試信號進(jìn)行射頻處理后輸出至 射頻頻譜儀的射頻發(fā)射模塊。
所述射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置與所述射頻頻譜儀以及所述信號源發(fā)生裝置分 別通過通用接口總線相連，所述射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置與所述射頻板卡通過數(shù)字控制總線相連。
由上述的技術(shù)方案可見，本實(shí)用新型提供的一種調(diào)測射頻板卡的系統(tǒng)， 射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置根據(jù)測試者的選擇，初始化射頻板卡、信號源發(fā)生裝 置以及射頻頻傳儀，信號源發(fā)生裝置輸出射頻測試信號，經(jīng)射頻板卡處理后 輸出至射頻頻語儀進(jìn)行測試，射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置判斷接收的測試結(jié)果與 預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)之差是否在預(yù)先設(shè)定的指標(biāo)誤差范圍內(nèi)，如果是， 結(jié)束調(diào)試，如果否，向射頻板卡輸出射頻性能參數(shù)控制信號，控制射頻板卡 進(jìn)行調(diào)整，直至射頻頻譜儀輸出的測試結(jié)果與預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)之差 在預(yù)先設(shè)定的范圍內(nèi)。由于可以根據(jù)射頻頻鐠儀測試的射頻性能指標(biāo)、設(shè)計(jì) 的射頻性能指標(biāo)、以及指標(biāo)誤差范圍自動調(diào)節(jié)射頻板卡偏置電壓，使得射頻 板卡輸出的待分析的射頻測試信號滿足設(shè)計(jì)要求，自動調(diào)試所需時間短、生 產(chǎn)效率高、調(diào)試精度高。


圖1為目前調(diào)測射頻板卡的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖2為本實(shí)用新型調(diào)測射頻板卡的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖3為本實(shí)用新型射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下參照附圖并 舉實(shí)施例，對本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說明。
本實(shí)用新型提出的一種調(diào)測射頻板卡的系統(tǒng)，通過設(shè)置射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié) 裝置，分別與信號源發(fā)生裝置、射頻板卡、以及射頻頻語儀通過線纜相連，信 號源發(fā)生裝置輸出射頻測試信號，經(jīng)射頻板卡處理后輸出至射頻頻譜儀進(jìn)行測 試，射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置判斷接收的測試結(jié)果與預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)之 差是否在預(yù)先設(shè)定的指標(biāo)誤差范圍內(nèi)，如果是，結(jié)束調(diào)試，如果否，向射頻板 卡輸出射頻性能參數(shù)控制信號，控制射頻板卡進(jìn)行調(diào)整，直至射頻頻譜儀輸出之差在預(yù)先設(shè)定的范圍內(nèi)，使得各射頻 板卡的射頻性能指標(biāo)相 一致。
目前，通過無感螺絲刀調(diào)節(jié)模擬電位器中機(jī)械滑臂位置，從而改變機(jī)械滑 臂在電阻膜或線繞電阻體上的位置，以達(dá)到改變電位器阻值的大小的手工調(diào)節(jié) 方式，調(diào)試時間長、效率低，越來越不適應(yīng)生產(chǎn)的發(fā)展。
數(shù)字電位器是利用微電子技術(shù)制成的集成電路，通過按鈕輸入偏置電壓控 制信號、或是通過數(shù)字輸入偏置電壓控制信號，控制內(nèi)部的電阻陣列和多路模 擬開關(guān)的開關(guān)順序，從而調(diào)節(jié)其阻值，使得數(shù)字電位器輸出的偏置電壓產(chǎn)生相 應(yīng)變化。相對于現(xiàn)有的模擬電位器，具有定位精度高，并可以通過程序控制來 實(shí)現(xiàn)自動化調(diào)節(jié)。
本實(shí)施例中，在射頻板卡中引入數(shù)字電位器，利用數(shù)字電位器的上述優(yōu)點(diǎn) 組成測試射頻板卡的系統(tǒng)，下面進(jìn)行描述。關(guān)于數(shù)字電位器的結(jié)構(gòu)，具體可參 見相關(guān)文獻(xiàn)，至于在本發(fā)明中引入數(shù)字電位器代替模擬電位器，本領(lǐng)域普通技 術(shù)人員可以輕易地更換，在此不再贅述。
圖2為本實(shí)用新型調(diào)測射頻板卡的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。參見圖2，該系統(tǒng)包 括信號源發(fā)生裝置、射頻板卡、射頻頻譜儀以及射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置，信 號源發(fā)生裝置和射頻板卡之間通過線纜連接，射頻板卡和射頻頻語儀之間通過 線纜連接，射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置和信號源發(fā)生裝置、射頻板卡、射頻頻譜儀 之間分別通過線纜相連，其中，
信號源發(fā)生裝置，用于接收射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置輸出的信號源控制信號， 生成相應(yīng)信號源的射頻測試信號，輸出至射頻板卡；
實(shí)際應(yīng)用中，根據(jù)不同通信設(shè)備支持的不通通信模式，信號源發(fā)生裝置可 以提供測試所需的CDMA2000、 WCDMA、以及TD-SCDMA射頻測試信號， 例如，當(dāng)接收到CDMA2000控制信號時，信號源發(fā)生裝置提供CDMA2000射 頻測試信號，當(dāng)接收到WCDMA控制信號時，信號源發(fā)生裝置提供WCDMA 射頻測試信號。當(dāng)然，信號源發(fā)生裝置還可以提供其它通信模式的射頻測試信號。
射頻板卡，用于接收射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置輸出的初始化設(shè)置信號，進(jìn)行
初始化；
接收射頻性能參數(shù)控制信號，調(diào)節(jié)自身的射頻性能參數(shù)；
接收來自信號源發(fā)生裝置輸出的射頻測試信號，按照自身的處理模式處理 后輸出待分析的射頻測試信號；
初始化包括設(shè)置射頻板卡的頻點(diǎn)、以及設(shè)置射頻板卡處于射頻接收狀態(tài)或 是射頻發(fā)射狀態(tài)。
按照自身的處理;漠式，也就是將射頻板卡作為一個完整的物理設(shè)備，接收 射頻測試信號，按照預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻板卡射頻處理流程進(jìn)行射頻處理，將處理 后的信號作為待分析的射頻測試信號輸出。
射頻頻譜儀，用于接收待分析的射頻測試信號，按照預(yù)先配置的頻點(diǎn)進(jìn)行 測試，并將測試結(jié)果輸出至射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置；
射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置，用于根據(jù)測試者的選擇，向射頻板卡輸出初始化 設(shè)置信號，向信號源發(fā)生裝置輸出相應(yīng)的信號源控制信號；
接收射頻頻譜儀輸出的測試結(jié)果，判斷測試結(jié)果與設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)之 差是否在預(yù)先設(shè)定的指標(biāo)誤差范圍內(nèi)，如果是，結(jié)束調(diào)試，否則，向射頻板卡 輸出射頻性能參數(shù)控制信號，控制射頻板卡進(jìn)行調(diào)整，直至射頻頻語儀輸出的 測試結(jié)果與設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)之差在預(yù)先設(shè)定的范圍內(nèi)。
較佳地，可以將射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置在物理上安裝在個人計(jì)算機(jī)內(nèi)，射 頻頻譜儀的測試頻點(diǎn)也可以通過射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置輸出的頻點(diǎn)配置信號來 進(jìn)行測試頻點(diǎn)配置。
射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置可以利用設(shè)置的控制軟件程序根據(jù)測試者的輸入輸 出相應(yīng)的信號源控制信號、初始化設(shè)置信號，利用控制軟件以及調(diào)整算法輸出 射頻性能參數(shù)控制信號，攜帶下一步需要調(diào)整的量，下一步需要調(diào)整的量可以是以射頻性能參數(shù)控制信號電平的高低來表示，調(diào)整算法可以根據(jù)實(shí)際需要選 取現(xiàn)有算法。
較佳地，射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置與射頻頻語儀以及信號源發(fā)生裝置分別通
過通用接口總線(GPIB, General Purpose Interface Bus )相連，射頻性能參數(shù)調(diào) 節(jié)裝置與射頻板卡通過數(shù)字控制總線相連，數(shù)字控制總線可以是串行擴(kuò)展總線 (I2C, Inter-Integrated circuit )。
實(shí)際應(yīng)用中，射頻性能指標(biāo)參數(shù)包括最大輸出功率以及鄰道功率泄漏比 (ACLR, Adjacent Channel Leakage Power Ratio),其中，最大輸出功率用于判 斷射頻板卡的最大射頻輸出能力，ACLR用于判斷射頻板卡輸出的線性度。
射頻板卡包括射頻接收模塊、射頻控制模塊、偏置調(diào)試電路模塊、功率 放大模塊以及射頻發(fā)射模塊，其中，
射頻接收^t塊，與信號源發(fā)生裝置通過線纜相連，接收信號源發(fā)生裝置輸 出的射頻測試信號，發(fā)送至功率放大模塊；
射頻控制模塊，用于接收初始化設(shè)置信號，配置射頻板卡初始化參數(shù)，例 如，工作頻點(diǎn)、以及射頻板卡處于射頻接收狀態(tài)或是射頻發(fā)射狀態(tài)； 接收射頻性能參數(shù)控制信號，將接收的射頻性能參數(shù)控制信號轉(zhuǎn)換成用于 控制偏置調(diào)試電路模塊的偏置電壓控制信號；
實(shí)際應(yīng)用中，射頻控制模塊還可以用于存儲射頻板卡輸出的射頻性能指標(biāo) 滿足設(shè)計(jì)要求時的偏置調(diào)試電路模塊的偏置電壓調(diào)整值，即，當(dāng)射頻板卡輸出 的射頻性能指標(biāo)與預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)在指標(biāo)誤差范圍內(nèi)時，數(shù)字電位器 對應(yīng)的偏置電壓調(diào)整值，以便于在以后的調(diào)試初始化中，將偏置調(diào)試電路模塊 的偏置電壓預(yù)先調(diào)整到存儲的偏置電壓調(diào)整值，以盡量減少初始調(diào)試時間，提 高調(diào)試效率。具體來說，當(dāng)射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置判斷測試結(jié)果與設(shè)計(jì)的射頻 性能指標(biāo)之差在預(yù)先設(shè)定的范圍內(nèi)時，將調(diào)試中總的偏置電壓調(diào)整值信息通過 數(shù)字控制總線寫入射頻控制模塊的存儲器中。偏置調(diào)試電路模塊，用于根據(jù)接收的偏置電壓控制信號調(diào)整輸出的功率放
大模塊偏置電壓，以控制功率放大模塊功放；
本實(shí)施例中，偏置調(diào)試電路模塊為數(shù)字電位器。
與現(xiàn)有技術(shù)中射頻板卡不同的是，本實(shí)施例中，控制功率放大模塊功放的 偏置電壓電路為數(shù)字電位器，數(shù)字電位器接收射頻控制模塊的偏置電壓控制信 號，由偏置電壓控制信號自動控制內(nèi)部電路中多路模擬開關(guān)的開關(guān)順序，從而 改變內(nèi)部的電阻陣列，調(diào)整輸出的偏置電壓，進(jìn)而控制功率放大模塊功放，實(shí) 現(xiàn)自動調(diào)節(jié)。
功率放大模塊，用于接收來自射頻接收模塊的射頻測試信號，在偏置調(diào)試 電路模塊輸出的偏置電壓控制下，對射頻測試信號進(jìn)行功放，輸出待分析的射
頻測試信號至射頻發(fā)射^t塊；
射頻發(fā)射模塊，與射頻頻譜儀通過線纜相連，將接收的待分析的射頻測試 信號進(jìn)行射頻處理后輸出至射頻頻諳儀。
圖3為本實(shí)用新型射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置結(jié)構(gòu)示意圖，參見圖3,該裝置 包括初始化模塊、判斷模塊、存儲模塊、步長調(diào)節(jié)模塊，其中，
初始化模塊，用于在初始化上電后，根據(jù)測試者輸入的通信模式，分別向 信號源發(fā)生裝置、射頻控制模塊、以及射頻頻譜儀輸出相應(yīng)通信模式的信號源 控制信號、初始化設(shè)置信號、頻點(diǎn)配置信號，以設(shè)置相應(yīng)元器件的初始化參數(shù)；
存儲模塊，用于存儲設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)、以及指標(biāo)誤差范圍；
判斷模塊，用于接收射頻頻鐠儀輸出的測試結(jié)果，與存儲模塊存儲的射頻 性能指標(biāo)進(jìn)行對比，如果測試結(jié)果與設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)之差超過指標(biāo)誤差范 圍，將差值輸出至步長調(diào)節(jié)模塊；如果測試結(jié)果與設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)之差不 超過指標(biāo)誤差范圍，結(jié)束調(diào)試；
步長調(diào)節(jié)模塊，用于根據(jù)判斷模塊輸出的差值，確定需要調(diào)節(jié)的步長，向 射頻板卡輸出包含調(diào)節(jié)步長的射頻性能參數(shù)控制信號。調(diào)節(jié)的步長可以根數(shù)字電位器的精度以及實(shí)際需要進(jìn)行設(shè)置。 由上述實(shí)施例可見，本實(shí)用新型的調(diào)測射頻板卡的系統(tǒng)，通過在射頻板卡 中引入數(shù)字電位器、以及設(shè)置射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置，射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置 判斷射頻頻譜儀輸出的射頻性能指標(biāo)與自身存儲的射頻性能指標(biāo)之差是否在設(shè) 定的指標(biāo)誤差范圍內(nèi)，如果超出，輸出射頻性能參數(shù)控制信號，數(shù)字電位器根 據(jù)轉(zhuǎn)換的射頻性能參數(shù)控制信號自動調(diào)節(jié)內(nèi)部電路中多路模擬開關(guān)的開關(guān)順 序，從而改變內(nèi)部的電阻陣列，改變輸出的偏置電壓，從而調(diào)整射頻板卡輸出 的待分析的射頻測試信號功率，直至射頻頻i普儀輸出的射頻性能指標(biāo)與自身存 儲的射頻性能指標(biāo)相一致。由于可以根據(jù)射頻頻譜儀測試的射頻性能指標(biāo)、設(shè) 計(jì)的射頻性能指標(biāo)、以及指標(biāo)誤差范圍自動調(diào)節(jié)數(shù)字電位器偏置電壓，使得射 頻板卡輸出的待分析的射頻測試信號滿足設(shè)計(jì)要求，調(diào)試時間短、生產(chǎn)效率高、
調(diào)試精度高、簡化了生產(chǎn)流程；進(jìn)一步地，降低了不同測試者由于工作經(jīng)驗(yàn)、 或，同一測試者在不同的時間內(nèi)進(jìn)行手工校準(zhǔn)導(dǎo)致的射頻板卡一致性較差的問 題；而且，由于是自動調(diào)式，有效地節(jié)約了手工校準(zhǔn)的人力成本和資源。
以上舉較佳實(shí)施例，對本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)進(jìn)行了進(jìn)一步 詳細(xì)說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不 用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、 等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)，本實(shí)用新型所主 張的權(quán)利范圍應(yīng)以實(shí)用新型申請范圍所述為準(zhǔn)，而非僅限于上述實(shí)施例。
權(quán)利要求1、一種調(diào)測射頻板卡的系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括可根據(jù)測試者的選擇輸出初始化設(shè)置信號、使射頻頻譜儀的測試結(jié)果與預(yù)設(shè)射頻性能指標(biāo)之差向預(yù)先設(shè)定的指標(biāo)誤差范圍內(nèi)變化的射頻性能參數(shù)控制信號、以及相應(yīng)信號源控制信號的射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置；可依據(jù)所述信號源控制信號生成相應(yīng)射頻測試信號的信號源發(fā)生裝置，通過線纜與所述射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置相連；可依據(jù)所述初始化設(shè)置信號進(jìn)行初始化、依據(jù)所述射頻性能參數(shù)控制信號調(diào)節(jié)自身的射頻性能參數(shù)、并對所述射頻測試信號按照自身處理模式處理得到待分析射頻測試信號的射頻板卡，通過線纜與所述信號源發(fā)生裝置和所述相連；可將所述待分析射頻測試信號按照預(yù)先配置的頻點(diǎn)進(jìn)行測試、并將得到的測試結(jié)果輸出的射頻頻譜儀，通過線纜與所述射頻板卡相連。
2、 如權(quán)利要求l所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置包括可在初始化上電后根據(jù)輸入通信模式輸出所述信號源控制信號、所述初始 化設(shè)置信號、以及供射頻頻譜儀配置測試頻點(diǎn)的頻點(diǎn)配置信號的初始化模塊；存儲有所述預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)、以及所述預(yù)先設(shè)定的指標(biāo)誤差范圍 的存儲模塊；可判斷所述測試結(jié)果與所述預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)之差是否超過所述預(yù) 先設(shè)定的指標(biāo)誤差范圍、并可在所述測試結(jié)果與所述預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo) 之差不超過所述預(yù)先設(shè)定的指標(biāo)誤差范圍時結(jié)束調(diào)試的判斷模塊；可根據(jù)所述測試結(jié)果與所述預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)之差確定調(diào)節(jié)步長、 并輸出包含調(diào)節(jié)步長的所述射頻性能參數(shù)控制信號的步長調(diào)節(jié)模塊。
3、 如權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述射頻板卡包括 接收所述射頻測試信號、并將所述射頻測試信號發(fā)送至功率放大模塊的射頻接收模塊；可依據(jù)所述初始化設(shè)置信號配置射頻板卡初始化參數(shù)、并可將所述射頻性 能參數(shù)控制信號轉(zhuǎn)換成控制數(shù)字電位器的偏置電壓控制信號的射頻控制模塊；可根據(jù)所述偏置電壓控制信號調(diào)整功率放大模塊偏置電壓的數(shù)字電位器； 可在所述偏置電壓控制下對所述射頻接收模塊接收的所述射頻測試信號進(jìn) 行功放、并輸出所述待分析射頻測試信號的功率放大模塊；可將功率放大模塊輸出的所述待分析射頻測試信號進(jìn)行射頻處理后輸出至 射頻頻語儀的射頻發(fā)射模塊。
4、如權(quán)利要求i至3中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述射頻性能參 數(shù)調(diào)節(jié)裝置與所述射頻頻譜儀以及所述信號源發(fā)生裝置分別通過通用接口總線 相連，所述射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置與所述射頻板卡通過數(shù)字控制總線相連。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種調(diào)測射頻板卡的系統(tǒng)，包括信號源發(fā)生裝置、射頻板卡、射頻頻譜儀以及射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置，信號源發(fā)生裝置輸出射頻測試信號，經(jīng)射頻板卡處理后輸出至射頻頻譜儀進(jìn)行測試，射頻性能參數(shù)調(diào)節(jié)裝置判斷接收的測試結(jié)果與預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)之差是否在預(yù)先設(shè)定的指標(biāo)誤差范圍內(nèi)，如果是，結(jié)束調(diào)試，如果否，向射頻板卡輸出射頻性能參數(shù)控制信號，控制射頻板卡進(jìn)行調(diào)整，直至射頻頻譜儀輸出的測試結(jié)果與預(yù)先設(shè)計(jì)的射頻性能指標(biāo)之差在預(yù)先設(shè)定的范圍內(nèi)。應(yīng)用本實(shí)用新型，可以自動調(diào)試射頻板卡輸出的射頻測試信號滿足設(shè)計(jì)要求，調(diào)試所需時間短、生產(chǎn)效率高、調(diào)試精度高。
文檔編號H04B17/00GK201383814SQ200920105620
公開日2010年1月13日 申請日期2009年1月24日 優(yōu)先權(quán)日2009年1月24日
發(fā)明者廖雄斌 申請人:普天信息技術(shù)研究院有限公司