專利名稱：攝像設(shè)備、x射線檢測器和攝像方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種攝像設(shè)備、X射線檢測器和攝像方法。
背景技術(shù)：
在數(shù)字放射線攝像設(shè)備的領(lǐng)域，代替使用圖像增強器，使用光電轉(zhuǎn)換元件的等倍光學(xué)系統(tǒng)的大面積平板型傳感器廣泛普及，以提高分辨率、縮減大小或者抑制圖像的失真。如日本特開2002-344809所述，傳統(tǒng)上提出了以下:通過平鋪可以從硅半導(dǎo)體晶片切出的多個矩形半導(dǎo)體基板來實現(xiàn)平板型傳感器的充分大面積。將多個互補金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)型圖像傳感器作為光電轉(zhuǎn)換元件形成在所獲得的矩形半導(dǎo)體基板上。在采用微機械加工技術(shù)的情況下，CMOS型圖像傳感器與非晶硅型傳感器相比可以實現(xiàn)高速讀取。此外，CMOS型圖像傳感器的感光度高。CMOS型圖像傳感器與使用電荷耦合器件(CCD)型圖像傳感器的情況相比容易獲得大面積。此外，如日本特開2006-319529所述，傳統(tǒng)上已知攝像設(shè)備可被配置為具有像素相加功能，其中該像素相加功能進行用于將來自多個相鄰像素的信號相加作為一個像素的信號的合并處理。在基于該合并處理而進行縮小處理的情況下，經(jīng)過縮小處理的圖像可能由于缺陷像素的存在而劣化。為了解決該問題，可以在不包括任何缺陷像素的像素信號的情況下進行該處理。此外，從圖像傳感器讀取的信號包括諸如從圖像傳感器讀取信號的放大器的熱噪聲以及電子裝置的干擾噪聲等的隨機噪聲。作為能夠降低上述隨機噪聲的方法，傳統(tǒng)上已知如下:使用具有實現(xiàn)無損信號讀取操作的能力的圖像傳感器來多次讀取一次曝光操作期間所儲存的信號，并且獲·得這些讀出信號的平均值以降低隨機發(fā)生的噪聲?？梢赃B同在多次無損讀取操作中獲得的信號的相加處理一起，進行考慮到缺陷像素的存在的合并處理。在這種情況下，在完成了考慮到缺陷像素的存在的合并處理之后進行各像素的平均處理的情況下，需要進行與所無損讀出的幀一樣多的合并處理。例如，在與合并處理并行地從外部存儲器讀出該合并處理中要參考的缺陷像素位置信息的情況下，由于除了進行合并處理的次數(shù)增加以外訪問存儲器的次數(shù)也增加，因此處理速度趨于下降。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明涉及一種攝像設(shè)備。根據(jù)本發(fā)明的一些實施例，一種攝像設(shè)備，包括:傳感器，其包括:以二維圖案配置的多個像素；采樣保持單元，用于對從所述多個像素中的各個像素獲得的信號進行采樣保持；以及讀取單元，用于以對一行的像素進行多次無損讀取操作并且讀取下一行的像素的方式進行掃描，之后在行方向和列方向上進行掃描以讀取所述采樣保持單元所采樣保持的信號；A/D轉(zhuǎn)換單元，用于對所述讀取單元所讀取的信號進行模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換處理；平均處理單元，用于針對各像素來對所述Α/D轉(zhuǎn)換單元的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換后的信號進行平均處理；以及數(shù)字合并單元，用于使用所述平均處理單元的平均處理后的信號來進行合并處理。
根據(jù)本發(fā)明的一些實施例，一種攝像設(shè)備，包括:傳感器，其包括:以二維圖案配置的多個像素；采樣保持單元，用于對從所述多個像素中的各個像素獲得的信號進行采樣保持；以及讀取單元，用于以對一行的像素進行多次無損讀取操作并且讀取下一行的像素的方式進行掃描，之后在行方向和列方向上進行掃描以讀取所述采樣保持單元所采樣保持的信號；A/D轉(zhuǎn)換單元，用于對所述讀取單元所讀取的信號進行模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換處理；平均處理單元，用于針對各像素來對所述Α/D轉(zhuǎn)換單元的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換后的信號進行平均處理；存儲單元，用于臨時存儲缺陷像素位置信息；以及數(shù)字合并單元，用于基于存儲在所述存儲單元中的缺陷像素位置信息，使用所述平均處理單元的平均處理后的信號中的、不包括所述缺陷像素位置信息所表示的缺陷像素的信號的信號來進行合并處理，其中，所述傳感器包括分別具有多個像素的多個半導(dǎo)體基板，以及與所述攝像設(shè)備的各拍攝模式相對應(yīng)的多個所述缺陷像素位置信息存儲在外部存儲器中。根據(jù)本發(fā)明的一些實施例，一種攝像設(shè)備的攝像方法，所述攝像設(shè)備包括傳感器，所述傳感器包括:以二維圖案配置的多個像素；采樣保持單元，用于對從所述多個像素中的各個像素獲得的信號進行采樣保持；以及讀取單元，用于以對一行的像素進行多次無損讀取操作并且讀取下一行的像素的方式進行掃描，之后在行方向和列方向上進行掃描以讀取所述采樣保持單元所采樣保持的信號，所述攝像方法包括:對所述讀取單元所讀取的信號進行模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換處理；針對各像素來對模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換后的信號進行平均處理；以及使用平均處理后的信號來進行數(shù)字合并處理。根據(jù)本發(fā)明的一 些實施例，一種攝像設(shè)備，包括:傳感器，其包括:以二維圖案配置的多個像素；采樣保持單元，用于對從像素獲得的信號進行采樣保持；以及讀取單元，用于以對一行的像素進行多次無損讀取操作并且讀取下一行的像素的方式進行掃描，之后在行方向和列方向上進行掃描以讀取所述采樣保持單元所采樣保持的信號；A/D轉(zhuǎn)換單元，用于對所述讀取單元所讀取的信號進行模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換處理；平均處理單元，用于針對各像素來對所述Α/D轉(zhuǎn)換單元的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換后的信號進行平均處理；存儲單元，用于臨時存儲缺陷像素位置信息；以及數(shù)字合并單元，用于基于存儲在所述存儲單元中的缺陷像素位置信息，使用所述平均處理單元的平均處理后的信號中的、不包括所述缺陷像素位置信息所表示的缺陷像素的信號的信號來進行合并處理，其中，與所述攝像設(shè)備的各拍攝模式相對應(yīng)的多個所述缺陷像素位置信息存儲在外部存儲器中，以及將與所述攝像設(shè)備的拍攝模式設(shè)置相對應(yīng)的缺陷像素位置信息從所述外部存儲器讀出至所述存儲單元。根據(jù)本發(fā)明的一些實施例，一種X射線檢測器，包括:X射線圖像傳感器，其包括以二維圖案配置的多個像素，其中所述多個像素中的各個像素包括:光電轉(zhuǎn)換元件；以及采樣保持電路，用于對所述光電轉(zhuǎn)換元件的信號進行采樣保持；控制單元，用于對從一行的所述光電轉(zhuǎn)換元件所采樣保持的信號進行多次無損讀取操作，之后對下一行的像素進行多次無損讀取操作；相加處理單元，用于針對各像素來對所多次讀取的信號進行相加；合并單元，用于在空間上對相加后的信號進行合并處理；以及輸出單元，用于基于所述合并處理后的信號來輸出圖像數(shù)據(jù)。通過以下參考附圖對典型實施例的詳細說明，本發(fā)明的其它特征和方面將變得明顯。


包含在說明書中并構(gòu)成說明書一部分的附圖示出了本發(fā)明的典型實施例、特征和方面，并與說明書一起用來解釋本發(fā)明的原理。圖1示出包括根據(jù)本發(fā)明典型實施例的攝像設(shè)備的攝像系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示例。圖2示出根據(jù)本典型實施例的像素電路的結(jié)構(gòu)示例。圖3是示出圖2所示的像素電路的驅(qū)動定時的時序圖。圖4示出根據(jù)本典型實施例的矩形半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)示例。圖5示出讀取矩形半導(dǎo)體基板的像素數(shù)據(jù)的時序圖。圖6示出讀取矩形半導(dǎo)體基板的像素數(shù)據(jù)的時序圖。圖7示出讀取矩形半導(dǎo)體基板的像素數(shù)據(jù)的時序圖。圖8A和8B示出根據(jù)本典型實施例的矩形半導(dǎo)體基板中所包括的像素相加電路的示例。

圖9示出根據(jù)本典型實施例的平板傳感器和拍攝控制單元的結(jié)構(gòu)示例。圖10A、10B和IOC示出根據(jù)本典型實施例可以進行的處理的流程圖。
具體實施例方式以下將參考附圖來詳細說明本發(fā)明的各種典型實施例、特征和方面。圖1是示出包括根據(jù)本發(fā)明典型實施例的攝像設(shè)備的攝像系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示例的框圖。圖1示意性示出大面積平板型放射線運動圖像拍攝系統(tǒng)的整體結(jié)構(gòu)。圖1所示的攝像系統(tǒng)包括放射線攝像設(shè)備100、包括圖像處理單元的系統(tǒng)控制設(shè)備101、圖像顯示設(shè)備102、放射線生成設(shè)備103和放射線源104。在圖1所示的攝像系統(tǒng)所進行的拍攝操作中，系統(tǒng)控制設(shè)備101同步地控制放射線攝像設(shè)備100和放射線生成設(shè)備103。已透過被攝體的放射線被閃爍體(未示出)轉(zhuǎn)換成可見光，然后被進行光電轉(zhuǎn)換。然后，對表示光量的光電轉(zhuǎn)換后的信號進行模擬/數(shù)字(Α/D)轉(zhuǎn)換。此外，將Α/D轉(zhuǎn)換后的信號作為與所照射的放射線相對應(yīng)的幀圖像數(shù)據(jù)從放射線攝像設(shè)備100傳送至系統(tǒng)控制設(shè)備101內(nèi)的圖像處理單元。放射線圖像在經(jīng)過圖像處理之后可以實時顯示在圖像顯示設(shè)備102上。在本典型實施例中，放射線攝像設(shè)備100在功能上可用作X射線檢測器。放射線攝像設(shè)備100包括平板傳感器105。平板傳感器105包括以二維圖案配置的多個像素。各像素包括光電轉(zhuǎn)換元件和采樣保持電路。該采樣保持電路可以對從光電轉(zhuǎn)換元件接收到的信號進行采樣保持。平板傳感器105包括以矩陣圖案平鋪在平面基板(未示出)上的多個矩形半導(dǎo)體基板106。在各矩形半導(dǎo)體基板106上形成可以從硅半導(dǎo)體晶片切出的(用作光電轉(zhuǎn)換元件的)CMOS型圖像傳感器。各矩形半導(dǎo)體基板106可用作連接用區(qū)域傳感器，并且包括按等間距配置以形成二維圖案的多個CMOS型圖像傳感器。平板傳感器105和上述的閃光體協(xié)作地構(gòu)成可以基于檢測到的X射線來獲取圖像的X射線圖像傳感器。此外，兩個相鄰的矩形半導(dǎo)體基板106平鋪在平面基板上，以使得夾著矩形半導(dǎo)體基板106之間的邊界、等間距地配置光電轉(zhuǎn)換元件。圖1所示的平板傳感器105包括以2列X2行的矩陣圖案平鋪的四個矩形半導(dǎo)體基板106。然而，平板傳感器105不限于上述示例。平鋪在行方向上的矩形半導(dǎo)體基板106的數(shù)量和平鋪在列方向上的矩形半導(dǎo)體基板106的數(shù)量是任意的。盡管附圖中沒有示出，但排列成矩陣圖案的矩形半導(dǎo)體基板106的外部端子(電極盤)沿著平板傳感器105的上周邊部和下周邊部配置。矩形半導(dǎo)體基板106的電極盤經(jīng)由飛線型(flying leading type)印刷線路板(未示出)連接至外部電路。在各矩形半導(dǎo)體基板106上設(shè)置諸如各自能夠?qū)δM輸出的有效/無效狀態(tài)進行切換的模擬開關(guān)元件等的切換元件。在設(shè)置有模擬輸出用開關(guān)元件的情況下，可以實現(xiàn)基于片選擇控制信號所進行的矩形半導(dǎo)體基板106的輸出控制。可以將矩形半導(dǎo)體基板106的模擬輸出線結(jié)合在一起并且直接連接至放大器107。平鋪在平板傳感器105上的一個矩形半導(dǎo)體基板106用作一個Α/D轉(zhuǎn)換器108的轉(zhuǎn)換區(qū)域，其中可以對來自像素的信號進行模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換。拍攝控制單元109可以與系統(tǒng)控制設(shè)備101進行針對控制命令和同步信號的通信，并且可以將圖像數(shù)據(jù)發(fā)送至系統(tǒng)控制設(shè)備101內(nèi)的圖像處理單元。拍攝控制單元109具有對平板傳感器105進行控制的能力。例如，拍攝控制單元109可以對平板傳感器105進行驅(qū)動控制或拍攝模式控制。例如，拍攝控制單元109進行控制，以對從一行光電轉(zhuǎn)換元件所采樣保持的信號進行多次無損讀取操作，隨后對下一行像素進行多次無損讀取操作。此外，拍攝控制單元109將放射線攝像設(shè)備100內(nèi)所配備的多個Α/D轉(zhuǎn)換器108所進行的Α/D轉(zhuǎn)換后的各塊的數(shù)字圖像數(shù)據(jù)與幀數(shù)據(jù)合成，并且將該合成數(shù)據(jù)傳送至系統(tǒng)控制設(shè)備101內(nèi)的圖像處理單
元

命令控制專用接口 110使得拍攝控制單元109能夠與系統(tǒng)控制設(shè)備101進行通信以接收拍攝模式設(shè)置、各種參數(shù)設(shè)置、拍攝開始設(shè)置和拍攝終止設(shè)置。此外，拍攝控制單元109可以經(jīng)由命令控制專用接口 110將放射線攝像設(shè)備100的操作狀態(tài)發(fā)送至系統(tǒng)控制單元 101。圖像數(shù)據(jù)接口 111使得拍攝控制單元109能夠?qū)⑴臄z操作中所獲得的圖像數(shù)據(jù)發(fā)送至系統(tǒng)控制設(shè)備101。拍攝控制單元109可以將READY信號112發(fā)送至系統(tǒng)控制設(shè)備101，其中該READY信號112表示放射線攝像設(shè)備100準(zhǔn)備好進行拍攝操作。響應(yīng)于從拍攝控制單元109接收到READY信號112，系統(tǒng)控制設(shè)備101可以將用于通知放射線照射時刻的外部同步信號113發(fā)送至拍攝控制單元109。拍攝控制單元109可以將照射允許信號114發(fā)送至系統(tǒng)控制設(shè)備101。在照射允許信號114處于有效狀態(tài)的情況下，可以從系統(tǒng)控制單元101向放射線生成設(shè)備103發(fā)送照射信號。將從放射線源104所發(fā)射的放射線儲存作為有效放射線，并且可以形成X射線圖像。圖2示出像素電路的結(jié)構(gòu)示例。圖2所示的像素電路與以二維圖案配置在矩形半導(dǎo)體基板106上的多個像素其中之一相對應(yīng)。在圖2所示的像素電路中，光電二極管(PD)可以進行光電轉(zhuǎn)換。復(fù)位MOS晶體管M2可用作能夠放出儲存在浮動擴散(S卩，浮動擴散區(qū)域)電容器Cfd內(nèi)的電荷的復(fù)位開關(guān)。此外，感光度切換用MOS晶體管Ml可用作能夠選擇高動態(tài)范圍模式或高感光度模式的感光度選擇開關(guān)。在感光度選擇開關(guān)(Ml)接通的情況下，動態(tài)范圍放大用電容器Cl可以儲存電荷。在感光度選擇開關(guān)(Ml)接通的情況下，浮動節(jié)點區(qū)域的電容實質(zhì)增加。因此，盡管感光度下降，但動態(tài)范圍可以擴大。
因此，例如，由于需要高感光度因而在透視拍攝操作中使感光度選擇開關(guān)(Ml)斷開。另一方面，由于需要高動態(tài)范圍因而在數(shù)字減影血管造影(DSA)拍攝操作中使感光度選擇開關(guān)(Ml)接通。放大MOS晶體管M4可用作能夠用作源極跟隨器的第一像素放大器。選擇MOS晶體管M3可用作能夠使第一像素放大器(M4)進入工作狀態(tài)的第一選擇開關(guān)。在第一像素放大器(M4)的后級設(shè)置能夠去除從光電轉(zhuǎn)換區(qū)域產(chǎn)生的kTC噪聲的鉗位電路。該鉗位電路包括鉗位電容器Ccl和可用作鉗位開關(guān)的鉗位專用MOS晶體管M5。放大MOS晶體管M7可用作能夠用作源極跟隨器的第二像素放大器。選擇MOS晶體管M6可用作能夠使第二像素放大器(M7)進入工作狀態(tài)的第二選擇開關(guān)。在第二像素放大器(M7)的后級設(shè)置光信號專用采樣保持電路和噪聲信號專用采樣保持電路。采樣保持MOS晶體管M8可用作構(gòu)成光信號儲存用采樣保持電路的光信號專用采樣保持開關(guān)。該光信號專用采樣保持電路包括光信號保持電容器CS。采樣保持MOS晶體管Mll可用作構(gòu)成噪聲信號儲存用采樣保持電路的噪聲信號專用采樣保持開關(guān)N。該噪聲信號專用采樣保持電路包括噪聲信號保持電容器CN。光信號放大·MOS晶體管MlO可用作能夠用作源極跟隨器的光信號專用像素放大器。模擬開關(guān)M9可用作光信號傳送開關(guān)，其中該光信號傳送開關(guān)能夠?qū)⒐庑盘枌Ｓ孟袼胤糯笃?MlO)放大后的光信號輸出至S信號輸出線。噪聲信號放大MOS晶體管M13可用作能夠用作源極跟隨器的噪聲信號專用像素放大器。模擬開關(guān)M12可用作噪聲信號傳送開關(guān)，其中該噪聲信號傳送開關(guān)能夠?qū)⒃肼曅盘枌Ｓ孟袼胤糯笃?M13)放大后的噪聲信號輸出至N信號輸出線。有效信號EN連接至第一選擇開關(guān)(M3)的柵極和第二選擇開關(guān)(M6)的柵極。有效信號EN是可以使第一像素放大器(M4)和第二像素放大器(M7)各自進入工作狀態(tài)的控制信號。在有效信號EN是高電平信號的情況下，第一像素放大器(M4)和第二像素放大器(M7)同時可工作。控制信號WIDE連接至感光度選擇開關(guān)(Ml)的柵極。控制信號WIDE可以控制感光度的切換。在控制信號WIDE是低電平信號的情況下，感光度選擇開關(guān)(Ml)斷開以選擇高感光度模式。復(fù)位信號PRES可以使復(fù)位開關(guān)(M2)接通以放出儲存在光電二極管H)內(nèi)的電荷。鉗位信號PCL可以控制鉗位開關(guān)(M5)。在鉗位信號PCL是高電平信號的情況下，鉗位開關(guān)(M5)接通以將鉗位電容器(Ccl)設(shè)置為基準(zhǔn)電壓VCL。信號TS是光信號采樣保持控制信號。在信號TS是高電平信號的情況下，光信號專用采樣保持開關(guān)(M8)接通以將光信號經(jīng)由第二像素放大器(M7) —并發(fā)送至電容器CS。然后，針對所有像素一并使信號TS進入低電平以斷開光信號專用采樣保持開關(guān)(M8)，從而完成了將光信號電荷儲存至該采樣保持電路。信號TN是噪聲信號采樣保持控制信號。在信號TN是高電平信號的情況下，噪聲信號專用采樣保持開關(guān)(Mll)接通以將噪聲信號經(jīng)由第二像素放大器(M7) —并發(fā)送至電容器CN。然后，針對所有像素一并使信號TN進入低電平以斷開噪聲信號專用采樣保持開關(guān)(Ml I)，從而完成了將噪聲信號電荷儲存至該采樣保持電路。在電容器CS和電容器CN的采樣保持處理之后，光信號專用采樣保持開關(guān)(M8)和噪聲信號專用采樣保持開關(guān)(Mll)斷開。電容器CS和電容器CN與前級的儲存電路電氣分離。因此，可以對再次進行采樣操作之前所儲存的光信號和噪聲信號進行無損讀取。圖3是示出在限制X射線窗的情況下圖2所示的像素電路以固定幀頻可以進行的運動圖像拍攝操作時的示例驅(qū)動定時的時序圖。在下文，以下將參考圖3來說明運動圖像拍攝操作時在光信號保持電容器CS和噪聲信號保持電容器CN中對電荷進行采樣保持之前要供給的控制信號的定時。在圖3所示的時序圖中，像素電路在時刻t50設(shè)置拍攝模式并且在時刻t51開始拍攝驅(qū)動操作。如以下詳細說明的，像素電路在時刻t51開始復(fù)位驅(qū)動R1。復(fù)位驅(qū)動Rl包括進行復(fù)位和鉗位處理。首先，在時刻t51，像素電路使有效信號EN進入高電平以使第一像素放大器(M4)和第二像素放大器(M7)開始工作。然后，在時刻t52，像素電路使復(fù)位信號PRES進入高電平以使光電二極管H)連接至基準(zhǔn)電壓VRES。然后，在時刻t53，像素電路使鉗位信號PCL進入高電平以接通鉗位開關(guān)(M5)。此時，基準(zhǔn)電壓VCL 連接至鉗位電容器(Cd)的第二像素放大器(M7)。在時刻t54，像素電路使復(fù)位信號PRES進入低電平以完成該復(fù)位處理。此時，可以對鉗位電容器(Cd)的第一像素放大器(M4)設(shè)置復(fù)位電壓。在時刻t55，像素電路斷開鉗位開關(guān)(M5)。此時，可以將與基準(zhǔn)電壓VCL和基準(zhǔn)電壓VRES之間的差相對應(yīng)的電荷儲存在鉗位電容器(Cd)中。像素電路終止該鉗位處理。然后，在終止上述復(fù)位驅(qū)動Rl之后，在時刻t55，像素電路開始針對光電二極管H)和浮動擴散電容器(Cfd)的光電轉(zhuǎn)換區(qū)域的儲存處理。 更具體地，在時刻t56，像素電路使有效信號EN進入低電平以使第一像素放大器(M4)和第二像素放大器(M7)停止工作。此外，在達到儲存狀態(tài)之后，像素電路使照射允許信號114進入有效狀態(tài)以請求X射線照射。上述時序適用于后續(xù)復(fù)位驅(qū)動的控制。如上所述的所平鋪的矩形半導(dǎo)體基板106在同一時間段內(nèi)按相同時序?qū)Ω鲌D像傳感器的所有像素一并進行復(fù)位驅(qū)動，以消除在運動圖像拍攝操作時由于圖像傳感器之間或掃描線之間的切換時間差而可能發(fā)生的任何圖像未對準(zhǔn)。隨后，進行基于一次曝光的儲存并且將各像素電路的光電二極管ro所生成的光電電荷儲存在電容器(Cfd)中。在復(fù)位驅(qū)動Rl的時刻t52 時刻t54之間的持續(xù)時間內(nèi)向光電二極管H)施加基準(zhǔn)電壓VRES的情況下，在光電轉(zhuǎn)換區(qū)域中產(chǎn)生復(fù)位噪聲(即，kTC噪聲)。然而，可以通過對鉗位電路的鉗位電容器(Cd)的第二像素放大器(M7)設(shè)置基準(zhǔn)電壓VCL來消除該復(fù)位噪聲。如以下詳細說明的，采樣驅(qū)動SI在時刻t60開始。在時刻t60，像素電路使有效信號EN進入高電平以接通第一選擇開關(guān)(M3)和第二選擇開關(guān)(M6)。因而，儲存在電容器(Cfd)內(nèi)的電荷可以由用作源極跟隨器的第一像素放大器(M4)進行電荷/電壓轉(zhuǎn)換并且作為電壓輸出至鉗位電容器(Cd)。第一像素放大器(M4)的輸出包括復(fù)位噪聲。然而，鉗位電路在復(fù)位操作時將第二像素放大器(M7)設(shè)置為基準(zhǔn)電壓VCL。因此，可以將不包括復(fù)位噪聲的光信號輸出至第二像素放大器(M7)。在時刻t61，像素電路使信號TS進入高電平以接通光信號專用采樣保持開關(guān)(MS)0此時，可以將光信號經(jīng)由第二像素放大器(M7) —并傳送至光信號保持電容器(CS)。在已開始采樣保持處理時，在時刻t62，像素電路使照射允許信號114進入無效狀態(tài)以停止X射線照射。在時刻t63，像素電路使信號TX進入低電平以斷開光信號專用采樣保持開關(guān)(MS)0因而，可以利用光信號保持電容器(CS)對光信號進行采樣保持。在時刻t64，像素電路使復(fù)位信號PRES進入高電平以接通復(fù)位開關(guān)(M2)，從而將電容器(Cfd)復(fù)位為基準(zhǔn)電壓VRES。接著，在時刻t65，像素電路使鉗位信號PCL進入高電平。因而，可以將復(fù)位噪聲成分疊加在基準(zhǔn)電壓VCL和基準(zhǔn)電壓VRES之間的差電壓上的電荷儲存在鉗位電容器(Ccl)中。在時刻t66，像素電路使復(fù)位信號PRES進入低電平以完成復(fù)位處理。在時刻t67，像素電路使信號TN進入高電平以接通噪聲信號專用采樣保持開關(guān)(Mll)?？梢詫⒃O(shè)置了基準(zhǔn)電壓VCL時的噪聲信號傳送至噪聲信號保持電容器(CN)。隨后，在時刻t68，像素電路使信號TN進入低電平以斷開噪聲信號專用采樣保持開關(guān)(Mil)。因而，可以在噪聲信號保持電容器(CN)中對噪聲信號進行采樣保持。在時刻t69，像素電路使鉗位信號PCL進入低電平。在時刻t70，像素電路使有效信號EN進入低電平以終止采樣驅(qū)動SI。像素電路針對所有像素一并進行采樣驅(qū)動SI。上述時序適用于后續(xù)采樣驅(qū)動的控制。在完成了采樣驅(qū)動SI之后，在時刻t81，像素電路再次進行復(fù)位驅(qū)動Rl以開始將下一幀儲存在光電二極管H)中。像素電路針對各像素進行儲存在光信號保持電容器(CS)和噪聲信號保持電容器(CN)中的光信號和噪聲信號的掃描。在使光信號傳送開關(guān)(M9)接通的情況下,可以將光信號保持電容器(CS)的電壓經(jīng)由光信號專用像素放大器(MlO)傳送至光信號輸出線。此外，在使噪聲信 號傳送開關(guān)(M12)接通的情況下，可以將噪聲信號保持電容器(CN)的電壓經(jīng)由噪聲信號專用像素放大器(M13)傳送至噪聲信號輸出線。將傳送至光信號輸出線和噪聲信號輸出線的信號供給至與該光信號輸出線和噪聲信號輸出線相連接的差分輸入放大器(未不出)。該差分輸入放大器對經(jīng)由光信號輸出線和噪聲信號輸出線分別接收到的信號進行相減處理，以去除像素放大器中可能生成的熱噪聲、Ι/f噪聲、溫度差和由于處理變化所引起的固定模式噪聲(FPN)?？梢詮膫鞲衅鬟M行讀取的時間段是時刻t68(即，采樣保持完成時刻廣時刻t91 (即,光信號保持電容器(CS)和噪聲信號保持電容器(CN)中針對下一巾貞的光電電荷信號的采樣保持重新開始時刻)的持續(xù)時間。像素電路在完成采樣驅(qū)動SI之后進行像素讀取處理RDl。更具體地，像素電路緊接著完成采樣保持處理之后進行讀取處理，以使得可以盡可能縮短圖像顯示的延遲。在圖2所示的像素電路中，光電二極管H)的儲存開始時刻是圖3所示的時刻t55和時刻t69、即在完成復(fù)位處理之后信號PCL變?yōu)榈碗娖揭酝瓿摄Q位的時刻。此外，儲存完成時刻是時刻t63、即信號TS變?yōu)榈碗娖揭詫庑盘栠M行采樣保持的時刻。如上所述，可以通過在(為了對光信號和噪聲信號進行采樣保持而要進行的)采樣驅(qū)動SI和采樣驅(qū)動SI之間插入(為了開始儲存時間而要進行的)復(fù)位驅(qū)動Rl或采樣驅(qū)動SI來限制該儲存時間。在圖3中，在時刻t60處開始的采樣驅(qū)動SI和時刻t90處開始的采樣驅(qū)動SI之間插入時刻t81處開始的復(fù)位驅(qū)動R1。因而，可以將X射線窗(即，實質(zhì)儲存時間)限制為時刻t85和時刻t93之間的時間段T。圖4示意性示出根據(jù)本典型實施例的矩形半導(dǎo)體基板的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的示例。圖4所示的矩形半導(dǎo)體基板301包括片選擇信號端子CS、光信號輸出端子S、噪聲信號輸出端子N、垂直掃描開始信號端子VST、垂直掃描時鐘端子CLKV、水平掃描開始信號端子HST和水平掃描時鐘端子CLKH。垂直掃描電路303可以選擇排列在水平方向上的多個像素的組，并且與垂直掃描時鐘CLKV同步地在垂直方向(即，副掃描方向)上順次掃描該像素組。水平掃描電路304可以與水平掃描時鐘CLKH同步地以像素為單位來順次選擇垂直掃描電路303所選擇的排列在水平方向(即，主掃描方向)上的像素組中的列信號線。像素電路302是圖2所示的像素電路。在行信號線305 (即，垂直掃描電路303的輸出線)處于有效狀態(tài)的情況下，可以將已被米樣保持的光電壓信號S和噪聲電壓信號N分別輸出至列信號線307和306。水平掃描電路304順次選擇已輸出至列信號線306和307的電壓信號。因而，可以將各像素的電壓信號順次輸出至模擬輸出線308和309。如上所述，矩形半導(dǎo)體基板301使用垂直掃描電路303和水平掃描電路304來進行XY地址切換操作以進行像素選擇。然后，可以將所選擇的像素中的被晶體管放大后的各像素的光信號S和噪聲信號N的電壓信號經(jīng)由列信號線306和307以及模擬輸出線308和309輸出至模擬輸出端子S和N。片選擇信號端子CS是片選擇信號的輸入端子。在片選擇信號處于高電平的情況下，可以經(jīng)由模擬輸出端子S和N輸出反映了內(nèi)部掃描的圖像傳感器的光電壓信號S和噪聲電壓信號N。如下組件協(xié)作地構(gòu)成讀取掃描發(fā)送電路:輸出切換模擬開關(guān)，其位于涉及光信號和噪聲信號的采樣保持電路的后級；列信號線306和307 ;以及開關(guān)晶體管，用于根據(jù)水平掃描電路304的輸出來對列信號線進行切換。垂直掃描時鐘端子CLKV是要供給至垂直掃描電路303的時鐘的輸入端子。垂直掃描開始信號端子VST是要供給至垂直掃描電路303的開始信號的輸入端子。在使垂直掃描開始信號VST進入高電平之后輸入垂直掃描時鐘CLKV的情況下,可以使行選擇信號按V1、V2、…、和Vm的順序順次有效。在垂直掃描開始的情況下，使垂直掃描開始信號VST進入低電平。水平掃描時鐘端子CLKH是要供給至水平掃描電路304的時鐘的輸入端子。水平掃描開始信號端子HST是要供給至水平掃描電路304的開始信號的輸入端子。在使水平掃描開始信號HST進入高電平之后輸入水平掃描時鐘CLKH的情況下，可以使列選擇信號按H1、H2、…、和Hn的順序順次有效。在水平掃描開始的情況下，使水平掃描開始信號HST進入低電平。在使垂直掃描電路303的行信號線Vl的輸出進入有效狀態(tài)的情況下，選擇連接至行信號線Vl的水 平延伸的像素組(1， Γ(η，I)?？梢詫⒐怆妷盒盘朣和噪聲電壓信號N從水平延伸的像素組的各像素分別輸出至列信號線307和306。通過按Η1、Η2、…、和Hn的順序順次切換水平掃描電路304的列選擇信號的有效狀態(tài)，可以將水平延伸行的光電壓信號S和噪聲電壓信號N經(jīng)由模擬輸出線308和309順次輸出至模擬輸出端子S和N?？梢酝ㄟ^對其余的行信號線V2 Vm進行相同的水平掃描來獲得所有像素的像素輸出。圖5示出讀取矩形半導(dǎo)體基板的像素數(shù)據(jù)的示例時序圖。在圖5中，該時序圖示出在進行一次垂直掃描操作和一次水平掃描操作的情況下針對矩形半導(dǎo)體基板的像素數(shù)據(jù)的讀取。在圖5中，信號CS是對矩形半導(dǎo)體基板的模擬信號的輸出進行控制的片選擇信號。在信號CS是高電平信號的情況下，模擬輸出變?yōu)橛行Р⑶铱梢暂敵鲋料乱患壍姆糯笃?07。在垂直掃描開始信號VST處于高電平的狀態(tài)下垂直掃描時鐘CLKV上升的情況下，圖4所示的垂直掃描電路303的行信號線Vl變?yōu)橛行АＨ缓?，行信號線Vl所選擇的像素組中的各像素(1， Γ(η，I)的輸出變?yōu)橛行?。可以將像素組中的各像素(1， Γ(η，I)的光電壓信號S和噪聲電壓信號N輸出至列信號線。隨后，在水平掃描開始信號HST處于高電平的狀態(tài)下水平掃描時鐘CLKH上升的情況下，水平掃描電路304的列選擇信號Hl變?yōu)橛行АＫ綊呙桦娐?04的列選擇信號與水平掃描時鐘CLKH的上升同步地按Η2、…、和Hn的順序順次有效以連續(xù)選擇像素(I, Γ(η，I)。因而，片選擇信號CS所選擇的矩形半導(dǎo)體基板上在水平方向上延伸的像素組的掃描終止。可以通過對連接至其余的各行信號線V2 Vm的像素組同樣地進行水平掃描來獲得所有像素的像素輸出。例如，在圖5中，可以在時間段TlOl內(nèi)從屬于與行信號線Vl相連接的像素組的像素(1， Γ(η，I)中讀取信號，并且可以在時間段Τ102內(nèi)從屬于與行信號線V2相連接的像素組的像素(1，2Γ(η，2)中讀取信號。

同樣，可以在時間段Τ103內(nèi)從與行信號線V3相連接的像素組的像素中讀取信號，并且可以在時間段Τ104內(nèi)從與行信號線V4相連接的像素組的像素中讀取信號。此外，可以在時間段Τ105內(nèi)從與行信號線V5相連接的像素組的像素中讀取信號。Α/D轉(zhuǎn)換器108基于與水平掃描時鐘CLKH同步的時鐘CLKAD來進行Α/D轉(zhuǎn)換處理。圖6示出如下時序圖:對各行進行四次水平掃描并且進行一次垂直掃描以將矩形半導(dǎo)體基板上的所有像素數(shù)據(jù)讀取四次。在使片選擇信號CS進入高電平并且垂直掃描開始信號VST處于高電平的狀態(tài)下垂直掃描時鐘CLKV上升的情況下，圖4所示的垂直掃描電路303的行信號線Vl變?yōu)橛行?。隨后，在水平掃描開始信號HST處于高電平的狀態(tài)下，水平掃描時鐘CLKH上升。水平掃描電路304的列選擇信號按Η1、Η2、..、和Hn的順序順次有效。因而，在水平方向上延伸的像素組的掃描終止。隨后，在垂直掃描時鐘CLKV沒有對垂直掃描電路303的行信號線進行切換的情況下，使片選擇信號CS再次進入高電平。在這種狀態(tài)下，對連接至行信號線Vl的像素同樣地重復(fù)水平掃描。重復(fù)上述操作兩次以上。因而，在圖4所示的垂直掃描電路303的行信號線Vl有效的狀態(tài)下，可以進行四次在水平方向上延伸的像素組的掃描。例如，在圖6中，在時間段Τ201內(nèi)進行第一次讀取操作以從屬于與行信號線Vl相連接的像素組的像素(1，ir(n，I)中讀取信號。在時間段Τ202內(nèi)進行第二次讀取操作。此夕卜，在時間段Τ203內(nèi)進行第三次讀取操作。在時間段Τ204內(nèi)進行第四次讀取操作。
隨后，垂直掃描時鐘CLKV順次切換垂直掃描電路303的行信號線的有效狀態(tài)。對各行同樣地進行四次水平掃描，以完成針對與其余的各行信號線V2 Vm相連接的像素組的處理。因而，可以在進行一次垂直掃描的情況下將設(shè)置在矩形半導(dǎo)體基板上的所有像素的信號讀取四次。例如，在圖6中，在時間段T205內(nèi)要進行的讀取操作是針對屬于與行信號線V2相連接的像素組的像素(1，2Γ(η，2)的第一次讀取操作。垂直掃描時鐘CLKV的時鐘周期例如為I μ sec。因此，在對設(shè)置在矩形半導(dǎo)體基板上的所有像素進行四次讀取操作的情況下，由于對第I行 第m行各自進行四次垂直掃描，因此根據(jù)圖5所示的讀取方法來完成垂直掃描處理需要4πι(μ sec)。然而，圖6所述的讀取方法需要一次垂直方向上的掃描操作。因此，垂直掃描所需的時間為Im (μ sec)。更具體地，圖6所示的讀取方法與圖5所示的讀取方法相比可以快速地完成讀取處理。完成時間提早了 3πι(μ sec)。例如，可使用20MHz的像素時鐘來進行水平掃描。在這種情況下，完成針對第I列 第η列的水平掃描所需的時間為0.05n(ysec)。此外，在垂直掃描電路303的行信號線Vl有效的狀態(tài)下、并且在通過使水平掃描電路304的列選擇信號Hl有效來選擇像素(1，1)的情況下，可以連續(xù)四次讀取該像素數(shù)據(jù)。圖7是示出該讀取方法的示例的時序圖。在使片選擇信號CS進入高電平的狀態(tài)下、當(dāng)垂直掃描開始信號VST處于高電平時垂直掃描時鐘CLKV上升的情況下，圖4所不的垂直掃描電路303的行信號線Vl變?yōu)橛行?。隨后，在水平掃描開始信號HST處于高電平的狀態(tài)下水平掃描時鐘CLKH上升的情況下，水平掃描電路304的列選擇信號Hl有效。在這種狀態(tài)下，時鐘CLKAD上升四次以連續(xù)四次讀取來自像素(1，1)的信號(參見時間段T301)。在下文，在使用水平掃描時鐘CLKH和垂直掃描時鐘CLKV順次切換水平掃描電路304的列選擇信號和垂直掃描電路303的行選擇信號的情況下，可以對各像素進行連續(xù)四次讀取操作。因而，可以在進行一次垂直掃描操作和一次水平掃描操作的情況下對設(shè)置在矩形半導(dǎo)體基板上的所有像素各自進行四次讀取操作。然而，在對各像素重復(fù)多次讀取處理的情況下，即使當(dāng)針對各像素進行平均處理時也難以去除低頻噪聲成分。因此，在本典型實施例中，期望使用圖6所示的讀取方法而不是使用圖7所示的讀取方法來進行多次無損讀取操作。在以下說明中，假定采用圖6所示的讀取方法來進行多次無損讀取操作。圖8A和8B示出根據(jù)本典型實施例的矩形半導(dǎo)體基板中所包括的像素相加電路的示例電路結(jié)構(gòu)。圖8A示出在包括各自如圖2所示的兩個簡化像素電路的電路中插入了像素相加電路的電路的示例。實際電路包括針對光信號和噪聲信號分別設(shè)置的像素相加電路。然而，為了簡化說明，圖8A和SB僅示出針對光信號和噪聲信號的采樣保持電路的其中一個。各電路包括與圖2所示的光電二極管H)相對應(yīng)的光電二極管160和161。各電路還包括可用作源極跟隨器的放大MOS晶體管(S卩，像素放大器)162、163、166、167、172和173。放大MOS晶體 管162和163與圖2所示的第一像素放大器(M4)相對應(yīng)。放大MOS晶體管166和167與圖2所示的第二像素放大器(M7)相對應(yīng)。放大MOS晶體管172和173與圖2所示的光信號專用像素放大器(MlO)或噪聲信號專用像素放大器(M13)相對應(yīng)。各電路還包括與圖2所示的鉗位電容器(Ccl)相對應(yīng)的鉗位電容器164和165。兩個采樣MOS晶體管(即，采樣保持開關(guān))168和169構(gòu)成光信號儲存用采樣保持電路或噪聲信號儲存用保持電路。采樣MOS晶體管168和169與圖2所示的光信號專用采樣保持開關(guān)(M8)或噪聲信號專用采樣保持開關(guān)(Mll)相對應(yīng)。各電路還包括與圖2所示的光信號保持電容器(CS)或噪聲信號保持電容器(CN)相對應(yīng)的光信號專用保持電容器或噪聲信號專用保持電容器(參見170或171)。兩個相加專用MOS晶體管(即，相加開關(guān))150和151協(xié)作地構(gòu)成像素相加電路。圖8B示出協(xié)作地構(gòu)成矩形半導(dǎo)體基板的一個像素的像素電路180和像素相加電路153的示例連接。由圖8A的虛線所表示的電路部分153與由圖8B的虛線所表示的電路部153相對應(yīng)。如圖SB所示，可以通過使相鄰像素的光信號(或噪聲信號)專用保持電容器相連接來實現(xiàn)像素相加。因而，可以在沒有丟棄像素信息的情況下減少要掃描的像素數(shù)?？梢砸愿邘l進行信號讀取處理。在圖8B中，在使信號ADDO進入高電平并且使信號ADDl進入低電平的情況下，可以實現(xiàn)2X2個像素的相力卩。此外，在使信號ADDO進入高電平并且使信號ADDl進入高電平的情況下，可以實現(xiàn)4X4個像素的相加。此外，可以將上述的像素相加電路與圖2所示的感光度選擇開關(guān)(Ml)組合以實現(xiàn)感光度的切換。例如，如果對2X2個像素的像素信息進行相加處理或平均處理，則在進行用于縮小一個像素的像素信息的處理的情況下，可以通過對圖8A和SB所示的模擬信號進行簡單的相加讀取來快速地獲取圖像。然而，在2 X2個像素中的至少一個存在缺陷的情況下，經(jīng)過相加處理的像素被視為缺陷像素。更具體地，在這種情況下，經(jīng)過縮小處理的圖像由于缺陷像素的存在而大幅劣化。因而，根據(jù)本典型實施例的處理包括:在不包括任何缺陷像素的像素信息的情況下進行上述縮小處理以防止經(jīng)過縮小處理的圖像劣化。根據(jù)本典型實施例的處理包括:獲取通過對像素信息進行Α/D轉(zhuǎn)換所能獲得的數(shù)字值，然后基于缺陷像素位置信息來選擇正常像素的像素信息。根據(jù)本典型實施例的處理還包括:使用所選擇的像素信息來進行相加處理(即，數(shù)字合并處理)以獲得不包括任何缺陷像素的像素相加結(jié)果?？蛇x地，根據(jù)本典型實施例的處理可以包括:獲取表示經(jīng)過基于模擬信號的像素相加處理的圖像數(shù)據(jù)的數(shù)字值，隨后基于缺陷像素位置信息來選擇正常像素的像素信息，最后使用所選擇的像素信息來進行數(shù)字合并處理。在這種情況下，可以減少要掃描的像素數(shù)，以使得可以以高幀頻進行信號讀取處理并且可以獲得無缺陷像素的像素相加結(jié)果。在對固有的缺陷像素進行基于模擬信號的像素相加處理、并且對相鄰像素的值進行平均的情況下，可以消除像素的缺陷。另一方面，可能由于圖8A和SB所示的像素相加電路的故障而產(chǎn)生新的缺陷像素。此外，該缺陷像素根據(jù)像素電路的感光度可變。因此，需要準(zhǔn)備與固態(tài)攝像設(shè)備可以進行拍攝操作所用的所有拍攝模式(例如，圖像大小和感光度)相對應(yīng)的缺陷像素位置信息。此外，圖像傳感器所獲得的讀取信號包括隨機噪聲。本典型實施例中采用的傳感器是可以進行無損讀取操作的固態(tài)圖像傳感器。因而，可以通過多次讀取一次曝光期間所儲存的信號并獲得平均值來降低隨機產(chǎn)生的噪聲并提高信噪比(S/N)。圖9示出根據(jù)本典型實施例的平板傳感器105和拍攝控制單元109的結(jié)構(gòu)示例。在圖9中，利用相同的附圖標(biāo)記來表示與圖1所示的框圖中的功能塊相同的功能塊，并且不重復(fù)針對該功能塊的說明。拍攝控制單元109包括驅(qū)動電路127、無損多次讀取平均電路121、數(shù)字合并電路122、缺陷信息存儲用緩沖器128和圖像傳送前緩沖器123。驅(qū)動電路127可以對平板傳感器105進行驅(qū)動控制和拍攝模式控制。無損多次讀取平均電路121可以對通過多次無損讀取操作所獲得的像素(即，光電轉(zhuǎn)換元件)信號進行平均處理。數(shù)字合并電路122可以進行用于在空間上對相加后的信號進行合并的數(shù)字合并處理。缺陷信息存儲用緩沖器128可以臨時存儲數(shù)字合并處理中要使用的缺陷像素位置信息。拍攝控制單元109可以基于經(jīng)過合 并處理的信號來輸出圖像數(shù)據(jù)。存儲在缺陷信息存儲用緩沖器128中的缺陷像素位置信息例如根據(jù)攝像設(shè)備的設(shè)置狀態(tài)可改變。圖像傳送前緩沖器123可以臨時存儲要傳送至系統(tǒng)控制設(shè)備101的圖像。在本典型實施例中，拍攝控制單元109可以由電路結(jié)構(gòu)可編程的半導(dǎo)體設(shè)備(例如，現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA))來實現(xiàn)。無損多次讀取平均電路121和數(shù)字合并電路122配置在同一半導(dǎo)體設(shè)備(例如，F(xiàn)PGA)上。此外，可以設(shè)置配置有無損多次讀取平均電路121和數(shù)字合并電路122的多個半導(dǎo)體設(shè)備(例如，F(xiàn)PGA)。在這種情況下，各半導(dǎo)體設(shè)備可以對平板傳感器105的攝像區(qū)域中的互不相同的部分區(qū)域進行處理。例如，可以針對平板傳感器105的各矩形半導(dǎo)體基板106設(shè)置配置有無損多次讀取平均電路121和數(shù)字合并電路122的多個半導(dǎo)體設(shè)備(例如，F(xiàn)PGA)，以執(zhí)行該處理。無損多次讀取平均電路121包括無損多次讀取平均處理用緩沖器129。數(shù)字合并電路122包括數(shù)字合并處理用緩沖器130。在圖9中，選擇電路131可以選擇無損多次讀取平均電路121要進行的處理的有無。選擇電路132可以選擇數(shù)字合并電路122要進行的處理的有無。數(shù)字合并處理中要使用的缺陷像素位置信息例如存儲在設(shè)置于拍攝控制單元109的外部的存儲器124 (例如，雙倍數(shù)據(jù)率(DDR)動態(tài)隨機存取存儲器)中。缺陷像素位置信息例如是存儲在存儲器124中的、與各種拍攝模式(例如，圖像大小和感光度，換句話說合并處理和增益)相對應(yīng)的多個信息。例如，在設(shè)置了拍攝模式的情況下或者在使電源接通的情況下，可以將缺陷像素位置信息從存儲器124讀取至缺陷信息存儲用緩沖器128。平板傳感器105包括作為模擬合并單元的像素相加電路120。像素相加電路120與圖8A和SB所示的像素相加電路相對應(yīng)。中央處理單元(CPU) 126可用作用于控制拍攝控制單元109的控制單元。程序存儲器125存儲進行上述控制所需的程序。根據(jù)本典型實施例的處理包括應(yīng)用于通過多次無損讀取操作所獲得的像素信號的組合平均和數(shù)字合并處理。在本典型實施例中，假定像素相加電路120沒有進行合并處理并且針對一個像素要進行的無損讀取操作的次數(shù)為四次，并且還假定要進行數(shù)字合并處理的像素組為2X2個像素。
如圖6所示，根據(jù)本典型實施例的處理包括:針對經(jīng)過采樣的像素數(shù)據(jù)的各行重復(fù)進行四次水平掃描操作，并且在進行一次垂直掃描操作的情況下從矩形半導(dǎo)體基板讀取四次所有的像素數(shù)據(jù)。Α/D轉(zhuǎn)換器108對所讀取的像素數(shù)據(jù)連續(xù)進行Α/D轉(zhuǎn)換，并且經(jīng)由選擇電路131將其供給至無損多次讀取平均電路121。在本典型實施例中，在垂直掃描電路303使行信號線Vl有效的狀態(tài)下，可以在第一次水平掃描操作中對在水平方向上延伸的像素組的像素數(shù)據(jù)LI進行讀取和Α/D轉(zhuǎn)換。然后，可以在第二次水平掃描操作中對在水平方向上延伸的像素組的像素數(shù)據(jù)L2進行讀取和Α/D轉(zhuǎn)換。同樣，可以在第三次水平掃描操作中對在水平方向上延伸的像素組的像素數(shù)據(jù)L3進行讀取和Α/D轉(zhuǎn)換。然后，可以在第四次水平掃描操作中對在水平方向上延伸的像素組的像素數(shù)據(jù)L4進行讀取和Α/D轉(zhuǎn)換。此外，在垂直掃描電路303使行信號線V2有效的狀態(tài)下，可以在第一次水平掃描操作中對在水平方向上延伸的像素組的像素數(shù)據(jù)L5進行讀取和Α/D轉(zhuǎn)換。然后，可以在第二次水平掃描操作中對在水平方向上延伸的像素組的像素數(shù)據(jù)L6進行讀取和Α/D轉(zhuǎn)換。同樣，可以在第三次水平掃描操作中對在水平方向上延伸的像素組的像素數(shù)據(jù)L7進行讀取和Α/D轉(zhuǎn)換。然后，可以在第四次水平掃描操作中對在水平方向上延伸的像素組的像素數(shù)據(jù)L8進行讀取和Α/D轉(zhuǎn)換?？梢詫⑤斎胫翢o損多次讀取平均電路121中的像素數(shù)據(jù)LI存儲在無損多次讀取平均處理緩沖器129中。然后，無損多次讀取平均電路121針對各像素將隨后輸入的像素數(shù)據(jù)L2與存儲在緩沖器129中的像素數(shù)據(jù)LI相加?？梢詫⒃撓嗉咏Y(jié)果、即像素數(shù)據(jù)(L1+L2)存儲在緩沖器129中。此外，無損多次讀取平均電路121針對各像素將隨后輸入的像素數(shù)據(jù)L3與存儲在緩沖器129中的像素數(shù)據(jù)(L1+L2)相加。可以將該相加結(jié)果、即像素數(shù)據(jù)(L1+L2+L3)存儲在緩沖器129中。

隨后，無損多次讀取平均電路121針對各像素將所輸入的像素數(shù)據(jù)L4與存儲在緩沖器129中的像素數(shù)據(jù)(L1+L2+L3)相加。然后，無損多次讀取平均電路121針對各像素將相加結(jié)果、即像素數(shù)據(jù)(L1+L2+L3+L4)除以4，以獲得在水平方向上延伸的像素組的平均像素數(shù)據(jù)D1=((L1+L2+L3+L4)/4)。然后，將像素數(shù)據(jù)Dl輸入至數(shù)字合并電路122。進行相同的平均處理以獲得平均像素數(shù)據(jù)D2=((L5+L6+L7+L8)/4)。還將像素數(shù)據(jù)D2輸入至數(shù)字合并電路122。將無損多次讀取平均電路121所獲得的像素數(shù)據(jù)D1、…、和Dn順次輸入至數(shù)字合并電路122。為了進行上述處理，期望無損多次讀取平均電路121的緩沖器129由具有能夠存儲所讀取的圖像大小的一行的像素數(shù)據(jù)的充足容量的行緩沖器來構(gòu)成。輸入至數(shù)字合并電路122的在水平方向上延伸的像素組的像素數(shù)據(jù)Dl包括地址為(1， Γ(η，I)的總共η個像素。數(shù)字合并電路122使用所輸入的像素數(shù)據(jù)來進行相加處理，以獲得經(jīng)過在水平方向上所進行的合并處理的一組像素。在這種情況下，數(shù)字合并處理122通過基于存儲在缺陷信息存儲用緩沖器128中的缺陷像素位置信息而僅選擇正常像素的像素信息來進行相加處理。在本典型實施例中，要處理的各像素組包括2X2個像素。因此，數(shù)字合并電路122重復(fù)兩個像素的相加。更具體地，數(shù)字合并電路122從像素數(shù)據(jù)Dl獲得(1，I)和(2，I)的相加、(3，I)和(4，I)的相加、…、以及(n-1，I)和(n，I)的相加。然后，將包括總共(n/2)個像素的像素數(shù)據(jù)D1’存儲在數(shù)字合并處理用緩沖器130中。同樣，數(shù)字合并電路122從像素數(shù)據(jù)D2獲得(1,2)和(2，2)的相加、…、以及(n-1, 2)和(η, 2)的相加。然后，數(shù)字合并電路122針對各像素將所獲得的相加結(jié)果(即，像素數(shù)據(jù)D2’)與存儲在緩沖器130中的像素數(shù)據(jù)D1’相加，以基于有效像素數(shù)來獲得平均值。結(jié)果，例如，可以通過對包括(1，1)和(2，I)以及(1，2)和(2，2)像素的2X2個像素的像素信息進行平均來獲得不包括任何缺陷像素的像素相加結(jié)果。為了進行上述處理，期望數(shù)字合成電路122的緩沖器130由能夠存儲經(jīng)過數(shù)字合并處理的圖像大小的一行的像素數(shù)據(jù)的行緩沖器來構(gòu)成。根據(jù)本典型實施例的處理包括:在每次進行數(shù)字合并處理時從存儲器124讀取要進行數(shù)字合并處理的像素部分的缺陷像素位置信息，并且將所讀取的缺陷像素位置信息存儲在拍攝控制單元109的缺陷信息存儲用緩沖器128中。圖1OA示出根據(jù)本典型實施例的處理的流程圖。在步驟Sll中， 接通攝像設(shè)備的電源。然后，在步驟S12中，設(shè)置拍攝模式。隨后，在步驟S13中，進行包括數(shù)字合并處理的拍攝操作。同時，在步驟S14中，從存儲器124讀取適合該拍攝模式的缺陷像素位置信息。將所讀取的缺陷像素位置信息存儲在拍攝控制單元109的缺陷信息存儲用緩沖器128中。與數(shù)字合并處理并行地進行上述用于從存儲器124讀取缺陷像素位置信息的處理對于實現(xiàn)可以使缺陷信息存儲用緩沖器128的容量最小的電路而言是有用的。即使在拍攝控制單元109在進行數(shù)字合并處理的同時訪問外部設(shè)置的存儲器124的情況下，由于針對各幀進行一次根據(jù)本典型實施例的數(shù)字合并處理，因此不會對電路的處理速度產(chǎn)生任何不利影響。將經(jīng)過數(shù)字合并電路122的數(shù)字合并處理的圖像數(shù)據(jù)順次輸入至圖像傳送前緩沖器123。隨后將存儲在圖像傳送前緩沖器123中的圖像數(shù)據(jù)傳送至系統(tǒng)控制設(shè)備101的圖像處理單元。圖像傳送前緩沖器123可以由設(shè)置在拍攝控制單元109的外部的外部存儲器(例如，DDR)來替換。例如，在上述存儲器是存儲器124的情況下，存儲器124同時進行缺陷像素位置信息的讀取和要傳送的圖像的寫入/讀取訪問。然而，在本典型實施例中，針對一幀進行一次數(shù)字合并處理。因此，可以有效地維持電路的處理速度。根據(jù)本典型實施例的處理包括:針對各行對采樣后的像素數(shù)據(jù)進行四次水平掃描，并且對各行的掃描結(jié)果進行平均以進一步進行數(shù)字合并處理。因此，可以在沒有增加讀取時間的情況下降低隨機噪聲。此外，由于參考缺陷像素位置信息、僅使用正常像素的像素信息來進行數(shù)字合并處理，因此可以防止圖像質(zhì)量由于任何缺陷像素的存在而劣化。此外，由于在進行根據(jù)本典型實施例的上述處理時可使用所需程度最低的行緩沖器作為各電路的緩沖器，因此可以縮小電路規(guī)模。此外，與以重復(fù)讀取一幀四次為特征的方法相比，用于通過進行四次水平掃描操作來連續(xù)讀取各行的方法由于可以縮短讀取時間，因而對于提高幀頻而言是有用的。
此外，根據(jù)本典型實施例的處理包括針對一幀進行一次數(shù)字合并處理。因此，可以在不會使從存儲器124讀出缺陷像素位置信息的次數(shù)(即，訪問存儲器的次數(shù))增加的情況下有效地提高電路的處理速度。在存儲缺陷像素位置信息的存儲器是設(shè)置在拍攝控制單元109的外部的存儲器(例如，DDR)的情況下，可以進一步提高上述效果。從平板傳感器無損地讀出像素信號的次數(shù)不限于上述示例。此外，要進行數(shù)字合并處理的矩陣的大小不限于上述示例。因此，可使用任何其它的nXn矩陣(η是自然數(shù))。此外，還可以在數(shù)字合并處理期間在無需讀取任何缺陷像素位置信息的情況下進行上述處理。此外，像素相加電路120、無損多次讀取平均電路121和數(shù)字合并電路122是獨立電路并且可以彼此任意組合。從傳感器105讀出的數(shù)據(jù)可以是像素相加電路120獲取到的數(shù)據(jù)?？梢栽谠搨鞲衅鲀?nèi)進行像素相加處理和數(shù)字合并處理。例如，在針對像素相加電路120對2X2個像素所進行的合并處理的處理結(jié)果進行2 X 2的數(shù)字合并處理的情況下，最終傳送至系統(tǒng)控制設(shè)備101的圖像是通過4 X 4的合并處理所獲得的結(jié)果。例如，在對4X4個像素要進行的合并處理僅是數(shù)字合并處理的情況下，像素相加電路120在沒有進行任何合并處理的情況下讀取I X I的圖像，并且數(shù)字合并電路122進行4X4的數(shù)字合并處理。在這種情況下，由于在Α/D轉(zhuǎn)換、平均處理和數(shù)字合并處理各自中要處理的像素數(shù)為1X1，因此需要大量的處理時間。另一方面，在對利用傳感器105內(nèi)的基于模擬信號的像素相加處理所進行的2X2的合并處理的處理結(jié)果進行2X2的數(shù)字合并處理的情況下，可以減少在傳感器內(nèi)要進行掃描的像素數(shù)。因此，可以以高幀頻讀取信號。此外，已對所讀取的像素信號進行了 2X2的合并處理。因此，與上述1X1的情況相比，后面在Α/D轉(zhuǎn)換、平均處理和數(shù)字合并處理各自中要處理的像素數(shù)可以減少為1/4的水平。處理速度變得更高并且可以實現(xiàn)高幀頻。
·
通常，在基于模擬信號的像素相加處理中，例如，在2X2個像素中的任一個存在缺陷或者像素相加電路120發(fā)生故障的情況下，將進行相加處理的像素視為缺陷像素。然而，根據(jù)本典型實施例，進行傳感器內(nèi)的基于模擬信號的像素相加以及基于缺陷像素位置信息的僅使用正常像素的像素信息的數(shù)字合并這兩者。因此，可以在實現(xiàn)高速讀取的同時獲得不包括任何缺陷像素的像素相加結(jié)果。本典型實施例不限于上述示例。例如，可以改變從存儲器讀取缺陷像素位置信息并將該讀出信息存儲在緩沖器中的方法或時序。圖1OB示出根據(jù)本典型實施例的處理流程圖的其它示例。根據(jù)圖1OB所示的示例，在步驟S21中，接通攝像設(shè)備的電源。然后，在步驟S22中，設(shè)置拍攝模式。隨后，在步驟S23中，從存儲器124讀出適合該拍攝模式的一幀的缺陷像素位置信息。將所讀取的缺陷像素位置信息存儲在拍攝控制單元109的缺陷信息存儲用緩沖器128中。在步驟S24中，進行包括數(shù)字合并處理的拍攝操作。在這種情況下，從缺陷信息存儲用緩沖器128讀出缺陷像素位置信息并且進行數(shù)字合并處理。在進行上述處理的情況下，僅當(dāng)切換拍攝模式時拍攝控制單元109才訪問外部設(shè)置的存儲器124，并且在數(shù)字合并處理期間沒有進行針對存儲器124的訪問。因而，可以提高拍攝操作期間電路的處理速度。然而，根據(jù)圖1OB所示的示例，需要在拍攝控制單元109中準(zhǔn)備可以存儲至少一幀的缺陷像素位置信息的缺陷信息存儲用緩沖器128。此外，當(dāng)改變拍攝模式時，需要大量時間來讀取缺陷像素位置信息。因此，與圖1OA所示的示例相比，在完成拍攝操作之后改變拍攝模式并且開始新的拍攝操作需要較長的時間。圖1OC示出根據(jù)本典型實施例的處理流程圖的其它示例。根據(jù)圖1OC所示的示例，在步驟S31中，接通攝像設(shè)備的電源。然后，在步驟S32中，從存儲器124讀出與所有拍攝模式相對應(yīng)的缺陷像素位置信息。將所讀取的缺陷像素位置信息存儲在拍攝控制單元109的缺陷信息存儲用緩沖器128中。在步驟S33中，設(shè)置拍攝模式。然后，在步驟S34中，進行包括數(shù)字合并處理的拍攝操作。在這種情況下，從缺陷信息存儲用緩沖器128讀出缺陷像素位置信息并且進行數(shù)字合并處理。根據(jù)上述處理，在數(shù)字合并處理期間沒有進行針對存儲器124的訪問。因此，可以提高拍攝操作期間電路的處理速度。此外，在改變拍攝模式時無需進行存儲器訪問。因此，可以縮短在完成拍攝操作之后改變拍攝模式并且開始新的拍攝操作所需的時間。然而，由于需要在拍攝控制單元10 9內(nèi)準(zhǔn)備可以存儲與所有拍攝模式相對應(yīng)的缺陷信息的缺陷信息存儲用緩沖器128，因此電路規(guī)模變得較大。此外，本發(fā)明可以通過以下處理來實現(xiàn)。更具體地，該處理包括:將可以實現(xiàn)上述典型實施例的功能的軟件程序經(jīng)由網(wǎng)絡(luò)或適當(dāng)?shù)拇鎯橘|(zhì)提供至系統(tǒng)或設(shè)備，并且使該系統(tǒng)或設(shè)備的計算機(或者CPU或微處理單元(MPU))讀取并執(zhí)行該程序。上述典型實施例僅是能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明的示例。本發(fā)明的技術(shù)范圍不應(yīng)當(dāng)局限于上述實施例。更具體地，可以在沒有背離本發(fā)明的技術(shù)理念或主要特征的情況下對本發(fā)明進行各種修改。本發(fā)明的典型實施例的目的在于提供可以對針對各像素所無損讀出的像素信號高效地執(zhí)行平均處理和數(shù)字合并處理的攝像設(shè)備和攝像方法。根據(jù)上述典型實施例，可以提供如下的攝像設(shè)備和攝像方法，其中該攝像設(shè)備和攝像方法可以在不會使讀取時間或處理時間增加的情況下，利用較小的電路規(guī)模來對針對各像素所多次讀取的像素信號高效地執(zhí)行平均處理和數(shù)字合并處理。還可以通過讀出并執(zhí)行記錄在存儲器裝置上的程序以進行上述實施例的功能的系統(tǒng)或設(shè)備的計算機(或者CPU或MPU等裝置)和通過下面的方法來實現(xiàn)本發(fā)明的各方面，其中，該系統(tǒng)或設(shè)備的計算機通過例如讀出并執(zhí)行記錄在存儲器裝置上的程序以進行上述實施例的功能來進行上述方法的各步驟。由于該原因，例如經(jīng)由網(wǎng)絡(luò)或者通過用作存儲器裝置的各種類型的記錄介質(zhì)(例如，計算機可讀介質(zhì))將該程序提供給計算機。在這種情況下，該系統(tǒng)或設(shè)備以及存儲有程序的記錄介質(zhì)包括在本發(fā)明的范圍內(nèi)。盡管已經(jīng)參考典型實施例說明了本發(fā)明，但是應(yīng)該理解，本發(fā)明不限于所公開的典型實施例。所附權(quán)利要求書的范圍符合最寬的解釋，以包含所有修改、等同結(jié)構(gòu)和功能。
權(quán)利要求
1.一種攝像設(shè)備，包括: 傳感器，其包括:以二維圖案配置的多個像素；采樣保持單元，用于對從所述多個像素中的各個像素獲得的信號進行采樣保持；以及讀取單元，用于以對一行的像素進行多次無損讀取操作并且讀取下一行的像素的方式進行掃描，之后在行方向和列方向上進行掃描以讀取所述采樣保持單元所采樣保持的信號； Α/D轉(zhuǎn)換單元，用于對所述讀取單元所讀取的信號進行模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換處理； 平均處理單元，用于針對各像素來對所述Α/D轉(zhuǎn)換單元的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換后的信號進行平均處理；以及 數(shù)字合并單元，用于使用所述平均處理單元的平均處理后的信號來進行合并處理。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的攝像設(shè)備，其中，還包括: 存儲單元，用于臨時存儲缺陷像素位置信息， 其中，所述數(shù)字合并單元基于存儲在所述存儲單元中的缺陷像素位置信息，使用不包括所述缺陷像素位 置信息所表示的缺陷像素的信號的信號來進行所述合并處理。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的攝像設(shè)備，其中，要存儲在所述存儲單元中的缺陷像素位置信息存儲在外部存儲器中。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的攝像設(shè)備，其中，存儲在所述存儲單元中的缺陷像素位置信息根據(jù)所述攝像設(shè)備的設(shè)置狀態(tài)能夠改變。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的攝像設(shè)備，其中，與所述攝像設(shè)備的各拍攝模式相對應(yīng)的多個所述缺陷像素位置信息存儲在所述外部存儲器中。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的攝像設(shè)備，其中，在每次所述數(shù)字合并單元進行所述合并處理時，從所述外部存儲器讀出所述缺陷像素位置信息。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的攝像設(shè)備，其中，在設(shè)置了所述攝像設(shè)備的拍攝模式的情況下，從所述外部存儲器讀出所述缺陷像素位置信息。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的攝像設(shè)備，其中，在接通了所述攝像設(shè)備的電源的情況下，從所述外部存儲器讀出多個所述缺陷像素位置信息。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的攝像設(shè)備，其中，所述平均處理單元和所述數(shù)字合并單元設(shè)置在同一半導(dǎo)體設(shè)備上。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的攝像設(shè)備，其中，還包括: 多個半導(dǎo)體設(shè)備，其設(shè)置有所述平均處理單元和所述數(shù)字合并單元， 其中，將所述多個半導(dǎo)體設(shè)備分別分配至設(shè)置有所述多個像素的攝像區(qū)域中的互不相同的部分區(qū)域。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的攝像設(shè)備，其中，與列方向上針對一行進行的掃描相比，所述傳感器在行方向上進行的掃描需要切換時間。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的攝像設(shè)備，其中，所述平均處理單元包括具有能夠存儲所輸入的一行的信號的容量的緩沖器。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的攝像設(shè)備，其中，所述傳感器包括分別具有多個像素的多個半導(dǎo)體基板。
14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的攝像設(shè)備，其中，所述傳感器還包括模擬合并單元，所述模擬合并單元用于使用所述讀取單元所讀取的信號來進行合并處理，其中，所述A/D轉(zhuǎn)換單元對所述模擬合并單元的合并處理后的信號進行所述模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換處理。
15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的攝像設(shè)備，其中，所述傳感器還包括: 模擬合并單元，用于使用從所選擇的像素獲得的并且在該所選擇的像素中放大后的信號來進行合并處理；以及 放大單元，用于放大所述模擬合并單元處理后的信號， 其中，所述Α/D轉(zhuǎn)換單元對所述放大單元放大后的信號進行所述模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換處理。
16.一種攝像設(shè)備，包括: 傳感器，其包括:以二維圖案配置的多個像素；采樣保持單元，用于對從所述多個像素中的各個像素獲得的信號進行采樣保持；以及讀取單元，用于以對一行的像素進行多次無損讀取操作并且讀取下一行的像素的方式進行掃描，之后在行方向和列方向上進行掃描以讀取所述采樣保持單元所采樣保持的信號； Α/D轉(zhuǎn)換單元，用于對所述讀取單元所讀取的信號進行模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換處理； 平均處理單元，用于針對各像素來對所述Α/D轉(zhuǎn)換單元的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換后的信號進行平均處理； 存儲單元，用于臨時存儲缺陷像素位置信息；以及 數(shù)字合并單元，用于基于存儲在所述存儲單元中的缺陷像素位置信息，使用所述平均處理單元的平均處理后的信號中的、不包括所述缺陷像素位置信息所表示的缺陷像素的信號的信號來進行合并處理， 其中，所述傳感器包括分別具有多個像素的多個半導(dǎo)體基板，以及與所述攝像設(shè)備的各拍攝模式相對應(yīng)的多個所述缺陷像素位置信息存儲在外部存儲器中。
17.一種攝像設(shè)備的攝像方法，所述攝像設(shè)備包括傳感器，所述傳感器包括:以二維圖案配置的多個像素；采樣保持單元，用于對從所述多個像素中的各個像素獲得的信號進行采樣保持；以及讀取單元，用于以對一行的像素進行多次無損讀取操作并且讀取下一行的像素的方式進行掃描，之后在行方向和列方向上進行掃描以讀取所述采樣保持單元所采樣保持的信號，所述攝像方法包括: 對所述讀取單元所讀取的信號進行模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換處理； 針對各像素來對模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換后的信號進行平均處理；以及 使用平均處理后的信號來進行數(shù)字合并處理。
18.一種攝像設(shè)備，包括: 傳感器，其包括:以二維圖案配置的多個像素；采樣保持單元，用于對從像素獲得的信號進行采樣保持；以及讀取單元，用于以對一行的像素進行多次無損讀取操作并且讀取下一行的像素的方式進行掃描，之后在行方向和列方向上進行掃描以讀取所述采樣保持單元所采樣保持的信號； Α/D轉(zhuǎn)換單元，用于對所述讀取單元所讀取的信號進行模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換處理； 平均處理單元，用于針對各像素來對所述Α/D轉(zhuǎn)換單元的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換后的信號進行平均處理； 存儲單元，用于臨時存儲缺陷像素位置信息；以及數(shù)字合并單元，用于基于存儲在所述存儲單元中的缺陷像素位置信息，使用所述平均處理單元的平均處理后的信號中的、不包括所述缺陷像素位置信息所表示的缺陷像素的信號的信號來進行合并處理， 其中，與所述攝像設(shè)備的各拍攝模式相對應(yīng)的多個所述缺陷像素位置信息存儲在外部存儲器中，以及 將與所述攝像設(shè)備的拍攝模式設(shè)置相對應(yīng)的缺陷像素位置信息從所述外部存儲器讀出至所述存儲單元。
19.一種X射線檢測器,包括: X射線圖像傳感器，其包括以二維圖案配置的多個像素，其中所述多個像素中的各個像素包括:光電轉(zhuǎn)換元件；以及采樣保持電路，用于對所述光電轉(zhuǎn)換元件的信號進行采樣保持； 控制單元，用于對從一行的所述光電轉(zhuǎn)換元件所采樣保持的信號進行多次無損讀取操作，之后對下一行的像素進行多次無損讀取操作； 相加處理單元，用于針對各像素來對所多次讀取的信號進行相加； 合并單元，用于在空間上對相加后的信號進行合并處理；以及 輸出單元，用 于基于所述合并處理后的信號來輸出圖像數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種攝像設(shè)備、X射線檢測器和攝像方法。攝像設(shè)備包括傳感器，其包括以二維圖案配置的多個像素；采樣保持單元，用于對從各像素獲得的信號進行采樣保持；以及讀取單元，用于以對一行的像素進行多次無損讀取操作并且讀取下一行的像素的方式進行掃描，之后在行方向和列方向上進行掃描以讀取采樣保持單元所采樣保持的信號；A/D轉(zhuǎn)換單元，用于對讀取單元所讀取的信號進行模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換處理；平均處理單元，用于針對各像素來對A/D轉(zhuǎn)換單元的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換后的信號進行平均處理；以及數(shù)字合并單元，用于使用平均處理單元的平均處理后的信號來進行合并處理。
文檔編號H04N5/367GK103248840SQ20131004193
公開日2013年8月14日 申請日期2013年2月1日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月1日
發(fā)明者堂脅可菜子 申請人:佳能株式會社