一種無(wú)線射頻測(cè)試中板測(cè)校準(zhǔn)測(cè)試方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種無(wú)線射頻【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種無(wú)線射頻測(cè)試中板測(cè)校準(zhǔn)測(cè)試方法，方法步驟包括：從樣機(jī)抽樣獲取最集中的gain值，多機(jī)服務(wù)器構(gòu)成搭建多機(jī)測(cè)試環(huán)境；將所述統(tǒng)計(jì)好的校準(zhǔn)gain值批量寫入Dut中；對(duì)寫入固定gain值的Dut做部分抽檢。本發(fā)明不僅測(cè)試時(shí)間由原來(lái)的無(wú)線校準(zhǔn)至少90秒以上降低至30秒以內(nèi)，而且不需要使用射頻環(huán)境使得測(cè)試的穩(wěn)定性也大幅提高；這樣既可以為生產(chǎn)節(jié)省大量射頻儀器降低測(cè)試工具成本，而且可以提升生產(chǎn)測(cè)試的效率和穩(wěn)定性。
【專利說(shuō)明】一種無(wú)線射頻測(cè)試中板測(cè)校準(zhǔn)測(cè)試方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種無(wú)線射頻【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種無(wú)線射頻測(cè)試中板測(cè)校準(zhǔn)測(cè)試 方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 帶無(wú)線功能模塊的通訊產(chǎn)品在生產(chǎn)過(guò)程中，有大量的無(wú)線芯片需要生產(chǎn)時(shí)對(duì)無(wú)線 的發(fā)射參數(shù)進(jìn)行校準(zhǔn)，無(wú)線發(fā)射參數(shù)的校準(zhǔn)直接影響到無(wú)線性能的優(yōu)劣，進(jìn)而影響產(chǎn)品無(wú) 線通訊性能以及用戶的體驗(yàn)。
[0003] 隨著無(wú)線通訊及射頻技術(shù)的發(fā)展，市場(chǎng)上的通訊產(chǎn)品基本上都集成了無(wú)線功能， 無(wú)線產(chǎn)品的數(shù)量也不斷增加，對(duì)于生產(chǎn)來(lái)說(shuō)，無(wú)線校準(zhǔn)的時(shí)間基本上都占用無(wú)線板測(cè)一半 甚至更多的時(shí)間，而且無(wú)線校準(zhǔn)對(duì)環(huán)境連線，治具的要求都比較嚴(yán)格，所以對(duì)于生產(chǎn)測(cè)試來(lái) 說(shuō)，無(wú)線校準(zhǔn)是嚴(yán)重制約生產(chǎn)效率的問(wèn)題點(diǎn)。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 本發(fā)明的目的在于提供一種無(wú)線射頻測(cè)試中板測(cè)校準(zhǔn)測(cè)試方法，解決了現(xiàn)有技術(shù) 對(duì)通信產(chǎn)品的無(wú)線校準(zhǔn)方法效率低，精確度不高的問(wèn)題。
[0005] 為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明所采取的技術(shù)方案是：
[0006] 一種無(wú)線射頻測(cè)試中板測(cè)校準(zhǔn)測(cè)試方法，包括以下步驟：
[0007] 步驟一，從樣機(jī)抽樣，對(duì)所有樣機(jī)的DUT (待測(cè)設(shè)備）進(jìn)行無(wú)線校準(zhǔn)和測(cè)試，然后記 錄所有DUT上板子的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，統(tǒng)計(jì)并分析出所有校準(zhǔn)gain (增益）值的集中值；
[0008] 步驟二，使用一個(gè)多口的交換機(jī)以及一個(gè)wan上行板子做為多機(jī)服務(wù)器，在多機(jī) 服務(wù)器中配置好對(duì)應(yīng)的vlan，搭建多機(jī)測(cè)試環(huán)境；
[0009] 步驟三，使用多機(jī)服務(wù)器將所述統(tǒng)計(jì)好的校準(zhǔn)gain值批量寫入Dut中；
[0010] 步驟四，對(duì)寫入固定gain值的Dut做部分抽檢，獲取Dut中的gain值，控制無(wú)線RF 測(cè)試儀器發(fā)送指定模式和幅度的調(diào)制信號(hào)，向Dut下發(fā)無(wú)線指令接收無(wú)線數(shù)據(jù)包獲取Dut 接收性能指標(biāo)，在測(cè)試完接受性能指標(biāo)之后，下發(fā)指令使Dut停止接收無(wú)線數(shù)據(jù)包，待Dut 停止接收無(wú)線數(shù)據(jù)包之后，下發(fā)指令使Dut發(fā)射指定模式和幅度的調(diào)制信號(hào)，在Dut發(fā)射完 成調(diào)制信號(hào)之后，控制無(wú)線RF測(cè)試儀器接收Dut發(fā)射信號(hào)并分析出Dut發(fā)射性能指標(biāo)。 [0011] 采用上述技術(shù)方案所產(chǎn)生的有益效果在于：本發(fā)明無(wú)需產(chǎn)線使用昂貴的無(wú)線射頻 儀器來(lái)一拖四進(jìn)行無(wú)線校準(zhǔn)，而后續(xù)只需要使用無(wú)線板測(cè)QA測(cè)試軟件進(jìn)行部分抽測(cè)即可； 多機(jī)無(wú)線gain值寫入，不僅測(cè)試時(shí)間由原來(lái)的無(wú)線校準(zhǔn)至少90秒以上降低至30秒以內(nèi)， 而且不需要使用射頻環(huán)境使得測(cè)試的穩(wěn)定性也大幅提高；這樣既可以為生產(chǎn)節(jié)省大量射頻 儀器降低測(cè)試工具成本，而且可以提升生產(chǎn)測(cè)試的效率和穩(wěn)定性。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0012] 圖1是本發(fā)明一種無(wú)線射頻測(cè)試中板測(cè)校準(zhǔn)測(cè)試方法的流程示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0013] 為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì) 本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并 不用于限定本發(fā)明。
[0014] 圖1示出了本發(fā)明一種無(wú)線射頻測(cè)試中板測(cè)校準(zhǔn)測(cè)試方法的一個(gè)實(shí)施例：一種無(wú) 線射頻測(cè)試中板測(cè)校準(zhǔn)測(cè)試方法，包括以下步驟：
[0015] 步驟一，從樣機(jī)抽樣，對(duì)所有樣機(jī)的DUT (待測(cè)設(shè)備）進(jìn)行無(wú)線校準(zhǔn)和測(cè)試，然后記 錄所有DUT上板子的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，統(tǒng)計(jì)并分析出所有校準(zhǔn)gain (增益）值的集中值；
[0016] 步驟二，使用一個(gè)多口的交換機(jī)以及一個(gè)wan上行板子做為多機(jī)服務(wù)器，在多機(jī) 服務(wù)器中配置好對(duì)應(yīng)的vlan，搭建多機(jī)測(cè)試環(huán)境；
[0017] 步驟三，使用多機(jī)服務(wù)器將所述統(tǒng)計(jì)好的校準(zhǔn)gain值批量寫入Dut中；
[0018] 步驟四，對(duì)寫入固定gain值的Dut做部分抽檢，獲取Dut中的gain值，控制無(wú)線RF 測(cè)試儀器發(fā)送指定模式和幅度的調(diào)制信號(hào)，向Dut下發(fā)無(wú)線指令接收無(wú)線數(shù)據(jù)包獲取Dut 接收性能指標(biāo)，在測(cè)試完接受性能指標(biāo)之后，下發(fā)指令使Dut停止接收無(wú)線數(shù)據(jù)包，待Dut 停止接收無(wú)線數(shù)據(jù)包之后，下發(fā)指令使Dut發(fā)射指定模式和幅度的調(diào)制信號(hào)，在Dut發(fā)射完 成調(diào)制信號(hào)之后，控制無(wú)線RF測(cè)試儀器接收Dut發(fā)射信號(hào)并分析出Dut發(fā)射性能指標(biāo)。
[0019] 盡管這里參照本發(fā)明的多個(gè)解釋性實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了描述，但是，應(yīng)該理解， 本領(lǐng)域技術(shù)人員可以設(shè)計(jì)出很多其他的修改和實(shí)施方式，這些修改和實(shí)施方式將落在本申 請(qǐng)公開(kāi)的原則范圍和精神之內(nèi)。更具體地說(shuō)，在本申請(qǐng)公開(kāi)、附圖和權(quán)利要求的范圍內(nèi)，可 以對(duì)主題組合布局的組成部件和/或布局進(jìn)行多種變型和改進(jìn)。除了對(duì)組成部件和/或布 局進(jìn)行的變形和改進(jìn)外，對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，其他的用途也將是明顯的。
【權(quán)利要求】
1. 一種無(wú)線射頻測(cè)試中板測(cè)校準(zhǔn)測(cè)試方法，其特征在于包括以下步驟： 步驟一，從樣機(jī)抽樣，對(duì)所有樣機(jī)的DUT進(jìn)行無(wú)線校準(zhǔn)和測(cè)試，然后記錄所有DUT上板 子的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，統(tǒng)計(jì)并分析出所有校準(zhǔn)gain值的集中值； 步驟二，使用一個(gè)多口的交換機(jī)以及一個(gè)wan上行板子做為多機(jī)服務(wù)器，在多機(jī)服務(wù) 器中配置好對(duì)應(yīng)的vlan，搭建多機(jī)測(cè)試環(huán)境； 步驟三，使用多機(jī)服務(wù)器將所述統(tǒng)計(jì)好的校準(zhǔn)gain值批量寫入Dut中； 步驟四，對(duì)寫入固定gain值的Dut做部分抽檢，獲取Dut中的gain值，控制無(wú)線RF測(cè) 試儀器發(fā)送指定模式和幅度的調(diào)制信號(hào)，向Dut下發(fā)無(wú)線指令接收無(wú)線數(shù)據(jù)包獲取Dut接 收性能指標(biāo)，在測(cè)試完接受性能指標(biāo)之后，下發(fā)指令使Dut停止接收無(wú)線數(shù)據(jù)包，待Dut停 止接收無(wú)線數(shù)據(jù)包之后，下發(fā)指令使Dut發(fā)射指定模式和幅度的調(diào)制信號(hào)，在Dut發(fā)射完成 調(diào)制信號(hào)之后，控制無(wú)線RF測(cè)試儀器接收Dut發(fā)射信號(hào)并分析出Dut發(fā)射性能指標(biāo)。
【文檔編號(hào)】H04B17/00GK104158613SQ201410446827
【公開(kāi)日】2014年11月19日 申請(qǐng)日期:2014年9月4日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月4日
【發(fā)明者】朱曉龍, 寧建, 黃亮 申請(qǐng)人:太倉(cāng)市同維電子有限公司