一種用于測(cè)試光模塊參數(shù)的測(cè)試板的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于測(cè)試光模塊參數(shù)的測(cè)試板，能夠?qū)崿F(xiàn)快速穩(wěn)定的對(duì)光模塊待測(cè)參數(shù)的檢測(cè)，以便提供一致性良好的光模塊，避免光模塊在實(shí)際應(yīng)用中出現(xiàn)使用故障，影響所加載的系統(tǒng)的使用，其卓越的測(cè)試性能，能夠方便的對(duì)光模塊高低告警值進(jìn)行測(cè)試，亦可準(zhǔn)確的對(duì)光模塊工作電流進(jìn)行采集，包括光模塊、電流檢測(cè)電路、AD轉(zhuǎn)換電路、單片機(jī)電路、計(jì)算機(jī)接口電路及運(yùn)算放大電路，所述電流檢測(cè)電路連接AD轉(zhuǎn)換電路，所述AD轉(zhuǎn)換電路連接單片機(jī)電路，所述單片機(jī)電路連接運(yùn)放電路，進(jìn)數(shù)據(jù)接口電路連接單片機(jī)電路；光模塊分別連接電流檢測(cè)電路和運(yùn)算放大電路；電流檢測(cè)電路包括電流檢測(cè)芯片UO、電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5。
【專利說明】
一種用于測(cè)試光模塊參數(shù)的測(cè)試板
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及光通信技術(shù)領(lǐng)域，具體的說，是一種用于測(cè)試光模塊參數(shù)的測(cè)試板。
【背景技術(shù)】
[0002]1966年英籍華裔學(xué)者高錕(C.K.KA)和霍克哈母(C.K.H0CKHAM)發(fā)表了關(guān)于傳輸介質(zhì)新概念的論文，指出了利用光纖(Optical Fiber)進(jìn)行信息傳輸?shù)目赡苄院图夹g(shù)途徑，奠定了現(xiàn)代光通信一一光纖通信的基礎(chǔ)。1970年，光纖研制取得了重大突破，同時(shí)作為光纖通信用的光源也取得了實(shí)質(zhì)性的進(jìn)展。由于光纖和半導(dǎo)體激光器的技術(shù)進(jìn)步，是1970年成為光纖通信發(fā)展的一個(gè)重要里程碑。1976年，美國在亞特蘭大(ATLANTA )進(jìn)行了世界上第一個(gè)實(shí)用光纖通信系統(tǒng)的現(xiàn)場(chǎng)實(shí)驗(yàn)，系統(tǒng)采用GAALAS激光器作為光源，多模光纖做傳輸介質(zhì)，速率為44.7Mb/s，傳輸距離約10km。1976年美國亞特蘭大進(jìn)行的現(xiàn)場(chǎng)實(shí)驗(yàn)，標(biāo)志著光纖通信從基礎(chǔ)發(fā)展到了商業(yè)應(yīng)用的階段。此后，光纖通信技術(shù)不斷發(fā)展:光纖從多模發(fā)展到單模，工作波長從0.85um發(fā)展到1.31和1.55um，傳輸速率從幾十發(fā)展到幾十。另一方面，隨著技術(shù)的進(jìn)步和大規(guī)模產(chǎn)業(yè)的形成，光纖價(jià)格不斷下降，應(yīng)用范圍不斷擴(kuò)大:從初期的市話局間中繼到長途干線進(jìn)一步延伸到用戶接入網(wǎng)，從數(shù)字電話到有線電視(CATV)，從單一類型信息的傳輸?shù)蕉喾N業(yè)務(wù)的傳輸。目前光纖已成為信息寬帶的主要媒質(zhì)，光纖通信系統(tǒng)將成為未來國家基礎(chǔ)設(shè)施的支柱。
[0003]光纖通信的誕生和發(fā)展是電信史上的一次重要革命與衛(wèi)星通信、移動(dòng)通信并列為20世紀(jì)90年代的技術(shù)。進(jìn)入21世紀(jì)后，由于因特網(wǎng)業(yè)務(wù)的迅速發(fā)展和音頻、視頻、數(shù)據(jù)、多媒體應(yīng)用的增長，對(duì)大容量(超高速和超長距離)光波傳輸系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)有了更為迫切的需求。
光纖通信就是利用光波作為載波來傳送信息，而以光纖作為傳輸介質(zhì)實(shí)現(xiàn)信息傳輸，達(dá)到通信目的的一種最新通信技術(shù)。
通信的發(fā)展過程是以不斷提高載波頻率來擴(kuò)大通信容量的過程，光頻作為載頻已達(dá)通信載波的上限，因?yàn)楣馐且环N頻率極高的電磁波，因此用光作為載波進(jìn)行通信容量極大，是過去通信方式的千百倍，具有極大的吸引力，光通信是人們?cè)缇妥非蟮哪繕?biāo)，也是通信發(fā)展的必然方向。
光纖通信與以往的電氣通信相比，主要區(qū)別在于有很多優(yōu)點(diǎn):它傳輸頻帶寬、通信容量大;傳輸損耗低、中繼距離長;線徑細(xì)、重量輕，原料為石英，節(jié)省金屬材料，有利于資源合理使用;絕緣、抗電磁干擾性能強(qiáng);還具有抗腐蝕能力強(qiáng)、抗輻射能力強(qiáng)、可繞性好、無電火花、泄露小、保密性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)，可在特殊環(huán)境或軍事上使用。
光纖通信的應(yīng)用領(lǐng)域是很廣泛的，主要用于市話中繼線，光纖通信的優(yōu)點(diǎn)在這里可以充分發(fā)揮，逐步取代電纜，得到廣泛應(yīng)用。還用于長途干線通信過去主要靠電纜、微波、衛(wèi)星通信，現(xiàn)以逐步使用光纖通信并形成了占全球優(yōu)勢(shì)的比特傳輸方法;用于全球通信網(wǎng)、各國的公共電信網(wǎng)(如我國的國家一級(jí)干線、各省二級(jí)干線和縣以下的支線)；它還用于高質(zhì)量彩色的電視傳輸、工業(yè)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)視和調(diào)度、交通監(jiān)視控制指揮、城鎮(zhèn)有線電視網(wǎng)、共用天線(CATV)系統(tǒng)，用于光纖局域網(wǎng)和其他如在飛機(jī)內(nèi)、飛船內(nèi)、艦艇內(nèi)、礦井下、電力部門、軍事及有腐蝕和有輻射等中使用。
在光纖模擬通信系統(tǒng)中，電信號(hào)處理是指對(duì)基帶信號(hào)進(jìn)行放大、預(yù)調(diào)制等處理，而電信號(hào)反處理則是發(fā)端處理的逆過程，即解調(diào)、放大等處理。在光纖數(shù)字通信系統(tǒng)中，電信號(hào)處理是指對(duì)基帶信號(hào)進(jìn)行放大、取樣、量化，即脈沖編碼調(diào)制(PCM )和線路碼型編碼處理等，而電信號(hào)反處理也是發(fā)端的逆過程。對(duì)數(shù)據(jù)光纖通信，電信號(hào)處理主要包括對(duì)信號(hào)進(jìn)行放大，和數(shù)字通信系統(tǒng)不同的是它不需要碼型變換。
[0004]目前，國內(nèi)企業(yè)在光通信產(chǎn)品的參數(shù)測(cè)試過程中主要還是使用國內(nèi)外的先進(jìn)測(cè)試設(shè)備，各種測(cè)試儀器之間大多是孤立的，而且主要是用手調(diào)儀器控制面板上的各種旋鈕、按鈕，用人眼觀看儀器上的波形或數(shù)據(jù);這樣不僅測(cè)試過程操作繁雜，容易出錯(cuò)，而且重要的是測(cè)試效率太低。因此提高生產(chǎn)率、降低成本、實(shí)現(xiàn)光通信模塊測(cè)試自動(dòng)化成為提高光電企業(yè)市場(chǎng)競(jìng)爭力的關(guān)鍵之一。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的在于提供一種用于測(cè)試光模塊參數(shù)的測(cè)試板，能夠?qū)崿F(xiàn)快速穩(wěn)定的對(duì)光模塊待測(cè)參數(shù)的檢測(cè)，以便提供一致性良好的光模塊，避免光模塊在實(shí)際應(yīng)用中出現(xiàn)使用故障，影響所加載的系統(tǒng)的使用，其卓越的測(cè)試性能，能夠方便的對(duì)光模塊高低告警值進(jìn)行測(cè)試，亦可準(zhǔn)確的對(duì)光模塊工作電流進(jìn)行采集。
[0006]本發(fā)明通過下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):一種用于測(cè)試光模塊參數(shù)的測(cè)試板，包括光模塊、電流檢測(cè)電路、AD轉(zhuǎn)換電路、單片機(jī)電路、計(jì)算機(jī)接口電路及運(yùn)算放大電路，所述電流檢測(cè)電路連接AD轉(zhuǎn)換電路，所述AD轉(zhuǎn)換電路連接單片機(jī)電路，所述單片機(jī)電路連接運(yùn)放電路，所述進(jìn)數(shù)據(jù)接口電路連接單片機(jī)電路;所述光模塊分別連接電流檢測(cè)電路和運(yùn)算放大電路。
[0007]進(jìn)一步的為更好的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，特別采用下述設(shè)置結(jié)構(gòu):所述電流檢測(cè)電路包括電流檢測(cè)芯片U0、電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5，所述電流檢測(cè)芯片UO的RGl腳連接電阻Rl的第二端，所述光模塊的VCCT腳連接電阻R3的第一端，所述電阻R3的第二端分別連接電阻Rl的第一端和電阻R4的第一端，所述電阻R4的第二端連接電阻R2的第一端，所述電阻R2的第二端連接電流檢測(cè)芯片UO的RG2腳，所述電流檢測(cè)芯片UO的OUT腳通過電阻R5接地且電流檢測(cè)芯片UO的OUT腳連接AD轉(zhuǎn)換電路。
[0008]進(jìn)一步的為更好的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，特別采用下述設(shè)置結(jié)構(gòu):所述AD轉(zhuǎn)換電路內(nèi)設(shè)置有AD轉(zhuǎn)換芯片U3、8D鎖存器U4，所述電流檢測(cè)芯片UO的OUT腳連接AD轉(zhuǎn)換芯片U3，所述AD轉(zhuǎn)換芯片U3連接單片機(jī)電路和8D鎖存器U4。
[0009]進(jìn)一步的為更好的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，特別采用下述設(shè)置結(jié)構(gòu):所述單片機(jī)電路包括單片機(jī)U2和光開關(guān)，所述AD轉(zhuǎn)換芯片U3通過總線連接單片機(jī)U2的PO系列引腳，且總線還連接8D鎖存器U4;所述單片機(jī)U2的P2.1引腳還連接在AD轉(zhuǎn)換芯片U3上，所述單片機(jī)U2的Pl.5和Pl.6引腳皆連接在光開關(guān)上，所述單片機(jī)U2的TxD和RxD弓I腳皆連接在計(jì)算機(jī)接口電路上。
[0010]進(jìn)一步的為更好的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，特別采用下述設(shè)置結(jié)構(gòu):所述運(yùn)算放大電路包括也是放大器芯片Ul，所述運(yùn)算放大器Ul的OUTl腳連接單片機(jī)U2的Pl.0引腳，所述光模塊的SD腳連接運(yùn)算放大器Ul的+INl腳。
[0011]進(jìn)一步的為更好的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，特別采用下述設(shè)置結(jié)構(gòu):所述計(jì)算機(jī)接口電路包括計(jì)算機(jī)串口和接口芯片U5，所述計(jì)算機(jī)串口連接接口芯片U5，所述接口芯片U5連接單片機(jī)U2的TxD和RxD引腳。
[0012]進(jìn)一步的為更好的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，特別采用下述設(shè)置結(jié)構(gòu):還包括電源VCC，所述電源VCC分別連接電阻R2的第一端和運(yùn)算放大器Ul的-1Nl腳。
[0013]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點(diǎn)及有益效果:
本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)快速穩(wěn)定的對(duì)光模塊待測(cè)參數(shù)的檢測(cè)，以便提供一致性良好的光模塊，避免光模塊在實(shí)際應(yīng)用中出現(xiàn)使用故障，影響所加載的系統(tǒng)的使用，其卓越的測(cè)試性能，能夠方便的對(duì)光模塊高低告警值進(jìn)行測(cè)試，亦可準(zhǔn)確的對(duì)光模塊工作電流進(jìn)行采集。
【附圖說明】
[0014]圖1為本發(fā)明的工作原理圖。
【具體實(shí)施方式】
[0015]下面結(jié)合實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步地詳細(xì)說明，但本發(fā)明的實(shí)施方式不限于此。
[0016]實(shí)施例1:
一種用于測(cè)試光模塊參數(shù)的測(cè)試板，能夠?qū)崿F(xiàn)快速穩(wěn)定的對(duì)光模塊待測(cè)參數(shù)的檢測(cè)，以便提供一致性良好的光模塊，避免光模塊在實(shí)際應(yīng)用中出現(xiàn)使用故障，影響所加載的系統(tǒng)的使用，其卓越的測(cè)試性能，能夠方便的對(duì)光模塊高低告警值進(jìn)行測(cè)試，亦可準(zhǔn)確的對(duì)光模塊工作電流進(jìn)行采集，如圖1所示，特別設(shè)置有下述結(jié)構(gòu):包括光模塊、電流檢測(cè)電路、AD轉(zhuǎn)換電路、單片機(jī)電路、計(jì)算機(jī)接口電路及運(yùn)算放大電路，所述電流檢測(cè)電路連接AD轉(zhuǎn)換電路，所述AD轉(zhuǎn)換電路連接單片機(jī)電路，所述單片機(jī)電路連接運(yùn)放電路，所述進(jìn)數(shù)據(jù)接口電路連接單片機(jī)電路;所述光模塊分別連接電流檢測(cè)電路和運(yùn)算放大電路。
[0017]實(shí)施例2:
本實(shí)施例是在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上進(jìn)一步優(yōu)化，進(jìn)一步的為更好的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，如圖1所示，特別采用下述設(shè)置結(jié)構(gòu):所述電流檢測(cè)電路包括電流檢測(cè)芯片U0、電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5，所述電流檢測(cè)芯片UO的RGI腳連接電阻Rl的第二端，所述光模塊的VCCT腳連接電阻R3的第一端，所述電阻R3的第二端分別連接電阻Rl的第一端和電阻R4的第一端，所述電阻R4的第二端連接電阻R2的第一端，所述電阻R2的第二端連接電流檢測(cè)芯片UO的RG2腳，所述電流檢測(cè)芯片UO的OUT腳通過電阻R5接地且電流檢測(cè)芯片UO的OUT腳連接AD轉(zhuǎn)換電路。
[0018]實(shí)施例3:
本實(shí)施例是在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上進(jìn)一步優(yōu)化，進(jìn)一步的為更好的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，如圖1所示，特別采用下述設(shè)置結(jié)構(gòu):所述AD轉(zhuǎn)換電路內(nèi)設(shè)置有AD轉(zhuǎn)換芯片U3、8D鎖存器U4，所述電流檢測(cè)芯片UO的OUT腳連接AD轉(zhuǎn)換芯片U3，所述AD轉(zhuǎn)換芯片U3連接單片機(jī)電路和8D鎖存器U4。
[0019]實(shí)施例4:
本實(shí)施例是在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上進(jìn)一步優(yōu)化，進(jìn)一步的為更好的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，如圖1所示，特別采用下述設(shè)置結(jié)構(gòu):所述單片機(jī)電路包括單片機(jī)U2和光開關(guān)，所述AD轉(zhuǎn)換芯片U3通過總線連接單片機(jī)U2的PO系列引腳，且總線還連接8D鎖存器U4;所述單片機(jī)U2的P2.1引腳還連接在AD轉(zhuǎn)換芯片U3上，所述單片機(jī)U2的Pl.5和Pl.6引腳皆連接在光開關(guān)上，所述單片機(jī)U2的TxD和RxD引腳皆連接在計(jì)算機(jī)接口電路上。
[0020]實(shí)施例5:
本實(shí)施例是在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上進(jìn)一步優(yōu)化，進(jìn)一步的為更好的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，如圖1所示，特別采用下述設(shè)置結(jié)構(gòu):所述運(yùn)算放大電路包括也是放大器芯片Ul，所述運(yùn)算放大器Ul的OUTl腳連接單片機(jī)U2的Pl.0引腳，所述光模塊的SD腳連接運(yùn)算放大器Ul的+INl腳。
[0021]實(shí)施例6:
本實(shí)施例是在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上進(jìn)一步優(yōu)化，進(jìn)一步的為更好的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，如圖1所示，特別采用下述設(shè)置結(jié)構(gòu):所述計(jì)算機(jī)接口電路包括計(jì)算機(jī)串口和接口芯片U5，所述計(jì)算機(jī)串口連接接口芯片U5，所述接口芯片U5連接單片機(jī)U2的TxD和RxD引腳。
[0022]實(shí)施例7:
本實(shí)施例是在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上進(jìn)一步優(yōu)化，進(jìn)一步的為更好的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，如圖1所示，特別采用下述設(shè)置結(jié)構(gòu):還包括電源VCC，所述電源VCC分別連接電阻R2的第一端和運(yùn)算放大器Ul的-1Nl腳，所述電源VCC采用5V電源。
[0023]當(dāng)單片機(jī)U2的Pl.0引腳端口線采集到光模塊的SD信號(hào)由高電平變?yōu)榈碗娖綍r(shí)，則單片機(jī)向計(jì)算機(jī)串口發(fā)送命令Oxaa，計(jì)算機(jī)接收到此命令后即可記錄高告警值；當(dāng)SD信號(hào)由低電平變?yōu)楦唠娖綍r(shí)，則單片機(jī)向計(jì)算機(jī)串口發(fā)送命令0x05，計(jì)算機(jī)接收到命令后即可記錄低告警值。
[0024]所述測(cè)試板采用MAXIM公司的MAX472電流檢測(cè)放大器芯片(電流檢測(cè)芯片UO)來采集光模塊發(fā)射端與接收端的工作電流大小。MAX472芯片可以實(shí)現(xiàn)電流/電壓的轉(zhuǎn)換，并利用電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5可以把光模塊發(fā)射端與接收端的工作電流轉(zhuǎn)換成適合于AD轉(zhuǎn)換芯片U3(ADC0809)的單端電壓信號(hào)，然后把此電壓信號(hào)接到ADC0809的模擬輸入采集通道。ADC0809將采集到的信號(hào)傳給單片機(jī)U2(89C51單片機(jī))的PO系列引腳端口，然后再由單片機(jī)U2通過RxD與TxD引腳與計(jì)算機(jī)接口電路進(jìn)行通信。
[0025]以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并非對(duì)本發(fā)明做任何形式上的限制，凡是依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化，均落入本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于測(cè)試光模塊參數(shù)的測(cè)試板，其特征在于:包括光模塊、電流檢測(cè)電路、AD轉(zhuǎn)換電路、單片機(jī)電路、計(jì)算機(jī)接口電路及運(yùn)算放大電路，所述電流檢測(cè)電路連接AD轉(zhuǎn)換電路，所述AD轉(zhuǎn)換電路連接單片機(jī)電路，所述單片機(jī)電路連接運(yùn)放電路，所述進(jìn)數(shù)據(jù)接口電路連接單片機(jī)電路;所述光模塊分別連接電流檢測(cè)電路和運(yùn)算放大電路。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測(cè)試光模塊參數(shù)的測(cè)試板，其特征在于:所述電流檢測(cè)電路包括電流檢測(cè)芯片U0、電阻Rl、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5，所述電流檢測(cè)芯片UO的RGl腳連接電阻Rl的第二端，所述光模塊的VCCT腳連接電阻R3的第一端，所述電阻R3的第二端分別連接電阻Rl的第一端和電阻R4的第一端，所述電阻R4的第二端連接電阻R2的第一端，所述電阻R2的第二端連接電流檢測(cè)芯片UO的RG2腳，所述電流檢測(cè)芯片UO的OUT腳通過電阻R5接地且電流檢測(cè)芯片UO的OUT腳連接AD轉(zhuǎn)換電路。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于測(cè)試光模塊參數(shù)的測(cè)試板，其特征在于:所述AD轉(zhuǎn)換電路內(nèi)設(shè)置有AD轉(zhuǎn)換芯片U3、8D鎖存器U4，所述電流檢測(cè)芯片UO的OUT腳連接AD轉(zhuǎn)換芯片U3，所述AD轉(zhuǎn)換芯片U3連接單片機(jī)電路和8D鎖存器U4。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于測(cè)試光模塊參數(shù)的測(cè)試板，其特征在于:所述單片機(jī)電路包括單片機(jī)U2和光開關(guān)，所述AD轉(zhuǎn)換芯片U3通過總線連接單片機(jī)U2的PO系列引腳，且總線還連接8D鎖存器U4;所述單片機(jī)U2的P2.1引腳還連接在AD轉(zhuǎn)換芯片U3上，所述單片機(jī)U2的Pl.5和Pl.6引腳皆連接在光開關(guān)上，所述單片機(jī)U2的TxD和RxD引腳皆連接在計(jì)算機(jī)接口電路上。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于測(cè)試光模塊參數(shù)的測(cè)試板，其特征在于:所述運(yùn)算放大電路包括也是放大器芯片Ul，所述運(yùn)算放大器Ul的OUTl腳連接單片機(jī)U2的Pl.0引腳，所述光模塊的SD腳連接運(yùn)算放大器Ul的+INl腳。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于測(cè)試光模塊參數(shù)的測(cè)試板，其特征在于:所述計(jì)算機(jī)接口電路包括計(jì)算機(jī)串口和接口芯片U5，所述計(jì)算機(jī)串口連接接口芯片U5，所述接口芯片U5連接單片機(jī)U2的TxD和RxD引腳。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種用于測(cè)試光模塊參數(shù)的測(cè)試板，其特征在于:還包括電源VCC，所述電源VCC分別連接電阻R2的第一端和運(yùn)算放大器Ul的-1Nl腳。
【文檔編號(hào)】H04B10/073GK105871458SQ201610291872
【公開日】2016年8月17日
【申請(qǐng)日】2016年5月5日
【發(fā)明人】李會(huì)玲
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