微波器件自動測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種微波器件自動測試系統(tǒng)，涉及電性能的測試裝置技術(shù)領(lǐng)域。所述系統(tǒng)包括PC機、開關(guān)矩陣、測試儀器和測試夾具，測試夾具上放置若干個微波待測件，微波待測件的射頻輸入/輸出接口分別與測試夾具上的射頻輸入/輸出接口連接，PC機的測試夾具控制信號輸出端與測試夾具上的控制輸入接口連接，測試夾具上的射頻輸入/輸出接口分別經(jīng)過開關(guān)矩陣內(nèi)的可控開關(guān)與測試儀器的射頻輸入/輸出接口連接，測試儀器的數(shù)據(jù)輸出接口通過USB轉(zhuǎn)GPIB線與PC機的USB接口連接，PC機的開關(guān)控制輸出端與開關(guān)矩陣的控制輸入端連接。通過所述系統(tǒng)進行數(shù)據(jù)采集和處理，可對微波待測件實現(xiàn)流水測試，大大提高了測試效率。
【專利說明】
微波器件自動測試系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型涉及電性能的測試裝置技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種微波器件自動測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]自動測試系統(tǒng)(ATE)的研制工作始于20世紀50年代，目的是取代人工完成越來越復(fù)雜的測試工作。較完善的ATE是20世紀60年代與電子計算機技術(shù)結(jié)合以后才問世的，并隨著微波通信市場的爆發(fā)而高速發(fā)展。
[0003]—套適用的ATE既可以幫助設(shè)計人員獲得、匯總和分析測試數(shù)據(jù)，及時找出設(shè)計缺陷和問題，提高設(shè)計效率;又可加快產(chǎn)品生產(chǎn)交付速度，降低人力、物力成本，提高市場競爭力。
[0004]目前，ATE經(jīng)歷了幾代產(chǎn)品的演變，正在向通用化、標準化、網(wǎng)絡(luò)化和智能化的方向發(fā)展，提高產(chǎn)品測試效率成為競爭焦點，各研制單位想盡辦法，但效果并不明顯，正是如此，國內(nèi)外ATE提高產(chǎn)品測試效率的研究的越來越熱。
【實用新型內(nèi)容】
[0005]本實用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種微波器件自動測試系統(tǒng)，通過所述系統(tǒng)進行數(shù)據(jù)采集和處理，可對微波待測件實現(xiàn)流水測試，大大提高了測試效率。
[0006]為解決上述技術(shù)問題，本實用新型所采取的技術(shù)方案是:一種微波器件自動測試系統(tǒng)，其特征在于:包括PC機、開關(guān)矩陣、測試儀器和測試夾具，所述測試夾具上放置若干個微波待測件，微波待測件的射頻輸入/輸出接口分別與測試夾具上的射頻輸入/輸出接口
(I)連接，所述PC機的測試儀器控制輸出端通過USB轉(zhuǎn)GPIB接口與測試儀器的控制端連接，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的信號輸出端通過開關(guān)矩陣與測試夾具上的射頻輸入接口連接，所述測試夾具上的射頻輸出接口分別經(jīng)過開關(guān)矩陣內(nèi)的可控開關(guān)與測試儀器的射頻輸入端口連接，測試儀器的數(shù)據(jù)輸出接口與PC機的數(shù)據(jù)采集接口連接，所述PC機的開關(guān)控制輸出端與所述開關(guān)矩陣中開關(guān)的控制端連接，用于控制開關(guān)的切換。
[0007]進一步的技術(shù)方案在于:所述測試夾具包括若干個用于放置微波待測件的測試工位，每個所述測試工位上設(shè)有一組射頻輸入/輸出接口，所述微波待測件通過彈簧和凸輪安裝在所述測試工位上。
[0008]進一步的技術(shù)方案在于:所述測試儀器包括頻譜儀、功率計和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。
[0009]采用上述技術(shù)方案所產(chǎn)生的有益效果在于:所述測試系統(tǒng)可同時通過其所分配的測試儀器實現(xiàn)對微波待測件進行數(shù)據(jù)采集，測試儀器的利用率明顯提升，可對微波待測件實現(xiàn)流水測試，大大提高了測試效率。
【附圖說明】
[0010]圖1是本實用新型所述系統(tǒng)的原理框圖；
[0011]圖2是本實用新型所述系統(tǒng)中測試夾具的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0012]其中:1、射頻輸入/輸出接口2、測試工位。
【具體實施方式】
[0013]下面結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型的一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。
[0014]在下面的描述中闡述了很多具體細節(jié)以便于充分理解本實用新型，但是本實用新型還可以采用其他不同于在此描述的其它方式來實施，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不違背本實用新型內(nèi)涵的情況下做類似推廣，因此本實用新型不受下面公開的具體實施例的限制。
[0015]如圖1所示，本實用新型公開了一種微波器件自動測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括PC機、開關(guān)矩陣、測試儀器和測試夾具，所述測試夾具上放置若干個微波待測件，所述測試儀器可以包括頻譜儀、功率計和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，當然還可以為其它種類的微波器件測試儀器。如圖2所示，所述測試夾具包括若干個用于放置微波待測件的測試工位2和位于工位上用于連接微波待測件的射頻輸入/輸出接口 I，所述微波待測件通過彈簧和凸輪安裝在所述測試工位上。
[0016]微波待測件的射頻輸入/輸出接口分別與測試夾具上的射頻輸入/輸出接口I連接，所述PC機的測試信號控制輸出端分別通過USB轉(zhuǎn)GPIB接口與頻譜、功率計、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等微波測量儀器的控制端連接，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的信號輸出端與測試夾具上的射頻輸入接口連接，所述測試夾具上的射頻輸出接口分別經(jīng)過開關(guān)矩陣內(nèi)的可控開關(guān)與測試儀器的射頻輸入端口連接，測試儀器的數(shù)據(jù)輸出接口分別與PC機的數(shù)據(jù)采集接口連接，所述PC機的開關(guān)控制輸出端與所述開關(guān)矩陣中開關(guān)的控制端連接，用于控制開關(guān)的切換。
[0017]通過上述系統(tǒng)進行測試的方法如下:
[0018]I)在PC機內(nèi)編寫數(shù)據(jù)采集程序和數(shù)據(jù)處理程序，數(shù)據(jù)采集程序包括多個子線程數(shù)據(jù)采集程序和主線程數(shù)據(jù)采集程序；
[0019]2)將微波待測件安裝在測試夾具上，然后將所述自動測試系統(tǒng)內(nèi)的器件連接起來；
[0020]3)PC機下傳子線程數(shù)據(jù)采集命令，每個子線程數(shù)據(jù)采集命令用于通過控制開關(guān)矩陣中的開關(guān)狀態(tài)，實現(xiàn)某一個測試儀器對微波待測件的數(shù)據(jù)采集操作，采集后的數(shù)據(jù)傳輸至PC機進行相應(yīng)處理，并以一定的形式進行輸出和顯示;或PC機下傳主線程數(shù)據(jù)采集命令，主線程數(shù)據(jù)采集程序用于通過控制開關(guān)矩陣中開關(guān)的狀態(tài)，切換微波待測件，使測試夾具中的任何一個微波待測件都遍歷數(shù)據(jù)采集程序中的多個子線程數(shù)據(jù)采集程序，采集后的數(shù)據(jù)傳輸至PC機進行相應(yīng)處理，并以一定的形式進行輸出和顯示。
[0021]具體的，所述子線程數(shù)據(jù)采集程序可以包括第一、第二和第三子線程數(shù)據(jù)采集程序，所述第一子線程數(shù)據(jù)采集程序用于實現(xiàn)頻譜儀對微波待測件工作頻率、雜散和/或相噪的數(shù)據(jù)采集，第二子線程數(shù)據(jù)采集程序用于實現(xiàn)功率計對微波待測件輸出功率的數(shù)據(jù)采集，第三子線程數(shù)據(jù)采集程序用于實現(xiàn)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀對微波待測件噪聲系數(shù)、增益插損、駐波、P-1和/或隔離度的數(shù)據(jù)采集。
[0022]所述測試系統(tǒng)可同時通過其所分配的測試儀器實現(xiàn)對微波待測件進行數(shù)據(jù)采集，測試儀器的利用率明顯提升，可對微波待測件實現(xiàn)流水測試，大大提高了測試效率。
【主權(quán)項】
1.一種微波器件自動測試系統(tǒng)，其特征在于:包括PC機、開關(guān)矩陣、測試儀器和測試夾具，所述測試夾具上放置若干個微波待測件，微波待測件的射頻輸入/輸出接口分別與測試夾具上的射頻輸入/輸出接口( I)連接，所述PC機的測試儀器控制輸出端通過USB轉(zhuǎn)GPIB接口與測試儀器的控制端連接，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的信號輸出端通過開關(guān)矩陣與測試夾具上的射頻輸入接口連接，所述測試夾具上的射頻輸出接口分別經(jīng)過開關(guān)矩陣內(nèi)的可控開關(guān)與測試儀器的射頻輸入端口連接，測試儀器的數(shù)據(jù)輸出接口與PC機的數(shù)據(jù)采集接口連接，所述PC機的開關(guān)控制輸出端與所述開關(guān)矩陣中開關(guān)的控制端連接，用于控制開關(guān)的切換。2.如權(quán)利要求1所述的微波器件自動測試系統(tǒng)，其特征在于:所述測試夾具包括若干個用于放置微波待測件的測試工位(2)，每個所述測試工位上設(shè)有一組射頻輸入/輸出接口(I),所述微波待測件通過彈簧和凸輪安裝在所述測試工位上。3.如權(quán)利要求1所述的微波器件自動測試系統(tǒng)，其特征在于:所述測試儀器包括頻譜儀、功率計和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。
【文檔編號】G01R21/00GK205484619SQ201620283566
【公開日】2016年8月17日
【申請日】2016年4月6日
【發(fā)明人】吳立豐, 張恒晨, 張越成, 霍獻榮, 王朋
【申請人】中國電子科技集團公司第十三研究所