技術(shù)編號：39384706
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本申請屬于測試設(shè)備，尤其是涉及一種暗箱測試設(shè)備。背景技術(shù)、雷達輻射測試經(jīng)常需要在無微波反射和干擾的微波暗箱中進行，待測件在批量生產(chǎn)過程中需要做一致性電性能指標測試驗證，快速高效的篩選出合格的待測組合產(chǎn)品，為后續(xù)整機裝配提供保質(zhì)保量的待測件，并存儲必要的測試數(shù)據(jù)留檔，以便提供后期質(zhì)量復查與追溯。由于測試并不能經(jīng)常在空曠的場地測試，所以出現(xiàn)了采用微波暗箱用于模擬電磁波在自由空間傳播的電磁環(huán)境，通過暗室屏蔽體避免外來電磁波干擾，通過暗箱吸波材料的吸波效果模擬自由空間無反射的電磁波傳輸狀態(tài)。、現(xiàn)有的...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。