技術(shù)編號：39721112
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體缺陷檢測，具體涉及一種基于參數(shù)空間泰勒展開的霍夫變換圓識別方法。背景技術(shù)、現(xiàn)代工業(yè)對光學(xué)圖像中的圖形識別具有極大的需求，特別是在自動化生產(chǎn)、質(zhì)量檢測和機器人導(dǎo)航等領(lǐng)域。傳統(tǒng)的圖形識別方法通常依賴于圖像的灰度變化或邊緣信息，但這些方法在處理復(fù)雜背景和高噪聲環(huán)境時表現(xiàn)不佳。環(huán)境噪聲、待測件的多樣性和圖形自身的復(fù)雜性使得圖形識別任務(wù)變得更加困難。、霍夫變換（hough?transform）是一種廣泛應(yīng)用于圖形檢測的算法，尤其適用于檢測圖像中的直線、圓形和其他參數(shù)化曲線。其基本思想是...
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