技術(shù)編號：39729046
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及內(nèi)存調(diào)試，尤其涉及內(nèi)存參數(shù)優(yōu)化調(diào)試方法。背景技術(shù)、現(xiàn)有ddr每個產(chǎn)品的ddr的參數(shù)都是固定的，隨著環(huán)境的變化，電子產(chǎn)品的電阻.電容會發(fā)生微弱的變化，但如果參數(shù)不是最優(yōu)，這些微小的變化會影響到ddr的信號，隨著信號的干擾，會造成讀取的數(shù)據(jù)有些許偏差。技術(shù)實現(xiàn)思路、本發(fā)明的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點，而提出的內(nèi)存參數(shù)優(yōu)化調(diào)試方法，該調(diào)試方法為解決ddr在運行過程中的穩(wěn)定性，尋找一組最優(yōu)化的參數(shù)。、為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用了如下技術(shù)方案：、內(nèi)存參數(shù)優(yōu)化調(diào)試方法，該調(diào)試方法...
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