技術(shù)編號：6217732
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明揭示一種校準(zhǔn)設(shè)備，其用于除去高溫計(jì)的測量偏差，且更特定來說，涉及一種用于校準(zhǔn)高溫計(jì)的設(shè)備，其校準(zhǔn)參考值用以除去在高溫計(jì)中測得的溫度中的偏差。所述用于校準(zhǔn)高溫計(jì)的設(shè)備包含黑體，其包含輻射空間，輻射能量從所述輻射空間輻射；主體外殼，其經(jīng)配置以在其中接納所述黑體，且包含光輸出壁，所述光輸出壁具有與所述輻射空間連接的光輸出端口；光輸出壁保護(hù)蓋，其經(jīng)配置以與所述主體外殼的所述光輸出壁耦合，用以界定將所述主體外殼的所述光輸出壁與外部環(huán)境進(jìn)行連接的通道；以及固定部...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。