技術(shù)編號(hào):6773704
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及用于檢測利用近場光記錄在記錄介質(zhì)上的信號(hào)的信號(hào)檢測 裝置和信號(hào)檢測方法。背景技術(shù)利用近場光的光記錄和再現(xiàn)方法作為用于實(shí)現(xiàn)超高密度存儲(chǔ)的技術(shù)引 起了注意,因?yàn)樵摷夹g(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)被認(rèn)為是通常光學(xué)系統(tǒng)的極限的高分辨率。例如,當(dāng)使用諸如固體浸沒透鏡(SIL)的所謂的近場光透鏡時(shí),光 斑直徑被認(rèn)為可以減小到約100 nm。預(yù)計(jì)在2012年左右將在硬盤中實(shí)現(xiàn)1 T比特/平方英寸的表面記錄密 度。但是,為了實(shí)現(xiàn)與該表面記錄密度相當(dāng)?shù)挠涗浢芏龋仨殞⒐獍咧睆?設(shè)為等...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
該類技術(shù)無源代碼,用于學(xué)習(xí)原理,如您想要源代碼請勿下載。