技術編號：6851215
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種特別用于晶片檢測的電氣檢測設備。這種檢測設備帶有一個與被測件對應的觸頭，觸頭上帶有形成觸針布置的銷狀接觸元件；這種設備還帶有一個電氣連接裝置，它的接觸面與接觸元件上背朝被測件的一端相接觸。背景技術 本發(fā)明開頭所提到的這種電氣檢測設備被用來和被測件進行電接觸，以測試它的功能。這種電氣檢測設備與被測件之間為電連接，也就是說，它一方面與被測件的電氣端子接觸，另一方面又將電接觸用來連接一個檢測系統(tǒng)，這個系統(tǒng)通過檢測設備向被測件發(fā)送電信號，測量它的電阻...
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