和漏極211的探針10，其選擇步進(jìn)量為螺距CU(步進(jìn)量為I圈螺牙)為20微米的螺桿21，而電性測(cè)試柵極210的探針10選擇螺距山(步進(jìn)量亦為I圈螺牙)為50微米的螺桿21;當(dāng)然，如果所有的螺桿21的螺距d均為20微米時(shí)，電性測(cè)試源極209及漏極211的探針1對(duì)應(yīng)的螺桿21的步進(jìn)量為d (即步進(jìn)量為I圈螺牙)，而電性測(cè)試柵極210的探針1對(duì)應(yīng)的螺桿21的步進(jìn)量可設(shè)置為2.5d(即步進(jìn)量為2.5圈螺牙)，從而使各探針10同時(shí)到達(dá)源極209、柵極210以及漏極211進(jìn)行電性測(cè)試。當(dāng)然，實(shí)際上需要根據(jù)源極209、柵極210以及漏極211與絕緣膜208上表面的實(shí)際距離和馬達(dá)的22的旋轉(zhuǎn)速度而對(duì)各螺桿21的步進(jìn)量進(jìn)行計(jì)算來(lái)確定。
[0041 ] S21:馬達(dá)22以螺牙圈數(shù)為單位步進(jìn)量驅(qū)動(dòng)螺桿21旋轉(zhuǎn)，以使探針10步進(jìn)旋轉(zhuǎn)地穿過(guò)絕緣層；
[0042]具體地該步驟包括:
[0043 ] S211:檢測(cè)探針1與導(dǎo)電體之間的距離；
[0044]具體地，檢測(cè)模塊31檢測(cè)探針10的針頭與導(dǎo)電體之間的距離。
[0045]S212:根據(jù)距離計(jì)算螺桿21的螺桿21需旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)；
[0046]具體地，由于TFT-LCD顯示面板2比較薄，計(jì)算模塊32根據(jù)距離計(jì)算螺桿21旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)可使探針10更精準(zhǔn)地抵達(dá)導(dǎo)電體，可避免過(guò)力壓損導(dǎo)電體或接觸不到導(dǎo)電體進(jìn)行電性測(cè)試。
[0047]S213:控制馬達(dá)22按需旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)驅(qū)動(dòng)螺桿21旋轉(zhuǎn)以帶動(dòng)探針10步進(jìn)旋轉(zhuǎn)地穿過(guò)絕緣層。
[0048]具體地，控制模塊33控制馬達(dá)22按需旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)驅(qū)動(dòng)螺桿21旋轉(zhuǎn)。
[0049]S40:時(shí)時(shí)檢測(cè)并顯示探針10的針頭與導(dǎo)電體之間的距離；
[0050]具體地，在探針10往導(dǎo)電體移動(dòng)的過(guò)程中，檢測(cè)模塊31和計(jì)算模塊32實(shí)時(shí)檢測(cè)和計(jì)算探針10針頭當(dāng)前與導(dǎo)電體間的距離并顯示于顯示單元50，以便在探針10突然停止或其它原因未抵接導(dǎo)電體停止時(shí)顯示探針10針頭與導(dǎo)電體停止時(shí)的距離。
[0051]S50:如果在探針10停止步進(jìn)時(shí)距離大于零，則根據(jù)該距離重新計(jì)算螺桿21繼續(xù)旋轉(zhuǎn)的續(xù)轉(zhuǎn)螺牙圈數(shù)；
[0052]具體地，當(dāng)探針10突然停止時(shí)的距離大于零，說(shuō)明探針10還未抵達(dá)導(dǎo)電體，由于此時(shí)該距離為短距離，所以計(jì)算模塊32根據(jù)短距離重新計(jì)算當(dāng)前螺桿21繼續(xù)旋轉(zhuǎn)的續(xù)轉(zhuǎn)螺牙圈數(shù)，其中，此時(shí)的步進(jìn)量可以比原步進(jìn)量小，即原來(lái)步進(jìn)量為2d時(shí)，此時(shí)的步進(jìn)量可以為d，以實(shí)現(xiàn)微調(diào)，提高移動(dòng)精度。
[0053]S60:控制馬達(dá)22按續(xù)轉(zhuǎn)螺牙圈數(shù)驅(qū)動(dòng)螺桿21繼續(xù)旋轉(zhuǎn)；
[0054]具體地，控制模塊33控制馬達(dá)22按微調(diào)的續(xù)轉(zhuǎn)螺牙圈數(shù)驅(qū)動(dòng)螺桿21旋轉(zhuǎn)。
[0055]S30:探針1對(duì)設(shè)于絕緣膜208下的導(dǎo)電體進(jìn)行電性測(cè)試。
[0056]具體地，探針10與測(cè)式單元40通過(guò)導(dǎo)線電連接，在探針10抵接導(dǎo)電體后實(shí)現(xiàn)電性導(dǎo)通，從而使測(cè)式單元40接收探針10的回傳信號(hào)。
[0057]本發(fā)明提供了一種用于TFT-LCD顯示面板2的電性測(cè)試裝置I及其電性測(cè)試的方法，其包括探針10和步進(jìn)組件20，步進(jìn)組件20與探針10連接，用于驅(qū)動(dòng)探針10以預(yù)設(shè)步進(jìn)量進(jìn)行步進(jìn)伸縮，使得探針10穿過(guò)顯示面板上的絕緣膜208對(duì)設(shè)于絕緣膜208下的導(dǎo)電體進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明可任意設(shè)置步進(jìn)量，使調(diào)節(jié)靈活方便，提高電性測(cè)試裝置I的穿膜的移動(dòng)精度，避免過(guò)力壓損導(dǎo)電體或接觸不到導(dǎo)電體進(jìn)行電性測(cè)試，提高測(cè)試的質(zhì)量。
[0058]需要指出的是，在本發(fā)明實(shí)施例中如果提到“第一”、“第二”“上”、“下”、“左”、“右”等用語(yǔ)，其僅是根據(jù)需要采用的文字符號(hào)，在實(shí)務(wù)中并不限于此，并且文字符號(hào)可以互換使用。
[0059]以上僅為本發(fā)明的實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說(shuō)明書(shū)及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于TFT-LCD顯示面板的電性測(cè)試裝置，其特征在于，包括: 探針; 步進(jìn)組件，與所述探針連接，用于驅(qū)動(dòng)所述探針以預(yù)設(shè)步進(jìn)量進(jìn)行步進(jìn)伸縮，使得所述探針穿過(guò)所述TFT-LCD顯示面板的絕緣膜，以對(duì)設(shè)于所述絕緣膜下的導(dǎo)電體進(jìn)行測(cè)試。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于TFT-LCD顯示面板的電性測(cè)試裝置，其特征在于，所述步進(jìn)組件包括: 螺桿，與所述探針連接，所述螺桿具有多圈螺牙； 馬達(dá)，與所述螺桿相裝配，用于以螺牙圈數(shù)為單位步進(jìn)量驅(qū)動(dòng)所述螺桿旋轉(zhuǎn)以使所述探針步進(jìn)地伸縮。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于TFT-LCD顯示面板的電性測(cè)試裝置，其特征在于，所述電性測(cè)試裝置還包括控制單元，所述控制單元與所述馬達(dá)電連接，所述控制單元包括: 檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)所述探針的針頭與所述導(dǎo)電體之間的距離； 計(jì)算模塊，與所述檢測(cè)模塊電連接，用于根據(jù)所述距離計(jì)算所述螺桿需旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)； 控制模塊，與所述計(jì)算模塊電連接，用于控制馬達(dá)按所述需旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)驅(qū)動(dòng)所述螺桿旋轉(zhuǎn)。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于TFT-LCD顯示面板的電性測(cè)試裝置，其特征在于，所述電性測(cè)試裝置還包括測(cè)試單元，所述測(cè)式單元通過(guò)導(dǎo)線與所述探針電連接，以接收所述探針的回傳信號(hào)。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于TFT-LCD顯示面板的電性測(cè)試裝置，其特征在于，所述探針與所述螺桿連接方式為套接、螺旋連接或焊接。6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于TFT-LCD顯示面板的電性測(cè)試裝置，其特征在于，所述電性測(cè)試裝置還包括顯示單元，所述顯示單元與所述控制單元電連接，以顯示所述距離和所述需旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)。7.一種TFT-LCD顯示面板的電性測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括步驟: 預(yù)設(shè)步進(jìn)組件的步進(jìn)量； 所述步進(jìn)組件驅(qū)動(dòng)探針以所述步進(jìn)量進(jìn)行步進(jìn)伸縮于所述TFT-LCD顯示面板中的絕緣膜； 所述探針抵接設(shè)于所述絕緣膜下的導(dǎo)電體并進(jìn)行電性測(cè)試。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的TFT-LCD顯示面板的電性測(cè)試方法，其特征在于，所述步進(jìn)組件驅(qū)動(dòng)探針以所述步進(jìn)量步進(jìn)伸縮于所述TFT-LCD顯示面板中的絕緣膜的步驟包括: 馬達(dá)以螺牙圈數(shù)為單位步進(jìn)量驅(qū)動(dòng)螺桿旋轉(zhuǎn)，以使所述探針步進(jìn)旋轉(zhuǎn)地穿過(guò)所述絕緣層。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的TFT-LCD顯示面板的電性測(cè)試方法，其特征在于，所述馬達(dá)以螺牙圈數(shù)為單位步進(jìn)量驅(qū)動(dòng)螺桿，以使所述探針步進(jìn)旋轉(zhuǎn)地穿過(guò)所述絕緣層的步驟包括: 檢測(cè)所述探針的針頭與所述導(dǎo)電體之間的距離； 根據(jù)所述距離計(jì)算所述螺桿的螺桿需旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)； 控制所述馬達(dá)按所述需旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)驅(qū)動(dòng)所述螺桿旋轉(zhuǎn)以帶動(dòng)所述探針步進(jìn)旋轉(zhuǎn)地穿過(guò)所述絕緣層。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的TFT-LCD顯示面板的電性測(cè)試方法，其特征在于，所述控制馬達(dá)按所述需旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)驅(qū)動(dòng)所述螺桿旋轉(zhuǎn)的步驟之后包括: 時(shí)時(shí)檢測(cè)并顯示所述探針的針頭與所述導(dǎo)電體之間的距離； 如果在所述探針停止步進(jìn)時(shí)的所述距離大于零，則根據(jù)所述距離重新計(jì)算所述螺桿繼續(xù)旋轉(zhuǎn)的續(xù)轉(zhuǎn)螺牙圈數(shù)； 控制所述馬達(dá)按所述續(xù)轉(zhuǎn)螺牙圈數(shù)驅(qū)動(dòng)所述螺桿繼續(xù)旋轉(zhuǎn)。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種用于TFT-LCD顯示面板的電性測(cè)試裝置，其包括探針和步進(jìn)組件，步進(jìn)組件與該探針連接，用于驅(qū)動(dòng)該探針以預(yù)設(shè)步進(jìn)量進(jìn)行步進(jìn)伸縮，使得該探針穿過(guò)該TFT-LCD顯示面板的絕緣膜，以對(duì)設(shè)于該絕緣膜下的導(dǎo)電體進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明可任意設(shè)置步進(jìn)量，使調(diào)節(jié)靈活方便，提高電性測(cè)試裝置的穿膜的移動(dòng)精度，避免過(guò)力壓損導(dǎo)電體或接觸不到導(dǎo)電體進(jìn)行電性測(cè)試，提高測(cè)試的質(zhì)量。
【IPC分類】G09G3/00, G02F1/1368
【公開(kāi)號(hào)】CN105589275
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201610140055
【發(fā)明人】孟林
【申請(qǐng)人】武漢華星光電技術(shù)有限公司
【公開(kāi)日】2016年5月18日
【申請(qǐng)日】2016年3月11日