本發(fā)明涉及到實驗設備的技術領域，尤其涉及到一種儀器檢測工裝平臺及儀器檢測設備。

背景技術：

功放芯片測試時，需要與專業(yè)儀表、耦合器、衰減器等專業(yè)測試設備進行軸向連接，使不同設備的連接器依次進行對接，形成一套長度達到幾米的測試環(huán)境。但目前大多測試環(huán)境中，被測試板卡與這些測試設備直接堆放在實驗臺面上，通過簡易支架進行手工定位對接，不僅精度和可靠性難以控制，而且操作效率低下，十分不方便。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供了一種儀器檢測工裝平臺及儀器檢測設備，方便檢測設備的搭建以及檢測芯片。

本發(fā)明提供了一種儀器檢測工裝平臺，該工裝平臺包括：

支撐底板；

滑動裝配在所述支撐底板上并可鎖定在設定位置的被測部件安裝座；且所述被測部件安裝座可沿垂直所述支撐底板長度方向滑動；

滑動裝配在所述支撐底板上并可鎖定在設定位置的測試儀器安裝座；且所述測試儀器安裝座可沿平行于所述支撐底板長度方向滑動。

在上述技術方案中，通過被測部件安裝座承載被測的芯片，并通過測試儀器安裝座承載檢測設備，并且被測部件安裝座與測試儀器安裝座分別滑動裝配在支撐底板上，從而方便了被測芯片的安裝以及測試儀器的固定，避免各個測 試儀器之間連線混亂，提高了測試儀器之間連接器的安全性，進而方便檢測芯片。通過此工裝設計可以便捷的實現(xiàn)不同尺寸芯片的測試需求，并且可以更高效、靈活、精確、可靠的搭建不同測試設備組成的測試環(huán)境，減少連接器配合公差，防止連接器損壞。同時工裝平臺可以內(nèi)嵌散熱器，防止高熱芯片測試過程中因溫度過高導致側(cè)測試誤差。

優(yōu)選的，所述支撐底板上設置有第一滑軌，所述第一滑軌的長度方向沿所述支撐底板的長度方向；所述第一滑軌上設置有可鎖定在設定位置的安裝板，所述安裝板上設置有第二滑軌，所述被測部件安裝座滑動裝配在所述第二滑軌上。

優(yōu)選的，所述被測部件安裝座包括：滑動裝配在第二滑軌上的水平支撐板，設置在所述水平支撐板上的高度調(diào)節(jié)板；固定在所述高度調(diào)節(jié)板上的散熱器支架，設置在所述散熱器支架上并用于固定被測部件的連接結構，以及設置在所述散熱器支架上的散熱器。

優(yōu)選的，所述安裝板上設置有鎖緊螺釘，所述水平支撐板上設置有與所述鎖緊螺釘相配合的腰型孔，且所述腰型孔的長度方向平行于所述第二滑軌的長度方向。

優(yōu)選的，所述高度調(diào)節(jié)板與所述水平支撐板之間通過高度調(diào)節(jié)螺栓組件連接。

優(yōu)選的，所述高度調(diào)節(jié)螺栓組件包括：螺旋連接在所述水平支撐板上的螺紋桿，套裝在所述螺紋桿上并用于支撐所述高度調(diào)節(jié)板的第一螺母，以及套裝在所述螺紋桿上并用于與所述第一螺母配合將所述高度調(diào)節(jié)板壓緊固定的第二螺母。

優(yōu)選的，所述連接結構包括：固定在所述散熱器支架上的芯片固定板，以及對稱設置在所述芯片固定板兩側(cè)的走線基板；其中，所述芯片固定板上可拆卸的固定有芯片壓扣，每個走線基板上設置有走線板。

優(yōu)選的，所述芯片固定板為倒置的t形，所述走線基板通過連接件與所述 芯片固定板的豎直部分固定連接。

優(yōu)選的，所述測試儀器安裝座包括輸入設備安裝座以及輸出設備安裝座，且所述輸入設備安裝座與所述輸出設備安裝座分別設置在所述被測部件安裝座的兩側(cè)。

優(yōu)選的，所述輸入設備安裝座及所述輸出設備安裝座均包括鎖定在設定位置的測試儀表安裝板，滑動裝配在所述第一滑軌上并可鎖定在設定位置的設備安裝板。

優(yōu)選的，所述設備安裝板上設置有模數(shù)安裝孔。

優(yōu)選的，所述設備安裝板上設置有用于固定檢測設備的高度調(diào)節(jié)組件。

優(yōu)選的，所述測試儀表安裝板上設置有把手。

本發(fā)明還提供了一種儀器檢測設備，該儀器檢測設備包括上述任一項所述的儀器檢測工裝平臺，以及設置在所述儀器檢測工裝平臺上的測試儀器。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實施例提供的儀器檢測工裝平臺的立體圖；

圖2為本發(fā)明實施例提供的儀器檢測工裝平臺的被測部件安裝座的分解示意圖；

圖3為本發(fā)明實施例提供的儀器檢測工裝平臺的測試儀器安裝座與支撐底板的配合示意圖。

附圖標記：

1-支撐底板11-第一滑軌12-第二滑軌

13-安裝板131-螺紋孔2-被測部件安裝座

21-水平支撐板211-腰型孔22-高度調(diào)節(jié)板

23-散熱器支架24-散熱器25-芯片固定板

26-走線基板27-走線板28-芯片壓扣

3-測試儀器安裝座31-測試儀表安裝板311-把手

32-設備安裝板4-測試儀表5-耦合器

6-衰減器

具體實施方式

為了使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結合附圖對本發(fā)明作進一步地詳細描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

如圖1所示，圖1示出了本發(fā)明實施例提供的儀器檢測工裝平臺的結構示意圖。

本發(fā)明實施例提供了一種儀器檢測工裝平臺，該平臺包括：

支撐底板1；

滑動裝配在所述支撐底板1上并可鎖定在設定位置的被測部件安裝座2；且所述被測部件安裝座2可沿垂直所述支撐底板1長度方向滑動；

滑動裝配在所述支撐底板1上并可鎖定在設定位置的測試儀器安裝座3；且所述測試儀器安裝座3可沿平行于所述支撐底板1長度方向滑動。

在上述實施例中，通過被測部件安裝座2承載被測的芯片，并通過測試儀器安裝座3承載檢測設備，并且被測部件安裝座2與測試儀器安裝座3分別滑動裝配在支撐底板1上，從而方便了被測芯片的安裝以及測試儀器的固定，避免各個測試儀器之間連線混亂，提高了測試儀器之間連接器的安全性，進而方便檢測芯片。通過此工裝設計可以便捷的實現(xiàn)不同尺寸芯片的測試需求，并且可以更高效、靈活、精確、可靠的搭建不同測試設備組成的測試環(huán)境，減少連接器配合公差，防止連接器損壞。同時工裝平臺可以內(nèi)嵌散熱器24，防止高熱芯片測試過程中因溫度過高導致側(cè)測試誤差。

為了方便理解本發(fā)明實施例提供的工作平臺及儀器檢測設備，下面結合具體的實施例對其進行詳細的說明。

如圖1所示，圖1示出了儀器檢測設備的結構示意圖。本實施例提供的儀器檢測設備包括信號輸入設備、信號輸出設備，以及承載信號輸入設備、信號輸出設備及被檢測芯片的工作平臺。在設置時，信號輸入設備及信號輸出設備分別設置在被檢測芯片的兩側(cè)，并分別與芯片的輸入端及輸出端連接。

繼續(xù)參考圖1，本實施例提供的信號輸入設備、被檢測的芯片及信號輸出設備分別承載在工作平臺上。該工作平臺包括：支撐底板1，滑動裝配在支撐底板1上的被測芯片支撐座以及滑動裝配在支撐底板1且分列與被測芯片支撐座兩側(cè)的測試儀器安裝座3。具體的，如圖1所示，支撐底板1采用條狀的板型結構，以便于測試儀器的排布。支撐底板1上設置有沿其長度方向的第一滑軌11，該第一滑軌11的個數(shù)為兩個。測試儀器支撐座滑動裝配在該第一滑軌11上，且第一滑軌11上設置有單排排列的安裝孔，位于第一滑軌11的中間部分設置有一個可鎖定在設定位置的安裝板13，該安裝板13通過連接件與安裝孔的配合將安裝板13固定在第一滑軌11上，并可通過安裝件與不同安裝孔的配合實現(xiàn)對安裝板13位置的調(diào)整。在本實施例中，作為一個具體的實施例，安裝板13固定在第一滑軌11的中間位置。

一并參考圖1及圖2，該安裝板13上設置有第二滑軌12，第二滑軌12的長度方向垂直于安裝底板的長度方向，被測部件安裝座2滑動裝配在第二滑軌12上并可鎖定在具體的位置。該被測試部件包括：滑動裝配在第二滑軌12上的水平支撐板21，設置在所述水平支撐板21上的高度調(diào)節(jié)板22；固定在所述高度調(diào)節(jié)板22上的散熱器支架23，設置在所述散熱器支架23上并用于固定被測部件的連接結構，以及設置在所述散熱器支架23上的散熱器24。

具體的，水平支撐板21滑動裝配在安裝板13上，如圖2所示，水平支撐板21上設置有兩個滑槽，每個滑槽對應裝配在一個第二滑軌12上，使得被測部件安裝座2可以在第二滑軌12上滑動，在鎖定在設定位置時，通過鎖緊螺釘實現(xiàn)對被測部件安裝座2的鎖定。具體的，安裝板13上設置有鎖緊螺釘，水平支撐板21上設置有與所述鎖緊螺釘相配合的腰型孔211，且所述腰型孔 211的長度方向平行于所述第二滑軌12的長度方向。如圖2所示，安裝板13上設置有鎖緊螺釘，水平支撐板21上設置有長度沿第二滑軌12長度方向設置的腰型孔211，鎖緊螺釘穿設在該長腰型孔211內(nèi)，當需要滑動時，旋松鎖緊螺釘，水平支撐板21可以在第二滑軌12上滑動，當滑動到所需的位置，旋緊鎖緊螺釘，將被測部件安裝座2鎖定在設定位置。此外，由于腰型孔211的長度限定，為了保證被測部件安裝座2具有良好的滑動范圍，較佳的，安裝板13上設置有沿第二滑軌12長度方向排列的多個螺紋孔131，通過鎖緊螺釘與不同的螺紋孔131的配合，實現(xiàn)了對被測部件安裝座2滑動幅度的調(diào)整。更佳的，為了保證鎖緊的效果，該鎖緊螺釘?shù)膫€數(shù)為兩個，且兩個鎖緊螺釘沿第二滑軌12的長度方向排列。在采用兩個鎖緊螺釘時，對應的腰型孔211也為兩個。

作為一種優(yōu)選的實施例，為了使得本實施例提供的儀器測量設備能夠檢測不同的芯片，較佳的，該被測部件安裝座2還包括一個高度調(diào)整平臺，該高度調(diào)整平臺可以實現(xiàn)在高度上的調(diào)整，以便與被測部件與測試儀器的連接。具體的，一并參考圖1及圖2，高度調(diào)節(jié)板22與所述水平支撐板21之間通過高度調(diào)節(jié)螺栓組件連接。該高度調(diào)節(jié)螺栓組件可以調(diào)整高度調(diào)節(jié)板22的高度，使得芯片在被檢測時處于不同的高度。具體的，該高度調(diào)節(jié)螺栓組件包括：螺旋連接在所述水平支撐板21上的螺紋桿，套裝在所述螺紋桿上并用于支撐所述高度調(diào)節(jié)板22的第一螺母，以及套裝在所述螺紋桿上并用于與所述第一螺母配合將所述高度調(diào)節(jié)板22壓緊固定的第二螺母。如圖1及圖2所示，螺紋桿螺旋固定在水平支撐板21上，或者采用其他方式如焊接的方式固定在水平支撐板21上，且螺紋桿上螺旋設置有第一螺母，該第一螺母用于支撐高度調(diào)節(jié)板22，具體的，如圖1所示，該螺紋桿的個數(shù)可以采用多個，如三個或四個，在本實施例中采用四個螺旋桿，分別設置再水平支撐板21的四個邊角處，四個第一螺母形成支撐高度調(diào)節(jié)板22的支撐座，在高度調(diào)節(jié)板22套裝在螺旋桿上時，對高度調(diào)節(jié)板22進行支撐，此外，為了保證高度調(diào)節(jié)板22的穩(wěn)定性，本實施例提供的被測部件安裝座2還包括第二螺母，該第二螺母與第一螺母配 合將高度調(diào)節(jié)板22鎖定，如圖1所示，在高度調(diào)節(jié)板22設置在螺旋桿上后，旋入第二螺母將高度調(diào)節(jié)板22進行鎖定。在需要調(diào)節(jié)高度調(diào)節(jié)板22的高度時，可以配合的調(diào)整第一螺母及第二螺母在螺旋桿上的位置，從而調(diào)整高度調(diào)節(jié)板22的高度。實現(xiàn)對被測芯片高度的調(diào)整，保證了被測芯片能夠與測試儀器連接的穩(wěn)定性。

在本實施例中，為了提高測試的效果，較佳的，工作平臺上設置了降溫裝置，具體的，高度調(diào)整板上設置了散熱器支架23，該散熱器支架23上設置了散熱器24，且散熱器支架23上設置了用于固定被測部件的連接結構，使得散熱器24位于被測芯片的下方，方便對被檢測的芯片進行散熱。該連接結構具體包括：固定在所述散熱器支架23上的芯片固定板25，以及對稱設置在所述芯片固定板25兩側(cè)的走線基板26；其中，所述芯片固定板25上可拆卸的固定有芯片壓扣28，每個走線基板26上設置有走線板27。具體的，芯片固定板25用于固定被測芯片，并且芯片固定板25上設置了芯片壓扣28對芯片進行鎖定，且芯片固定板25的兩側(cè)設置了走線基板26，每個走線基板26上設置了走線板27，兩個走線板27分別與被測芯片信號連接，且兩個走線板27分別與信號輸入設備及信號輸出設備連接，從而使得芯片與測試儀器連接起來。繼續(xù)參考圖2，該芯片固定板25為倒置的t形，所述走線基板26通過連接件與所述芯片固定板25的豎直部分固定連接。在采用上述結構時，可以通過設置的連接件調(diào)整走線基板26與芯片固定板25之間的距離，從而使得芯片固定板25上可以設置不同大小的芯片，提高了整個工作平臺的適用性。

如圖1所示，本實施例提供的測試儀器安裝座3包括輸入設備安裝座以及輸出設備安裝座，且所述輸入設備安裝座與所述輸出設備安裝座分別設置在所述被測部件安裝座2的兩側(cè)。具體的，如圖1所示，上述輸入設備安裝座及輸出設備安裝座均包括鎖定在設定位置的測試儀表安裝板31，滑動裝配在所述第一滑軌11上并可鎖定在設定位置的設備安裝板32。繼續(xù)參考圖1，測試儀表安裝板31滑動裝配在第一滑軌11上并可沿第一滑軌11滑動，且支撐底板1 上設置有多個螺紋孔，測試儀表安裝板13上設置有鎖緊螺釘，當測試儀表安裝板31調(diào)整到所需的位置時，通過鎖緊螺釘與螺紋孔的配合將測試儀表安裝板31固定在該位置，具體的，首先旋松鎖緊螺釘，之后，調(diào)整測試儀表安裝板31的位置，使得測試儀表4通過連接器與走線板27進行連接，在連接后，旋緊鎖緊螺釘將測試儀表安裝板31固定在該位置，從而保證了連接器之間僅僅作為一個信號傳輸器件，不會承受部件之間連接力，提高了了連接器在使用時的安全性。更佳的，為了方便測試儀表安裝板31的滑動，如圖3所示，測試儀表安裝板31上設置有把手311，該把手311位于測試儀表安裝板13的兩側(cè)，方便工作人員移動測試儀表安裝板31。

此外，設備安裝板32用于承載其他的測試儀器，作為一種具體的實施例，如圖1所示，輸入側(cè)包括：衰減器6、以及兩個耦合器5，輸出側(cè)包括：衰減器6以及耦合器5。當然本實施例提供的其他的測試儀器還包括其他的儀器的組合方式，具體的可以根據(jù)實際檢測的項目而定。為了方便測試儀器的設置，作為一種優(yōu)選的技術方案，設備安裝板32上設置有模數(shù)安裝孔。通過設置在測試儀器上的連接件與模數(shù)安裝孔的配合可以將測試儀器設置在不同的位置，以方便測試儀器之間的連接。

作為一種更佳的實施例，所述設備安裝板32上設置有用于固定檢測設備的高度調(diào)節(jié)組件。通過設置的高度調(diào)節(jié)組件使得測試儀器在連接時實現(xiàn)連接處處于同一高度，方便了測試儀器的連接。

通過上述描述可以看出，本實施例提供的工裝平臺可以實現(xiàn)被測芯片和測試設備之間連接器的靈活調(diào)節(jié)和對接，避免手動對接的低精度問題，防止連接器損壞，保證測試系統(tǒng)的水平度，提高測試可靠性；此外，在芯片安裝面下方嵌入散熱器24，有利于芯片散熱，提高測試結果準確度。同時，采用上述工作平臺提高了測試環(huán)境搭建的靈活性和工作效率，節(jié)約人力和時間。

本實施例還提供了一種儀器檢測設備，該設備包括上述任一項所述的儀器檢測工裝平臺，以及設置在所述儀器檢測工裝平臺上的測試儀器。

在上述實施例中，通過被測部件安裝座2承載被測的芯片，并通過測試儀器安裝座3承載檢測設備，并且被測部件安裝座2與測試儀器安裝座3分別滑動裝配在支撐底板1上，從而方便了被測芯片的安裝以及測試儀器的固定，避免各個測試儀器之間連線混亂，提高了測試儀器之間連接器的安全性，進而方便檢測芯片。通過此工裝設計可以便捷的實現(xiàn)不同尺寸芯片的測試需求，并且可以更高效、靈活、精確、可靠的搭建不同測試設備組成的測試環(huán)境，減少連接器配合公差，防止連接器損壞。同時工裝平臺可以內(nèi)嵌散熱器24，防止高熱芯片測試過程中因溫度過高導致側(cè)測試誤差。

顯然，本領域的技術人員可以對本發(fā)明進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權利要求及其等同技術的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。