本發(fā)明涉及一種可偵測及分析機臺所屬環(huán)境空間中的電荷信號，并能夠進一步控制離子產(chǎn)生器調(diào)變釋放出更多的正離子或負離子，以中和機臺所屬環(huán)境空間中的靜電荷而消除靜電，進而有效避免機臺在測試過程中發(fā)生靜電放電現(xiàn)象的電子元件測試分類機。

背景技術(shù)：

自然界中的物質(zhì)可經(jīng)由某種過程而獲得或失去電子(例如摩擦或感應(yīng)起電)，這類電荷即稱為靜電。當這些正電荷或是負電荷逐漸累積時，會與周圍環(huán)境產(chǎn)生電位差，該具有不同電位的物體經(jīng)由直接接觸或靜電感應(yīng)引起物體間的靜電電荷轉(zhuǎn)移，當靜電場的能量達到一定的程度后會進行放電，此即稱為靜電放電現(xiàn)象，簡稱為esd(electrostaticdischarge)。以電子元件測試分類機而言，其之所以會產(chǎn)生靜電，可能是電子元件本身的殘電或者是機臺上的裝置在運動過程中因摩擦而累積的靜電，不論如何，當這些靜電的正電荷或是負電荷失去平衡而使電位差的能量累積到某種程度后，一旦電子元件在移動的過程中瞬間接近或接觸到導(dǎo)體，便會產(chǎn)生所謂的靜電放電現(xiàn)象，而這種靜電放電現(xiàn)象將會導(dǎo)致該移動中電子元件的毀損。尤其現(xiàn)今的電子元件，追求多功能與小型化，任何靜電放電現(xiàn)象都可能導(dǎo)致相當程度的毀損，因此對于靜電放電現(xiàn)象的防范顯得更加重要。一般而言，機臺靜電放電現(xiàn)象的防范方法包括裝設(shè)地線，從而利用地線將機臺內(nèi)的靜電傳導(dǎo)出去；此外，亦有利用離子風扇消除靜電的方式，如圖1所示，其為本案申請人所申請的中國臺灣第97119211號“機器設(shè)備的離子風扇檢知裝 置”發(fā)明專利案，該測試分類處理機于機臺11上設(shè)置有用以執(zhí)行不同作業(yè)的各項裝置，例如供料匣、收料匣及測試裝置等相關(guān)裝置，并于機臺11上設(shè)有一外罩12，該外罩12將各裝置罩置于內(nèi)，以防止灰塵雜屑落入及確保各裝置順暢工作，機臺11的內(nèi)部設(shè)有一控制各裝置工作的中央處理器13，該中央處理器13可為工業(yè)計算機，并通過線路連接裝配于外罩12外部的各顯示單元，各顯示單元可分別為屏幕顯示器131或多個警示燈132，使屏幕顯示器131或各警示燈132可分別顯示各項信息數(shù)據(jù)及發(fā)出警示信息，另于外罩12的內(nèi)頂面裝配有用以消除靜電的離子風扇14，該離子風扇14再通過線路連接一檢知裝置15，該檢知裝置15用以偵測離子風扇14的各項使用狀態(tài)，并通過線路連接中央處理器13，從而可將各項偵測信息傳輸至中央處理器13，使中央處理器13通過屏幕顯示器131或警示燈132提示離子風扇14的異常信息。如圖2所示，該檢知裝置15包含第一、二、三偵測單元151、152、153及微處理單元154，第一、二、三偵測單元251、152、153分別通過線路連接于離子風扇14，第一偵測單元151用以偵測離子風扇14的電源未開啟、電源插頭脫落等狀態(tài)，第二偵測單元152用以偵測離子風扇14的風扇不轉(zhuǎn)、風扇因異物堵轉(zhuǎn)、風扇保護罩被開啟等狀態(tài)，第三偵測單元153用以偵測離子風扇14的離子不平衡、離子數(shù)不足、離子產(chǎn)生器故障等狀態(tài)，各第一、二、三偵測單元151、152、153再分別將偵測信號傳輸至微處理單元154，該微處理單元154于接收第一、二、三偵測單元151、152、153傳輸?shù)膫蓽y信號后，將各偵測信號作一比對判別，再將偵測結(jié)果傳輸至中央處理器13，該中央處理器13可于屏幕顯示器131顯示偵測數(shù)據(jù)，第一、二、三警示燈132a、132b、132c用以分別針對各第一、二、三偵測單元151、152、153的偵測結(jié)果發(fā)出警示，例如，當該第三偵測單元153偵測到離子風扇14的離子不平衡、離子數(shù)不足或離子產(chǎn)生器故障并將偵測信號傳輸至微處理單元154時，該微處理單元154將偵測信號作一比對判別并將偵測結(jié)果傳輸至中央處理器13，若偵測結(jié)果為 離子風扇14的離子數(shù)不足，則中央處理器13通過屏幕顯示器131顯示離子數(shù)不足的字幕，或使第三警示燈132c閃爍以告知工作人員，工作人員可立即獲知離子數(shù)不足的異常信息。然而，一般而言，離子風扇14釋放出的正離子或負離子為各占50％，該檢知裝置15中的第三偵測單元153也僅偵測離子風扇14本身釋放出的正離子及負離子是否維持各占50％的平衡狀態(tài)，然而，當機臺所屬環(huán)境空間中靜電場的正電荷或是負電荷已經(jīng)失去平衡，從而造成電位差時，離子風扇14即便是維持釋放出50％的正離子及負離子，將仍然無法降低電位差以消除靜電，因此該檢知裝置15中的第三偵測單元153在無法偵測出機臺所屬環(huán)境空間中的電荷狀態(tài)下，并不能根據(jù)機臺所屬環(huán)境空間中的電荷狀態(tài)來調(diào)變該離子風扇14釋放出更多的正離子或負離子，以中和機臺所屬環(huán)境空間中的靜電荷，使靜電的正電荷或是負電荷保持平衡，從而降低電位差以消除靜電，進而避免機臺在測試過程中發(fā)生靜電放電現(xiàn)象。

有鑒于此，本案發(fā)明人遂以其多年從事相關(guān)行業(yè)的研發(fā)與制作經(jīng)驗，針對目前所面臨的問題深入研究，經(jīng)過長期努力的研究與試作，終究研創(chuàng)出一種可偵測及分析機臺所屬環(huán)境空間中的電荷信號，并能夠進一步控制離子產(chǎn)生器調(diào)變釋放出更多的正離子或負離子，以中和機臺所屬環(huán)境空間中的靜電荷而消除靜電，進而有效避免機臺在測試過程中發(fā)生靜電放電現(xiàn)象，此即為本發(fā)明的設(shè)計宗旨。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種具電荷偵測裝置的電子元件測試分類機，該測試分類機的機臺包括供料裝置、收料裝置、測試裝置、輸送裝置、控制裝置、至少一離子產(chǎn)生器以及至少一電荷偵測裝置，該電荷偵測裝置包括至少一偵測感知器及微處理器，該偵測感知器架設(shè)于機臺所屬環(huán)境空間中，以偵測機臺的電荷信號，并通過微處理器分析出機臺所屬環(huán)境空間中是否有電荷不平衡的現(xiàn)象，從而進一步控制該離子產(chǎn)生器調(diào)變釋放出更多 的正離子或負離子，以中和機臺所屬環(huán)境空間中的靜電荷而消除靜電，進而有效避免機臺在測試過程中發(fā)生靜電放電現(xiàn)象，以確保電子元件的測試質(zhì)量。

為了達到上述目的，本發(fā)明提供了一種具電荷偵測裝置的電子元件測試分類機，其包括：

機臺；

供料裝置，設(shè)于該機臺上，供容納多個待測電子元件；

收料裝置，設(shè)于該機臺上，供容納多個不同等級的完成測試后的電子元件；

測試裝置，設(shè)于該機臺上，以供至少一個電子元件執(zhí)行測試作業(yè)；

輸送裝置，設(shè)于該機臺上，以于該供料裝置、該測試裝置及該收料裝置之間移載待測電子元件及完成測試后的電子元件；

控制裝置，用于控制該供料裝置、該收料裝置、該測試裝置及該輸送裝置工作；

至少一離子產(chǎn)生器，設(shè)于該機臺上，以釋放出正離子及負離子；

至少一電荷偵測裝置，包括至少一偵測感知器及微處理器，該偵測感知器架設(shè)于機臺所屬環(huán)境空間中并連接至該微處理器，以偵測及分析機臺的電荷信號，并控制該離子產(chǎn)生器調(diào)變釋放出更多的正離子或負離子，以中和該機臺所屬環(huán)境空間中的靜電荷。

在本發(fā)明的一實施例中，該測試裝置設(shè)有測試模塊，該測試模塊上設(shè)有至少一個測試座。

在本發(fā)明的一實施例中，該輸送裝置設(shè)有至少一具取放器的移料臂、至少一轉(zhuǎn)載臺及至少一測試移載臂，該輸送裝置用以輸送待測電子元件及完成測試后的電子元件。

在本發(fā)明的一實施例中，該輸送裝置中的轉(zhuǎn)載臺于該機臺的第一側(cè)設(shè)有入料轉(zhuǎn)載臺以及于該機臺的第二側(cè)設(shè)有出料轉(zhuǎn)載臺，該測試移載臂設(shè)有第一測試移載臂及第二測試移載臂，以接續(xù)將該入料轉(zhuǎn)載臺上的待測電子元件移載至該測試裝置執(zhí)行測試作業(yè)，并于完成測試后將該電子元件移載至該出料轉(zhuǎn)載臺。

在本發(fā)明的一實施例中，該離子產(chǎn)生器為離子風扇。

在本發(fā)明的一實施例中，該機臺外部設(shè)有外罩，該離子產(chǎn)生器裝配于該外罩的內(nèi)部。

在本發(fā)明的一實施例中，該電荷偵測裝置中的偵測感知器偵測該機臺的電荷信號并將該機臺的電荷信號傳輸至該微處理器，該微處理器分析出該機臺所屬環(huán)境空間中是否有電荷不平衡的現(xiàn)象。

在本發(fā)明的一實施例中，該電荷偵測裝置于該機臺所屬環(huán)境空間中配置有多個偵測感知器，并將該多個偵測感知器連接于該微處理器，通過該多個偵測感知器偵測該機臺各位置產(chǎn)生的電荷信號。

在本發(fā)明的一實施例中，該電荷偵測裝置中的微處理器連接于該離子產(chǎn)生器，該微處理器控制該離子產(chǎn)生器調(diào)變釋放出更多的正離子或負離子。

在本發(fā)明的一實施例中，該電荷偵測裝置中的微處理器連接于該控制裝置，該控制裝置控制該離子產(chǎn)生器調(diào)變釋放出更多的正離子或負離子。

附圖說明

圖1為中國臺灣第97119211號發(fā)明專利案中的機臺的示意圖；

圖2為中國臺灣第97119211號發(fā)明專利案中的檢知裝置的示意圖；

圖3為本發(fā)明中的機臺的架構(gòu)示意圖；

圖4為本發(fā)明中的機臺的示意圖；

圖5為本發(fā)明中的電荷偵測裝置第一實施例的示意圖；

圖6為本發(fā)明中的電荷偵測裝置第二實施例的示意圖；

圖7為本發(fā)明中的電荷偵測裝置第三實施例的示意圖。

附圖標記說明：10-機臺12-外罩；13-中央處理器；131-屏幕顯示器；132-警示燈；132a-第一警示燈；132b-第二警示燈；132c-第三警示燈；14-離子風扇；15-檢知裝置；151-第一偵測單元；152-第二偵測單元；153-第三偵測單元；154-微處理單元；20-機臺；21-供料裝置；22-收料裝置；23-測試裝置；231-測試模塊；232-測試座；24-輸送裝置；241：移料臂；2411：取放器；242-入料轉(zhuǎn)載臺；2421-第一承座；243-出料轉(zhuǎn)載臺；2431-第二承座；244-第一測試移載臂；2441-第一吸嘴；245-第二測試移載臂；2451-第二吸嘴；25-控制裝置；26-離子產(chǎn)生器；27-電荷偵測裝置；271-偵測感知器；272-微處理器。

具體實施方式

為使審查員對本發(fā)明作更進一步的了解，茲舉較佳實施例并配合圖式，詳述如后：

如圖3所示，本發(fā)明提供的具電荷偵測裝置的電子元件測試分類機中的機臺20上配置有供料裝置21、收料裝置22、測試裝置23、輸送裝置24及控制裝置25(如圖4所示)，該供料裝置21用于容納多個待測電子元件，收料裝置22用于容納多個不同等級(如合格品或不合格品)的完成測試后的電子元件，該測試裝置23設(shè)有測試模塊231，并于該測試模塊231上設(shè)有多個測試座232，以供置入多個電子元件并執(zhí)行測試作業(yè)，該輸送裝置24設(shè)有至少一具取放器2411的移料臂241、至少一轉(zhuǎn)載臺及至少一測試移載臂，用以輸送待測電子元件及完成測試后的電子元件；于本實施例中，該輸送裝置24中的移料臂241可作x-y-z三軸向移動，從而可移載供料裝置21中的待測電子元件以及將完成測試后的電子元件移載至收料裝置22，并執(zhí)行分類作業(yè)；另于本實施例中，該輸送裝置24中的轉(zhuǎn)載 臺于機臺20的第一側(cè)設(shè)有入料轉(zhuǎn)載臺242以及于機臺20的第二側(cè)設(shè)有出料轉(zhuǎn)載臺243，該入料轉(zhuǎn)載臺242可作x軸向移動，并于臺面上開設(shè)多個第一承座2421，進而該入料轉(zhuǎn)載臺242可利用多個第一承座2421將移料臂241所移載的待測電子元件移載至測試裝置23的第一側(cè)；另外，該出料轉(zhuǎn)載臺243同樣可作x軸向移動，并于臺面上開設(shè)多個第二承座2431，進而該出料轉(zhuǎn)載臺243可利用多個第二承座2431將完成測試后的電子元件移載至移料臂241；另于本實施例中，該輸送裝置24中的測試移載臂設(shè)有第一測試移載臂244及第二測試移載臂245，以接續(xù)的將入料轉(zhuǎn)載臺242上的待測電子元件移載至測試模塊231上的多個測試座232執(zhí)行測試作業(yè)，并于完成測試后將電子元件移載至出料轉(zhuǎn)載臺243；于本實施例中，該第一測試移載臂244設(shè)有多個第一吸嘴2441，并可作y-z軸向移動，以將入料轉(zhuǎn)載臺242上的待測電子元件移載至測試模塊231上的多個測試座232執(zhí)行測試作業(yè)，并于完成測試后將電子元件移載至出料轉(zhuǎn)載臺243；該第二測試移載臂245同樣設(shè)有多個第二吸嘴2451，并可作y-z軸向移動，以接續(xù)將入料轉(zhuǎn)載臺242上的待測電子元件移載至測試模塊231上的多個測試座232執(zhí)行測試作業(yè)，并于完測后將電子元件移載至出料轉(zhuǎn)載臺243。

如圖4所示，本發(fā)明中的機臺20外部設(shè)有外罩30，該外罩30將各裝置罩置于內(nèi)，以防止附著灰塵及確保各裝置正常工作，該機臺20設(shè)有一可控制各裝置工作的控制裝置25(如工業(yè)計算機)，該控制裝置25通過線路連接一裝配于外罩30外部的屏幕顯示器31，從而可將各裝置的工作信息數(shù)據(jù)傳輸至屏幕顯示器31，使得工作人員可于屏幕顯示器31上獲知各裝置的使用狀態(tài)，另外，本發(fā)明中的機臺20設(shè)有至少一離子產(chǎn)生器26以及至少一電荷偵測裝置27，于本實施例中，該離子產(chǎn)生器26為離子風扇并裝配于外罩30的內(nèi)部，該離子產(chǎn)生器26于運轉(zhuǎn)時，利用尖端放電原理釋放出正離子及負離子，該電荷偵測裝置27用以偵測及分析機臺20所屬環(huán)境空間中的電荷信號。

如圖5所示，本發(fā)明中的電荷偵測裝置27包括至少一偵測感知器271及微處理器272，該偵測感知器271架設(shè)于機臺所屬環(huán)境空間中并連接至微處理器272，以偵測機臺的電荷信號，從而可將機臺的電荷信號傳輸至該微處理器272，通過該微處理器272分析出機臺所屬環(huán)境空間中是否有電荷不平衡的現(xiàn)象，另外，該微處理器272連接于離子產(chǎn)生器26，使得該微處理器272分析出機臺所屬環(huán)境空間中有電荷不平衡的現(xiàn)象時，能夠進一步控制該離子產(chǎn)生器26調(diào)變釋放出更多的正離子或負離子，以中和機臺所屬環(huán)境空間中的靜電荷而消除靜電，例如，當該微處理器272分析出機臺所屬環(huán)境空間中正電荷過多時，則控制該離子產(chǎn)生器26調(diào)變釋放出更多的負離子，而當該微處理器272分析出機臺所屬環(huán)境空間中負電荷過多時，則控制該離子產(chǎn)生器26調(diào)變釋放出更多的正離子，進而藉以中和機臺所屬環(huán)境空間中的靜電荷而消除靜電，以有效避免機臺在測試過程中發(fā)生靜電放電現(xiàn)象，以確保電子元件的測試質(zhì)量。

如圖6所示，本發(fā)明中的電荷偵測裝置27可于機臺所屬環(huán)境空間中配置有多個偵測感知器271，并將該多個偵測感知器271連接于微處理器272，從而利用該多個偵測感知器271偵測機臺所屬環(huán)境空間中各位置所產(chǎn)生的電荷信號，并通過微處理器272分析出機臺所屬環(huán)境空間中各位置是否有電荷不平衡的現(xiàn)象，以進一步控制該離子產(chǎn)生器26調(diào)變釋放出更多的正離子或負離子，以中和機臺所屬環(huán)境空間中的靜電荷而消除靜電。

如圖7所示，本發(fā)明中的電荷偵測裝置27中的微處理器272可連接于控制各裝置工作的控制裝置25，從而由微處理器272將分析的結(jié)果傳輸至控制裝置25，由該控制裝置25進一步控制該離子產(chǎn)生器26調(diào)變釋放出更多的正離子或負離子，以中和機臺所屬環(huán)境空間中的靜電荷而消除靜電，同樣可以有效避免機臺在測試過程中發(fā)生靜電放電現(xiàn)象，以確保電子元件的測試質(zhì)量。