本實用新型涉及測試領域，尤其涉及一種光模塊的老化測試裝置。

背景技術：

在光模塊的老化測試中，通常采用這樣的老化測試裝置，即，在該老化測試裝置中，采用的是集中供電的電源，所以對該集中供電電源的要求非常高，例如，要有很完善的過流過壓保護，可以任意設定限流值大小的功能。但是，由于集中供電電源只有這么一級保護，倘若老化中的光模塊中出現(xiàn)異常狀態(tài)，比如突然短路等情況，使得集中供電電源工作在限流的工作模式，從而導致電壓被拉低，這樣，就有可能導致這一批光模塊的老化是在不正常的工作電壓下進行的，因此不符合老化測試的要求。再或者，多個光模塊在老化測試的過程中出現(xiàn)了短路的情況，使得集中供電電源工作在過流保護模式下，電源輸出直接被關斷，都會影響到這一批光模塊的老化測試。

還有一種更加嚴重的情況是，在這批老化測試的光模塊中無法定位出具體是哪一個光模塊出了問題，還需要花大量的時間去排查有問題的光模塊，費時費力，造成巨大的成本支出。

技術實現(xiàn)要素：

本實用新型要解決的技術問題在于，針對現(xiàn)有技術的上述缺陷，提供一種光模塊的老化測試裝置，在電源出現(xiàn)問題時不影響整批產品的測試，而且，能定位出出現(xiàn)出問題的光模塊。

本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是：構造一種光模塊的老化測試裝置，包括多個測試板，每個測試板與至少一個光模塊電連接，所述老化測試裝置還包括上位機及分布式電源，所述分布式電源包括至少兩個電源模塊，而且，每個電源模塊與至少一個測試板電連接，其中，

所述電源模塊包括：

控制單元；

電壓變換電路，用于將交流市電轉換成3.3V的直流電壓；

監(jiān)控保護單元，用于對本電源模塊進行一級保護，并將本電源模塊的保護狀態(tài)上報給所述控制單元；

輸出單元，用于在所述控制單元的控制下，輸出電源模塊的保護狀態(tài)；

所述測試板包括：

MCU，與至少一個光模塊連接，且用于對所述至少一個光模塊的運行狀態(tài)進行監(jiān)控；

與光模塊一一對應的電子保險絲，連接在相應電源模塊的相應輸出端和相應光模塊之間，用于對相應電源模塊進行二級保護，并將相應電源模塊的保護狀態(tài)上報給MCU；

接口單元，用于在所述MCU的控制下，將所述至少一個光模塊的運行狀態(tài)及相應電源模塊的保護狀態(tài)發(fā)送至所述上位機，以在所述上位機上進行顯示。

優(yōu)選地，所述輸出單元包括聲光報警電路和/或顯示屏。

優(yōu)選地，所述接口單元為USB接口。

優(yōu)選地，所述MCU與所述至少一個光模塊通過I2C連接。

優(yōu)選地，所述監(jiān)控保護單元通過PMBUS與控制單元相連。

優(yōu)選地，所述一級保護包括輸入過壓保護、輸出過壓保護、過流保護、過溫保護、欠壓保護。

優(yōu)選地，所述二級保護包括過壓保護、過流保護、過溫保護。

優(yōu)選地，所述電壓變換電路包括相連接的整流電路及DC/DC變換電路。

實施本實用新型的技術方案，由于采用低功率密度的分布式電源，且進行兩級電源保護，成本低且可靠性高。而且，能通過上位機及每個測試板中的MCU的聯(lián)合作用可準確地找出出現(xiàn)故障的電源模塊的位置和出現(xiàn)異常的光模塊的位置，節(jié)省大量的查找故障的時間，同時也不會影響整批的產品老化，解決了現(xiàn)有技術中由于集中式電源故障導致出現(xiàn)整批老化測試的光模塊報廢情況的問題，同時也解決了由于老化測試后的光模塊還需要后續(xù)測試以篩選出有異常的光模塊所帶來的工作量大的問題。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。附圖中：

圖1是本實用新型光模塊的老化測試裝置實施例一的邏輯結構圖；

圖2是圖1中電源模塊實施例一的邏輯結構圖；

圖3是圖1中測試板實施例一的邏輯結構圖。

具體實施方式

圖1是本實用新型光模塊的老化測試裝置實施例一的邏輯結構圖，該實施例的老化測試裝置包括分布式電源10、多個測試板(例如測試板20)、上位機40，而且，每個測試板與上位機40及多個光模塊(例如光模塊30)連接，分布式電源10包括至少兩個電源模塊(例如電源模塊11)，每個電源模塊與兩個測試板連接。

結合圖2所示的電源模塊，該電源模塊包括電壓變換電路、監(jiān)控保護單元113、控制單元114和輸出單元115，其中，電壓變換電路用于交流市電轉換成3.3V的直流電壓，且其可具體包括相連接的整流電路111及DC/DC變換電路112，整流電路111可將輸入的交流市電轉換成直流電壓，DC/DC變換電路112可將整流電路的輸出電壓轉換成穩(wěn)定的光模塊供電需要的電壓，即，3.3V的直流電壓。監(jiān)控保護單元113用于對本電源模塊進行一級保護，并將本電源模塊的保護狀態(tài)上報給所述控制單元，優(yōu)選地，監(jiān)控保護單元113通過PMBUS與控制單元114相連。輸出單元115用于在所述控制單元的控制下，輸出電源模塊的保護狀態(tài)，優(yōu)選地，該輸出單元包括聲光報警電路和/或顯示屏。

在該實施例的電源模塊中，監(jiān)控保護單元113可對本電源模塊的運行狀態(tài)進行監(jiān)控，例如監(jiān)控電壓、電流、溫度，并對本電源模塊進行輸入過壓保護、輸出過壓保護、過流保護、過溫保護、欠壓保護等的保護。其中，輸入過壓保護保證了電源模塊本身不被損壞，輸出過壓保護保證后級的電源不會因為過壓而受到損壞。過流保護是在后級的電流因過載或者是出現(xiàn)短路時，能切斷后級電源的供給，保證電源模塊本身的工作安全，也防止后級電路出現(xiàn)不可控的情況。欠壓保護目的就是保證后級電流有充足的能源供給，防止因輸入欠壓導致輸出的電壓狀態(tài)異常而影響到后級的電路正常工作。過溫保護則是對電源模塊長期滿負荷運行因芯片工作時自身損耗而產生的熱量產生的過溫時的一種自身的保護措施，保護電源的安全運行。當電源模塊出現(xiàn)任何一種保護狀態(tài)時，都會通過PMBUS實時上報給控制單元114，并通過顯示屏顯示和聲音報警。

結合圖3所示的測試板，該測試板包括MCU22、接口單元23及與光模塊30、…、30'一一對應的電子保險絲21、…、21'。其中，MCU22與30、…、30'連接，優(yōu)選通過I2C連接，且用于對光模塊30、…、30'的運行狀態(tài)進行監(jiān)控。電子保險絲21、…、21'連接在相應電源模塊的相應輸出端和相應光模塊之間，且用于對相應電源模塊進行二級保護，并將相應電源模塊的保護狀態(tài)上報給MCU，所進行的二級保護包括過壓保護、過流保護、過溫保護。另外，接口單元23用于在MCU22的控制下，將光模塊30、…、30'的運行狀態(tài)及相應電源模塊的保護狀態(tài)發(fā)送至上位機，以在上位機上進行顯示。優(yōu)選地，接口單元23為USB接口，即，MCU22通過USB數(shù)據(jù)線與上位機相連。

在該實施例的測試板中，當電源模塊的輸出給到測試板后，首先經過電子保險絲，以電子保險絲21為例，由該電子保險絲21實現(xiàn)過壓保護、過流保護以及過溫保護。電子保險絲21會自動判斷輸入電壓是否過壓，如果過壓，則啟動過壓保護，切斷電源模塊的輸出，如果沒有過壓，則開始后級的電源輸出，自動進入過流保護的實時監(jiān)控中。電子保險絲21的過流保護功能是通過外接的限流電阻來實現(xiàn)過流保護功能的，當檢測到光模塊的負載過大，電子保險絲21就會自動切斷后級電源的輸出。當電子保險絲21的工作溫度過高就會啟動內部的過溫保護功能，保證電子保險絲21不會因為過溫而遭到損壞。當電子保險絲21檢測到這些異常狀態(tài)后上報給MCU22，MCU22就會通過USB通信在上位機的監(jiān)控軟件上顯示出來，并報警。MCU22能通過電子保險絲21內部的保護監(jiān)控電路的狀態(tài)上報引腳可以準確的知道是哪一路的電子保險絲21所對應的電源回路出了問題，所以查找問題就會特別的方便，也節(jié)省了查找故障的時間。同時MCU22能通過I2C通信能實時的監(jiān)控正在老化測試中的光模塊，若光模塊在老化中有異常，MCU22也能準確的查找出是哪個位置的光模塊有異常出現(xiàn)，同時在上位機的監(jiān)控軟件上實時的顯示出來，及時把異常的光模塊剔除掉，既方便也節(jié)省了大量的查找故障的時間。

在此，需說明的是，以上實施例僅示出了一個電源模塊及一個測試板的邏輯結構圖，應理解，其它電源模塊及其它測試板的邏輯結構圖與之類似，在此不再贅述。

另外，還需說明的是，分布式電源中的電源模塊的數(shù)量可根據(jù)實際需求設置，例如，設置兩個、三個、五個等，這些電源模塊可以彼此獨立，也可將其輸出并聯(lián)設置。一個電源模塊所供電的測試板的數(shù)量也可根據(jù)實際需求設置，例如一個電源模塊連接兩個測試板，也可連接一個測試板，或者連接其它數(shù)量個測試板。一個測試板上可測試光模塊的數(shù)量也可任意設置。

綜上所述，本實用新型的光模塊的老化測試裝置由于采用低功率密度的分布式電源，且進行兩級電源保護，成本低且可靠性高。而且，能通過上位機及每個測試板中的MCU的聯(lián)合作用準確的找出出現(xiàn)故障的電源模塊的位置和出現(xiàn)異常的光模塊的位置，節(jié)省大量的查找故障的時間，同時也不會影響整批的產品老化，解決了現(xiàn)有技術中因集中式電源故障導致整批老化測試的光模塊報廢的情形，同時也解決了老化測試后的光模塊還需要后續(xù)測試篩選出有異常的問題光模塊工作量大的問題。

以上所述僅為本實用新型的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本實用新型，對于本領域的技術人員來說，本實用新型可以有各種更改和變化。凡在本實用新型的精神和原則之內，所作的任何纂改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的權利要求范圍之內。